專利名稱：數(shù)據(jù)調(diào)制和校正方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)調(diào)制和校正方法，并且更具體地，涉及一種用于調(diào)制數(shù)據(jù)、使得對信道失真具有抵抗能力的代碼調(diào)制方法和一種用于校正在檢測由該調(diào)制方法所調(diào)制的數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤的方法。
背景技術(shù)：
隨著光存儲介質(zhì)的記錄密度的增加，數(shù)字通用盤隨機(jī)存取存儲器(DVD-RAM)、可記錄DVD(DVD-R)或可寫入DVD(DVD-RW)的軌道間距變得狹窄。因此，來自相鄰軌道的串?dāng)_或噪聲的引入和來自相鄰凹坑的符號間干擾量正在增加。這種干擾增加了射頻(RF)信號的抖動(dòng)，特別是當(dāng)訪問按照凹坑記錄了其物理地址的光存儲介質(zhì)時(shí)。
具有受限的最大和最小限制的行程長度受限(RLL)碼是光存儲介質(zhì)的常用數(shù)據(jù)調(diào)制代碼。最小行程長度，用參數(shù)“d”表示，極大地影響了在光盤中檢測凹坑(或非凹坑)的準(zhǔn)確度和該代碼的記錄密度。最大行程長度，用參數(shù)“k”表示，與代碼效率和代碼策略有關(guān)。通常的RIL代碼包括在最小和最大行程之間的連續(xù)行程長度。例如，與具有d＝2和k＝10、4T、5T、...和10T(T為再現(xiàn)塊)代碼的DVD家庭記錄介質(zhì)兼容的八-至-十四調(diào)制加(EFM+)代碼，不包括同步代碼，存在于最小凹坑長度為3T以及最大凹坑長度為10T之間。圖1是EFM+代碼的行程長度分布的柱狀圖。但是，當(dāng)在再現(xiàn)的RF信號中出現(xiàn)抖動(dòng)時(shí)，由于信道的任何失真，圖1的1T間隔碼(spacecode)使在偏差為±0.5T時(shí)出現(xiàn)誤差的可能性增加了。
圖2是在通用DVD-RAM的標(biāo)頭字段中的物理地址格式表。對于通用的DVD-RAM，相同的地址數(shù)據(jù)在標(biāo)頭上寫入兩次以確保高檢測水平。標(biāo)頭字段包括用于鎖相環(huán)的可變頻率晶振(VFO1)的數(shù)據(jù)、地址標(biāo)記(AM)數(shù)據(jù)、物理識別數(shù)據(jù)(PID1)、ID錯(cuò)誤檢測數(shù)據(jù)(IED1)和用于IED1解調(diào)的后同步信號數(shù)據(jù)(PA1)。具有與上述相同結(jié)構(gòu)的VFO2、AM、PID2、IED2和PA2也寫入在標(biāo)頭字段。但是即使改進(jìn)了檢測水平，基于該RLL調(diào)制代碼的物理地址數(shù)據(jù)的寫入也會產(chǎn)生冗余問題。

發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠調(diào)制數(shù)據(jù)使得對干擾有抵抗能力的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，以及一種用于校正在讀取該調(diào)制方法寫入的數(shù)據(jù)中出現(xiàn)的錯(cuò)誤的方法。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，提供一種使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，該行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼應(yīng)用于將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)中，該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中S＝2或更大，d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度。
最好在RLL調(diào)制代碼中，行程長度是2、5、8和11之一，代碼字的前導(dǎo)0的數(shù)目是1、4和7之一，以及代碼字的結(jié)束0的數(shù)目是1和4之一。
最好使用RLL調(diào)制代碼應(yīng)用于將地址數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)的物理扇區(qū)，該地址數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)存取所需的。
最好預(yù)先執(zhí)行RLL調(diào)制代碼作為光存儲介質(zhì)中的凹坑，以便寫入和存取包括版權(quán)的重要信息。
最好數(shù)據(jù)調(diào)制方法包括從使用RLL調(diào)制代碼調(diào)制的代碼字中丟棄具有最大行程長度的代碼字，以便產(chǎn)生讀取時(shí)鐘信號和同步時(shí)鐘信號。
最好數(shù)據(jù)調(diào)制方法包括從使用RLL調(diào)制代碼調(diào)制的代碼字中丟棄具有代碼字?jǐn)?shù)字和(CDS)的代碼字，該代碼字?jǐn)?shù)字和的絕對值是相當(dāng)大的。
為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的，提供一種使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，該行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼應(yīng)用于將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)中，該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度。該數(shù)據(jù)調(diào)制方法包括產(chǎn)生滿足RLL(2，11，8，27，3)的代碼字；以及將具有12T的行程長度的代碼字從所產(chǎn)生的代碼字中移去，并產(chǎn)生保留代碼字的代碼表，其中T是再現(xiàn)時(shí)鐘信號。
最好數(shù)據(jù)調(diào)制方法還包括，從代碼字表中丟棄具有絕對值相當(dāng)大的代碼字?jǐn)?shù)字和的代碼字；以及按照CDS絕對值的升序排列保留代碼字以減小代碼字的直流(DC)分量。
在根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)校正方法的另一個(gè)實(shí)施例中，提供一種用于對在使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)之后從光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正的方法，其中該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度。該方法包括(a)通過檢測代碼序列中行程長度的比特轉(zhuǎn)變，計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀出的代碼序列的行程長度，并且如果檢測第N個(gè)凹坑不符合所述RLL編碼規(guī)則，則檢查隨后M個(gè)凹坑的行程長度；以及(b)如果隨后的M個(gè)凹坑的任何一個(gè)的行程長度不符合所述的RLL編碼規(guī)則，則根據(jù)RLL編碼規(guī)則校正第N個(gè)凹坑的行程長度。
最好步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度小s/2，則通過將s/2加到第N個(gè)凹坑的行程長度來校正第N個(gè)凹坑；以及通過從第(N+1)凹坑的行程長度減去s/2來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
最好步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度大s/2，則通過從第N凹坑的行程長度減去s/2來校正第N凹坑；通過將s/2加到第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
在上述數(shù)據(jù)校正方法中，當(dāng)s＝3時(shí)，步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度小1，則通過將1加到第N個(gè)凹坑的行程長度來校正第N個(gè)凹坑；以及通過從第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度中減去1來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
當(dāng)s＝3時(shí)，最好步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度大1，則通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去1來校正第N個(gè)凹坑；以及通過將1加到第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
在根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)校正方法的另一個(gè)實(shí)施例中，提供一種用于對在使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)之后從光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正的方法，其中該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d＝1和s＝3，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度。該方法包括(a)通過檢測比特轉(zhuǎn)變，計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀出的代碼序列的行程長度，確定所計(jì)算的行程長度是否符合所述的RLL調(diào)制規(guī)則，其中行程長度表示為in+1＝in+3(n＝1，2...)，初始行程長度i1＝2，并且。如果檢測到不等于行程長度in的任一個(gè)的第N個(gè)凹坑，則檢測隨后的M個(gè)凹坑的行程長度；以及(b)如果M個(gè)凹坑中至少一個(gè)的行程長度不等于行程長度in，則根據(jù)所述的RLL調(diào)制規(guī)則校正第N個(gè)凹坑的行程長度。
最好步驟(b)包括(b1)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值來校正第N個(gè)凹坑的行程長度，以使第N個(gè)凹坑的行程長度等于其絕對值最接近第N個(gè)凹坑的行程長度的行程長度in；以及(b2)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上在步驟(b1)中加上或減去的值來校正第(N+1)個(gè)行程長度。
在根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)校正方法的另一個(gè)實(shí)施例中，提供一種用于對在使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)之后從光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正的方法，其中該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d＝1和s＝3，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度。該方法包括(a)通過檢測比特轉(zhuǎn)變，計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀出的代碼序列的行程長度，確定所計(jì)算的行程長度是否符合所述的RLL調(diào)制規(guī)則，其中行程長度表示為in+1＝in+3(n＝1，2...)，初始行程長度i1＝1，并且，如果檢測到不等于行程長度in的任一個(gè)的第N個(gè)凹坑，則檢測隨后的M個(gè)凹坑的行程長度；以及(b)如果M個(gè)凹坑中至少一個(gè)的行程長度不等于行程長度in，則校正第N個(gè)凹坑的行程長度以符合根據(jù)RLL調(diào)制規(guī)則。
最好步驟(b)包括(b1)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值來校正第N個(gè)行程長度，以使第N個(gè)凹坑的行程長度等于其絕對值最接近第N個(gè)凹坑的行程長度的行程長度in；以及(b2)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上在步驟(b1)中加上或減去的值來校正第(N+1)個(gè)行程長度。


通過下面結(jié)合附圖對實(shí)施例進(jìn)行的詳細(xì)描述，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點(diǎn)將會變得更加清楚，其中圖1是EFM+代碼的行程長度分布的柱狀圖；
圖2是在一般的通用數(shù)字盤隨機(jī)存取存儲器(DVD-RAM)的標(biāo)頭字段中的物理地址格式表；圖3是根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)調(diào)制方法調(diào)制的代碼流的分布柱狀圖；圖4是根據(jù)所述規(guī)則產(chǎn)生的、并由代碼字?jǐn)?shù)字和(CDS)分類的代碼字的表；圖5A和5B是從中丟棄具有最大凹坑長度12T的代碼字的擴(kuò)展的間隔行程長度受限(ES RLL)(2，11，8，27，3)調(diào)制代碼字的表；圖6A和6B是具有更小的CDS的ES RLL(2，11，8，27，3)調(diào)制代碼字的表；圖7是說明當(dāng)讀取根據(jù)本發(fā)明的ES RLL調(diào)制代碼寫入到光存儲介質(zhì)中的數(shù)據(jù)時(shí)，校正由抖動(dòng)造成的錯(cuò)誤的方法的流程圖；圖8是說明在檢測RLL(2，11，8，27，3)調(diào)制的代碼字中的錯(cuò)誤校正方法的流程圖；圖9示出了使用常規(guī)的RLL代碼(a)和根據(jù)本發(fā)明ES RLL代碼(b)的寫入到光存儲介質(zhì)中物理地址數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)；圖10是使用根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼的光存儲介質(zhì)的物理地址扇區(qū)的數(shù)據(jù)格式的表；圖11A是使用常規(guī)電平分離器(level slicer)數(shù)字化的根據(jù)本發(fā)明的ESRLL代碼流的柱狀圖；圖11B是使用SRC檢測器數(shù)字化的根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼流的柱狀圖；圖12是顯示常規(guī)方法和本發(fā)明的與電路噪聲有關(guān)的代碼流檢測水平的圖；圖13是顯示常規(guī)方法和本發(fā)明的與不對稱有關(guān)的代碼流檢測水平的圖；以及圖14是顯示常規(guī)方法和本發(fā)明的與光存儲介質(zhì)的切線傾斜有關(guān)的代碼流檢測水平的圖。
具體實(shí)施例方式
根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)調(diào)制方法使用凹坑間間隔2T或更大的調(diào)制代碼將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)中，以減少檢測錯(cuò)誤。圖3是根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)調(diào)制方法產(chǎn)生的代碼流的分布的示意柱狀圖。對于相同的抖動(dòng)量來說，與1T間隔代碼相比，凹坑間隔2T或3T的代碼的使用還改進(jìn)了數(shù)據(jù)檢測水平。盡管就記錄密度而言，2T或3T間隔代碼增加了代碼長度，是不利的，但是就減少抖動(dòng)出現(xiàn)中的錯(cuò)誤和改進(jìn)檢測水平而言，這些代碼對于諸如寫入到光盤的物理地址數(shù)據(jù)之類的重要信息來說是有效的。
根據(jù)本發(fā)明的調(diào)制方法涉及用于改進(jìn)檢測水平的具有s＝2或更大的RLL(d，k，m，n，s)調(diào)制代碼的生成，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度。這里行程長度就是在二進(jìn)制代碼序列中相鄰邏輯‘1’之間的連續(xù)‘0’的數(shù)目。
圖3的柱狀圖中所示的RLL(2，11，8，27，3)代碼字，其中使用s＝3生成，可根據(jù)下面規(guī)則獲得(1)行程長度∈{2，5，8，11}(2)代碼字的前導(dǎo)0∈{1，4，7}，以及(3)代碼字的結(jié)束0∈{1，4}根據(jù)規(guī)則(1)，凹坑的長度是3T、6T、9T或12T之一。建立規(guī)則(2)和規(guī)則(3)使得當(dāng)連接代碼字時(shí)，規(guī)則(1)得到滿足。例如，如果代碼字的尾部具有一個(gè)0，并且隨后的代碼字在其前端具有一個(gè)0，則兩個(gè)代碼字的行程長度變成2，滿足規(guī)則(1)定義的最小行程長度。如果代碼字的尾部具有四個(gè)0，后面的代碼字在其前端具有四個(gè)0，則兩個(gè)代碼字的行程長度變成11，滿足規(guī)則(1)的最大行程長度。根據(jù)該調(diào)制，在本實(shí)施例中凹坑間的間隔延伸成3T，所以該調(diào)制代碼稱為“擴(kuò)展間隔調(diào)制(ES RLL)代碼”。滿足規(guī)則(1)至(3)的代碼字的數(shù)目總計(jì)是298，并且具有最大凹坑長度12T的代碼字的數(shù)目是63。
圖4是由代碼字?jǐn)?shù)字和(CDS)分類的、符合規(guī)則(1)至(3)產(chǎn)生的代碼字的表。CDS是指在每一代碼字中二進(jìn)制比特“1”和“0”的和，其中在加法運(yùn)算中，比特“0”由“-1”代替。
圖5A和5B是從中丟棄具有最大凹坑長度12T的63個(gè)代碼字以避免時(shí)鐘信號或同步失配的再現(xiàn)中的問題的ES RLL(2，11，8，27，3)調(diào)制代碼字的表，其中所丟棄的63個(gè)代碼字可以包括具有最大長度12T的兩個(gè)凹坑。
圖6A和6B是具有較小CDS的ES RLL(2，11，8，27，3)調(diào)制代碼字的表。換言之，具有相當(dāng)大的CDS的代碼字被從圖6A和6B的調(diào)制代碼字中移去以便減少對代碼字進(jìn)行直流抑制控制的行程數(shù)字和(RDS)(runningdigital sum)。
ES RLL調(diào)制代碼是在光存儲介質(zhì)的物理地址扇區(qū)(標(biāo)頭字段)中作為凹坑預(yù)先形成的，以寫入指示數(shù)據(jù)地址或與例如版權(quán)有關(guān)的其他重要信息。
現(xiàn)在將描述在檢測由上述方法調(diào)制的代碼字中應(yīng)用的錯(cuò)誤校正方法。
圖7是說明當(dāng)讀取使用上述ES RLL調(diào)制代碼寫入到光存儲介質(zhì)中的數(shù)據(jù)時(shí)，校正由于抖動(dòng)造成的錯(cuò)誤的方法的流程圖。在校正使用RLL(d，k，m，n，s)寫入的數(shù)據(jù)和從光存儲介質(zhì)中讀取的數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤時(shí)，首先，通過檢測其中的比特轉(zhuǎn)變計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀取的代碼序列的行程長度。如果檢測到不符合RLL編碼規(guī)則的第N個(gè)凹坑(或標(biāo)記)，則檢查下面M個(gè)凹坑的行程長度(步驟700)。如果下面的M個(gè)凹坑的任意一個(gè)的行程長度都不符合RLL編碼規(guī)則，則根據(jù)RLL編碼規(guī)則校正第N個(gè)凹坑的行程長度(步驟710)。
在圖7的步驟710中，如果第N個(gè)凹坑的行程長度比行程長度小s/2，則通過將s/2加到第N個(gè)凹坑的行程長度來校正第N個(gè)凹坑；以及通過從第(N+1)凹坑的行程長度減去s/2來校正第(N+1)凹坑。如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度大s/2，則通過從第N凹坑的行程長度減去s/2來校正第N凹坑；以及通過將s/2加到第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度來校正第N+1個(gè)凹坑。
在圖7的步驟710中，對于一個(gè)s＝3的RLL(d，k，s)代碼，如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度小1，則通過將1加到第N個(gè)凹坑的行程長度來校正第N個(gè)凹坑；以及通過從第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度中減去1來校正第(N+1)個(gè)凹坑。如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度大1，則通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去1來校正第N個(gè)凹坑；以及通過將1加到第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
在對寫入在RLL(d，k，m，n，s)代碼中之后從光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行的校正中，其中d＝1和s＝3，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度，通過檢測其中的比特轉(zhuǎn)變來計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀取的代碼序列的行程長度。下面決定所計(jì)算的行程長度是否符合RLL調(diào)制規(guī)則，其中行程長度表示為in+1＝in+3(n＝1，2...)，初始行程長度i1＝2。如果檢測到不等于行程長度in的任一個(gè)的第N個(gè)凹坑，則檢查隨后的M個(gè)凹坑的行程長度；如果M個(gè)凹坑中至少一個(gè)的行程長度不等于行程長度in，則根據(jù)RLL調(diào)制規(guī)則的規(guī)定校正第N個(gè)凹坑的行程長度。
具體地，通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值來校正第N個(gè)行程長度，以使第N個(gè)凹坑的行程長度等于其絕對值最接近第N個(gè)凹坑的行程長度的行程長度in；并且接著校正第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度。如果從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值，則通過減去所加的相同的值或者加上所減去的相同的值來校正第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度。
至于另一個(gè)實(shí)施例，在對從其中寫入在RLL(d，k，m，n，s)代碼中的光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行的校正中，其中d＝1和s＝3，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度，通過檢測其中的比特轉(zhuǎn)變來計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀取的代碼序列的行程長度。下面決定所計(jì)算的行程長度是否符合RLL調(diào)制規(guī)則，其中行程長度表示為in+1＝in+3(n＝1，2...)，初始行程長度i1＝1。如果檢測到不等于行程長度in的第N個(gè)凹坑，則檢查隨后的M個(gè)凹坑的行程長度。如果M個(gè)凹坑中至少一個(gè)的行程長度不等于行程長度in，則根據(jù)RLL調(diào)制規(guī)則的規(guī)定校正第N個(gè)凹坑的行程長度。
具體地，通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值來校正第N個(gè)行程長度，以使第N個(gè)凹坑的行程長度等于其絕對值最接近第N個(gè)凹坑的行程長度的行程長度in，并且接著校正第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度。如果從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值，則通過減去其中所加的值或者加上其中所減去的值來校正第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度。
在上述數(shù)據(jù)校正方法中，如果M個(gè)凹坑的行程長度符合RLL編碼規(guī)則，即使在第N個(gè)凹坑中檢測到錯(cuò)誤，則不校正第N個(gè)凹坑的行程長度以防止錯(cuò)誤蔓延。
圖8是說明檢測RLL(2，11，8，27，3)調(diào)制的代碼中的錯(cuò)誤校正方法的流程圖。當(dāng)輸入一個(gè)代碼流T(n)時(shí)，初始化行程長度計(jì)算參數(shù)(步驟800)。接著確定在輸入的代碼流中的當(dāng)前比特中是否出現(xiàn)轉(zhuǎn)變在(步驟802)。如果在當(dāng)前比特中沒有出現(xiàn)轉(zhuǎn)變，則比特計(jì)數(shù)參數(shù)增加以讀取下一個(gè)比特(步驟804)，并再次執(zhí)行步驟802。如果在步驟802中檢測到轉(zhuǎn)變，則存貯輸入代碼流T(n)的比特轉(zhuǎn)變位置和行程長度(步驟806)。對于代碼流T(n)后面的M個(gè)代碼流T(n+1)、T(n+2)、T(n+3)和T(n+4)，本實(shí)施例中M＝4，重復(fù)上述步驟。接著，檢查M個(gè)代碼流的每一個(gè)的行程長度是否屬于{2，5，8，11}(步驟808)。換言之，確定M個(gè)代碼流是否具有3T、6T、9T或12T信號。如果所有的代碼流T(n+1)、T(n+2)、T(n+3)和T(n+4)都屬于{2，5，8，11}，則初始化行程長度計(jì)算參數(shù)(步驟810)。接著確定是否有要讀取的代碼流(步驟812)。如果沒有要讀取的代碼流，則處理停止。如果有要讀取的代碼流，則處理前進(jìn)到步驟802。如果在步驟808確定M個(gè)代碼流T(n+1)、T(n+2)、T(n+3)和T(n+4)的至少一個(gè)不屬于{2，5，8，11}，則確定在步驟806存儲的代碼流T(n)的行程長度是否屬于{1，4，7，10}(步驟814)。如果在步驟806存儲的代碼流T(n)的行程長度屬于{1，4，7，10}，即代碼流T(n)具有比2T、5T、8T或11T的凹坑信號的行程長度短1T的行程長度。通過增加代碼流T(n)的行程長度，凹坑信號2T、5T、8T或11T分別被校正成3T、6T、9T或12T。接著，通過從代碼流T(n+1)的行程長度中減去1T來校正代碼流T(n)后面的代碼流T(n+1)(步驟816)。如果在步驟814確定代碼流T(n)的行程長度不屬于{1，4，7，10}，則確定代碼流T(n)的行程長度是否屬于{3，6，9，12}(步驟818)。如果代碼流T(n)的行程長度屬于{3，6，9，12}，即代碼流T(n)具有比4T、7T、10T或13T的凹坑信號的行程長度長1T的行程長度。通過減小代碼流T(n)的行程長度，凹坑信號4T、7T、10T或13T分別被校正成3T、6T、9T或12T。接著，通過從代碼流T(n+1)的行程長度中增加1T來校正代碼流T(n)后面的代碼流T(n+1)(步驟820)。
根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)校正被稱為‘SRC檢測(前瞻凹坑的滑動(dòng)行程長度補(bǔ)償Slide Run Compensation looking forward pits)，因?yàn)樵撔Ｕ峭ㄟ^檢查與所施加的編碼規(guī)則兼容的凹坑來執(zhí)行的。圖9顯示了常規(guī)RLL代碼(a)和根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼(b)的寫入到光存儲介質(zhì)的物理地址數(shù)據(jù)的格式。圖10是顯示其中應(yīng)用了根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼的光存儲介質(zhì)的物理扇區(qū)的數(shù)據(jù)格式的表。如圖10所示，物理地址數(shù)據(jù)包括用于鎖相環(huán)的可變頻率晶振(VFO)數(shù)據(jù)、地址標(biāo)記(AM)數(shù)據(jù)、物理識別數(shù)據(jù)(PID)和ID錯(cuò)誤檢測數(shù)據(jù)(IED)。不象總計(jì)有1004比特的常規(guī)物理地址數(shù)據(jù)格式，具有783的減少的比特總數(shù)的組成數(shù)據(jù)被一次寫入。結(jié)果，在物理地址扇區(qū)中有22％的冗余減少的效果。
圖11A是使用常規(guī)電平分離器數(shù)字化的根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼流的柱狀圖。如圖11A所示，代碼流的凹坑在從2T至12T的范圍以間隔1T長度變化。檢測2T的192個(gè)凹坑、3T的10135個(gè)凹坑、3T的343個(gè)凹坑、5T的141個(gè)凹坑、6T的5621個(gè)凹坑、7T的3個(gè)凹坑、8T的18個(gè)凹坑、9T的2892個(gè)凹坑、10T的7個(gè)凹坑、11T的8個(gè)凹坑和12T的589個(gè)凹坑。除3T、6T、9T和12T凹坑外的凹坑相應(yīng)于錯(cuò)誤。
圖11B是使用SRC檢測器數(shù)字化的根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼流的柱狀圖。如圖11B所示，檢測到3T的10671個(gè)凹坑、6T的5763個(gè)凹坑、9T的1917個(gè)凹坑、12T的595個(gè)凹坑。圖11A所示的錯(cuò)誤消失了。
圖12至14顯示了在不同編碼方法間的檢測效率的不同。圖12是顯示常規(guī)方法和本發(fā)明的與電路噪聲有關(guān)的代碼流檢測水平的圖。如圖12所示，與將電平分離器應(yīng)用到RLL代碼流中的常規(guī)方法相比，當(dāng)將SRC檢測方法應(yīng)用到根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼流中時(shí)，檢測水平改進(jìn)了5db或更大。
圖13是顯示常規(guī)方法和本發(fā)明的與不對稱有關(guān)的代碼流檢測水平的圖，如同13所示，當(dāng)使用SRC檢測器檢測根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼流時(shí)，不對稱余量大約比常規(guī)方法大5％。
圖14是顯示常規(guī)方法和本發(fā)明的與光存儲介質(zhì)的切線傾斜有關(guān)的代碼流檢測水平的圖。如圖14所示，當(dāng)使用SRC檢測器檢測根據(jù)本發(fā)明的ES RLL代碼流時(shí)，在誤差率為10-4上的傾斜余量比常規(guī)方法大0.5度。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)調(diào)制和校正方法在改進(jìn)對干擾的檢測水平容限的同時(shí)，可以減小寫入到光存儲介質(zhì)中的物理地址數(shù)據(jù)的冗余。
盡管已經(jīng)參考優(yōu)選實(shí)施例具體描述和顯示了本發(fā)明，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)該理解在不背離由所附權(quán)利要求定義的本發(fā)明的精神和范圍下，可以從中產(chǎn)生形式和細(xì)節(jié)上的各種變化。
權(quán)利要求
1.一種使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，該行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼應(yīng)用于將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)中，該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中S＝2或更大，d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度。
2.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，其中在RLL調(diào)制代碼中，行程長度是2、5、8和11之一，代碼字的前導(dǎo)0的數(shù)目是1、4和7之一，以及代碼字的結(jié)束0的數(shù)目是1和4之一。
3.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，其中使用RLL調(diào)制代碼將地址數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)的物理扇區(qū)，該地址數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)存取所需的。
4.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，其中預(yù)先形成RLL調(diào)制代碼作為光存儲介質(zhì)中的凹坑，以便寫入和存取包括版權(quán)的重要信息。
5.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，其中包括從使用RLL調(diào)制代碼調(diào)制的代碼字中的丟棄具有最大行程長度的代碼字，以便產(chǎn)生讀取時(shí)鐘信號和同步時(shí)鐘信號。
6.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，其中包括從RLL調(diào)制代碼調(diào)制的代碼字中，丟棄具有絕對值相當(dāng)大的代碼字?jǐn)?shù)字和(CDS)的代碼字。
7.一種使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，該行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼應(yīng)用于將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)中，該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度，該數(shù)據(jù)調(diào)制方法包括產(chǎn)生滿足RLL(2，11，8，27，3)的代碼字；以及將具有12T的行程長度的代碼字從所產(chǎn)生的代碼字中移去，并產(chǎn)生保留代碼字的代碼表，其中T是再現(xiàn)時(shí)鐘信號。
8.如權(quán)利要求7的數(shù)據(jù)調(diào)制方法，還包括從代碼字表中丟棄具有絕對值相當(dāng)大的代碼字?jǐn)?shù)字和(CDS)的代碼字；以及按照CDS絕對值的升序排列保留的代碼字以減小代碼字的直流(DC)分重。
9.一種用于對在使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)之后從光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正的方法，其中該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度，該方法包括(a)通過檢測代碼序列中比特轉(zhuǎn)變，計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀出的代碼序列的行程長度，并且如果檢測第N個(gè)凹坑不符合所述RLL編碼規(guī)則，則檢查隨后M個(gè)凹坑的行程長度以及(b)如果隨后的M個(gè)凹坑的任何一個(gè)的行程長度不符合所述的RLL編碼規(guī)則，則根據(jù)RLL編碼規(guī)則校正第N個(gè)凹坑的行程長度。
10.如權(quán)利要求9的方法，其中步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度小s/2，則通過將s/2加到第N個(gè)凹坑的行程長度來校正第N個(gè)凹坑；以及通過從第(N+1)凹坑的行程長度減去s/2來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
11.如權(quán)利要求9的方法，其中步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度大s/2，則通過從第N凹坑的行程長度減去s/2來校正第N凹坑；以及通過將s/2加到第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
12.如權(quán)利要求9的方法，其中當(dāng)s＝3時(shí)，步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度小1，則通過將1加到第N個(gè)凹坑的行程長度來校正第N個(gè)凹坑；以及通過從第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度中減去1來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
13.如權(quán)利要求9的方法，其中當(dāng)s＝3時(shí)，步驟(b)包括如果第N個(gè)凹坑的行程長度比RLL代碼的行程長度大1，則通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去1來校正第N個(gè)凹坑；以及通過將1加到第(N+1)個(gè)凹坑的行程長度來校正第(N+1)個(gè)凹坑。
14.一種用于對在使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)之后從光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正的方法，其中該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d＝1和s＝3，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度，該方法包括(a)通過檢測比特轉(zhuǎn)變，計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀出的代碼序列的行程長度，確定所計(jì)算的行程長度是否所述的符合RLL調(diào)制規(guī)則，其中行程長度表示為in+1＝in+3(n＝1，2...)，初始行程長度i1＝2，并且。如果檢測到不等于行程長度in的任一個(gè)的第N個(gè)凹坑，則檢測隨后的M個(gè)凹坑的行程長度；以及(b)如果M個(gè)凹坑中至少一個(gè)的行程長度不等于行程長度in，則根據(jù)所述的RLL調(diào)制規(guī)則校正第N個(gè)凹坑的行程長度。
15.如權(quán)利要求14的方法，其中步驟(b)包括(b1)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值來校正第N個(gè)行程長度，以使第N個(gè)凹坑的行程長度等于其絕對值最接近第N個(gè)凹坑的行程長度的行程長度in；以及(b2)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上在步驟(b1)中加上或減去的值來校正第(N+1)個(gè)行程長度。
16.一種用于對在使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)之后從光存儲介質(zhì)中讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正的方法，其中該RLL調(diào)制代碼由RLL(d，k，m，n，s)表示，其中d＝1和s＝3，其中d是最小行程長度，k是最大行程長度，m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度，n是調(diào)制后的代碼字比特長度，以及s是代碼字間的間隔長度，該方法包括(a)通過檢測比特轉(zhuǎn)變，計(jì)算從光存儲介質(zhì)中讀出的代碼序列的行程長度，確定所計(jì)算的行程長度是否符合所述的RLL調(diào)制規(guī)則，其中行程長度表示為in+1＝in+3(n＝1，2...)，初始行程長度i1＝1，并且，如果檢測到不等于行程長度in的任一個(gè)的第N個(gè)凹坑，則檢測隨后的M個(gè)凹坑的行程長度；以及(b)如果M個(gè)凹坑中至少一個(gè)的行程長度不等于行程長度in，則根據(jù)所述的RLL調(diào)制規(guī)則校正第N個(gè)凹坑的行程長度。
17.如權(quán)利要求16的方法，其中步驟(b)包括(b1)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上一個(gè)值來校正第N個(gè)行程長度，以使第N個(gè)凹坑的行程長度等于其絕對值最接近第N個(gè)凹坑的行程長度的行程長度in；以及(b2)通過從第N個(gè)凹坑的行程長度中減去或加上在步驟(b1)中加上或減去的值來校正第(N+1)個(gè)行程長度。
全文摘要
提供一種抵抗信道失真的數(shù)據(jù)調(diào)制方法和一種校正由該調(diào)制方法編碼的數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤的方法。該數(shù)據(jù)調(diào)制方法使用行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼,該行程長度受限(RLL)調(diào)制代碼應(yīng)用于將數(shù)據(jù)寫入到光存儲介質(zhì)中,該RLL調(diào)制代碼由RLL(d,k,m,n,s)表示,其中S=2或更大,d是最小行程長度,k是最大行程長度,m是調(diào)制前的數(shù)據(jù)比特長度,n是調(diào)制后的代碼字比特長度,以及s是代碼字間的間隔長度。該數(shù)據(jù)調(diào)制和校正方法在改進(jìn)抵抗失真干擾的檢測水平的同時(shí),可以減小寫入到光存儲介質(zhì)中的物理地址數(shù)據(jù)的冗余。
文檔編號H03M5/14GK1347113SQ0113535
公開日2002年5月1日 申請日期2001年10月8日 優(yōu)先權(quán)日2000年10月11日
發(fā)明者沈載晟, 李坰根, 金基鉉, 樸賢洙 申請人:三星電子株式會社