一種用于fpga芯片的過(guò)載控制模塊的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于FPGA芯片領(lǐng)域，特別是一種用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊。
【背景技術(shù)】
[0002]FPGA (Field — Programmable Gate Array)，即現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列，它是在 PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物。它是作為專用集成電路(ASIC)領(lǐng)域中的一種半定制電路而出現(xiàn)的，既解決了定制電路的不足，又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點(diǎn)。
[0003]由于功能需要越來(lái)越多的敏感器件或者原件用于FPGA芯片，這些器件和原件過(guò)于敏感就需要更好的過(guò)載控制技術(shù)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型目的是解決上述問(wèn)題，提供一種通過(guò)取樣電流，然后分析結(jié)果調(diào)整電流的一種用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊。
[0005]本實(shí)用新型的用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，包括電流取樣模塊、取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊、過(guò)流檢測(cè)模塊和過(guò)流保護(hù)模塊；電流流入電流取樣模塊，然后電流取樣模塊分別與取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊和過(guò)流檢測(cè)模塊相連，取樣電流分析模塊又與電流調(diào)整模塊相連，過(guò)流檢測(cè)模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流調(diào)整模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流最后從過(guò)流保護(hù)模塊中輸出。
[0006]優(yōu)選地，所述取樣電流分析模塊包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器和信號(hào)對(duì)比模塊。
[0007]優(yōu)選地，所述電流調(diào)整模塊為電流調(diào)解裝置。
[0008]優(yōu)選地，所述過(guò)流檢測(cè)模塊預(yù)設(shè)可變電阻和對(duì)比1C。
[0009]優(yōu)選地，所述過(guò)流保護(hù)模塊為電子開(kāi)關(guān)。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果:有電流取樣部分、取樣電流分析部分和電流調(diào)整部分，可以實(shí)時(shí)的調(diào)節(jié)電流，有過(guò)流檢測(cè)部分和過(guò)流保護(hù)部分，可以在突發(fā)性大電流時(shí)保護(hù)器件不被燒毀。
【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1為本實(shí)用新型的原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和具體的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的闡述。
[0013]如圖1所示，F(xiàn)PGA芯片的過(guò)載控制模塊。
[0014]本實(shí)用新型的用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，包括電流取樣模塊、取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊、過(guò)流檢測(cè)模塊和過(guò)流保護(hù)模塊；電流流入電流取樣模塊，然后電流取樣模塊分別與取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊和過(guò)流檢測(cè)模塊相連，取樣電流分析模塊又與電流調(diào)整模塊相連，過(guò)流檢測(cè)模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流調(diào)整模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流最后從過(guò)流保護(hù)模塊中輸出。所述取樣電流分析模塊包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器和信號(hào)對(duì)比模塊。所述電流調(diào)整模塊為電流調(diào)解裝置。所述過(guò)流檢測(cè)模塊預(yù)設(shè)可變電阻和對(duì)比1C。所述過(guò)流保護(hù)模塊為電子開(kāi)關(guān)。
[0015]電流取樣模塊對(duì)加載給FPGA芯片的電流進(jìn)行取樣，然后取樣電流輸出給取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊和過(guò)流監(jiān)控模塊，當(dāng)取樣電流輸送到取樣電流分析模塊的時(shí)候，取樣電流分析模塊將取樣電流進(jìn)行電壓轉(zhuǎn)換，然后進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換后的信號(hào)進(jìn)行分析，分析結(jié)果輸出給電流調(diào)整模塊，電流調(diào)整模塊根據(jù)分析結(jié)果通過(guò)場(chǎng)效應(yīng)管調(diào)整加載電流；當(dāng)取樣電流輸送到過(guò)流檢測(cè)模塊的時(shí)候，過(guò)流檢測(cè)模塊對(duì)比限流預(yù)設(shè)電壓和取樣電流，當(dāng)取樣電流超過(guò)限流值時(shí)，所述過(guò)流檢測(cè)模塊輸出低電壓給過(guò)流保護(hù)模塊，當(dāng)過(guò)流檢測(cè)模塊的低電壓輸送到過(guò)流保護(hù)模塊的時(shí)候，過(guò)流保護(hù)模塊會(huì)拉低電子開(kāi)關(guān)的驅(qū)動(dòng)電壓，使得電子開(kāi)關(guān)斷開(kāi)從而保護(hù)器件。
[0016]本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將會(huì)意識(shí)到，這里所述的實(shí)施例是為了幫助讀者理解本實(shí)用新型的原理，應(yīng)被理解為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于這樣的特別陳述和實(shí)施例。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以根據(jù)本實(shí)用新型公開(kāi)的這些技術(shù)啟示做出各種不脫離本實(shí)用新型實(shí)質(zhì)的其它各種具體變形和組合，這些變形和組合仍然在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，其特征在于:包括電流取樣模塊、取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊、過(guò)流檢測(cè)模塊和過(guò)流保護(hù)模塊；電流流入電流取樣模塊，然后電流取樣模塊分別與取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊和過(guò)流檢測(cè)模塊相連，取樣電流分析模塊又與電流調(diào)整模塊相連，過(guò)流檢測(cè)模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流調(diào)整模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流最后從過(guò)流保護(hù)模塊中輸出。2.如權(quán)利要求1所述的用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，其特征在于:所述取樣電流分析模塊包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器和信號(hào)對(duì)比模塊。3.如權(quán)利要求1所述的用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，其特征在于:所述電流調(diào)整模塊為電流調(diào)解裝置。4.如權(quán)利要求1所述的用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，其特征在于:所述過(guò)流檢測(cè)模塊預(yù)設(shè)可變電阻和對(duì)比1C。5.如權(quán)利要求1所述的用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，其特征在于:所述過(guò)流保護(hù)模塊為電子開(kāi)關(guān)。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于FPGA芯片的過(guò)載控制模塊，包括電流取樣模塊、取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊、過(guò)流檢測(cè)模塊和過(guò)流保護(hù)模塊；電流流入電流取樣模塊，然后電流取樣模塊分別與取樣電流分析模塊、電流調(diào)整模塊和過(guò)流檢測(cè)模塊相連，取樣電流分析模塊又與電流調(diào)整模塊相連，過(guò)流檢測(cè)模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流調(diào)整模塊又與過(guò)流保護(hù)模塊相連，電流最后從過(guò)流保護(hù)模塊中輸出。本實(shí)用新型的有益效果：有電流取樣部分、取樣電流分析部分和電流調(diào)整部分，可以實(shí)時(shí)的調(diào)節(jié)電流，有過(guò)流檢測(cè)部分和過(guò)流保護(hù)部分，可以在突發(fā)性大電流時(shí)保護(hù)器件不被燒毀。
【IPC分類】H02H3/08, H02H7/20
【公開(kāi)號(hào)】CN205039528
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520832358
【發(fā)明人】吳燕, 張?jiān)平? 張多, 尹蒞文
【申請(qǐng)人】成都辰來(lái)科技有限公司
【公開(kāi)日】2016年2月17日
【申請(qǐng)日】2015年10月26日