調(diào)修悍盤(PAD)施加高電平的編碼組合來模擬輸入變頻信號(hào)；同時(shí)，通過峰值采樣電路采集紅外接收芯片的交流輸出信號(hào)的正向峰值并放大后，輸出給集成電路測試系統(tǒng)。
[0029]圖1示出了本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路，為了便于說明，僅示出了與本實(shí)用新型第一實(shí)施例相關(guān)的部分。
[0030]本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)包括:集成電路測試系統(tǒng)1，集成電路測試系統(tǒng)I的DACM音頻信號(hào)輸出端子連接至少一個(gè)紅外接收芯片Ul至Un (η為正整數(shù))的輸入引腳VIN，集成電路測試系統(tǒng)I通過DACM音頻信號(hào)輸出端子向紅外接收芯片的輸入引腳VIN輸出38ΚΗΖ的正弦信號(hào)；至少一個(gè)峰值采樣電路2，至少一個(gè)峰值采樣電路2與至少一個(gè)紅外接收芯片分別一一對應(yīng)，峰值采樣電路2的輸入端子連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸出引腳VOUT，峰值采樣電路2的輸出端子連接集成電路測試系統(tǒng)1，峰值采樣電路2采集對應(yīng)的紅外接收芯片的交流輸出信號(hào)的正向峰值并放大后輸出給集成電路測試系統(tǒng)I ;人機(jī)交互系統(tǒng)3，人機(jī)交互系統(tǒng)3連接集成電路測試系統(tǒng)I。優(yōu)選地，集成電路測試系統(tǒng)I是型號(hào)為CTA8280的集成電路測試系統(tǒng)。
[0031]本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)用以完成紅外接收芯片的CP測試中的中心頻率調(diào)整測試。在進(jìn)行中心頻率調(diào)整測試過程時(shí)，集成電路測試系統(tǒng)I向紅外接收芯片的輸入引腳VIN輸出固定的38KHZ、40MVVP-P的正弦信號(hào)，對于帶有功能悍盤(PAD2)的紅外接收芯片，例如型號(hào)為QX80067的紅外接收芯片，對功能悍盤(PAD2)施加一高電平脈沖信號(hào)，該高電平脈沖信號(hào)可由直流源模擬得到，功能悍盤(PAD2)通過計(jì)數(shù)該高電平脈沖信號(hào)的個(gè)數(shù)來模擬輸入變頻信號(hào)，從而使得集成電路測試系統(tǒng)I監(jiān)測紅外接收芯片的輸出引腳VOUT輸出的相應(yīng)的放大曲線，并以該放大曲線的波峰對應(yīng)的脈沖個(gè)數(shù)作為中心頻率的TRIMMING碼，依此修調(diào)來將紅外接收芯片的中心頻率調(diào)整為38KHZ ;對于沒有功能悍盤(PAD2)的紅外接收芯片，例如型號(hào)為AP2515、XBOl等紅外接收芯片，可以采用模擬修調(diào)的方式模擬輸入變頻信號(hào)，即對調(diào)修悍盤(PAD)施加電壓電流較小的高電平，對調(diào)修悍盤(PAD)編碼組合，遍歷組合即可尋找到紅外接收芯片輸出的放大曲線的波峰對應(yīng)的組合，據(jù)此TRIMMING也可。對于頻率響應(yīng)正態(tài)分布良好的芯片測試在以上兩種方式上可以采用尋找放大曲線拐點(diǎn)或者二分法的方式以減少測試時(shí)間。
[0032]同時(shí)，為了降低測試成本并滿足多site設(shè)計(jì)需求，集成電路測試系統(tǒng)I通過峰值采樣電路2實(shí)現(xiàn)對紅外接收芯片的輸出引腳VOUT輸出波形的采集。如圖2所示，峰值采樣電路2可包括:型號(hào)為0PA2350的第一運(yùn)算放大器U21、型號(hào)為0PA2350的第二運(yùn)算放大器U22、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第四電阻R4、第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第一電容Cl、第二電容C2、第三電容C3、第四電容C4、第五電容C5、第六電容C6、第七電容C7、二極管D1。其中，第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3串聯(lián)在直流電VDD和地之間，第二電阻R2與第三電阻R3連接的一端同時(shí)連接第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號(hào)正引腳A+，第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號(hào)負(fù)引腳A-與第一運(yùn)算放大器U21的第一輸出引腳OUTA連接、并連接第五電阻R5的第一端，第五電阻R5的第二端連接第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號(hào)正引腳B+、并通過第四電阻R4連接第一電容Cl的第一端，第一電容Cl的第二端作為峰值采樣電路2的輸出端子連接集成電路測試系統(tǒng)I。第六電阻R6和第七電阻R7串聯(lián)在第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳OUTB與地之間，第六電阻R6與第七電阻R7連接的一端連接第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號(hào)負(fù)引腳B-，第一運(yùn)算放大器U21的接地引腳Vss接地，第一運(yùn)算放大器U21的電源引腳VDD通過第二電容C2接地、并通過第三電容C3接地；第二運(yùn)算放大器U22的第一輸出引腳OUTA連接二極管Dl的陽極，二極管Dl的陰極連接第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號(hào)負(fù)引腳A-和第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號(hào)正引腳B+、并通過第八電阻R8接地、并通過第四電容C4接地，第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號(hào)正引腳A+連接第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳0UTB，第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號(hào)負(fù)引腳B-連接第二運(yùn)算放大器U22的第二輸出引腳0UTB、并通過第九電阻R9連接第七電容C7的第一端，第七電容C7的第二端接地，第七電容C7的第一端同時(shí)作為峰值采樣電路2的輸入端子而連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸出引腳V0UT，第二運(yùn)算放大器U22的接地引腳Vss接地，第二運(yùn)算放大器U22的電源引腳VDD通過第五電容C5接地、并通過第六電容C6接地。
[0033]本實(shí)用新型第一實(shí)施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)中，集成電路測試系統(tǒng)I的DACM音頻信號(hào)輸出端子連接紅外接收芯片的輸入引腳并向紅外接收芯片的輸入引腳輸出38KHZ的正弦信號(hào)，紅外接收芯片通過悍盤(PAD2)連接高電平信號(hào)脈沖或通過調(diào)修悍盤(PAD)連接電壓電流較小的高電平以模擬變頻信號(hào)，相對于現(xiàn)有技術(shù)，無需額外增加設(shè)備且不會(huì)延長測試時(shí)間，測試成本低。另外，紅外接收芯片的輸出引腳通過峰值采樣電路2連接集成電路測試系統(tǒng)1，相對于現(xiàn)有技術(shù)，將對紅外接收芯片輸出信號(hào)峰值采樣處理方式轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷鳒y試，所需測試時(shí)間更短，測試的時(shí)間成本低，且使得集成電路測試系統(tǒng)I易于測試并能滿足多site要求。
[0034]圖3示出了本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路，為了便于說明，僅示出了與本實(shí)用新型第二實(shí)施例相關(guān)的部分。
[0035]與第一實(shí)施例不同，第二實(shí)施例的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)在第一實(shí)施例基礎(chǔ)上，還包括:探針卡4，探針卡4的探針連接紅外接收芯片內(nèi)的悍盤或凸塊，探針卡4的輸入/輸出端子連接集成電路測試系統(tǒng)I。
[0036]這樣，在實(shí)現(xiàn)第一實(shí)施例的中心頻率調(diào)整測試的基礎(chǔ)上，還進(jìn)一步利用探針卡4實(shí)現(xiàn)了 CP測試中的直流參數(shù)測試，該測試的測試項(xiàng)目可由用戶定制，典型的包括開路/短路(Open/Short)測試、靜態(tài)功耗電流測試、基準(zhǔn)電壓測試等。其它各組成部分及各部分的電路如第一實(shí)施例所述，不贅述。
[0037]圖4示出了本實(shí)用新型第三實(shí)施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路，為了便于說明，僅示出了與本實(shí)用新型第三實(shí)施例相關(guān)的部分。
[0038]本實(shí)用新型第三實(shí)施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)包括:芯片解碼功能測試電路5，芯片解碼功能測試電路5的輸出端子連接紅外接收芯片的輸入引腳VIN，芯片解碼功能測試電路5的輸出端子向紅外接收芯片的輸入引腳VIN輸出調(diào)制信號(hào)。
[0039]與第一實(shí)施例和第二實(shí)施例不同，第三實(shí)施例的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)在實(shí)現(xiàn)第一實(shí)施例的中心頻率調(diào)整測試和/或直流參數(shù)測試的基礎(chǔ)上，還進(jìn)一步利用芯片解碼功能測試電路5模擬紅外遙控收發(fā)信號(hào)來作為紅外接收芯片的標(biāo)準(zhǔn)測試信號(hào)，以集成電路測試系統(tǒng)I的時(shí)間測量單元測試紅外接收芯片的解碼輸出功能。
[0040]進(jìn)一步地，如圖5所示，芯片解碼功能測試電路5可包括:51單片機(jī)U31、第八電容C8、第九電容C9、第十電容C10、第十電阻R10、第^^一電阻R11、開關(guān)K1、晶振Xl和光信號(hào)收發(fā)電路。其中，51單片機(jī)U31的復(fù)位引腳RST連接第十電容ClO的第一端、第^^一電阻Rll的第一端以及第十電阻RlO的第一端，第十電容ClO的第二端連接+5V直流電、并連接開關(guān)Kl的第一端，開關(guān)Kl的第二端連接第^^一電阻RlI的第二端，第十電阻RlO的第二端接地，晶振Xl連接在51單片機(jī)U31的第一晶振引腳XTALl和第二晶振引腳XTAL2之間，晶振Xl的兩端分別通過第八電容C8和第九電容C9接地；51單片機(jī)U31的電源引腳VCC連接+5V直流電，51單片機(jī)U31的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳通過一光信號(hào)收發(fā)電路連接紅外接收芯片的輸入引腳VIN。
[0041]更進(jìn)一步地，光信號(hào)收發(fā)電路包括:第十二電阻R12、發(fā)光二極管D2、光敏二極管D3、NPN型的三極管Ql，其中，51單片機(jī)U31的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳連接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，三極管Ql的集電極通過第十二電阻R12連接發(fā)光二極管D2的陰極，發(fā)光二極管D2的陽極連接+5V直流電，光敏二極管D3的陽極接地，光敏二極管D3的陰極作為芯片解碼功能測試電路5的輸出端而連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸入引腳VIN。
[0042]在第三實(shí)施例中，芯片解碼功能測試電路5布置于一紅外