本發(fā)明涉及光電信息技術領域，尤其涉及一種掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)及振動補償方法。

背景技術：

掃描帶電粒子顯微鏡是一種利用聚焦的帶電粒子束對樣品進行掃描成像的精密儀器；掃描帶電粒子顯微鏡包括掃描電子顯微鏡和掃描離子顯微鏡，掃描帶電粒子顯微鏡的粒子源發(fā)射的帶電粒子束經(jīng)過光學系統(tǒng)的匯聚、偏轉和聚焦等作用在被測樣品的表面形成一個粒子束斑，同時在掃描偏轉器的控制下對所述樣品進行掃描；粒子束對樣品的掃描方式通常為逐行掃描，如首先偏轉器控制粒子束在Y方向不偏轉，控制粒子束進行X方向的掃描；再使用粒子探測器對粒子束與樣品相互作用產(chǎn)生的背散射粒子、二次粒子等信號進行收集，并將這些信號轉換成顯微圖像的X方向的像素；在完成第一次X方向的掃描后，沿著Y方向按照像素在X方向進行第二次掃描；依次類推，沿Y方向逐行掃描，最終完成對樣品的二維掃描成像。

理想情況下，帶電粒子顯微鏡的鏡筒與被測樣品之間不存在相對運動，在一個顯微觀察的掃描場中，樣品上的粒子束掃描軌跡為沿著X方向的一條條理想的直線，粒子束在樣品表面按照偏轉器設置的方式依次掃描并獲得信號；掃描場中被掃描的每一個采樣點都是固定的，并且在掃描場中帶電粒子束的聚焦點始終與樣品表面在豎直方向上保持固定的距離；如此，在粒子束掃描過程中，粒子束作用在樣品上的束斑大小固定不變，該掃描場中圖像的分辨率是一致的。

但是，在實際應用中，被測樣品通常固定在一個機械式的能夠多維運動的樣品平臺上；此時，由于外界環(huán)境或儀器本身的振動使得樣品平臺與光學鏡筒產(chǎn)生相對位移，即樣品與帶電粒子束產(chǎn)生相對位移；在樣品臺與光學鏡筒不存在剛性連接時，樣品與帶電粒子束產(chǎn)生的相對位移更為明顯。在水平X方向和Y方向上的相對位移使得粒子束斑在樣品上的實際采樣點與理論的采樣點存在偏差，從而造成圖像上的失真，如：圖像上明顯的扭曲和毛刺；在垂直Z方向上的相對位移使得粒子束的聚焦點與樣品的距離發(fā)生變化，導致掃描成像時照射到樣品上的束斑大小不斷變化，影響圖像的分辨率。

技術實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明實施例期望提供一種掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)和振動補償方法，在掃描帶電粒子顯微鏡對樣品進行觀測時，能夠實時監(jiān)測由于帶電粒子顯微鏡與樣品的運動引起的相對振動，并實現(xiàn)對所述相對振動的補償。

本發(fā)明實施例提供一種掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：掃描帶電粒子顯微鏡、傳感裝置、處理器和位移調節(jié)裝置；其中，

所述掃描帶電粒子顯微鏡，用于產(chǎn)生帶電粒子束，所述帶電粒子束用于照射至待測樣品；

所述傳感裝置，與所述掃描帶電粒子顯微鏡和所述待測樣品連接，用于測量所述掃描帶電粒子顯微鏡的鏡筒的振動參數(shù)和所述樣品的振動參數(shù)；

所述處理器，用于對所述鏡筒的振動參數(shù)和所述待測樣品的振動參數(shù)進行處理，獲得所述樣品相對于所述鏡筒的相對運動參數(shù)；并根據(jù)所述相對運動參數(shù)控制調節(jié)所述位移調節(jié)裝置、所述掃描帶電粒子顯微鏡的偏轉器和所述掃描帶電粒子顯微鏡的聚焦鏡。

上述方案中，所述傳感裝置包括第一加速度傳感器和第二加速度傳感器；其中，所述第一加速度傳感器，與承載所述樣品的載片固定剛性連接，用于測量所述樣品的振動加速度；

所述第二加速度傳感器，與所述鏡筒固定剛性連接，用于測量所述鏡筒的振動加速度。

上述方案中，所述處理器，具體用于對所述樣品的振動加速度和所述鏡筒的振動加速度進行選頻、濾波、差分和積分、處理，獲得所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息。

上述方案中，所述處理器，具體用于根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置在水平方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在水平方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的偏轉器，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移補償。

上述方案中，所述處理器，具體用于根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置在垂直方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在垂直方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的聚焦鏡，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在垂直方向的位移補償。

本發(fā)明實施例還提供一種振動補償方法，所述方法應用于掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：掃描帶電粒子顯微鏡、傳感裝置及處理器，所述方法包括：

所述掃描帶電粒子顯微鏡產(chǎn)生的帶電粒子束照射至待測樣品；

與所述掃描帶電粒子顯微鏡和所述待測樣品連接的所述傳感裝置測量所述掃描帶電粒子顯微鏡的鏡筒的振動參數(shù)和所述待測樣品的振動參數(shù)；

所述處理器對所述鏡筒的振動參數(shù)和所述樣品的振動參數(shù)進行處理，得到處理結果；

所述處理器根據(jù)所述處理結果調節(jié)所述位移調節(jié)裝置和所述掃描帶電粒子顯微鏡對振動引起的位移進行補償。

上述方案中，所述傳感裝置包括與所述鏡筒固定剛性連接的第一加速度傳感器和與承載所述樣品的載片固定剛性連接的第二加速度傳感器；

相應的，所述傳感裝置測量所述掃描帶電粒子顯微鏡的鏡筒的振動參數(shù)和所述待測樣品的振動參數(shù)，包括：

所述第一加速度傳感器測量所述樣品的振動參數(shù)，所述第二加速度傳感器測量所述鏡筒的振動參數(shù)。

上述方案中，所述處理器對所述鏡筒的振動參數(shù)和所述樣品的振動參數(shù)進行處理，包括：

所述處理器對所述樣品的振動加速度和所述鏡筒的振動加速度進行選頻、濾波、差分和積分處理，獲得所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息。

上述方案中，所述處理器根據(jù)所述處理結果調節(jié)所述位移調節(jié)裝置和所述掃描帶電粒子顯微鏡進行振動補償，包括：

所述處理器根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置在水平方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在水平方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的偏轉器，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移補償。

上述方案中，所述處理器根據(jù)所述處理結果調節(jié)所述位移調節(jié)裝置和所述掃描帶電粒子顯微鏡進行振動補償，包括：

所述處理器根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置在垂直方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在垂直方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的聚焦鏡，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在垂直方向的位移補償。

本發(fā)明實施例所述的掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)及振動補償方法，所述掃描帶電粒子顯微鏡產(chǎn)生的帶電粒子束照射至待測樣品后，與所述掃描帶電粒子顯微鏡和所述待測樣品連接的所述傳感裝置測量所述掃描帶電粒子顯微鏡的鏡筒的振動參數(shù)和所述待測樣品的振動參數(shù)；所述掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)中的處理器對所述鏡筒的振動參數(shù)和所述樣品的振動參數(shù)進行處理，得到處理結果；并根據(jù)所述處理結果調節(jié)所述位移調節(jié)裝置和所述掃描帶電粒子顯微鏡對振動引起的位移進行補償。如此，通過根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)位移調節(jié)裝置在X方向和Y方向的位移，以及調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的偏轉器，能夠實現(xiàn)振動引起的水平方向的位移補償；通過根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)位移調節(jié)裝置在Z方向的位移，以及調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的聚焦鏡，能夠實現(xiàn)振動引起的垂直方向的位移補償；如此，實時的抑制和補償帶電粒子束與樣品在X方向、Y方向和Z方向上的相對振動，使得實際采樣點更接近理想采樣點，樣品上的粒子束斑大小也更加穩(wěn)定，獲得的掃描圖像也更加清晰。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例一掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)的組成結構示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例影響掃描帶電粒子顯微鏡成像質量的原理示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例二振動補償方法的處理流程示意圖。

具體實施方式

以下根據(jù)說明書附圖以及實施例對本發(fā)明做進一步的闡述。

實施例一

本發(fā)明實施例一提供一種掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)的組成結構圖，如圖1所示，所述掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)包括：掃描帶電粒子顯微鏡100、傳感裝置108、處理器111和位移調節(jié)裝置109；其中，

所述掃描帶電粒子顯微鏡100，用于通過所述掃描帶電粒子顯微鏡中的帶電粒子發(fā)射源101產(chǎn)生帶電粒子束102，所述帶電粒子束102用于照射至待測樣品105；

所述傳感裝置108，與所述掃描帶電粒子顯微鏡100和所述待測樣品105連接，用于測量所述掃描帶電粒子顯微鏡105的鏡筒103的振動參數(shù)和所述樣品105的振動參數(shù)；

所述處理器111，用于對所述鏡筒103的振動參數(shù)和所述待測樣品105的振動參數(shù)進行處理，獲得所述樣品105相對于所述鏡筒103的相對運動參數(shù)；并根據(jù)所述相對運動參數(shù)控制調節(jié)所述位移調節(jié)裝置、所述掃描帶電粒子顯微鏡100的偏轉器110和所述掃描帶電粒子顯微鏡100的聚焦鏡104。

在一實施例中，所述傳感裝置108包括：第一加速度傳感器108a和第二加速度傳感器108b；其中，所述第一加速度傳感器108a與承載所述樣品105的載片106固定剛性連接，所述第一加速度傳感器108a用于快速、實時測量所述樣品的振動加速度；所述第二加速度傳感器108b與所述鏡筒103固定剛性連接，用于快速、實時測量所述鏡筒的振動加速度，即測量所述粒子束的振動加速度；

其中，所述振動加速度包括X方向的水平振動加速度、Y方向的水平振動加速度和Z方向的垂直振動加速度；

這里，所述第一加速度傳感器108a與所述載片106固定剛性連接，能夠減小所述第一加速度傳感器108a與所述載片106之間的相互位移；同理，所述第二加速度傳感器108b與所述鏡筒103固定剛性連接，能夠減小所述第二加速度傳感器108b與所述鏡筒103之間的相互位移。

在一實施例中，所述第一加速度傳感器108a和所述第二加速度傳感器108b均為三維加速度傳感器，所述第一加速度傳感器108a和所述第二加速度傳感器108b的類型可以使壓電式加速度傳感器、壓阻式傳感器、電容式傳感器和伺服式傳感器中的任意一種或任意兩種的組合；同時，為了進一步實時、快速地測量所述鏡筒103和所述樣品105的加速度，可根據(jù)實際操作環(huán)境選擇具有不同頻率響應特性的加速度傳感器。

在一實施例中，所述處理器111，具體用于對所述第一加速度傳感器108a測量獲得的樣品105的振動加速度和所述第二加速度傳感器108b測量獲得的鏡筒103的振動加速度進行數(shù)據(jù)處理分析；具體地，所述第一加速度傳感器108a測量獲得的樣品在X、Y、Z三個方向的加速度分別為a_x1，a_y1和a_z1，所述第二加速度傳感器108b測量獲得的鏡筒在X、Y、Z三個方向的加速度分別為a_x2，a_y2和a_z2；所述處理器111對樣品的加速度和鏡筒的加速度進行處理的示意圖，如圖2所示，所述第一加速度傳感器108a和所述第二加速度108b測量獲得的加速度信號為電壓信號，所述電壓信號首先通過濾波分析模塊201進行選頻濾波，再利用差分電路202對濾波后的信號進行差分，得到X、Y和Z三個方向上的相對加速度信息，所述相對加速度信息經(jīng)過第一積分電路203進行積分處理得到樣品與鏡筒在X、Y和Z三個方向上的相對速度信息，所述相對速度信息經(jīng)過第二積分電路204進行積分處理得到樣品與鏡筒在X、Y和Z三個方向上的相對位移信息。

在一實施例中，所述處理器111的功能可由終端或服務器實現(xiàn)。

在一實施例中，所述處理器111根據(jù)獲取的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在水平方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的偏轉器110，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移補償；所述處理器111根據(jù)獲取的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在垂直方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在垂直方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的聚焦鏡104，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在垂直方向的位移補償；所述水平方向是指水平X方向和水平Y方向，所述垂直方向是指Z方向；

這里，所述位移調節(jié)裝置109的功能可由一壓電平臺實現(xiàn)，所述位移調節(jié)裝置109與所述載片106固定剛性連接；通常，所述掃描帶電粒子顯微鏡100還包括一位移臺107，用于固定載片106；通過調節(jié)所述位移臺107的移動來調節(jié)樣品105的觀測位置，使得掃描帶電粒子顯微鏡100中的帶電粒子束102能夠對樣品的觀測點進行掃描成像；此時，所述位移調節(jié)裝置109還與所述位移臺107固定連接；如此，能夠減小所述位移調節(jié)裝置109與所述載片106之間的位移，以及減小所述位移調節(jié)裝置109與所述位移臺107之間的位移。

在一實施例中，對振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移進行補償時，可通過單獨調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移實現(xiàn)，也可通過單獨調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的偏轉器110實現(xiàn)，也可通過兩者的組合實現(xiàn)；具體地，在通過調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移和調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的偏轉器110實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移補償時，可先通過調節(jié)位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移進行粗略的位移補償，再通過調節(jié)偏轉器110實現(xiàn)高精度的位移補償；其中，所述水平方向是指水平X方向和水平Y方向。

在一實施例中，所述位移調節(jié)裝置109為壓電平臺時，通過調節(jié)壓電平臺X方向和Y方向的控制電路來進行水平方向位移補償，通過調節(jié)壓電平臺Z方向的控制電路來進行垂直方向位移補償；所述壓電平臺的優(yōu)選定位精度為幾百納米，響應時間為毫秒量級；壓電平臺的更優(yōu)選定位精度為幾十納米，響應時間為百微秒量級；壓電平臺的最優(yōu)選定位精度為幾納米或亞納米，響應時間為幾十或幾微秒。

在一實施例中，所述偏轉器110可以包括一組或多組電偏轉式粒子束偏轉器，也可以包括一組或多組磁偏轉式粒子束偏轉器。

在一實施例中，所述聚焦鏡104可以是電聚焦鏡或磁聚焦鏡，具體地，通過調節(jié)所述聚焦鏡的控制電路來調節(jié)粒子束102的焦點在Z方向上的位移。

在實際應用中，所述掃描帶電粒子顯微鏡產(chǎn)生的粒子束在對樣品進行掃描時，粒子束與樣品的振動會引起掃描圖像的失真；影響掃描帶電粒子顯微鏡成像質量的原因有兩種，第一種是樣品與帶電粒子束在X方向和Y方向均存在相對振動，第二種是樣品與帶電粒子束的聚焦點在Z方向上存在相對振動；其中，樣品與帶電粒子束在X方向和Y方向上的相對振動會導致帶電粒子束在樣品上的實際采樣點和理想的采樣點存在偏差，造成掃描圖像失真，所述實際采樣點即為帶電粒子束斑在樣品上的實際位置；樣品與帶電粒子束在Z方向上的相對振動會導致帶電粒子束的聚焦位置相對樣品的上下移動，也就是帶電粒子束的束斑最小處相對樣品的上下移動，從而引起照射到樣品上的束斑大小不穩(wěn)定，最終導致掃描圖像模糊。

本發(fā)明實施例中，通過根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)位移調節(jié)裝置在X方向和Y方向的位移，以及調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的偏轉器，能夠實現(xiàn)振動引起的水平方向的位移補償；通過根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)位移調節(jié)裝置在Z方向的位移，以及調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的聚焦鏡，能夠實現(xiàn)振動引起的垂直方向的位移補償；如此，實時的抑制和補償帶電粒子束與樣品在X方向、Y方向和Z方向上的相對振動，使得實際采樣點更接近理想采樣點，樣品上的粒子束斑大小更加穩(wěn)定，獲得的掃描圖像更加清晰。

實施例二

基于本發(fā)明實施例的上述掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)，本發(fā)明實施例二提供一種振動補償方法，所述振動補償方法應用于本發(fā)明實施例一所述的掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)，所述掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)的組成結構示意圖，如圖2所示，包括：掃描帶電粒子顯微鏡100、傳感裝置108、處理器111和位移調節(jié)裝置109；其中，所述掃描帶電粒子顯微鏡100中的帶電粒子發(fā)射源101產(chǎn)生帶電粒子束102，所述帶電粒子束102用于照射至待測樣品105；所述傳感裝置108與所述掃描帶電粒子顯微鏡100和所述待測樣品105連接；所述振動補償方法的處理流程，如圖3所示，包括以下步驟：

步驟101，所述掃描帶電粒子顯微鏡產(chǎn)生的帶電粒子束照射至待測樣品；

具體地，所述掃描帶電粒子顯微鏡中的帶電粒子發(fā)射源101產(chǎn)生的帶電粒子束照射至待測樣品表面。

步驟102，傳感裝置測量所述掃描帶電粒子顯微鏡的鏡筒的振動參數(shù)和所述待測樣品的振動參數(shù)；

具體地，所述傳感裝置108包括：第一加速度傳感器108a和第二加速度傳感器108b；其中，所述第一加速度傳感器108a與承載所述樣品105的載片106固定剛性連接，所述第一加速度傳感器108a用于快速、實時測量所述樣品的振動加速度；所述第二加速度傳感器108b與所述鏡筒103固定剛性連接，用于快速、實時測量所述鏡筒的振動加速度，即測量所述粒子束的振動加速度。

本實施例中，所述振動參數(shù)即為振動加速度，所述振動加速度包括X方向的水平振動加速度、Y方向的水平振動加速度和Z方向的垂直振動加速度；

這里，所述第一加速度傳感器108a與所述載片106固定剛性連接，能夠減小所述第一加速度傳感器108a與所述載片106之間的相互位移；同理，所述第二加速度傳感器108b與所述鏡筒103固定剛性連接，能夠減小所述第二加速度傳感器108b與所述鏡筒103之間的相互位移。

在一優(yōu)選實施方式中，所述第一加速度傳感器108a和所述第二加速度傳感器108b均為三維加速度傳感器，所述第一加速度傳感器108a和所述第二加速度傳感器108b的類型可以使壓電式加速度傳感器、壓阻式傳感器、電容式傳感器和伺服式傳感器中的任意一種或任意兩種的組合；同時，為了進一步實時、快速地測量所述鏡筒103和所述樣品105的加速度，可根據(jù)實際操作環(huán)境選擇具有不同頻率響應特性的加速度傳感器。

步驟103，對所述鏡筒的振動參數(shù)和所述樣品的振動參數(shù)進行處理，得到處理結果；

這里，所述掃描帶電粒子顯微鏡系統(tǒng)中的處理器對所述第一加速度傳感器108a測量獲得的樣品105的振動加速度和所述第二加速度傳感器108b測量獲得的鏡筒103的振動加速度進行選頻、濾波、差分和積分等處理，得到所述樣品105相對于所述鏡筒103的相對加速度、相對速度和相對位移信息；

具體地，所述第一加速度傳感器108a測量獲得的樣品在X、Y、Z三個方向的加速度分別為a_x1，a_y1和a_z1，所述第二加速度傳感器108b測量獲得的鏡筒在X、Y、Z三個方向的加速度分別為a_x2，a_y2和a_z2；所述處理器111對樣品的加速度和鏡筒的加速度進行處理的示意圖，如圖2所示，所述第一加速度傳感器108a和所述第二加速度108b測量獲得的加速度信號為電壓信號，所述電壓信號首先通過濾波分析模塊201進行選頻濾波，再利用差分電路202對濾波后的信號進行差分，得到X、Y和Z三個方向上的相對加速度信息，所述相對加速度信息經(jīng)過第一積分電路203進行積分處理得到樣品與鏡筒在X、Y和Z三個方向上的相對速度信息，所述相對速度信息經(jīng)過第二積分電路204進行積分處理得到樣品與鏡筒在X、Y和Z三個方向上的相對位移信息。

這里，所述處理器111的功能可由終端或服務器實現(xiàn)。

步驟104，根據(jù)所述處理結果調節(jié)所述位移調節(jié)裝置和所述掃描帶電粒子顯微鏡對振動引起的位移進行補償；

具體地，所述處理器根據(jù)獲取的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在水平方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的偏轉器110，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移補償；所述處理器根據(jù)獲取的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在垂直方向的位移，實現(xiàn)振動引起的所述樣品在垂直方向的位移補償；和/或調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的聚焦鏡104，實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在垂直方向的位移補償；

其中，所述水平方向是指水平X方向和水平Y方向，所述垂直方向是指Z方向；

這里，所述位移調節(jié)裝置109的功能可由一壓電平臺實現(xiàn)，所述位移調節(jié)裝置109與所述載片106固定剛性連接；通常，所述掃描帶電粒子顯微鏡100還包括一位移臺107，用于固定載片106；通過調節(jié)所述位移臺107的移動來調節(jié)樣品105的觀測位置，使得掃描帶電粒子顯微鏡100中的帶電粒子束102能夠對樣品的觀測點進行掃描成像；此時，所述位移調節(jié)裝置109還與所述位移臺107固定連接；如此，能夠減小所述位移調節(jié)裝置109與所述載片106之間的位移，以及減小所述位移調節(jié)裝置109與所述位移臺107之間的位移。

在一實施例中，對振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移進行補償時，可通過單獨調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移實現(xiàn)，也可通過單獨調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的偏轉器110實現(xiàn)，也可通過兩者的組合實現(xiàn)；具體地，在通過調節(jié)所述位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移和調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡100的偏轉器110實現(xiàn)振動引起的所述帶電粒子束在水平方向的位移補償時，可先通過調節(jié)位移調節(jié)裝置109在水平方向的位移進行粗略的位移補償，再通過調節(jié)偏轉器110實現(xiàn)高精度的位移補償；其中，所述水平方向是指水平X方向和水平Y方向。

本發(fā)明實施例中，所述位移調節(jié)裝置為壓電平臺時，通過調節(jié)壓電平臺X方向和Y方向的控制電路來進行水平方向位移補償，通過調節(jié)壓電平臺Z方向的控制電路來進行垂直方向位移補償；所述壓電平臺的優(yōu)選定位精度為幾百納米，響應時間為毫秒量級；壓電平臺的更優(yōu)選定位精度為幾十納米，響應時間為百微秒量級；壓電平臺的最優(yōu)選定位精度為幾納米或亞納米，響應時間為幾十或幾微秒。

本發(fā)明實施例所述偏轉器可以包括一組或多組電偏轉式粒子束偏轉器，也可以包括一組或多組磁偏轉式粒子束偏轉器；所述聚焦鏡可以是電聚焦鏡或磁聚焦鏡，具體地，通過調節(jié)所述聚焦鏡的控制電路來調節(jié)粒子束的焦點在Z方向上的位移。

本發(fā)明實施例中，通過根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)位移調節(jié)裝置在X方向和Y方向的位移，以及調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的偏轉器，能夠實現(xiàn)振動引起的水平方向的位移補償；通過根據(jù)所述樣品相對于所述鏡筒的相對加速度、相對速度和相對位移信息調節(jié)位移調節(jié)裝置在Z方向的位移，以及調節(jié)所述掃描帶電粒子顯微鏡的聚焦鏡，能夠實現(xiàn)振動引起的垂直方向的位移補償；如此，實時的抑制和補償帶電粒子束與樣品在X方向、Y方向和Z方向上的相對振動，使得實際采樣點更接近理想采樣點，樣品上的粒子束斑大小更加穩(wěn)定，獲得的掃描圖像更加清晰。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。