技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種讀出電路結(jié)構(gòu)，其形成在第一類型的半導(dǎo)體襯底(1)上，并且旨在根據(jù)連續(xù)的電荷積分周期來測量從在襯底(1)外部的外部電荷源(2)接收的電荷，所述結(jié)構(gòu)包括：注入二極管，其配置為將從外部的電荷源(2)接收的電荷注入到襯底(1)中；收集二極管，其適合于在襯底(1)中收集通過注入二極管注入的電荷的至少一部分，并且適合于在積分周期期間積累所述電荷；電荷恢復(fù)結(jié)構(gòu)(7)，其配置為恢復(fù)積累在所述收集二極管中的電荷；用于通過所述電荷恢復(fù)結(jié)構(gòu)的電勢還原為初始電勢而在每個(gè)積分周期結(jié)束時(shí)將電荷恢復(fù)結(jié)構(gòu)(7)初始化的裝置。

技術(shù)研發(fā)人員：Y·倪
受保護(hù)的技術(shù)使用者：新成像技術(shù)公司
文檔號(hào)碼：201580030693
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.12
技術(shù)公布日：2017.02.15