專利名稱：一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座。
背景技術(shù)：
內(nèi)存條作為電腦的一種必備組件，為了保證其質(zhì)量和技術(shù)參數(shù)達(dá)到要求，內(nèi)存條
生產(chǎn)商要對(duì)內(nèi)存記憶體進(jìn)行功能測試，起初是將內(nèi)存條直接插在電腦主板的內(nèi)存槽上進(jìn)行
測試，但很容易將主機(jī)板上的內(nèi)存槽插壞，使其喪失功能，此時(shí)就必須對(duì)主機(jī)板上內(nèi)存槽進(jìn)
行拆卸維修，維修成本高并且影響生產(chǎn)效率，為了解決上述問題，業(yè)內(nèi)出現(xiàn)一種轉(zhuǎn)接測試
座，該轉(zhuǎn)接測試座包括接觸線路板PCB和內(nèi)存槽連接器，PCB與內(nèi)存槽連接器焊接成一體，
內(nèi)存槽連接器內(nèi)有彈片端子和塑膠槽，PCB上有設(shè)計(jì)線路和轉(zhuǎn)接金手指及焊盤，彈片端子與
接觸線路板PCB兩面焊盤一一對(duì)應(yīng)連接導(dǎo)通，當(dāng)要進(jìn)行測試時(shí)將此轉(zhuǎn)接測試座插在主機(jī)板
的內(nèi)存槽上并固定成一體待測試，內(nèi)存條插在此轉(zhuǎn)接測試座的內(nèi)存槽連接器內(nèi)測試，此時(shí)
內(nèi)存槽連接器內(nèi)有彈片端子向兩邊張開，夾持并接觸待測內(nèi)存條金手指，使內(nèi)存條的金手
指通過轉(zhuǎn)接測試座與主板內(nèi)存槽對(duì)應(yīng)電連接，從而進(jìn)行測試工作，完成測試后，將內(nèi)存條從
轉(zhuǎn)接測試座上拔下即可，該方案是以轉(zhuǎn)接測試座的損壞來代替主板內(nèi)存槽的損壞，在插拔
測試中也同樣存在壽命很低的問題，僅400次左右，只是省去了主機(jī)板上內(nèi)存槽拆卸維修
的麻煩和潛在風(fēng)險(xiǎn)，造成這種轉(zhuǎn)接測試座壽命低的原因主要是內(nèi)存槽連接器在設(shè)計(jì)上存在
缺陷，無論是彈片端子的設(shè)計(jì)還是塑膠槽的設(shè)計(jì)都有不足，首先是彈片端子的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)不
合理及彈片端子力臂較短，彈片端子的固定根部固定不牢固，這樣會(huì)帶來在插拔測試時(shí)插
跪彈片端子(即彈片端子受外力彎折)，插拔壽命不足和彈片端子易松動(dòng)造成不接觸的問
題，其次塑膠槽兩端未設(shè)計(jì)限位導(dǎo)槽，插拔時(shí)中間防呆柱和防呆槽不易對(duì)正，在插拔測試中
這樣會(huì)帶來對(duì)內(nèi)存槽連接器中間防呆柱的嚴(yán)重磨損導(dǎo)致錯(cuò)位，從而發(fā)生測試時(shí)燒壞內(nèi)存條
的事故，大大增加了生產(chǎn)成本。

實(shí)用新型內(nèi)容為了解決上述問題，本實(shí)用新型提供一種使用壽命長，安全可靠，能有效降低生產(chǎn) 成本的內(nèi)存條保護(hù)測試座。 為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，包括接觸電路 PCB板和內(nèi)存槽連接器，所述內(nèi)存槽連接器包括彈片端子和塑膠槽，所述接觸電路PCB板上 設(shè)有轉(zhuǎn)接金手指、線路及與所述轉(zhuǎn)接金手指一一對(duì)應(yīng)的焊盤，所述接觸電路PCB板的焊盤 與所述彈片端子一一對(duì)應(yīng)電連接，所述塑膠槽的兩端設(shè)有與所測試的內(nèi)存條的尺寸匹配的 導(dǎo)引限位槽。 優(yōu)選的，所述彈片端子設(shè)有加長的直線形力臂。 優(yōu)選的，所述彈片端子的固定根部加長并設(shè)有至少3處剌破固定倒剌。 優(yōu)選的，所述接觸電路PCB板上還設(shè)有電連接于所述線路中的2個(gè)保險(xiǎn)絲。
采用本技術(shù)方案的有益效果是所提供一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，由于塑膠槽的兩端設(shè)有與所測試的內(nèi)存條的尺寸匹配的導(dǎo)引限位槽，完全的限制了內(nèi)存條插入內(nèi)存條保護(hù)測 試座時(shí)發(fā)生或左或右的偏位移動(dòng)，有效減少了對(duì)塑膠槽中間設(shè)有的防呆柱的壓磨損傷，提 高了內(nèi)存條保護(hù)測試座的使用壽命，杜絕了錯(cuò)位誤測或短路燒內(nèi)存條的事故發(fā)生，降低了 生產(chǎn)成本，提高了測試正確性和可靠性。 另外，加長的直線形力臂增加了彈片端子的回復(fù)力，使觸點(diǎn)的電連接更可靠，使用 壽命更長，更耐用。 固定根部的長度延長，并且剌破固定倒剌數(shù)量在3個(gè)以上，使彈片端子與塑膠槽 的連接更加穩(wěn)固，不易松動(dòng)，使產(chǎn)品更加可靠，減少故障和損壞，使用壽命更長，更耐用。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

圖1是本實(shí)用新型的主視圖； 圖2是本實(shí)用新型的左視圖； 圖3是本實(shí)用新型的俯視圖； 圖4是本實(shí)用新型的仰視圖； 圖5是圖1中A處局部放大圖； 圖6是本實(shí)用新型的內(nèi)存槽連接器的主視圖； 圖7是本實(shí)用新型的內(nèi)存槽連接器的左視圖； 圖8是本實(shí)用新型的內(nèi)存槽連接器的右視圖； 圖9是本實(shí)用新型的內(nèi)存槽連接器的俯視圖； 圖10是本實(shí)用新型彈片端子主視圖； 圖11是本實(shí)用新型彈片端子右視圖； 圖12是本實(shí)用新型的接觸電路PCB板的主視圖； 圖13是本實(shí)用新型接觸電路PCB板的左視圖； 圖14是本實(shí)用新型接觸電路PCB板的俯視圖； 圖15是現(xiàn)有技術(shù)中彈片端子的示意圖。 圖中數(shù)字和字母所表示的相應(yīng)部件名稱 1.內(nèi)存槽連接器11.塑膠槽111.導(dǎo)引限位槽12.彈片端子121.剌破固定 倒剌 2.接觸電路PCB板21.2個(gè)保險(xiǎn)22.焊盤23.轉(zhuǎn)接金手指1200.力臂 1201.
固定根部
具體實(shí)施方式如圖l到圖12所示，一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，包括接觸電路PCB板2和內(nèi)存槽連接器 1，內(nèi)存槽連接器包括彈片端子12和塑膠槽ll，塑膠槽11的兩端設(shè)有與所測試的內(nèi)存條的 尺寸匹配的導(dǎo)引限位槽111，彈片端子的固定根部1201設(shè)有4處剌破固定倒剌121，塑膠槽 ll開有貫穿上下兩端的長條形槽，在槽的內(nèi)壁面加工有與要測試的內(nèi)存條的金手指對(duì)應(yīng)的 凹槽，彈片端子12 —一置于凹槽中，彈片端子12的固定根部1201比現(xiàn)有產(chǎn)品延長，并設(shè)有 的4處剌破固定倒剌121與塑膠槽11緊密結(jié)合，比只有兩處剌破固定倒剌121的結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)固可靠，有效的解決了彈片端子12容易松動(dòng)的問題，本實(shí)用新型中，彈片端子12的力臂 1200比現(xiàn)有產(chǎn)品加長了一倍，并加工為直線形，使得彈片端子12的回復(fù)力更優(yōu)，使彈片端 子12與內(nèi)存條的電連接更可靠，延長了使用壽命，接觸電路PCB板2上設(shè)有轉(zhuǎn)接金手指23 及與轉(zhuǎn)接金手指23 —一對(duì)應(yīng)的焊盤22，焊盤22與彈片端子12的下端一一對(duì)應(yīng)焊接，接觸 電路PCB板2上還設(shè)有電連接于線路中的2個(gè)保險(xiǎn)絲21。 本實(shí)用新型的工作原理是，先將內(nèi)存條保護(hù)測試座的轉(zhuǎn)接金手指23插入電腦主 板的內(nèi)存插槽中并鎖扣好，然后將內(nèi)存條的金手指沿導(dǎo)引限位槽111插入內(nèi)存條保護(hù)測試 座中，最后接通電源進(jìn)行測試。 圖15是現(xiàn)有技術(shù)中的彈片端子12的示意圖，其固定根部1201很短，上面只設(shè)有1 到2個(gè)剌破固定倒剌121，使得彈片端子12與塑膠槽11的連接容易發(fā)生松動(dòng)的故障，大大 降低了產(chǎn)品的可靠性，其力臂1200較短，并且是曲線形，因此其回復(fù)力較差，多次使用后容 易發(fā)生接觸不良的事故，本實(shí)用新型針對(duì)上述問題做了優(yōu)化設(shè)計(jì)，有效的解決了上述問題。 本實(shí)用新型的彈片端子12設(shè)有的4處剌破固定倒剌121也可根據(jù)需要改為3個(gè) 或5個(gè)等，以滿足不同的工藝和參數(shù)要求。 采用本技術(shù)方案的有益效果是提供一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，所述塑膠槽的兩端設(shè) 有與所測試的內(nèi)存條的尺寸匹配的導(dǎo)引限位槽，完全的限制了內(nèi)存條插入內(nèi)存條保護(hù)測試 座時(shí)發(fā)生或左或右的偏位移動(dòng)，有效減少了對(duì)塑膠槽中間設(shè)有的防呆柱的壓磨損傷，提高 了內(nèi)存條保護(hù)測試座的使用壽命，杜絕了錯(cuò)位誤測或短路燒內(nèi)存條的事故發(fā)生，降低了生 產(chǎn)成本，提高了測試正確性和可靠性，另外，加長的直線形力臂1200增加了彈片端子12的 回復(fù)力，使觸點(diǎn)的電連接更可靠，使用壽命更長，更耐用，固定根部1201的長度延長，并且 剌破固定倒剌121數(shù)量在3個(gè)以上，使彈片端子12與塑膠槽11的連接更加穩(wěn)固，不易松動(dòng)， 使產(chǎn)品更加可靠，減少故障和損壞，使用壽命更長，更耐用，2個(gè)保險(xiǎn)絲21的設(shè)置，進(jìn)一步提 供事故過電流保護(hù)，有效降低了內(nèi)存燒毀的風(fēng)險(xiǎn)。 以上所述的僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù) 人員來說，在不脫離本實(shí)用新型創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬 于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，包括接觸電路PCB板和內(nèi)存槽連接器，所述內(nèi)存槽連接器包括彈片端子和塑膠槽，所述接觸電路PCB板上設(shè)有轉(zhuǎn)接金手指、線路及通過線路與所述轉(zhuǎn)接金手指一一對(duì)應(yīng)的焊盤，所述接觸電路PCB板的焊盤與所述彈片端子一一對(duì)應(yīng)電連接，其特征在于，所述塑膠槽的兩端設(shè)有與所測試的內(nèi)存條的尺寸匹配的導(dǎo)引限位槽。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，其特征在于，所述彈片端子設(shè)有加長的直線形力臂。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，其特征在于，所述彈片端子的固定根部加長并設(shè)有至少3處剌破固定倒剌。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1到3任一所述的一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，其特征在于，所述接觸電路PCB板上還設(shè)有電連接于所述線路中的2個(gè)保險(xiǎn)絲。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種內(nèi)存轉(zhuǎn)接測試座，包括接觸電路PCB板和內(nèi)存槽連接器，所述內(nèi)存槽連接器包括彈片端子和塑膠槽，所述接觸電路PCB板上設(shè)有轉(zhuǎn)接金手指及與所述轉(zhuǎn)接金手指一一對(duì)應(yīng)的焊盤，所述接觸電路PCB板的焊盤與所述彈片端子一一對(duì)應(yīng)電連接，所述塑膠槽的兩端設(shè)有與所測試的內(nèi)存條的尺寸匹配的導(dǎo)引限位槽，完全的限制了內(nèi)存條插入內(nèi)存條保護(hù)測試座時(shí)發(fā)生或左或右的偏位移動(dòng)，有效減少了對(duì)塑膠槽中間設(shè)有的防呆柱的壓磨損傷，提高了內(nèi)存條保護(hù)測試座的使用壽命，杜絕了錯(cuò)位誤測或短路燒內(nèi)存條的事故發(fā)生，降低了生產(chǎn)成本，提高了測試正確性和可靠性。
文檔編號(hào)H01R31/06GK201444524SQ20092000678
公開日2010年4月28日 申請(qǐng)日期2009年3月19日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月19日
發(fā)明者張光榮 申請(qǐng)人:張光