專利名稱：反射式背光源檢測(cè)方法及其結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及透光待測(cè)物的檢測(cè)技術(shù)，特別是指一種用于檢測(cè)透 光待測(cè)物的反射式背光源檢測(cè)方法及其結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
等離子體、液晶與有機(jī)發(fā)光二極管(organic light emitting display; 0LED )顯示器是透過(guò)多數(shù)主動(dòng)像素元(active picture cells)進(jìn)行發(fā)光，各該像素元是由三個(gè)可分別發(fā)出紅光、綠光以及 藍(lán)光的次像素(sub-pixels)所組成。如果該像素元的其中一個(gè)次像 素發(fā)生故障，該像素元就會(huì)發(fā)出錯(cuò)誤的顏色，而無(wú)法正常顯示，該主 動(dòng)像素元貝U稱為缺陷點(diǎn)(dot defect; mura defect)。所謂缺陷點(diǎn)，是指顯示器上無(wú)法控制的像素元。缺陷點(diǎn)可分為 兩種亮點(diǎn)與暗點(diǎn)；其中，亮點(diǎn)是指在任何畫(huà)面下持續(xù)恒亮的點(diǎn)，切 換到黑屏(black screen)時(shí)就可以發(fā)現(xiàn)；暗點(diǎn)則是在任何畫(huà)面下持 續(xù)恒暗的點(diǎn)，切換到白屏(white screen)時(shí)就可以發(fā)現(xiàn)。缺陷點(diǎn)的 造成多為液晶面板于生產(chǎn)時(shí)，因制程控制不良等因素所造成，其原因 包含有微粒(particle)落在玻璃基板內(nèi)、光阻劑蝕刻薄膜的殘留 雜質(zhì)、薄膜晶體管電路上覆蓋的雜質(zhì)、玻璃基板因靜電傷害而受到破 壞等情形，都會(huì)造成缺陷點(diǎn)的形成。為防止顯示面板出現(xiàn)上述情形，必須依賴玻璃基板的檢測(cè)作業(yè)，運(yùn)用對(duì)透光待測(cè)物的檢測(cè)技術(shù)對(duì)不良品進(jìn)行篩選。在玻璃基板的檢測(cè) 作業(yè)中，現(xiàn)有檢測(cè)作業(yè)是先使用一光源進(jìn)行打光，以提供足夠的光源， 再使用一高分辨率的攝影機(jī)或者掃瞄器描繪光的輸出狀態(tài)；對(duì)玻璃基 板進(jìn)行缺陷點(diǎn)的檢測(cè)，以確保顯示面板的質(zhì)量。請(qǐng)參閱圖3至圖5，其為現(xiàn)有檢測(cè)作業(yè)時(shí)的打光方式，大致可分 為三種亮場(chǎng)打光(light-field illumination )、暗場(chǎng)打光 (dark-field illumination ) 以及同軸打光 (coaxial illumination)。其中，亮場(chǎng)打光是利用物體表面鏡射的方式來(lái)照明， 使表面平滑的區(qū)域會(huì)因反射產(chǎn)生較亮的影像，表面粗糙的區(qū)域則因散 射產(chǎn)生較暗的影像(如圖3所示)；暗場(chǎng)打光是利用物體表面散射的 方式來(lái)照明，使表面平滑的區(qū)域會(huì)因反射產(chǎn)生較暗的影像，表面粗糙 的區(qū)域則因散射產(chǎn)生較亮的影像(如圖4所示)；但，此二種打光方式，容易產(chǎn)生方向性陰影而造成誤判，若不對(duì)影像再進(jìn)行二值化處理， 將致使誤判的機(jī)率提高，具有檢測(cè)效果不佳的缺點(diǎn)。同軸打光是將光 源嵌設(shè)于攝影機(jī)內(nèi)，或者透過(guò)分光鏡自攝影機(jī)前進(jìn)行打光，目的在于減少方向性陰影的形成，可以提供較均勻的照明效果(如圖5所示);然而，此種方式容易于平滑表面產(chǎn)生強(qiáng)烈反射，且構(gòu)件較多而不易于 有限空間內(nèi)進(jìn)行安裝，攝影機(jī)的工作距離容易受到限制，具有檢測(cè)效 果不佳以及裝設(shè)不易的缺點(diǎn)。為解決上述問(wèn)題，有業(yè)者分別于光源與攝影機(jī)以加裝偏振片(polaroid)的方式進(jìn)行檢測(cè)作業(yè)，以達(dá)到減少過(guò)度反射的影響；然 而，此種方式所檢索的影像相較于前述現(xiàn)有技術(shù)偏暗，容易造成誤判， 具有檢測(cè)效果不佳的缺點(diǎn)。綜上所陳，現(xiàn)有的檢測(cè)方法，具有上述的缺失而有待改進(jìn)。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于提供一種反射式背光源檢測(cè)方法，能夠 提供照明均勻的效果，并克服方向性陰影的問(wèn)題，具有提高檢測(cè)效果 的優(yōu)點(diǎn)。于是，為了達(dá)成前述目的，依據(jù)本發(fā)明所提供的一種反射式背 光源檢測(cè)方法，包含下列各步驟提供一透光待測(cè)物以及一反光板， 該反光板是位于該透光待測(cè)物底側(cè)；提供一環(huán)型光纖以及一光源，該 環(huán)型光纖是可位移地位于該透光待測(cè)物頂側(cè)，且未接觸該透光待測(cè) 物，該光源可對(duì)該環(huán)型光纖進(jìn)行投射；當(dāng)該光源投射于該環(huán)型光纖， 會(huì)形成多條入射光，各該入射光會(huì)自該環(huán)型光纖穿經(jīng)該透光待測(cè)物，再經(jīng)由該反光板形成多條反射光；提供一檢測(cè)鏡頭，是透過(guò)該反射光對(duì)該透光待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)，以檢知該透光待測(cè)物的品質(zhì)。通過(guò)此，本發(fā)明透過(guò)上述方法，能夠提供照明均勻的效果，以供進(jìn)行檢測(cè)作業(yè)，并克服方向性陰影的問(wèn)題，降低瑕疵點(diǎn)誤判的機(jī)率，其相較于現(xiàn)有者，具有提高檢測(cè)效果的優(yōu)點(diǎn)。為了詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的構(gòu)造及特點(diǎn)所在，茲舉以下較一佳實(shí)施例并配合圖式說(shuō)明如后，其中


圖1是本發(fā)明一較佳實(shí)施例的動(dòng)作流程圖；圖2是本發(fā)明一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是現(xiàn)有檢測(cè)方法的結(jié)構(gòu)示意圖，其揭示以亮場(chǎng)方式打光的狀態(tài)；圖4是現(xiàn)有檢測(cè)方法的結(jié)構(gòu)示意圖，其揭示以暗場(chǎng)方式打光的狀態(tài)；6圖5是現(xiàn)有檢測(cè)方法的結(jié)構(gòu)示意圖，其揭示以同軸方式打光的狀態(tài)。主要組件符號(hào)說(shuō)明透光待測(cè)物10環(huán)型光纖30 光源40 反射光44反光板20 穿孔32 入射光42 檢測(cè)鏡頭50具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖1及圖2，其為本發(fā)明一較佳實(shí)施例所提供的一種反射 式背光源檢測(cè)方法，包含下列各步驟a) 首先，提供一透光待測(cè)物10以及一反光板20，該反光板20 是位于該透光待測(cè)物IO底側(cè)；其中，本實(shí)施例的該透光待測(cè)物IO是以玻璃基板為例；b) 提供一環(huán)型光纖30以及一光源40;該環(huán)型光纖30是具有一 穿孔32且可位移地位于該透光待測(cè)物10頂側(cè)，且未接觸該透光待測(cè) 物10;該光源40可對(duì)該環(huán)型光纖30進(jìn)行投射；c) 當(dāng)該光源40投射于該環(huán)型光纖30，會(huì)形成多條入射光42， 各該入射光42會(huì)自該環(huán)型光纖30穿經(jīng)該透光待測(cè)物10，再經(jīng)由該 反光板20形成多條反射光44;該反射光44會(huì)先穿經(jīng)該透光待測(cè)物 10，再穿經(jīng)該穿孔32;d) 提供一檢測(cè)鏡頭50，該檢測(cè)鏡頭50為顯微鏡激光組且對(duì)應(yīng) 該穿孔32，并可與該環(huán)型光纖30同步位移；該檢測(cè)鏡頭50透過(guò)該反射光44對(duì)該透光待測(cè)物10進(jìn)行檢測(cè)，以檢知該透光待測(cè)物10的 品質(zhì)。通過(guò)此，本發(fā)明透過(guò)上述方法，能夠透過(guò)該環(huán)型光纖30提供較 柔和均勻的照明效果，可以減少?gòu)?qiáng)烈反射的情形產(chǎn)生；同時(shí)，透過(guò)該 入射光42自該反光板20貫穿該透光待測(cè)物10，使該反射光44對(duì)于非透明物體例如微?；螂s質(zhì)以及裂縫可產(chǎn)生高對(duì)比的影像，有利于 該檢測(cè)鏡頭50進(jìn)行檢測(cè)作業(yè)；再者，本發(fā)明可以克服方向性陰影的 問(wèn)題，降低該檢測(cè)鏡頭50誤判瑕疵點(diǎn)的機(jī)率，其相較于現(xiàn)有技術(shù)， 具有提高檢測(cè)效果的優(yōu)點(diǎn)。經(jīng)由上述實(shí)施例可以得知，本發(fā)明透過(guò)上述方法，能夠提供照 明均勻的效果，以供進(jìn)行檢測(cè)作業(yè)，并克服方向性陰影的問(wèn)題，降低 瑕疵點(diǎn)誤判的機(jī)率，其相較于現(xiàn)有技術(shù)，具有提高檢測(cè)效果的優(yōu)點(diǎn)。綜上所陳，本發(fā)明于前揭實(shí)施例中所揭露的構(gòu)成組件，僅為舉 例說(shuō)明，并非用來(lái)限制本案的范圍，其它等效組件的替代或變化，亦 應(yīng)為本案的申請(qǐng)專利范圍所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種反射式背光源檢測(cè)方法，其特征在于包含下列各步驟a)提供一透光待測(cè)物以及一反光板，該反光板是位于該透光待測(cè)物底側(cè)；b)提供一環(huán)型光纖以及一光源，該環(huán)型光纖是可位移地位于該透光待測(cè)物頂側(cè)，且未接觸該透光待測(cè)物，該光源對(duì)該環(huán)型光纖進(jìn)行投射；c)當(dāng)該光源投射于該環(huán)型光纖，會(huì)形成多條入射光，各該入射光會(huì)自該環(huán)型光纖穿經(jīng)該透光待測(cè)物，再經(jīng)由該反光板形成多條反射光；以及d)提供一檢測(cè)鏡頭，是透過(guò)該反射光對(duì)該透光待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)，以檢知該透光待測(cè)物的品質(zhì)。
2. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式背光源檢測(cè)方法，其特征在于 步驟b)的該環(huán)型光纖是具有一穿孔，該穿孔對(duì)應(yīng)步驟c)的該檢測(cè) 鏡頭，步驟d)的該反射光穿經(jīng)該穿孔。
3. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式背光源檢測(cè)方法，其特征在于 步驟d)的該檢測(cè)鏡頭，為顯微鏡激光組。
4. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的反射式背光源檢測(cè)方法，其特征在于步驟d)的該檢測(cè)鏡頭，是與該環(huán)型光纖同步位移。
5. —種反射式背光源檢測(cè)結(jié)構(gòu)，是用于檢測(cè)一玻璃機(jī)板，其特征在于該反射式背光源檢測(cè)結(jié)構(gòu)包含有一反光板，是位于該透光待測(cè)物底側(cè)；一環(huán)型光纖，是可位移地位于該透光待測(cè)物頂側(cè)，且未接觸該透光待測(cè)物；一光源，對(duì)該環(huán)型光纖進(jìn)行投射，以形成多條入射光，各該入 射光會(huì)自該環(huán)型光纖穿經(jīng)該透光待測(cè)物，再經(jīng)由該反光板形成多條反射光；以及一檢測(cè)鏡頭，是透過(guò)該反射光對(duì)該透光待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)，以檢 知該透光待測(cè)物的品質(zhì)。
6. 依據(jù)權(quán)利要求5所述的反射式背光源檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于該環(huán)型光纖是具有一穿孔，該穿孔對(duì)應(yīng)該檢測(cè)鏡頭，該反射光穿經(jīng)該 穿孔。
7. 依據(jù)權(quán)利要求5所述的反射式背光源檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于該檢測(cè)鏡頭為顯微鏡激光組。
8. 依據(jù)權(quán)利要求5所述的反射式背光源檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其特征在于該檢測(cè)鏡頭是與該環(huán)型光纖同步位移。
全文摘要
本發(fā)明一種反射式背光源檢測(cè)方法，包含下列各步驟提供一透光待測(cè)物以及一反光板，反光板是位于透光待測(cè)物底側(cè)；提供一環(huán)型光纖以及一光源，環(huán)型光纖是可位移地位于透光待測(cè)物頂側(cè)，且未接觸透光待測(cè)物，光源可對(duì)環(huán)型光纖進(jìn)行投射；當(dāng)光源投射于環(huán)型光纖，會(huì)形成多條入射光，各入射光會(huì)自環(huán)型光纖穿經(jīng)透光待測(cè)物，再經(jīng)由反光板形成多條反射光；提供一檢測(cè)鏡頭，是透過(guò)該反射光對(duì)透光待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)，以檢知透光待測(cè)物的品質(zhì)。
文檔編號(hào)H01L21/66GK101324536SQ200710108438
公開(kāi)日2008年12月17日 申請(qǐng)日期2007年6月14日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月14日
發(fā)明者葉公旭, 黃嘉興 申請(qǐng)人:東捷科技股份有限公司