專利名稱：用數(shù)字信號(hào)和射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路測(cè)試rfid芯片的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用數(shù)字信號(hào)和射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路測(cè)試RFID芯片的方法。
背景技術(shù)：
RFID是射頻識(shí)別系統(tǒng)的簡(jiǎn)稱，與其它類(lèi)型的識(shí)別系統(tǒng)相比，有識(shí)別速度快，保密性好，不易受到外界污染，數(shù)據(jù)密度大，可讀性好等優(yōu)勢(shì)，廣泛地應(yīng)用于公交，銀行，醫(yī)療等行業(yè)，在歐美等地已經(jīng)十分普及，典型的例子就是非接觸式IC卡。在我國(guó)，非接觸式IC卡芯片的生產(chǎn)和使用還處于起步階段，目前只有少數(shù)幾個(gè)經(jīng)濟(jì)發(fā)達(dá)城市，在公交，醫(yī)療保險(xiǎn)等行業(yè)進(jìn)行了試點(diǎn)，取得了良好的效果。隨著國(guó)家“金卡工程”的不斷深入，以及即將推出的中國(guó)居民身份證使用非接觸式IC卡，必將大大推動(dòng)非接觸式IC卡在中國(guó)的普及。
目前，影響非接觸式IC卡廣泛使用的因素主要有兩條一是芯片的生產(chǎn)工藝，二是成本。對(duì)于成本的降低來(lái)說(shuō)，主要有兩個(gè)方面的途徑，一是顯著地改進(jìn)生產(chǎn)工藝；第二就是降低其它方面的耗費(fèi)，其中比較重要的就是關(guān)系到最終成品質(zhì)量的芯片測(cè)試。對(duì)于非接觸式IC卡的芯片來(lái)說(shuō)，由于有射頻電路的存在，它就不可能是純數(shù)字電路測(cè)試。人們可以使用混合信號(hào)的測(cè)試儀來(lái)測(cè)試，但是無(wú)論從測(cè)試本身的硬件損耗還是測(cè)試時(shí)間來(lái)說(shuō)，都是不經(jīng)濟(jì)的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種對(duì)RFID芯片進(jìn)行低成本測(cè)試的方法。
本發(fā)明提出的對(duì)RFID芯片進(jìn)行測(cè)試的方法，是一種利用集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分和射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路相結(jié)合的方法，對(duì)符合ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的RFID芯片進(jìn)行測(cè)試。
具體步驟如下由集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào)，通過(guò)射頻發(fā)生/識(shí)別電路產(chǎn)生(發(fā)射)符合ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的射頻信號(hào)，待測(cè)試RFID芯片收到該信號(hào)后，在正常情況下會(huì)產(chǎn)生一個(gè)返回信號(hào)，此時(shí)射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路的識(shí)別部分(即接收部分)即捕獲該信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換成為相應(yīng)的數(shù)字信號(hào)(即解碼)，最后通過(guò)測(cè)試系統(tǒng)與事先保存的期待值進(jìn)行比較，判別芯片的通訊功能是否實(shí)現(xiàn)。
由于測(cè)試過(guò)程和信號(hào)處理幾乎都是通過(guò)射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路來(lái)進(jìn)行而不必過(guò)多占用測(cè)試儀的其它測(cè)試資源，因而大大節(jié)約了測(cè)試成本和測(cè)試時(shí)間。
本發(fā)明的測(cè)試方法的相應(yīng)電路包括兩個(gè)部分，即集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分1與射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路2，見(jiàn)圖1所示。集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分1由數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)器9、精度矯正和診斷回路10、數(shù)字信號(hào)比較器11組成；射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路2由發(fā)射器和接收器組成；其中，發(fā)射器由濾波器4、放大器5、監(jiān)控器6依次電路連接構(gòu)成，接收器由探測(cè)器7與解調(diào)器8電路連接構(gòu)成，發(fā)射器中的放大器5與接收器的探測(cè)器7電路連接；濾波器4、監(jiān)控器6、解調(diào)器8分別與集成電路測(cè)試系統(tǒng)數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分的數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)器9、精度矯正和診斷回路10、數(shù)字信號(hào)比較器11電路連接，待測(cè)芯片3連接于發(fā)射器的放大器5。
利用上述電路，測(cè)試的RFID芯片的具體過(guò)程如下通過(guò)集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分1的數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)器9產(chǎn)生一個(gè)數(shù)字信號(hào)(如圖所示)，通過(guò)濾波器4的濾波作用將該數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換成相同頻率和幅值的正弦波信號(hào)；再通過(guò)放大器5放大成為所需要幅值的正弦波信號(hào)(如圖所示)，給待測(cè)芯3，與此同時(shí)放大器5的前端(未放大信號(hào))連接到監(jiān)控器6，它的作用是將未放大的正弦波信號(hào)反饋給集成電路測(cè)試系統(tǒng)數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分1的精度矯正和診斷回路10，實(shí)時(shí)調(diào)整數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)器9產(chǎn)生的數(shù)字信號(hào)；正常情況下，芯片的返回信號(hào)通過(guò)放大器5的信號(hào)傳輸送到探測(cè)器7。返回信號(hào)通常有一個(gè)初始的高或低電平表示其起始幀位置，探測(cè)器7探測(cè)到該電平信號(hào)，并進(jìn)一步送給解調(diào)器8，其作用是將芯片的返回信號(hào)由模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)(解碼)，最后解調(diào)器8將解調(diào)出的數(shù)字碼返回?cái)?shù)字信號(hào)測(cè)試部分的數(shù)字信號(hào)比較器11，與事先保存好的標(biāo)準(zhǔn)碼比較是否相同，以此來(lái)確定芯片的返回信號(hào)是否正確。
本發(fā)明電路中的各個(gè)模塊，包括濾波器4、放大器5、監(jiān)控器6、探測(cè)器7、解調(diào)器8、數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)器9、精度矯正和診斷回路10、數(shù)字信號(hào)比較器11等，均為常規(guī)的電路模塊。


圖1為本發(fā)明的測(cè)試電路結(jié)構(gòu)框圖。
圖中標(biāo)號(hào)1為集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)測(cè)試部分，2為射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路，3為待測(cè)芯片，4為濾波器，5為放大器，6為監(jiān)控器，7為探測(cè)器，8為解調(diào)器，9為數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)器，10為精度矯正和診斷回路，11為數(shù)字信號(hào)比較器。
具體實(shí)施例方式
將射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路(圖1)模塊搭載在測(cè)試用電路板上，使用集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字通道和射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路，產(chǎn)生一個(gè)符合ISO14443標(biāo)準(zhǔn)的正弦波信號(hào)，例如電壓峰-峰值15V，ASK調(diào)制系數(shù)10％，載波頻率13.56MHz，所帶數(shù)據(jù)串為ALOHA(0x05，0x00，0x00+CRC)。此時(shí)，監(jiān)控器部分開(kāi)始實(shí)時(shí)檢測(cè)該衰減后的的正弦波信號(hào)的穩(wěn)定性。
等待測(cè)試芯片有了響應(yīng)，探測(cè)器部分開(kāi)始工作，比如針對(duì)上面的符合ISO14443標(biāo)準(zhǔn)的正弦波信號(hào)，返回信號(hào)就是電壓峰-峰值15V，BPSK負(fù)載調(diào)制，副載波頻率為847KHz的正弦波信號(hào)，所帶數(shù)據(jù)串為0x50XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX+CRC通過(guò)解調(diào)器解碼，將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)成數(shù)字信號(hào)供測(cè)試系統(tǒng)做進(jìn)一步測(cè)試分析。
另外，也可以將射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路集成到測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部的電路板上去，使之成為集成電路測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)選件。測(cè)試步驟同前。
權(quán)利要求
1.一種對(duì)RFID芯片進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于將集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字部分和射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路相結(jié)合，對(duì)符合ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的RFID芯片進(jìn)行測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于由集成電路測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào)，通過(guò)射頻發(fā)生/識(shí)別電路產(chǎn)生符合ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的射頻信號(hào)，待測(cè)試RFID芯片收到該信號(hào)后，在正常情況下會(huì)產(chǎn)生一個(gè)返回信號(hào)，此時(shí)射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路的識(shí)別部分即捕獲該信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換成為相應(yīng)的數(shù)字信號(hào)，最后通過(guò)測(cè)試系統(tǒng)與事先保存的期待值進(jìn)行比較，判別芯片的通訊功能是否實(shí)現(xiàn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于相應(yīng)測(cè)試電路包括集成電路測(cè)試系統(tǒng)中的數(shù)字信號(hào)發(fā)生器(1)和射頻信號(hào)發(fā)生/識(shí)別電路(2)，數(shù)字信號(hào)發(fā)生器(1)由數(shù)據(jù)傳送器(9)、自矯正器(10)、接受器(11)組成；射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路(2)由發(fā)射器和接收器組成；其中，發(fā)射器由濾波器(4)、放大器(5)、監(jiān)控器(6)依次電路連接構(gòu)成，接收器由探測(cè)器(7)與解調(diào)器(8)電路連接構(gòu)成，發(fā)射器中的放大器(5)與接收器的探測(cè)器電路連接；濾波器(4)、監(jiān)控器(6)、解調(diào)器(8)分別與數(shù)字信號(hào)發(fā)生器的數(shù)據(jù)傳送器(9)、自矯正器(10)、接受器(11)電路連接，待測(cè)芯片(3)連接于發(fā)射器的放大器(5)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于射頻信號(hào)發(fā)射識(shí)別電路直接搭載在測(cè)試板上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于射頻信號(hào)發(fā)射識(shí)別電路集成在測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部的電路板上，成為集成電路測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)測(cè)試選件。
全文摘要
本發(fā)明為一種用數(shù)字信號(hào)和射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路測(cè)試RFID芯片的方法。具體步驟是由測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào)，通過(guò)射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路產(chǎn)生符合ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的射頻信號(hào)，待芯片收到該信號(hào)后，產(chǎn)生一個(gè)返回信號(hào)，射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路的識(shí)別部分捕獲該信號(hào)，并轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，最后送測(cè)試系統(tǒng)判別比較。本發(fā)明可降低測(cè)試成本，節(jié)約測(cè)試時(shí)間。
文檔編號(hào)H01L21/66GK1542937SQ20031010850
公開(kāi)日2004年11月3日 申請(qǐng)日期2003年11月7日 優(yōu)先權(quán)日2003年11月7日
發(fā)明者浜島明, 劉旸 申請(qǐng)人:愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(蘇州)有限公司上海分公司, 愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(蘇州)有限公司上海分公