專利名稱：導電漿料和層壓的陶瓷電子部件的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及導電漿料以及層壓的陶瓷電子部件。具體地說，本發(fā)明涉及用作層壓陶瓷電子部件內電極的導電漿料以及整塊陶瓷電容器。
背景技術：
以前，層壓的陶瓷電子部件(如整塊陶瓷電容器)具有一層壓件，該層壓件包含多層層疊的陶瓷層以及沿上述陶瓷層之間預定界面形成的至少一個內電極。
在該層壓的陶瓷電子部件中，內電極通常是這樣制成的印制和焙燒含有導電粉末和有機載體(它們分散在溶劑中)的導電漿料。更具體地說，在生產層壓陶瓷電子部件時，將待成為內電極的導電漿料印在通過焙燒會形成陶瓷層的指定的陶瓷坯片上，從而形成電極涂層。然后將多層上述坯片層疊在一起，壓制粘合，焙燒，使內電極和陶瓷層同時完成燒結，從而形成具有內電極的陶瓷層壓件。此時，形成內電極的導電粉末的熔點必須高于陶瓷的燒結溫度。當導電粉末的熔點低于陶瓷的燒結溫度時，導電粉末會在焙燒期間熔化，從而在焙燒后內電極可能會發(fā)生斷裂或破裂，使覆蓋面積減少。因此，可選用Pt、Pd、W、Nb、Ni等作為構成內電極的導電粉末，為了減少成本，可用賤金屬如鎳作為導電粉末。
然而，伴隨著層厚降低以及陶瓷層數目的增加，在采用諸如鎳的賤金屬作為內電極的層壓陶瓷電子部件中，由于焙燒期間印刷形成的電極涂層和陶瓷坯片之間的收縮率和熱膨脹系數不同，在內電極和陶瓷層之間界面處會產生大的殘余應力。結果，會產生層壓陶瓷電子部件耐熱驟變性下降的問題。另外，隨著陶瓷層厚度的減小和陶瓷層數的增加，會有另一問題，即，部件在高溫高濕度條件下的可靠性(即耐濕度載荷性)會下降。
隨著各陶瓷層厚度的減小，內電極層的厚度也必須減小。因此，導電漿料中用于形成內電極的導電粉末的粒徑必須進一步減小。當導電粉末的粒徑進一步減小時，由于在焙燒期間導電粉末燒結引起內電極收縮會在更低的溫度下發(fā)生，因此可能會有發(fā)生脫層的問題。
為了解決后一問題，例如日本已審查的專利申請出版物No.7-56850公開了用硅鋁酸鹽層來連接鎳制內電極與陶瓷層的整塊陶瓷電容器。然而，就該整塊陶瓷電容器而言，并沒有改善前面一個問題，即改善耐熱驟變性。
另外，在日本未審查專利申請出版物No.8-259847中，公開了一種采用金屬粉末的導電漿料，該金屬粉末被有機硅化合物和水的反應產物所涂覆。然而，當用該導電漿料作為整塊陶瓷電容器的內電極時，由于漿料中的硅與陶瓷反應產生異常的顆粒生長，因此該方法不能有效地改善前一問題(即改善耐熱驟變性)。

發(fā)明內容
因此，本發(fā)明的一個目的是提供一種導電漿料，它不會在焙燒期間產生脫層，具有優(yōu)秀的耐熱驟變性和耐濕度載荷性。本發(fā)明的另一目的是提供一種層壓的陶瓷電子部件，其中的內電極用上述導電漿料制成。
為實現上述目的，本發(fā)明一方面是一種導電漿料，它由下列組成主要含鎳的導電粉末；有機載體；化合物A，它含有鎂和鈣中的至少一種且是至少一種選自有機酸金屬鹽、氧化物粉末、金屬有機配鹽和醇鹽的物質，其中具有含Ti和Zr中的至少一種的可水解反應性基團的化合物B粘附在上述導電粉末表面上。
本發(fā)明另一方面的導電漿料由下列組成主要含鎳的導電粉末和有機載體，其中化合物A和化合物B粘附在上述導電粉末表面上，該化合物A含有鎂和鈣中的至少一種且是至少一種有機酸金屬鹽、氧化物粉末、金屬有機配鹽和/或醇鹽，化合物B具有含有Ti和Zr中的至少一種的反應基團。
上述化合物B的反應基團宜為烷氧基。
上述化合物B宜為醇鹽。
上述化合物B宜為偶聯(lián)劑。
上述化合物B的粘附量宜為約0.1-5.0％(重量)(相對于100％重量的上述導電粉末，以TiO2和ZrO2計)。
上述化合物B中含有的Ti和Zr總量(以TiO2和ZrO2計)與上述化合物A中含有的Mg和Ca總量(以MgO和CaO計)的摩爾比宜為約0.5-4.0。
本發(fā)明另一方面的層壓的陶瓷電子部件具有一陶瓷層壓件，該層壓件有多層層疊的陶瓷層和沿上述陶瓷層之間界面形成的內電極，其中上述內電極是通過對本發(fā)明的上述導電漿料進行焙燒來制得的。
本發(fā)明的層壓陶瓷電子部件宜進一步具有在上述層壓件端面上不同位置的末端電極，其中多個上述內電極與末端電極中的一個電連接。
本發(fā)明的層壓陶瓷電子部件中的上述陶瓷層可由主要含有鈦酸鋇的介電陶瓷組成。


圖1是本發(fā)明實施方案的整塊陶瓷電容器的截面圖。
具體實施例方式
本發(fā)明的導電漿料包含化合物A和化合物B，至少化合物B必須通過水解粘附在導電粉末表面上。下面將描述將化合物B粘附在導電粉末表面上的處理方法的一個實施方案。本發(fā)明的導電漿料和整塊陶瓷電容器不局限于下文實施方案所生產的那些。
首先，例如，制備鎳粉作為導電粉末。例如主要含鎳的材料，除了鎳以外，還可適當選用含有Cu、Ag、Au、Pt或Pd或其合金的材料作為導電粉末。導電粉末的平均粒徑沒有特別限制。通常，當導電粉末是細顆粒時，由于導電粉末燒結引起內電極的收縮會在更低的溫度下發(fā)生，因此，可能會發(fā)生脫層。然而，當導電粉末的平均粒徑在大約10-200納米范圍內時，本發(fā)明能防止上述現象發(fā)生，因此，本發(fā)明顯示顯著的效果。
然后，將導電粉末分散在有機溶劑(如醇)中，形成懸浮液。當導電粉末的平均粒徑為1微米或更小時，為促進分散，攪拌是有效的，如果需要還可使用分散機，如超聲勻漿器。
將化合物B加入上述懸浮液并分散于其中。化合物B必須具有含Ti和Zr中的至少一種的可水解的反應基團。具體地說，化合物B宜含有一種或多種醇鹽或乙酰丙酮酸鹽，更具體地說，例如是四丙氧基鈦、氧乙酰丙酮酸鈦、四丁氧基鋯、四丙氧基鋯和乙酰丙酮酸鋯。
然后，在所得懸浮液中滴加入水，使化合物B水解。當采用迅速水解的化合物B時，如果需要，宜在滴加時采用水經有機溶劑稀釋的混合溶液，或其中適當加入螯合劑(如胺和羧酸)的混合溶液。另外，當采用緩慢水解的化合物B時，宜采用在水中加入適量水解催化劑(如無機酸或氨水)的混合溶液。
當除化合物B以外，化合物A也與導電粉末粘附時，在將上述化合物B加入懸浮液中并分散同時也將化合物A加入懸浮液中并分散。
化合物A必須含有鎂和鈣中的至少一種，且必須是至少一種選自有機酸金屬鹽、氧化物粉末、金屬有機配鹽和醇鹽的物質。至于化合物A，具體有有機酸金屬鹽，如甲酸鎂、乙酸鎂、乳酸鎂、硬脂酸鎂、辛酸鎂、甲酸鈣、乙酸鈣、乳酸鈣、硬脂酸鈣和辛酸鈣；金屬有機配鹽，如乙酰丙酮酸鎂和乙酰丙酮酸鈣；以及醇鹽，如二正丁氧基鎂和二乙氧基鎂。
在化合物A也與導電粉末粘附的情況下，粘附形式沒有特別限制。例如，當化合物A具有反應基團(如醇鹽)時，化合物A水解，然后與導電粉末粘附。
然后，通過過濾、傾析等手段從懸浮液中除去溶劑和水，進行干燥，從而得到其上粘附有化合物B的水解產物或者還粘附有化合物A的導電粉末。
本發(fā)明的化合物B的粘附量宜在大約0.1-5.0％(重量)范圍內(以TiO2和ZrO2計，相對于100％(重量)導電粉末而言)。當上述粘附量約為0.1％(重量)或更高時，會表現出使內電極與陶瓷層之間界面處產生的殘余應力減少的效果，因此能可靠地防止脫層產生。另一方面，當上述粘附量約為5.0％(重量)或更低時，會表現出通過上述導電漿料印制和焙燒而形成的電極的耐熱驟變性有所改善的效果。
本發(fā)明化合物B中所含的Ti和Zr的總量(以TiO2和ZrO2計)相對于本發(fā)明化合物A中所含Mg和Ca的總量(以MgO和CaO計)的摩爾比宜約為0.5-4.0。當上述摩爾比約為0.5或更高時，會表現出使內電極和陶瓷層之間界面處產生的殘余應力降低的效果，因此能可靠地防止脫層產生。另一方面，當上述摩爾比約為4.0或更低時，會表現出使通過印制和焙燒上述導電漿料制得的電極的耐熱驟變性有所改善的效果。
在本發(fā)明導電漿料的實施方案中，導電漿料由下列組成導電粉末，其中化合物B通過例如上述方法粘附在其表面上；有機載體；和化合物A。在本發(fā)明導電漿料的另一實施方案中，導電漿料由下列組成導電粉末，其中化合物A和化合物B通過例如上述方法粘附在其表面上；和有機載體。
本發(fā)明的導電漿料的生產方法沒有特別限制。例如，用與常規(guī)導電漿料相似的方式，將導電粉末分散在有機載體中，然后捏和，制得導電漿料。
在生產本發(fā)明的導電漿料時，可采用經化合物A和化合物B粘合處理的導電粉末，但是也可用在空氣或氮氣中200-800℃下經過進一步熱處理的導電粉末(如果需要的話)。
下面將參照圖1詳細描述本發(fā)明層壓陶瓷電子部件的實施方案。即，層壓的陶瓷電子部件1具有陶瓷層壓件2、內電極3、末端電極4和鍍膜5。
陶瓷層壓件2是通過對多層陶瓷層2a的陶瓷層壓坯件進行焙燒制得的，其中陶瓷層2a由主要例如含BaTiO3的介電材料組成。
將內電極3置于陶瓷層壓件2的陶瓷層2a之間，它是由本發(fā)明的導電漿料焙燒制得的，通過焙燒印有該導電漿料的多層陶瓷坯片2a導電漿料與陶瓷坯片2a一同焙燒。例如，形成內電極3的各個末端邊緣，使其在陶瓷層壓件2的一個端面上露出。
例如，當各個內電極3的一端在陶瓷層壓件2的端面上露出時，通過下列步驟形成末端電極4將用于形成末端電極的導電漿料涂布到陶瓷層壓件2端面上，隨后焙燒這些導電漿料，從而使末端電極與內電極3電連接和機械連接。
鍍膜5例如是通過Sn或Ni等化學鍍或焊鍍來制得的，在末端電極4上形成至少一層。
陶瓷層壓件2的材料不局限于上述實施方案中的那些，也可以是例如其它介電材料(如PbZrO3)、絕緣材料、磁性材料或半導體材料。
本發(fā)明層壓陶瓷電子部件中內電極3的層數不局限于上述實施方案，可以形成任意層數的內電極。
末端電極4通常通過下列步驟來形成將含有用作末端電極材料的導電粉末的導電漿料涂布到焙燒過的陶瓷層壓件2上，隨后對該導電漿料進行焙燒。但是，末端電極4也通過將導電漿料涂布到焙燒前的陶瓷層壓坯件上然后使該導電漿料與陶瓷層壓坯件一起焙燒來制得。形成內電極的方法及其數量不局限于上述實施方案。
鍍膜5不局限于上述實施方案，也可沒有鍍膜。另外，可以形成任何數量的層。
實施例1在本實施例中，制成具有圖1所示結構的整塊電容器作為層壓的陶瓷電子部件。
為了制成用式{(Ba1－xCax)O}m(Ti1－yZry)O2(式中1.005≤m≤1.03，0.02≤x≤0.22和0＜y≤1.20)表示的陶瓷作為構成陶瓷層的非還原性介電陶瓷，稱取用作陶瓷的平均直徑為0.3微米的材料粉末，混合，煅燒制得煅燒的混合物。將聚乙烯醇縮丁醛基粘合劑和諸如乙醇的有機溶劑加入其中，用球磨機濕混，制得陶瓷漿料。然后，用刮刀法將所得陶瓷漿料成形為片材，制得厚5微米的矩形陶瓷坯片。
將化學蒸汽沉積方法制得的100克鎳粉分散在0.2升乙醇中，形成懸浮液。然后用超聲勻漿器對該懸浮液進行分散處理。制備預定量的作為化合物A的乙酸鎂和預定量的作為化合物B的四丙氧基鈦。將它們溶解在上述懸浮液中，攪拌，制得混合的懸浮液樣品1-15。
隨后，用滾柱式泵將有10克純水和10克氨水的混合溶液滴入混合懸浮液樣品1-15的每一份中。隨后，對每一份所得混合物攪拌12小時，從而使乙酸鎂(化合物A)粘附在鎳粉表面上，使四丙氧基鈦(化合物B)水解并粘附在鎳粉表面上。用傾析法進行固-液分離，使得到的沉淀在120℃下干燥12小時，從而制得其上粘附有乙酸鎂和四丙氧基鈦的水解產物的導電粉末樣品1-15。乙酸鎂和四丙氧基鈦的水解產物的含量(分別以TiO2和MgO計)示于表1。
用與上述樣品1-15相似的方式，只是懸浮液中不加入作為化合物B的四丙氧基鈦，制得僅有作為化合物A的乙酸鎂粘附在鎳粉表面上的導電粉末樣品16-18。
然后，使42％(重量)的各導電粉末樣品1-18、44％(重量)有機載體(通過將6份重量乙基纖維素基有機粘合劑溶解在94份重量萜品醇中制得)、和14％(重量)萜品醇分散，用球磨法混合，制得導電漿料樣品1-18。
關于各份樣品的相對于100％(重量)導電粉末的氧化物含量以及TiO2/MgO摩爾比顯示在表1中。
將各導電漿料樣品1-18絲網印刷到上述陶瓷坯片上，制得用于構成內電極的導電漿料膜。此時，通過改變絲網圖案的厚度，將電極涂層厚度(以鎳金屬計，用x射線涂層厚度計量儀測定)調節(jié)至0.5微米。
然后，制得陶瓷層壓件，其中多層上述陶瓷坯片層壓在一起，從而使導電漿料膜外露的側面出現在交替的片材上。在氮氣氣氛、300℃下對所得陶瓷層壓件進行加熱，燒去有機粘合劑，然后在H2-N2-H2O組成的非還原性氣氛下焙燒，制得陶瓷層壓件樣品1-18。在焙燒步驟中，溫度以每小時200℃的速度升高，并在1200℃下保溫2小時。冷卻速度為200℃/小時。
用含銀的導電漿料涂布陶瓷層壓件樣品1-18的兩個端面，然后在N2-空氣氣氛、800℃下焙燒，從而形成與內電極電連接的末端電極。然后，在上述末端電極上形成鎳鍍層，再在該鎳鍍層上形成焊接鍍層，從而形成整塊陶瓷電容器樣品1-18。所得整塊電容器的外部尺寸為寬1.6毫米、長3.2毫米，厚1.2毫米。內電極的厚度為0.7微米，介于內電極之間的介電陶瓷層厚3微米，有效介電陶瓷層總數為150。
測定整塊電容器樣品1-18的脫層發(fā)生率、介電常數和在加速壽命試驗中平均失效時間。測定結果及評價結果示于表1。
脫層發(fā)生率這樣來測定從每份樣品制得100片試片，在垂直于長度方向的平面內切割。對用樹脂固定的試片的切割表面進行拋光，用顯微鏡觀察拋光表面上是否存在裂痕。計數裂痕，確定相對于總數100的發(fā)生率。
用加速壽命試驗來測定試片平均失效時間，方法是在150℃下對試片施加10V/mm的直流電電壓，測定絕緣電阻隨時間的變化。絕緣電阻達到105歐姆或更低的時間認為是發(fā)生失效的時間，確定100片試片至發(fā)生失效的平均時間。
關于評價，當脫層發(fā)生率為0％、介電常數高于對比例樣品17和18的介電常數，且平均失效時間長于對比例樣品17和18時，評為“優(yōu)”，即樣品在本發(fā)明特別佳的范圍內。當樣品僅介電常數低于作為對比例的整塊電容器樣品17和18時，評為“良”，即樣品在本發(fā)明的較佳范圍內。當樣品與評為“優(yōu)”或“良”的上述樣品相比具有較低水平的介電常數或平均失效時間，但是其效果比整塊電容器樣品17和18好時，評為“中等”，即樣品在本發(fā)明的范圍內。對比例樣品評為“差”。

從表1可以看出，對于整塊電容器樣品2、3、6、7、10和11，其中作為化合物B的四丙氧基鈦是水解的，它相對于100％(重量)的導電粉末的粘附量為0.1％-5.0％(重量)(以TIO2計)，作為化合物B的四丙氧基鈦中含有的Ti量(以TiO2計)與作為化合物A的乙酸鎂中含有的Mg量(以MgO計)的摩爾比在0.5-4.0的范圍內，所有這些樣品的脫層發(fā)生率均為0％，介電常數為3130-3480，明顯高于作為對比例的整塊電容器樣品17的介電常數(2150)，且加速壽命試驗中的失效平均時間為75-80小時，比作為對比例的整塊電容器樣品18的平均失效時間(3小時)長得多，因此這些樣品在本發(fā)明的特別佳的范圍內。
對于整塊電容器樣品1、5和9，其中作為化合物B的四丙氧基鈦是水解的，它相對于100％(重量)的導電粉末的粘附量為0.1％-5.0％(重量)(以TiO2計)，作為化合物B的四丙氧基鈦中含有的Ti量(以TiO2計)與作為化合物A的乙酸鎂中含有的Mg量(以MgO計)的摩爾比小于0.5，它們的介電常數為2070-2100，比作為對比例的整塊電容器樣品17的介電常數(2150)稍差，但是這些數值在整塊電容器介電常數可接受的范圍內。另外，所有樣品的脫層發(fā)生率均為0％，加速壽命試驗中的平均失效時間為78-81小時，比作為對比例的整塊電容器樣品18的平均失效時間(3小時)長得多，因此這些樣品在本發(fā)明的較佳范圍內。
對于整塊電容器樣品4、8和12，其中作為化合物B的四丙氧基鈦是水解的，它相對于100％(重量)的導電粉末的粘附量為0.1％-5.0％(重量)(以TiO2計)，作為化合物B的四丙氧基鈦中含有的Ti量(以TiO2計)與作為化合物A的乙酸鎂中含有的Mg量(以MgO計)的摩爾比超過4.0，加速壽命試驗中的平均失效時間較短(30-37小時)，比在本發(fā)明特別佳范圍內的上述整塊電容器樣品2、3、6、7、10和11的差，但是上述平均失效時間與作為對比例的整塊電容器樣品18的平均失效時間(3小時)相比要長得多。另外，所有樣品的脫層發(fā)生率均為0％，介電常數為2600-3210，明顯高于作為對比例的整塊電容器樣品17的介電常數(2150)。因此，這些樣品在本發(fā)明的較佳范圍內。
對于整塊電容器樣品13-15，其中作為化合物B的四丙氧基鈦是水解的，它相對于100％(重量)的導電粉末的粘附量為7.0％(重量)(以TiO2計)，介電常數為1680-3120，樣品13的數值比作為對比例的整塊電容器樣品17的介電常數(2150)差。加速壽命試驗中的平均失效時間較短(22-26小時)，比在本發(fā)明特別佳范圍內的上述整塊電容器樣品2、3、6、7、10和11的差，但是上述平均失效時間在整塊電容器介電常數可接受的范圍內，與作為對比例的整塊電容器樣品18的平均失效時間(3小時)相比要長得多。另外，所有樣品的脫層發(fā)生率均為0％，因此這些樣品在本發(fā)明的范圍內。
另一方面，對于整塊電容器樣品16-18，化合物B沒有水解，且沒有粘附到鎳粉上，脫層發(fā)生率高達55％-100％，加速壽命試驗中的平均失效時間不能測定或非常短(3小時或更短)，因此這些樣品是差的。對于整塊電容器樣品16，由于脫層發(fā)生率為100％，因此不能測定介電常數和平均失效時間。
實施例2用與實施例1相似的方式，制得導電粉末樣品19-36，制成整塊電容器樣品19-36，只是用環(huán)烷酸鎂作為化合物A，用四丁氧基鋯作為化合物B。每個樣品用相對于100％(重量)導電粉末的氧化物計的含量和ZrO2/MgO摩爾比示于表2。
測定整塊電容器樣品19-36的脫層發(fā)生率、介電常數和加速壽命試驗中的平均失效時間。其結果及評價結果示于表2。各測定方法和評價方法與實施例1相似。

從表2可以看出，對于整塊電容器樣品20、21、24、25、28和29，其中作為化合物B的四丁氧基鋯相對于100％(重量)導電粉末的粘附量為0.1％-5.0％(重量)(以ZrO2計)，作為化合物B的四丁氧基鋯中含有的Zr量(以ZrO2計)與作為化合物A的環(huán)烷酸鎂中含有的Mg量(以MgO計)的摩爾比在0.5-4.0的范圍內，所有這些樣品的脫層發(fā)生率均為0％，介電常數為3150-3490，明顯高于作為對比例的整塊電容器樣品35的介電常數(2140)，且加速壽命試驗中的失效平均時間為72-82小時，比作為對比例的整塊電容器樣品36的平均失效時間(3小時)長得多，因此這些樣品在本發(fā)明的特別佳的范圍內。
對于整塊電容器樣品19、23和27，其中作為化合物B的四丁氧基鋯相對于100％(重量)導電粉末的粘附量為0.1％-5.0％(重量)(以ZrO2計)，作為化合物B的四丁氧基鋯中含有的Zr量(以ZrO2計)與作為化合物A的環(huán)烷酸鎂中含有的Mg量(以MgO計)的摩爾比小于0.5，它們的介電常數為2020-2140，與作為對比例的整塊電容器樣品35的介電常數(2140)相同或稍差一些，但是這些數值在整塊電容器介電常數可接受的范圍內。另外，所有樣品的脫層發(fā)生率均為0％，加速壽命試驗中的平均失效時間為80-83小時，比作為對比例的整塊電容器樣品36的平均失效時間(3小時)長得多，因此這些樣品在本發(fā)明的較佳范圍內。
對于整塊電容器樣品22、26和30，其中作為化合物B的四丁氧基鋯相對于100％(重量)導電粉末的粘附量為0.1％-5.0％(重量)(以ZrO2計)，作為化合物B的四丁氧基鋯中含有的Zr量(以ZrO2計)與作為化合物A的環(huán)烷酸鎂中含有的Mg量(以MgO計)的摩爾比超過4.0，加速壽命試驗中的平均失效時間較短(31-39小時)，比在本發(fā)明特別佳范圍內的上述整塊電容器樣品20、21、24、25、28和29的差，但是上述平均失效時間與作為對比例的整塊電容器樣品36的平均失效時間(3小時)相比要長得多。另外，所有樣品的脫層發(fā)生率均為0％，介電常數為2590-3310，明顯高于作為對比例的整塊電容器樣品35的介電常數(2140)。因此，這些樣品在本發(fā)明的較佳范圍內。
對于整塊電容器樣品31-33，其中作為化合物B的四丁氧基鋯是水解的，它相對于100％(重量)導電粉末的粘附量為7.0％(重量)(以ZrO2計)，介電常數為1800-3120，樣品31的數值比作為對比例的整塊電容器樣品35的介電常數(2140)差。加速壽命試驗中的平均失效時間較短(23-28小時)，比在本發(fā)明特別佳范圍內的上述整塊電容器樣品20、21、24、25、28和29的差，但是上述平均失效時間在整塊電容器介電常數可接受的范圍內，與作為對比例的整塊電容器樣品36的平均失效時間(3小時)相比要長得多。另外，所有樣品的脫層發(fā)生率均為0％，因此這些樣品在本發(fā)明的范圍內。
另一方面，對于整塊電容器樣品34-36，化合物B沒有粘附到鎳粉上，脫層發(fā)生率高達53％-100％，加速壽命試驗中的平均失效時間不能測定或非常短(3小時或更短)，因此這些樣品是差的。對于整塊電容器樣品34，由于脫層發(fā)生率為100％，因此不能測定介電常數和平均失效時間。
如上所述，本發(fā)明導電漿料由下列組成主要由鎳組成的導電粉末；有機載體；化合物A，它含有鎂和鈣中的至少一種且是至少一種選自有機酸金屬鹽、氧化物粉末、金屬有機配鹽和醇鹽的物質，其中具有含Ti和Zr中的至少一種的可水解反應性基團的化合物B粘附在上述導電粉末表面上。因此，例如當用本發(fā)明的導電漿料來制成層壓陶瓷電子部件的內電極時，在焙燒步驟中不會發(fā)生脫層，并能表現出所得層壓陶瓷電子部件具有優(yōu)良的耐熱驟變性和耐濕度載荷性的效果。
另外，本發(fā)明的導電漿料由下列組成主要含鎳的導電粉末和有機載體，其中化合物A和化合物B粘附在上述導電粉末表面上，該化合物A含有鎂和鈣中的至少一種且是至少一種選自有機酸金屬鹽、氧化物粉末、金屬有機配鹽和醇鹽的物質，化合物B具有含有Ti和Zr中的至少一種的反應基團。因此，例如當用本發(fā)明的導電漿料來制成層壓陶瓷電子部件的內電極時，在焙燒步驟中不會發(fā)生脫層，并能表現出所得層壓陶瓷電子部件具有優(yōu)良的耐熱驟變性和耐濕度載荷性的效果。
另外，由于該導電漿料主要含鎳，因此本發(fā)明能降低層壓陶瓷電子部件的成本，并能降低層厚度和增加陶瓷層的層數。
權利要求
1.一種導電漿料，它包含含鎳的導電粉末，該導電粉末表面上粘附有水解的化合物B，所述水解的化合物B包含Ti和Zr中的至少一種；有機載體；和化合物A，它含有鎂和鈣中的至少一種，選自有機酸金屬鹽、氧化物粉末、金屬有機配鹽和醇鹽。
2.根據權利要求1所述的導電漿料，其中化合物A粘附在導電粉末的表面上。
3.根據權利要求2所述的導電漿料，其中化合物B具有烷氧基。
4.根據權利要求1所述的導電漿料，其中化合物B是醇鹽。
5.根據權利要求4所述的導電漿料，其中所述化合物B相對于100％重量所述導電粉末的粘附量以TiO2和ZrO2計為0.1％-5.0％重量。
6.根據權利要求5所述的導電漿料，其中所述化合物B中含有的以TiO2和ZrO2計的Ti和Zr總量與所述化合物A中含有的以MgO和CaO計的Mg和Ca總量的摩爾比為0.5-4.0。
7.根據權利要求6所述的導電漿料，其中導電粉末的平均粒徑為10-200納米，其中化合物A是有機酸鎂鹽。
8.根據權利要求3所述的導電漿料，其中所述化合物B是偶聯(lián)劑。
9.根據權利要求1所述的導電漿料，其中所述化合物B相對于100％重量所述導電粉末的粘附量以TiO2和ZrO2計為0.1-5.0％重量。
10.根據權利要求1所述的導電漿料，其中所述化合物B中含有的以TiO2和ZrO2計的Ti和Zr總量與所述化合物A中含有的以MgO和CaO計的Mg和Ca總量的摩爾比為0.5-4.0。
11.根據權利要求1所述的導電漿料，其中所述化合物B是乙酰丙酮酸鹽。
12.一種層壓的陶瓷電子部件，它含有一陶瓷層壓件，該層壓件包含多層層疊的陶瓷層和至少一個在兩層所述陶瓷層之間界面處的內電極，其中所述內電極是經焙燒的權利要求7所述的導電漿料。
13.根據權利要求12所述的層壓的陶瓷電子部件，它還包括至少兩個隔開的末端電極并具有多個所述內電極，每個內電極與所述末端電極中的僅僅一個電連接。
14.根據權利要求13所述的層壓的陶瓷電子部件，其中所述陶瓷包含介電陶瓷鈦酸鋇。
15.一種層壓的陶瓷電子部件，它含有一陶瓷層壓件，該層壓件包含多層層疊的陶瓷層和至少一個在兩層所述陶瓷層之間界面處的內電極，其中所述內電極是經焙燒的權利要求2所述的導電漿料。
16.根據權利要求15所述的層壓的陶瓷電子部件，它還包括至少兩個隔開的末端電極并具有多個所述內電極，每個內電極與所述末端電極中的僅僅一個電連接。
17.根據權利要求16所述的層壓的陶瓷電子部件，其中所述陶瓷包含介電陶瓷鈦酸鋇。
18.一種層壓的陶瓷電子部件，它含有一陶瓷層壓件，該層壓件包含多層層疊的陶瓷層和至少一個在兩層所述陶瓷層之間界面處的內電極，其中所述內電極是經焙燒的權利要求1所述的導電漿料。
19.根據權利要求18所述的層壓的陶瓷電子部件，它還包括至少兩個隔開的末端電極并具有多個所述內電極，每個內電極與所述末端電極中的僅僅一個電連接。
20.根據權利要求18所述的層壓的陶瓷電子部件，其中所述陶瓷包含介電陶瓷鈦酸鋇。
全文摘要
本發(fā)明提供了層壓陶瓷電子部件,如整塊陶瓷電容器,它不會在焙燒期間發(fā)生脫層且具有優(yōu)良的耐熱驟變性和耐濕度載荷性。還提供了用于制成層壓陶瓷電子部件的內電極的導電漿料以及采用該導電漿料的層壓陶瓷電子部件。導電漿料由下列組成:主要是鎳的導電粉末;有機載體;化合物A,它含有鎂和鈣中的至少一種,是有機酸金屬鹽、氧化物粉末、金屬有機配鹽和/或醇鹽;以及化合物B,它具有含Ti和Zr中的至少一種的可水解的反應基團,且粘附在導電粉末表面上。
文檔編號H01B1/22GK1331474SQ01122368
公開日2002年1月16日 申請日期2001年7月2日 優(yōu)先權日2000年7月5日
發(fā)明者宮崎孝晴, 山名毅 申請人:株式會社村田制作所