用于視頻云應(yīng)用的非易失性存儲(chǔ)器芯片測(cè)試和使用方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及視頻云存儲(chǔ)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于視頻云應(yīng)用的非易失性存儲(chǔ)器芯片測(cè)試和使用方法。
【背景技術(shù)】
[0002]非易失性存儲(chǔ)器是一種斷電后仍能保存數(shù)據(jù)的非易失性固態(tài)存儲(chǔ)技術(shù)，它具有了低功耗、讀寫速度快等優(yōu)越性，被廣泛的應(yīng)用于移動(dòng)終端設(shè)備(稱之為a類應(yīng)用)和數(shù)據(jù)中心領(lǐng)域(稱之為b類應(yīng)用)等。不同領(lǐng)域的應(yīng)用對(duì)非易失性存儲(chǔ)器的性能要求也不一樣。比如a類應(yīng)用對(duì)非易失性存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)保持時(shí)間(data retent1n)至少要大于5年，而b類應(yīng)用對(duì)非易失性存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)保持時(shí)間(data retent1n)至少要為10年。無論是a類應(yīng)用還是b類應(yīng)用，對(duì)非易失性存儲(chǔ)器芯片隨機(jī)寫性能和讀性能要求都很高，對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)質(zhì)量也有很高的要求，如果數(shù)據(jù)存儲(chǔ)質(zhì)量低，則會(huì)影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
[0003]通常情況下，非易失性存儲(chǔ)器晶片(die)在封裝出廠前都會(huì)經(jīng)過大量的測(cè)試和質(zhì)量檢測(cè)。不論最后NAND芯片應(yīng)用到哪種領(lǐng)域，測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、篩選條件都是相同的。只有那些通過了測(cè)試流程的NAND晶片才會(huì)被封裝然后再經(jīng)過封裝后的測(cè)試流程，最后只有通過了上面所有測(cè)試流程的NAND芯片才會(huì)被出售給客戶，應(yīng)用到不同的領(lǐng)域里。如圖1所示的是一片NAND晶元(wafer)，這片晶元上的所有非易失性存儲(chǔ)器晶片都會(huì)經(jīng)過一系列的測(cè)試環(huán)節(jié)和篩選，最終通過所有測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的NAND晶片才會(huì)被封裝進(jìn)入封裝測(cè)試環(huán)節(jié)，這些合格的NAND晶片才有可能最終應(yīng)用到移動(dòng)終端或服務(wù)器領(lǐng)域等，而那些不滿足任何一項(xiàng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的NAND晶片將會(huì)被丟棄，這不僅是對(duì)晶片資源的浪費(fèi)，同時(shí)也會(huì)給環(huán)境造成污染。晶片良率(yield)就是該片晶元上通過所有測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器晶片數(shù)目與該片晶元上非易失性存儲(chǔ)器晶片總數(shù)的比值。晶片良率越高，也就意味著制造廠商的生產(chǎn)成本越低，客戶的采購(gòu)價(jià)格也越低。但實(shí)際上，任何新一代工藝的非易失性存儲(chǔ)器產(chǎn)品初期的良率是非常差的，這無疑增加了制造廠商的生產(chǎn)成本，價(jià)格一直居高不下使得非易失性存儲(chǔ)器無法應(yīng)用到其他特殊領(lǐng)域中，這也是NAND固態(tài)硬盤無法取代機(jī)械硬盤(HDD)存儲(chǔ)的主要原因。
[0004]視頻云應(yīng)用(稱之為c類應(yīng)用)是另一種需要大容量存儲(chǔ)的應(yīng)用領(lǐng)域，比如，安保監(jiān)控系統(tǒng)。相比a類和b類應(yīng)用，這種應(yīng)用對(duì)存儲(chǔ)器的保持時(shí)間要求要低得多，可能只需要半年、30天或更短的一個(gè)星期等，也很少會(huì)對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行隨機(jī)寫操作和讀操作，只有發(fā)生了異常情況才會(huì)調(diào)取存儲(chǔ)器進(jìn)行讀操作，對(duì)存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)質(zhì)量要求也很低。比如一個(gè)小區(qū)內(nèi)的監(jiān)控系統(tǒng)，大部分時(shí)間特別是夜里，視頻中存儲(chǔ)了大量無關(guān)緊要的數(shù)據(jù)，比如道路、樹葉等，而真正關(guān)心的人的行為數(shù)據(jù)卻只占很少的部分。如果該視頻中存儲(chǔ)的比特流數(shù)據(jù)發(fā)生很少的存儲(chǔ)錯(cuò)誤，幾乎不會(huì)影響整個(gè)視頻的質(zhì)量。可以看出，視頻云應(yīng)用對(duì)存儲(chǔ)器的性能要求較低，而對(duì)容量要求很高(每個(gè)時(shí)刻都在產(chǎn)生視頻數(shù)據(jù))，因此目前市場(chǎng)上幾乎都是采用成本更低的機(jī)械硬盤，如果采用非易失性存儲(chǔ)器固態(tài)硬盤，在成本和價(jià)格上是視頻云供應(yīng)商決不能承受的。
[0005]綜上描述，本發(fā)明提出了一種在視頻云應(yīng)用中降低非易失性存儲(chǔ)器成本的方法。重新利用那些在測(cè)試流程中不滿足任一測(cè)試條件的NAND芯片，并用于視頻云應(yīng)用中的大容量存儲(chǔ)設(shè)備。重新利用這些本該被丟棄的NAND芯片不僅大大降低了視頻云應(yīng)用中NAND芯片成本，而且還可以減少環(huán)境污染。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是如何在視頻云存儲(chǔ)的應(yīng)用中降低非易失性存儲(chǔ)器的使用成本。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種用于視頻云應(yīng)用的非易失性存儲(chǔ)器芯片測(cè)試方法，包括下列步驟:
[0008]S1、對(duì)晶圓上的非易失性存儲(chǔ)器裸片進(jìn)行數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試和/或移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試；對(duì)于符合數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試和/或移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器裸片則進(jìn)入S2或S3 ;對(duì)于不符合數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試和/或移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器裸片則進(jìn)入S4 ;
[0009]S2、對(duì)裸片進(jìn)行封裝，對(duì)封裝后的非易失性存儲(chǔ)器芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試和/或移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試；對(duì)于符合數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試和/或移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器芯片則進(jìn)入S3 ;對(duì)于不符合數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試和/或移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器芯片則進(jìn)入S4 ;;
[0010]S3、直接出貨；
[0011]S4、進(jìn)行視頻云應(yīng)用測(cè)試；對(duì)于符合視頻云應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器裸片或芯片則進(jìn)入S6或S3 ;對(duì)于不符合視頻云應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器裸片則進(jìn)入S5 ;
[0012]S5、直接丟棄；
[0013]S6、對(duì)裸片進(jìn)行封裝，對(duì)封裝后的非易失性存儲(chǔ)器芯片進(jìn)行視頻云應(yīng)用測(cè)試；對(duì)于符合視頻云應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器芯片或芯片則進(jìn)入S3 ;對(duì)于不符合視頻云應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器芯片則進(jìn)入S5。
[0014]進(jìn)一步地，所述視頻云應(yīng)用測(cè)試包括數(shù)據(jù)保持時(shí)間測(cè)試、數(shù)據(jù)隨機(jī)寫性能測(cè)試、數(shù)據(jù)讀性能和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)質(zhì)量測(cè)試。
[0015]進(jìn)一步地，所述數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試包括數(shù)據(jù)保持時(shí)間測(cè)試、數(shù)據(jù)隨機(jī)寫性能測(cè)試、數(shù)據(jù)讀性能和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)質(zhì)量測(cè)試。
[0016]進(jìn)一步地，所述移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試包括數(shù)據(jù)保持時(shí)間測(cè)試、數(shù)據(jù)隨機(jī)寫性能測(cè)試、數(shù)據(jù)讀性能和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)質(zhì)量測(cè)試。
[0017]進(jìn)一步地，所述數(shù)據(jù)中心類應(yīng)用測(cè)試、移動(dòng)終端類應(yīng)用測(cè)試和視頻云應(yīng)用測(cè)試由同一個(gè)測(cè)試供應(yīng)商完成或由不同的供應(yīng)商完成。
[0018]進(jìn)一步地，所述非易失性存儲(chǔ)器芯片為NAND閃存芯片。
[0019]本發(fā)明還提供了如權(quán)利要求1-5任一一種用于視頻云應(yīng)用的非易失性存儲(chǔ)器芯片使用方法，包括下列步驟:
[0020]S71、提供符合視頻云應(yīng)用測(cè)試的非易失性存儲(chǔ)器芯片；
[0021]S72、將每個(gè)非易失性存儲(chǔ)器芯片在視頻云應(yīng)用測(cè)試時(shí)確定的數(shù)據(jù)保持時(shí)間數(shù)值存儲(chǔ)在這個(gè)非易失性存儲(chǔ)器芯片內(nèi)數(shù)據(jù)保持時(shí)間最好的物理地址上；
[0022]S73、自動(dòng)根據(jù)定時(shí)器對(duì)每顆非易失性存儲(chǔ)器芯片上需要刷新的區(qū)域進(jìn)行刷新操作，所述定時(shí)器所設(shè)置的定時(shí)時(shí)間比所述非易失性存儲(chǔ)器芯片的數(shù)據(jù)保持時(shí)間短。
[0023]進(jìn)一步地，所述定時(shí)器位于所述非易失性存儲(chǔ)器芯片所在的固態(tài)存儲(chǔ)器上或位于與固態(tài)存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的其他設(shè)備上。
[0024]進(jìn)一步地，所述刷新操作為讀出數(shù)據(jù)并重新寫回。
[0025]進(jìn)一步地，所述非易失性存儲(chǔ)器芯片為NAND閃存芯片。
[0026]視頻云(video cloud)應(yīng)用是一種基于云計(jì)算技術(shù)以滿足海量視頻存儲(chǔ)與管理的應(yīng)用，比較典型的就是安防監(jiān)控系統(tǒng)，前端視頻監(jiān)控器實(shí)現(xiàn)視頻采集和錄制，而云平臺(tái)負(fù)責(zé)控制管理和視頻回放。視頻云應(yīng)用中的存儲(chǔ)器具有以下一個(gè)或者多個(gè)的特點(diǎn)稱為視頻云應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn):
[0027]1.對(duì)數(shù)據(jù)保持時(shí)間要求低于a類和b類應(yīng)用，例如是半年、30天或者更短的7天；
[0028]2.對(duì)數(shù)據(jù)隨機(jī)寫性能要求低于a類和b類應(yīng)用，數(shù)據(jù)隨機(jī)寫性能不需要很好，即在視頻云應(yīng)用中數(shù)據(jù)是以連續(xù)寫入占主導(dǎo)的；
[0029]3.對(duì)數(shù)據(jù)讀性能要求低于a類和b類應(yīng)用，因?yàn)樵谝曨l云應(yīng)用中數(shù)據(jù)存儲(chǔ)后被讀取的概率是比較低的；
[0030]4.對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的質(zhì)量要求較低，ECC(Error Correcting Code，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與讀取過程中難免有些數(shù)據(jù)位發(fā)生錯(cuò)誤，ECC就是一種能夠?qū)崿F(xiàn)錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正的技術(shù))不能完全修正存儲(chǔ)數(shù)據(jù)中所有發(fā)生錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)位也是能夠被接受的。即經(jīng)ECC修正后讀出的數(shù)據(jù)中可以包含錯(cuò)誤的比特位。
[0031]根據(jù)視頻云應(yīng)用中存儲(chǔ)要求的上述特點(diǎn)，本發(fā)明提出一種在視頻云應(yīng)用中降低非易失性存儲(chǔ)器成本的方法，重新利用那些在測(cè)試過程中不滿足任一測(cè)試條件的NAND芯片，并用于視頻云應(yīng)用中的大容量存儲(chǔ)設(shè)備。重新利用這些本該被丟棄的NAND芯片不僅大大降低視頻云應(yīng)用中NAND芯片成本，而且還可以減少環(huán)境污染。
[0032]進(jìn)一步的，本發(fā)明提出一種定位滿足視頻云應(yīng)用的NAND芯片的測(cè)試方法，如圖2所示。其中，階段①和階段②是傳統(tǒng)NAND芯片的測(cè)試環(huán)節(jié)以篩選出滿足a類和/或b類應(yīng)用的NAND芯片，階段③和階段④是本發(fā)明為了篩選出滿足視頻云應(yīng)用的NAND芯片而增加的測(cè)試環(huán)節(jié)。上述階段①可以是在NAND芯片從晶圓制作完畢到出貨的任何一個(gè)測(cè)試階段。當(dāng)NAND芯片進(jìn)入測(cè)試階段①時(shí)，只有通過了階段1的測(cè)試和篩選條件的NAND芯片才會(huì)進(jìn)入下一個(gè)階段②的測(cè)試環(huán)節(jié)或者直接出貨(當(dāng)階段①是NAND芯片在出廠前的最后一個(gè)測(cè)試階段);而沒有通過階段①測(cè)試和篩選的NAND芯片就進(jìn)入階段③測(cè)試以篩選出滿足c類應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)的NAND芯片，滿足階段③測(cè)試條件才能進(jìn)入下一個(gè)階段④測(cè)試環(huán)節(jié)或直接出貨(當(dāng)階段③是芯片在出廠前的最后一個(gè)測(cè)試階段)。通過上述測(cè)試流程，從而定位和篩選出那些滿足本發(fā)明視頻云應(yīng)用條件(如上所述的一個(gè)或者多個(gè)特點(diǎn))的NAND芯片，而傳統(tǒng)情況下，這些NAND芯片會(huì)被丟棄。
[0033]測(cè)試階段①和②以及測(cè)試階段③和④可以由同一個(gè)測(cè)試供應(yīng)