數(shù)據(jù)的元數(shù)據(jù)；
[0069]這里，如前所述，SSD在硬數(shù)據(jù)解碼失敗后會(huì)進(jìn)入軟數(shù)據(jù)(軟信息)解碼階段，本發(fā)明實(shí)施例所提供的方法可以應(yīng)用于SSD的軟數(shù)據(jù)解碼階段，當(dāng)LDPC硬數(shù)據(jù)解碼階段失敗后，SSD的控制器獲取SSD上待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的元數(shù)據(jù)，一般來說，待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的元數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于Nand flash上，Nand flash以頁為單元進(jìn)行讀寫，并以塊為單位進(jìn)行擦除。
[0070]步驟S102，獲取SSD的狀態(tài)信息，所述SSD的狀態(tài)信息為與數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率的參數(shù)；
[0071]這里，在具體實(shí)施的過程中，所述SSD的狀態(tài)信息可以為錯(cuò)誤率，當(dāng)然還可以為其它的影響錯(cuò)誤率的參數(shù)，例如在具體實(shí)施的過程中，所述SSD的狀態(tài)信息可以包括以下信息至少之一:SSD的工藝等級(jí)、SSD的磨損次數(shù)(P/E循環(huán)次數(shù))和SSD的數(shù)據(jù)保持時(shí)間。
[0072]步驟S103，利用所述SSD的狀態(tài)信息從關(guān)聯(lián)信息簇中獲取對(duì)應(yīng)的關(guān)聯(lián)信息，所述關(guān)聯(lián)信息簇為基于至少兩個(gè)不同的SSD的狀態(tài)信息而得到的關(guān)聯(lián)信息的集合；
[0073]這里，所述關(guān)聯(lián)信息可以為在具體實(shí)施的過程中可以為映射關(guān)系表中映射關(guān)系，類似地，關(guān)聯(lián)信息簇可以為一張映射關(guān)系表或一族映射關(guān)系表，當(dāng)采用對(duì)數(shù)似然比方法而得到軟信息時(shí)，所述關(guān)聯(lián)信息具體的可以為LLR表。
[0074]步驟S104，根據(jù)所述元數(shù)據(jù)查詢所述關(guān)聯(lián)信息，得到所述待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的軟信息。
[0075]這里，所述關(guān)聯(lián)信息用于表征所述待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的元數(shù)據(jù)與所述待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的軟信息之間的映射關(guān)系。
[0076]這里，本發(fā)明實(shí)施例二中的步驟S101至步驟S104分別對(duì)應(yīng)于實(shí)施例一中的步驟S101至步驟S104，因此，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以參閱實(shí)施例一而理解本發(fā)明實(shí)施例中的步驟S101至步驟S104，為節(jié)約篇幅，這里不再贅述。
[0077]本發(fā)明實(shí)施例再提供一種確定磨損次數(shù)(P/E循環(huán)次數(shù))和數(shù)據(jù)保持時(shí)間的取值范圍的方法，在該方法中，可以預(yù)先獲取SSD的生命周期；然后根據(jù)SSD的生命周期獲取SSD的磨損次數(shù)的取值范圍和SSD的數(shù)據(jù)保持時(shí)間的取值范圍。在具體實(shí)施的過程中，SSD的生命周期的獲取方式有很多，例如，可以采用默認(rèn)設(shè)置的方式，還可以為用戶或SSD的廠方設(shè)置，然后SSD的軟件獲取到用戶或SSD的廠方設(shè)置的生命周期，還可以采用如下的方式:SSD的控制器獲取SSD的屬性信息，所述屬性信息中包括SSD的型號(hào)或者材料等信息，然后根據(jù)所述SSD的屬性信息從本地或非本地(如服務(wù)器或網(wǎng)絡(luò))上獲取對(duì)應(yīng)的生命周期。
[0078]現(xiàn)有技術(shù)中，傳統(tǒng)軟信息讀取方法使用統(tǒng)一的LLR表，在Nand flash單元的統(tǒng)計(jì)分布模型變化時(shí)，不能最佳匹配當(dāng)前的模型，由此得到的軟信息的準(zhǔn)確度會(huì)有一定程度的下降，隨之也會(huì)影響最終糾錯(cuò)算法的性能。為了解決這一問題，在本發(fā)明實(shí)施例中，通過對(duì)Nand flash數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元的全生命周期進(jìn)行建模，其中建模的參數(shù)包括SSD的工藝等級(jí)、SSD的磨損次數(shù)和SSD的數(shù)據(jù)保持時(shí)間，利用當(dāng)前可獲得的Nand flash參數(shù)判斷Nandflash的統(tǒng)計(jì)分布模型變化；基于上一步分布模型的變化結(jié)果，建立得到關(guān)聯(lián)信息簇；在具體實(shí)施的過程中，所述關(guān)聯(lián)信息簇被預(yù)先存儲(chǔ)在SSD的Nand flash。當(dāng)SSD需要獲取軟信息的時(shí)候，根據(jù)當(dāng)前SSD的工藝等級(jí)、磨損次數(shù)和數(shù)據(jù)保持時(shí)間獲取對(duì)應(yīng)的關(guān)聯(lián)信息，然后再根據(jù)元數(shù)據(jù)查詢關(guān)聯(lián)信息得到軟信息，由此可見，本發(fā)明實(shí)施中，所選用的關(guān)聯(lián)信息是動(dòng)態(tài)地從關(guān)聯(lián)信息簇中選取一個(gè)最佳匹配的關(guān)聯(lián)信息來生成軟性心，并完成最終的解碼。
[0079]下面再來介紹一下在Nand flash存儲(chǔ)單元的全生命周期數(shù)據(jù)模型進(jìn)行建模。圖
2-2為本發(fā)明實(shí)施例中對(duì)關(guān)聯(lián)信息進(jìn)行建模過程以及建模后使用關(guān)聯(lián)信息的過程示意圖，如圖2-2所示，建模之前，先介紹一下所涉及的三個(gè)參數(shù):工藝等級(jí)、磨損次數(shù)和數(shù)據(jù)保持時(shí)間。一般來說，Nand Flash存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)分布(0和1)主要受到三個(gè)因素的影響，第一個(gè)是Nand Flash存儲(chǔ)單元制造的個(gè)體差異(體現(xiàn)為工藝等級(jí))，第二個(gè)是Nand Flash存儲(chǔ)單元本身的磨損程度或者磨損次數(shù)(即P/E循環(huán)次數(shù))，第三個(gè)是Nand Flash存儲(chǔ)單元內(nèi)數(shù)據(jù)保持的時(shí)間。這三個(gè)參數(shù)互有交叉，最終影響體現(xiàn)在Nand flash數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率上。因此在建模時(shí)，針對(duì)Nand flash全生命周期設(shè)計(jì)的數(shù)據(jù)磨損和數(shù)據(jù)保持在規(guī)范約定內(nèi)的最大可能范圍進(jìn)行采樣。在保持一定采樣數(shù)據(jù)量的情況下，同時(shí)選擇優(yōu)等、中等、差等三種受制造工藝影響的數(shù)據(jù)單元特性作為代表。對(duì)以上三個(gè)維度進(jìn)行交叉全采樣，并獲取每一個(gè)采樣點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)分布模型，及對(duì)應(yīng)模型最優(yōu)的關(guān)聯(lián)信息簇(LLR軟信息生成表)。在Nandflash使用過程中，根據(jù)數(shù)據(jù)單元錯(cuò)誤的情況(即錯(cuò)誤率)對(duì)數(shù)據(jù)單元的特性進(jìn)行分類，得到數(shù)據(jù)單元本身屬于優(yōu)等、中等還是差等，并做好標(biāo)記(即標(biāo)記Nand flash的工藝等級(jí))。在需要軟信息解碼時(shí)，首先讀取磨損次數(shù)，再利用之前對(duì)數(shù)據(jù)單元特性的分類結(jié)果(即工藝等級(jí))和數(shù)據(jù)單元的出錯(cuò)率，預(yù)估數(shù)據(jù)保持的時(shí)間(該數(shù)據(jù)保持的時(shí)間無法直接獲得)。這樣即可獲取工藝等級(jí)、磨損次數(shù)和數(shù)據(jù)保持時(shí)間，可根據(jù)工藝等級(jí)、磨損次數(shù)和數(shù)據(jù)保持時(shí)間從預(yù)先存儲(chǔ)的LLR表中選擇一個(gè)最適合的LLR表，然后利用選擇的LLR表進(jìn)行解碼，得到軟信息。
[0080]實(shí)施例三
[0081]基于前述的實(shí)施例，本發(fā)明實(shí)施例再提供一種固態(tài)存儲(chǔ)器，圖3為本發(fā)明實(shí)施例三固態(tài)存儲(chǔ)器的組成結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，所述固態(tài)存儲(chǔ)器300包括:
[0082]存儲(chǔ)器301，用于存儲(chǔ)待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)、元數(shù)據(jù)以及關(guān)聯(lián)信息；
[0083]控制器302，用于從所述存儲(chǔ)器上獲取待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的元數(shù)據(jù)；獲取SSD的狀態(tài)信息，所述SSD的狀態(tài)信息為與數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率的參數(shù)；利用所述SSD的狀態(tài)信息從關(guān)聯(lián)信息簇中獲取對(duì)應(yīng)的關(guān)聯(lián)信息，所述關(guān)聯(lián)信息簇為基于至少兩個(gè)不同的SSD的狀態(tài)信息而得到的關(guān)聯(lián)信息的集合；根據(jù)所述元數(shù)據(jù)查詢所述關(guān)聯(lián)信息，得到所述待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的軟信息。
[0084]本發(fā)明實(shí)施例中，所述存儲(chǔ)器可以為Nand flash。
[0085]本發(fā)明實(shí)施例中，所述關(guān)聯(lián)信息簇采用以下方式得到:在所述SD的狀態(tài)信息的取值范圍內(nèi)以所述SSD的狀態(tài)信息為變量，建立至少兩個(gè)不同的表作為所述關(guān)聯(lián)信息簇。
[0086]本發(fā)明實(shí)施例中，所述SSD的狀態(tài)信息至少包括以下信息之一:SSD的工藝等級(jí)、SSD的磨損次數(shù)和SSD的數(shù)據(jù)保持時(shí)間。
[0087]實(shí)施例四
[0088]基于前述的實(shí)施例，本發(fā)明實(shí)施例再提供一種固態(tài)存儲(chǔ)器，所述固態(tài)存儲(chǔ)器300包括:
[0089]存儲(chǔ)器301，用于存儲(chǔ)待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)、元數(shù)據(jù)以及關(guān)聯(lián)信息；
[0090]控制器302，用于:
[0091]為所述SSD設(shè)置不同的參考對(duì)象；對(duì)所述SSD的參考對(duì)象進(jìn)行采樣，得到所述參考對(duì)象的數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率；對(duì)所述SSD進(jìn)行采樣，得到所述SSD的數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率；將所述參考對(duì)象的錯(cuò)誤率和所述SSD的數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率進(jìn)行比較，得到所述SSD的工藝等級(jí)；
[0092]根據(jù)所述SSD的磨損次數(shù)、所述SSD的工藝等級(jí)和所述SSD的數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率，確定所述SSD的數(shù)據(jù)保持時(shí)間；
[0093]在工藝等級(jí)、磨損次數(shù)和數(shù)據(jù)保持時(shí)間的取值范圍內(nèi)以所述工藝等級(jí)、磨損次數(shù)和數(shù)據(jù)保持時(shí)間為變量，建立至少兩個(gè)不同的關(guān)聯(lián)信息表作為所述關(guān)聯(lián)信息簇；
[0094]從所述存儲(chǔ)器上獲取待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的元數(shù)據(jù)；獲取SSD的狀態(tài)信息，所述SSD的狀態(tài)信息為與數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率的參數(shù)；利用所述SSD的狀態(tài)信息從關(guān)聯(lián)信息簇中獲取對(duì)應(yīng)的關(guān)聯(lián)信息，所述關(guān)聯(lián)信息簇為基于至少兩個(gè)不同的SSD的狀態(tài)信息而得到的關(guān)聯(lián)信息的集合；根據(jù)所述元數(shù)據(jù)查詢所述關(guān)聯(lián)信息，得到所述待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)的軟信息。
[0095]本發(fā)明實(shí)施例中，所述存儲(chǔ)器可以為Nand flash。
[0096]實(shí)施例五
[0097]基于前述的實(shí)施例，本發(fā)明實(shí)施例再提供一種固態(tài)存儲(chǔ)器，所述固態(tài)存儲(chǔ)器300包括:
[0098]存儲(chǔ)器301，用于存儲(chǔ)待糾錯(cuò)數(shù)據(jù)、元數(shù)據(jù)以及關(guān)聯(lián)信息；
[0099]控制器302，用于:
[0100]獲取SSD的生命周期；根據(jù)SSD的生命周期獲取SSD的磨損次數(shù)的取值范圍和SSD的數(shù)據(jù)保持時(shí)間的取值范圍；
[0101 ] 為所述SSD設(shè)置不同的參考對(duì)象；對(duì)所述SSD的參考對(duì)象進(jìn)行采樣，得到所述參考對(duì)象的數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率；對(duì)所述SSD進(jìn)行采樣，得到所述SSD的數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率；將所述參考對(duì)象的錯(cuò)誤率和所述SSD的數(shù)據(jù)讀取的錯(cuò)誤率進(jìn)行比較，得到所述SSD的工藝等級(jí)。