為參數(shù)傳遞給硬盤檢測單元(G)。處理時可以采用以下方式，圖8是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施方式的硬盤發(fā)現(xiàn)及適配單元的處理流程圖，如圖8所示，該流程包括如下步驟:
[0062]步驟S802，硬盤上電，觸發(fā)硬盤掃描；
[0063]步驟S804，發(fā)現(xiàn)新硬盤；
[0064]步驟S806，讀取硬盤ID (輪詢相關(guān)驅(qū)動)，在沒有讀取到硬盤ID的情況下，進入步驟S808，否則進入步驟S810 ；
[0065]步驟S808，確定捕獲錯誤并顯示在LED屏上；
[0066]步驟S810,把硬盤掛載到/dev目錄下；
[0067]步驟S812，觸發(fā)硬盤檢測單元(G)，并把硬盤ID和掛載點傳給硬盤檢測單元(G)。
[0068]步驟S710，硬盤檢測單元(G)從內(nèi)置數(shù)據(jù)庫中讀出相應廠商的參數(shù)列表；
[0069]步驟S712，硬盤檢測單元(G)調(diào)用硬盤驅(qū)動單元所提供的硬盤操作接口函數(shù)，檢測參數(shù)列表中的參數(shù)并讀取返回值；
[0070]步驟S714，硬盤檢測單元(G)用步驟S712得到的返回值同參數(shù)列表中的標準值進行比較，算出偏差值；
[0071]步驟S716，硬盤檢測單元(G)調(diào)用LED顯示單元提供的接口函數(shù)，以參數(shù)列表的形式把測試結(jié)果以參數(shù)列表的形式輸出到LED顯示屏上，輸出項包括:參數(shù)名稱、標準值、測試值、偏差值。
[0072]在該硬盤檢測方法中，直接通過硬盤電源開關(guān)(C)和硬盤電源接口(B)給硬盤供電或斷電；通過硬盤電源開關(guān)(C)給硬盤上電的同時，能觸發(fā)硬盤發(fā)現(xiàn)及適配單元(D)工作；硬盤發(fā)現(xiàn)及適配單元(D)調(diào)用硬盤驅(qū)動單元(E)提供的硬盤操作接口函數(shù)發(fā)現(xiàn)硬盤，并辨別出硬盤的接口類型、生產(chǎn)廠商，然后觸發(fā)硬盤檢測單元(G)工作，并把硬盤的接口類型、生產(chǎn)廠商作為參數(shù)傳遞給硬盤檢測單元(G);硬盤檢測單元從內(nèi)置數(shù)據(jù)庫單元(H)中讀出相應廠商的參數(shù)列表，然后調(diào)用硬盤驅(qū)動單元(E)所提供的硬盤操作接口函數(shù)，檢測參數(shù)列表中的參數(shù)并讀取返回值，然后以該返回值同參數(shù)列表中的標準值進行比較，算出偏差值，最后調(diào)用LED顯示單元(F)提供的接口函數(shù)，以參數(shù)列表的形式把測試結(jié)果輸出到LED顯示屏上；軟件升級單元能把廠商的參數(shù)列表導入到內(nèi)置數(shù)據(jù)庫單元(H)中，還可以完成系統(tǒng)中其他組件的升級工作。圖9是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施方式的硬盤檢測裝置中硬盤驅(qū)動升級處理的流程圖，如圖9所示，該流程包括如下步驟:
[0073]步驟S902，連接設備的串口 ；
[0074]步驟S904，把預先做好的驅(qū)動的安裝包傳入設備，該安裝包中至少包含以下文件:硬盤參數(shù)表文件，驅(qū)動程序庫文件，安裝文件；
[0075]步驟S906，運行安裝文件；
[0076]步驟S908，把參數(shù)表導入內(nèi)置數(shù)據(jù)庫單元(H)；
[0077]步驟S910，把驅(qū)動程序庫文件拷貝到Linux系統(tǒng)目錄下；
[0078]步驟S912，把驅(qū)動程序庫文件中的各個驅(qū)動函數(shù)注冊到硬盤驅(qū)動單元(E)。
[0079]通過上述實施例及優(yōu)選實施方式的硬盤檢測方法，不僅克服了現(xiàn)有技術(shù)中的操作不方便、擴展性差缺點，能夠有效自動識別生產(chǎn)廠家和接口類型并據(jù)此檢測硬盤，取得了硬盤健康度檢測方面的進步，達到了實用、便捷的效果，節(jié)省了出現(xiàn)問題后查找錯誤的時間和人力，提高了生產(chǎn)環(huán)境的可靠性。
[0080]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或各步驟可以用通用的計算裝置來實現(xiàn)，它們可以集中在單個的計算裝置上，或者分布在多個計算裝置所組成的網(wǎng)絡上，可選地，它們可以用計算裝置可執(zhí)行的程序代碼來實現(xiàn)，從而，可以將它們存儲在存儲裝置中由計算裝置來執(zhí)行，并且在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟，或者將它們分別制作成各個集成電路模塊，或者將它們中的多個模塊或步驟制作成單個集成電路模塊來實現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的硬件和軟件結(jié)合。
[0081]以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種硬盤健康狀況處理方法，其特征在于，包括: 從待測硬盤中獲取用于標識所述待測硬盤的標識信息； 依據(jù)驅(qū)動程序接口，對所述標識信息對應的待測硬盤的硬盤參數(shù)進行檢測； 依據(jù)檢測獲得的檢測值以及所述硬盤參數(shù)對應的標準值，確定所述待測硬盤的健康狀況。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，依據(jù)檢測獲得的所述檢測值以及所述硬盤參數(shù)對應的所述標準值，確定所述待測硬盤的健康狀況包括: 計算所述檢測值和所述標準值的偏差值； 依據(jù)所述偏差值確定所述待測硬盤的健康狀況。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在依據(jù)檢測獲得的所述檢測值以及所述硬盤參數(shù)對應的所述標準值，確定所述待測硬盤的健康狀況之后，還包括: 對所述待測硬盤的健康狀況進行顯示。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對所述待測硬盤的健康狀況進行顯示包括: 以列表的形式顯示所述待測硬盤的以下至少之一:參數(shù)名稱、參數(shù)測試值、參數(shù)標準值、參數(shù)偏差值。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在從所述待測硬盤中獲取用于標識所述待測硬盤的標識信息之前，還包括: 存儲所述待測硬盤的標識信息、所述待測硬盤的硬盤參數(shù)以及所述硬盤參數(shù)的標準值。6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，所述標識信息包括以下至少之一: 所述硬盤的接口類型、所述硬盤的廠商。7.一種硬盤健康狀況處理裝置，其特征在于，包括: 獲取模塊，用于從待測硬盤中獲取用于標識所述待測硬盤的標識信息； 檢測模塊，用于依據(jù)驅(qū)動程序接口，對所述標識信息對應的待測硬盤的硬盤參數(shù)進行檢測； 確定模塊，用于依據(jù)檢測獲得的檢測值以及所述硬盤參數(shù)對應的標準值，確定所述待測硬盤的健康狀況。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述確定模塊包括: 計算單元，用于計算所述檢測值和所述標準值的偏差值； 確定單元，用于依據(jù)所述偏差值確定所述待測硬盤的健康狀況。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，還包括: 顯示模塊，用于對所述待測硬盤的健康狀況進行顯示。10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，還包括: 存儲模塊，用于存儲所述待測硬盤的標識信息、所述待測硬盤的硬盤參數(shù)以及所述硬盤參數(shù)的標準值。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種硬盤健康狀況處理方法及裝置，其中，該方法包括：從待測硬盤中獲取用于標識待測硬盤的標識信息；依據(jù)驅(qū)動程序接口，對標識信息對應的待測硬盤的硬盤參數(shù)進行檢測；依據(jù)檢測獲得的檢測值以及硬盤參數(shù)對應的標準值，確定待測硬盤的健康狀況，通過本發(fā)明，解決了在相關(guān)技術(shù)中對硬盤進行檢測的檢測方法存在檢測硬盤參數(shù)單一，檢測硬盤的針對性不強，以及檢測裝置不簡便，檢測結(jié)果不細化的問題，進而達到了能夠?qū)€性化硬盤進行檢測，使得對硬盤的檢測操作方便和提高硬盤檢測擴展性的效果。
【IPC分類】G11C29/08
【公開號】CN105097042
【申請?zhí)枴緾N201410213771
【發(fā)明人】吳軍
【申請人】中興通訊股份有限公司
【公開日】2015年11月25日
【申請日】2014年5月20日
【公告號】WO2015176388A1