號(hào)的處理器。
[0034]基于由焦點(diǎn)檢測(cè)器35輸出的模擬信號(hào),信號(hào)輸出電路17輸出各種信號(hào)。更具體地說(shuō)，信號(hào)輸出電路17對(duì)通過(guò)以預(yù)定增益(放大系數(shù))放大由每個(gè)光接收設(shè)備輸出的光而獲得的經(jīng)放大信號(hào)進(jìn)行處理，以便輸出包括聚焦錯(cuò)誤信號(hào)(FE信號(hào))、跟蹤錯(cuò)誤信號(hào)(TE信號(hào))和用于數(shù)據(jù)再生的RF信號(hào)的信號(hào)。聚焦錯(cuò)誤信號(hào)是表示光盤(pán)介質(zhì)M的信號(hào)表面與物鏡34的焦點(diǎn)位置之間的聚焦方向偏移的信號(hào)。跟蹤錯(cuò)誤信號(hào)是表示物鏡34的焦點(diǎn)位置與光盤(pán)介質(zhì)M的軌道位置之間的跟蹤方向偏移的信號(hào)。另外，信號(hào)輸出電路17還輸出通過(guò)放大由多個(gè)光接收設(shè)備輸出的信號(hào)并加總經(jīng)放大信號(hào)而獲得的進(jìn)站(pull-1n)信號(hào)(PI信號(hào))。
[0035]基于諸如由信號(hào)輸出電路17輸出的PI信號(hào)、FE信號(hào)和TE信號(hào)的信號(hào),伺服信號(hào)處理部分18生成用于伺服控制的各種信號(hào)并將所生成的信號(hào)輸出至控制部分20。另外，根據(jù)從控制部分20接收的命令，伺服信號(hào)處理部分18向驅(qū)動(dòng)電路16輸出用于驅(qū)動(dòng)物鏡驅(qū)動(dòng)部分36、進(jìn)給電機(jī)15和主軸電機(jī)12的控制信號(hào)。
[0036]具體地，伺服信號(hào)處理部分18根據(jù)從控制部分20接收的命令進(jìn)行伺服控制。更具體地說(shuō)，當(dāng)從控制部分20接收用以開(kāi)始伺服控制的命令時(shí)，伺服信號(hào)處理部分18根據(jù)從信號(hào)輸出電路17接收的FE信號(hào)，輸出用于控制物鏡驅(qū)動(dòng)部分36的控制信號(hào)，以便進(jìn)行用于在聚焦方向上調(diào)整物鏡34的位置的聚焦伺服控制。由此，可以維持物鏡34的焦點(diǎn)匹配光盤(pán)介質(zhì)M的信號(hào)表面的狀態(tài)。另外,伺服信號(hào)處理部分18根據(jù)從信號(hào)輸出電路17接收的TE信號(hào)，輸出用于控制物鏡驅(qū)動(dòng)部分36的控制信號(hào)，以便進(jìn)行用于在跟蹤方向上改變物鏡34的位置的跟蹤伺服控制。由此，可以驅(qū)動(dòng)物鏡34以使得相對(duì)于介質(zhì)表面移動(dòng)，使得物鏡34的焦點(diǎn)總是跟隨數(shù)據(jù)記錄層中的軌道(track)。這樣，伺服信號(hào)處理部分18進(jìn)行伺服控制，以控制物鏡34相對(duì)于光盤(pán)介質(zhì)M的表面的位置。由此，可以維持光學(xué)拾取器13能夠從光盤(pán)介質(zhì)M讀出信息的狀態(tài)，從而，在此狀態(tài)中，讀出信息。
[0037]基于由信號(hào)輸出電路17輸出的RF信號(hào),記錄信號(hào)處理部分19解調(diào)表不記錄在光盤(pán)介質(zhì)M上的信息的數(shù)字信號(hào)，并將解調(diào)的結(jié)果輸出至控制部分20。另外，記錄信號(hào)處理部分19還計(jì)算精度的評(píng)估值(諸如RF振幅和抖動(dòng)值)以使用光學(xué)拾取器13從光盤(pán)介質(zhì)M讀出信息，并將評(píng)估值輸出至控制部分20。
[0038]控制部分20典型地被配置為具有微機(jī)，并包括執(zhí)行模塊和存儲(chǔ)設(shè)備?？刂撇糠?0中采用的存儲(chǔ)設(shè)備用于存儲(chǔ)待執(zhí)行程序和各種參數(shù)?？刂撇糠?0中采用的執(zhí)行模塊根據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備中存儲(chǔ)的程序進(jìn)行處理。更具體地說(shuō)，控制部分20確定光盤(pán)裝置I中設(shè)置的光盤(pán)介質(zhì)M的類(lèi)型。
[0039]另外，控制部分20連接至諸如個(gè)人計(jì)算機(jī)、家用游戲機(jī)單元或視頻解碼器的主機(jī)。根據(jù)由主機(jī)產(chǎn)生的請(qǐng)求，控制部分20將用于驅(qū)動(dòng)進(jìn)給電機(jī)15和物鏡驅(qū)動(dòng)部分36的指令輸出至伺服信號(hào)處理部分18，以便將物鏡34的焦點(diǎn)移動(dòng)至光盤(pán)介質(zhì)M上的期望位置(物鏡34的焦點(diǎn)是從光盤(pán)介質(zhì)M讀出信息的位置)。另外，控制部分20還將用于改變主軸電機(jī)12的旋轉(zhuǎn)速度的指令輸出至伺服信號(hào)處理部分18，以便調(diào)整光盤(pán)介質(zhì)M的旋轉(zhuǎn)速度。于是，在此狀態(tài)中，控制部分20將經(jīng)調(diào)制信號(hào)輸出至主機(jī)。經(jīng)調(diào)制信號(hào)是作為從光盤(pán)介質(zhì)M讀出的信號(hào)的解調(diào)結(jié)果、由記錄信號(hào)處理部分19生成的信號(hào)。
[0040]確定光盤(pán)介質(zhì)的類(lèi)型的處理
[0041]以下描述說(shuō)明根據(jù)此實(shí)施例的光盤(pán)裝置I進(jìn)行的用以確定光盤(pán)介質(zhì)M的類(lèi)型的處理的具體示例。例如，當(dāng)光盤(pán)介質(zhì)M被重新設(shè)置在光盤(pán)裝置I上時(shí)、或者當(dāng)光盤(pán)裝置I的電源被接通時(shí)，由光盤(pán)裝置I進(jìn)行用以確定光盤(pán)介質(zhì)M的類(lèi)型的處理。另外，用于確定光盤(pán)介質(zhì)M的類(lèi)型的此處理由控制部分20通過(guò)根據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備中存儲(chǔ)的程序控制各部分來(lái)實(shí)施。這些程序也可以表現(xiàn)為存儲(chǔ)在可以被各種計(jì)算機(jī)讀取的信息存儲(chǔ)介質(zhì)中的程序。
[0042]首先，以與現(xiàn)有光盤(pán)裝置相同的方式，控制部分20測(cè)量從光盤(pán)介質(zhì)M的介質(zhì)表面到信號(hào)表面的距離L，以便確定光盤(pán)介質(zhì)M的類(lèi)型。更具體地說(shuō)，在讓第二發(fā)光設(shè)備32發(fā)射小波長(zhǎng)光的同時(shí)，控制部分20控制物鏡驅(qū)動(dòng)部分36，從而物鏡34以恒定速度在聚焦方向上移動(dòng)。移動(dòng)的聚焦方向可以是物鏡34靠近光盤(pán)介質(zhì)M的介質(zhì)表面的方向、或者物鏡34遠(yuǎn)離光盤(pán)介質(zhì)M的介質(zhì)表面的方向。在此情況下，假設(shè)移動(dòng)的聚焦方向?yàn)槲镧R34靠近光盤(pán)介質(zhì)M的介質(zhì)表面的方向。在以下描述中，用以以此方式以恒定速度在該方向上將物鏡34移動(dòng)至光盤(pán)介質(zhì)M的操作稱(chēng)為掃描(swe印)操作。圖3是示出掃描操作中物鏡34相對(duì)于光盤(pán)介質(zhì)M的移動(dòng)的模型的圖。
[0043]在掃描操作中，物鏡34的焦點(diǎn)對(duì)于每一度通過(guò)光盤(pán)介質(zhì)M的介質(zhì)表面和信號(hào)表面。那時(shí)，由于從光盤(pán)介質(zhì)M反射的光，在PI信號(hào)上出現(xiàn)峰值。在以下描述中，使用小波長(zhǎng)光的類(lèi)型確定處理稱(chēng)為一次(primary)類(lèi)型確定處理。
[0044]圖4是示出通過(guò)在輸出小波長(zhǎng)光的同時(shí)進(jìn)行掃描操作而獲得的典型PI信號(hào)波形的圖(PI信號(hào)的波形表示PI信號(hào)沿時(shí)間軸的變化)。如圖4中所示，在PI信號(hào)上出現(xiàn)兩個(gè)峰值。兩個(gè)峰值是介質(zhì)表面反射信號(hào)S和信號(hào)表面反射信號(hào)T。介質(zhì)表面反射信號(hào)S由介質(zhì)表面上的反射導(dǎo)致，而信號(hào)表面反射信號(hào)T由信號(hào)表面上的反射導(dǎo)致。圖中所示的標(biāo)注Thl表示用于峰值檢測(cè)的閾值(在以下描述中，用于峰值檢測(cè)的閾值稱(chēng)為閾值Thl)。超過(guò)閾值Thl的各個(gè)PI信號(hào)峰值被檢測(cè)為介質(zhì)表面反射信號(hào)S和信號(hào)表面反射信號(hào)T。在掃描操作中，物鏡34正以恒定速度靠近光盤(pán)介質(zhì)M。因此，介質(zhì)表面反射信號(hào)S的檢測(cè)時(shí)刻tl與信號(hào)表面反射信號(hào)T的檢測(cè)時(shí)刻t2之間的時(shí)間間隔Λ t對(duì)應(yīng)于光盤(pán)介質(zhì)M的介質(zhì)表面與信號(hào)表面之間的距離L。如果可以計(jì)算距離L，則可以確定光盤(pán)介質(zhì)M的類(lèi)型。應(yīng)注意，在一次類(lèi)型確定處理中，使用小波長(zhǎng)光替代大波長(zhǎng)光。這是因?yàn)椋绻褂么蟛ㄩL(zhǎng)光，則焦點(diǎn)距離變得更長(zhǎng)，從而，在具有短距離L的BD的情況下，介質(zhì)表面反射信號(hào)S和信號(hào)表面反射信號(hào)T不再能彼此獨(dú)立地被檢測(cè)。
[0045]如果長(zhǎng)期使用光盤(pán)裝置1，則空氣中的灰塵、香煙焦油等粘附到光學(xué)拾取器13的光學(xué)系統(tǒng)33，使得光透射系數(shù)降低。結(jié)果，產(chǎn)生由焦點(diǎn)檢測(cè)器35檢測(cè)的信號(hào)的電平降低的現(xiàn)象。作為研究的結(jié)果，本技術(shù)的發(fā)明人已經(jīng)發(fā)現(xiàn)如下事實(shí):信號(hào)電平大大降低，特別是在使用小波長(zhǎng)光的情況下。當(dāng)這樣的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，介質(zhì)表面反射信號(hào)S的峰值電平不期望地變得低于閾值Thl，從而，在某些情況下，無(wú)法檢測(cè)到介質(zhì)表面反射信號(hào)S。為了解決此問(wèn)題，在此實(shí)施例的情況下，如果在上述一次檢測(cè)處理中無(wú)法檢測(cè)到介質(zhì)表面反射信號(hào)S，則進(jìn)行使用大波長(zhǎng)光的類(lèi)型確定處理。在以下描述中，使用大波長(zhǎng)光的類(lèi)型確定處理稱(chēng)為二次類(lèi)型確定處理。
[0046]如上所述，在通過(guò)使用大波長(zhǎng)光在BD上進(jìn)行的掃描操作中，因?yàn)锽D的距離L相對(duì)短，所以介質(zhì)表面反射信號(hào)S和信號(hào)表面反射信號(hào)T并未彼此分開(kāi)，而是被檢測(cè)為一個(gè)峰值。圖5是示出在BD上通過(guò)使用大波長(zhǎng)光進(jìn)行掃描操作而獲得的典型PI信號(hào)波形的圖。如果如圖中所示，在使用大波長(zhǎng)光的掃描操作中僅檢測(cè)到一個(gè)峰值，則光盤(pán)介質(zhì)M被確定為BD。應(yīng)注意，控制部分20可以被用作被配置為不僅基于峰值的數(shù)目、而且還基于所檢測(cè)的峰值的信號(hào)電平確定光盤(pán)介質(zhì)M的類(lèi)型的部分。更具體地說(shuō)，如果第一個(gè)所檢測(cè)的峰值電平高于為BD預(yù)定的BD確定閾值Th2，則控制部分20可以確定光盤(pán)介質(zhì)M是BD。在此情況下，將為BD預(yù)定的BD確定閾值Th2設(shè)置在通過(guò)將介質(zhì)表面反射信號(hào)S的預(yù)期峰值電平乘以典型地為1.5的預(yù)定系數(shù)而獲得的值，從而作為介質(zhì)表面反射信號(hào)S單獨(dú)出現(xiàn)的峰值不被錯(cuò)誤地確定為由信號(hào)表面反射信號(hào)T導(dǎo)致的峰值?？梢栽诠獗P(pán)裝置I的出廠(shipping)時(shí)設(shè)置為BD預(yù)定的BD確定閾值Th2。
[0047]相反，如果介質(zhì)表面反射信號(hào)S和信號(hào)表面反射信號(hào)T可以在二次類(lèi)型確定處理中被彼此獨(dú)立地檢測(cè)到，則控制部分20確定光盤(pán)介質(zhì)M不是BD。圖6是示出在CD上通過(guò)使用大波長(zhǎng)光進(jìn)行掃描操作而獲得的典型PI信號(hào)波形的圖。如果由介質(zhì)表面反射信號(hào)S和信號(hào)表面反射信號(hào)T導(dǎo)致的峰值如圖中所示均被檢測(cè)到，則控制部分20確定光盤(pán)介質(zhì)M不是BD。更具體地說(shuō)，如果第一個(gè)所檢測(cè)的峰值電平不高于為BD預(yù)定的BD確定閾值Th2，則控制部分20可以確定該峰值是由介質(zhì)表面反射信號(hào)S導(dǎo)致的峰值，并且光盤(pán)介質(zhì)M不是BD。此外，在此情況下，以與第一類(lèi)型確定處理相同的方式，可以基于介質(zhì)表面反射