光盤裝置、控制方法、控制程序以及信息存儲(chǔ)介質(zhì)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本技術(shù)涉及一種用于讀出光盤介質(zhì)上記錄的信息的光盤裝置、光盤裝置的控制方法、光盤裝置的控制程序、以及用于存儲(chǔ)控制程序的信息存儲(chǔ)介質(zhì)。光盤介質(zhì)的示例是壓縮盤(CD)、數(shù)字通用盤(DVD)和Blue-ray Disc (藍(lán)光盤)(注冊(cè)商標(biāo))。
[0002]例如，諸如⑶、DVD和藍(lán)光盤(BD)的各種光盤介質(zhì)用作信息存儲(chǔ)介質(zhì)。為了從信息存儲(chǔ)介質(zhì)讀出信息，提供了一種具有用于將光發(fā)射至光盤介質(zhì)并檢測介質(zhì)所反射的光的光學(xué)拾取器的光盤裝置(參見諸如日本專利N0.4769150的文獻(xiàn))。
【背景技術(shù)】
[0003]當(dāng)長時(shí)間使用光盤裝置時(shí)，空氣中的塵土、香煙焦油等會(huì)粘在光系統(tǒng)上，導(dǎo)致光透射系數(shù)降低，于是，在某些情況下，所反射的光的所測量的信號(hào)電平也會(huì)降低。因此，在從光盤介質(zhì)讀出信息的操作中，擔(dān)心會(huì)產(chǎn)生讀取錯(cuò)誤。
[0004]于是，希望提供一種即使在低信號(hào)電平的情況下也能夠繼續(xù)進(jìn)行從光盤介質(zhì)讀出信息的操作的光盤裝置、一種光盤裝置控制方法、一種用于光盤裝置的控制程序以及一種用于存儲(chǔ)控制程序的信息存儲(chǔ)介質(zhì)。
[0005]根據(jù)本技術(shù)的光盤裝置為一種能夠讀出存儲(chǔ)在光盤介質(zhì)中的信息的光盤裝置。所述光盤裝置包括發(fā)射光的發(fā)光設(shè)備和把發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光會(huì)聚在光盤介質(zhì)上的物鏡。所述光盤裝置還包括執(zhí)行控制的控制部分，在從光盤介質(zhì)讀出信息的操作中，其相對(duì)發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光的光軸位置位移物鏡的中心位置。
[0006]根據(jù)本技術(shù)的控制方法為一種能夠讀出存儲(chǔ)在光盤介質(zhì)中的信息的光盤裝置的控制方法。所述光盤裝置包括發(fā)射光的發(fā)光設(shè)備和把發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光會(huì)聚在光盤介質(zhì)上的物鏡。所述方法包括執(zhí)行這樣的控制:在從光盤介質(zhì)讀出信息的操作中，相對(duì)發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光的光軸位置位移物鏡的中心位置。
[0007]根據(jù)本技術(shù)的程序?yàn)橐环N用于控制能夠讀出存儲(chǔ)在光盤介質(zhì)中的信息的光盤裝置的程序。所述光盤裝置包括發(fā)射光的發(fā)光設(shè)備和把發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光會(huì)聚在光盤介質(zhì)上的物鏡。所述用于計(jì)算機(jī)的程序包括執(zhí)行這樣的控制:在從光盤介質(zhì)讀出信息的操作中，相對(duì)發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光的光軸位置位移物鏡的中心位置。
[0008]可以把所述程序存儲(chǔ)在能夠由計(jì)算機(jī)讀取的信息存儲(chǔ)介質(zhì)中。
[0009]根據(jù)本技術(shù)的信息存儲(chǔ)介質(zhì)為一種能夠由計(jì)算機(jī)讀取的并且用于存儲(chǔ)用于控制能夠讀出存儲(chǔ)在光盤介質(zhì)中的信息的光盤裝置的程序的介質(zhì)。所述光盤裝置包括發(fā)射光的發(fā)光設(shè)備和把發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光會(huì)聚在光盤介質(zhì)上的物鏡。所述用于計(jì)算機(jī)的程序包括執(zhí)行這樣的控制:在從光盤介質(zhì)讀出信息的操作中，相對(duì)發(fā)光設(shè)備所發(fā)射的光的光軸位置位移物鏡的中心位置。
【附圖說明】
[0010]圖1是示出根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例的光盤裝置的典型配置的框圖；
[0011]圖2是示出根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例的光盤裝置中采用的光學(xué)拾取器的典型內(nèi)部配置的概略圖；
[0012]圖3是示出掃描操作中物鏡的移動(dòng)的模型的圖；
[0013]圖4是示出通過使用小波長光進(jìn)行掃描操作而獲得的典型PI信號(hào)波形的圖；
[0014]圖5是示出在BD上通過使用大波長光進(jìn)行掃描操作而獲得的典型PI信號(hào)波形的圖；
[0015]圖6是示出在CD上通過使用大波長光進(jìn)行掃描操作而獲得的典型PI信號(hào)波形的圖；
[0016]圖7是示出根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例的由光盤裝置進(jìn)行的類型確定處理的流程的流程圖；
[0017]圖8A是示出在信號(hào)質(zhì)量不惡化的情況下視野與抖動(dòng)特性的圖；
[0018]圖SB是示出在信號(hào)質(zhì)量惡化的情況下視野與抖動(dòng)特性的圖；
[0019]圖9A是示出在正常條件下光學(xué)系統(tǒng)與物鏡之間的相對(duì)位置關(guān)系的圖；
[0020]圖9B是示出在光軸偏移(shift)控制下光學(xué)系統(tǒng)與物鏡之間的相對(duì)位置關(guān)系的圖；以及
[0021]圖10是示出在光軸偏移控制下處理的典型流程的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0022]以下描述通過參考附圖來說明本技術(shù)的實(shí)施例的細(xì)節(jié)。
[0023]根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例的光盤裝置I是用于讀出存儲(chǔ)在光盤介質(zhì)中的信息的光盤裝置。如圖1中所示，光盤裝置I包括介質(zhì)支持部分11、主軸電機(jī)12、光學(xué)拾取器13、進(jìn)給電機(jī)15、驅(qū)動(dòng)電路16、信號(hào)輸出電路17、伺服信號(hào)處理部分18、記錄信號(hào)處理部分19和控制部分20。
[0024]用作由光盤裝置I進(jìn)行的信息讀取操作的對(duì)象的光盤介質(zhì)M包括疊層，諸如用于存儲(chǔ)信息的數(shù)據(jù)記錄層和用于在兩側(cè)保護(hù)數(shù)據(jù)記錄層的保護(hù)層。在以下描述中，數(shù)據(jù)記錄層的表面稱為信號(hào)表面。應(yīng)注意，光盤介質(zhì)M可以包括多個(gè)數(shù)據(jù)記錄層。光盤裝置I也可以被配置為不僅能夠讀出存儲(chǔ)在光盤介質(zhì)M上的信息、而且還能夠?qū)⑿畔懭氲焦獗P介質(zhì)M上。另外，在此實(shí)施例的情況下，光盤裝置I被配置為能夠讀出存儲(chǔ)在至少兩種類型的光盤介質(zhì)M( S卩，⑶和BD)上的信息。
[0025]介質(zhì)支持部分11支持光盤介質(zhì)M，以便可以旋轉(zhuǎn)光盤介質(zhì)M。另外，介質(zhì)支持部分11通過使用從主軸電機(jī)12傳送的動(dòng)力來旋轉(zhuǎn)光盤介質(zhì)M。
[0026]光學(xué)拾取器13將激光照射至光盤介質(zhì)M，并檢測在發(fā)射光的反射中由光盤介質(zhì)M反射的光，從而輸出表示由此檢測的反射光的信號(hào)。具體地，在此實(shí)施例的情況下，光學(xué)拾取器13被配置為能夠發(fā)射具有用于不同類型的光盤介質(zhì)M的多個(gè)波長的激光。圖2是示出光學(xué)拾取器13的典型內(nèi)部配置的概略圖。此圖中所示的典型配置包括第一發(fā)光設(shè)備31、第二發(fā)光設(shè)備32、光學(xué)系統(tǒng)33、物鏡34、焦點(diǎn)檢測器35和物鏡驅(qū)動(dòng)部分36。
[0027]第一發(fā)光設(shè)備31和第二發(fā)光設(shè)備32各自是用于輸出激光的半導(dǎo)體激光設(shè)備。第一發(fā)光設(shè)備31發(fā)射具有用于CD的第一波長的光，而第二發(fā)光設(shè)備32發(fā)射具有用于BD的第二波長的光。應(yīng)注意，具有第一波長的光是具有780nm波長的紅外光，而具有第二波長的光是具有小于第一波長的405nm波長的藍(lán)光。在以下描述中，為了方便起見，將具有第一波長的光稱為大波長光，而將具有第二波長的光稱為小波長光。
[0028]光學(xué)系統(tǒng)33包括多個(gè)光學(xué)組件,諸如偏振光分束器、啟動(dòng)鏡和多個(gè)透鏡。光學(xué)拾取器13包括用于將由第一發(fā)光設(shè)備31和第二發(fā)光設(shè)備32發(fā)射的光引導(dǎo)至物鏡34的光路。另外，光學(xué)拾取器13還包括用于將反射光引導(dǎo)至稍后描述的焦點(diǎn)檢測器35的另一光路。反射光是由光盤介質(zhì)M反射且通過物鏡34透射的光。由第一發(fā)光設(shè)備31和第二發(fā)光設(shè)備32發(fā)射的光通過光學(xué)系統(tǒng)33傳播至物鏡34，并且在被照射至光盤介質(zhì)M之前由物鏡34會(huì)聚。
[0029]在通過物鏡34透射之后，由光盤介質(zhì)M反射的光由光學(xué)系統(tǒng)33引導(dǎo)至焦點(diǎn)檢測器35。焦點(diǎn)檢測器35包括多個(gè)光接收設(shè)備。當(dāng)光盤介質(zhì)M所反射的光到達(dá)這些光接收設(shè)備時(shí)，焦點(diǎn)檢測器35輸出根據(jù)光接收設(shè)備所接收的光的強(qiáng)度的信號(hào)作為輸出信號(hào)。
[0030]物鏡驅(qū)動(dòng)部分36被配置為包括致動(dòng)器，并且用于在光盤介質(zhì)M的徑向方向和垂直于光盤介質(zhì)M的表面的方向上移動(dòng)物鏡34。在以下方向中，徑向方向稱為跟蹤(tracking)方向，而垂直于光盤介質(zhì)M的表面的方向稱為聚焦方向。通過物鏡驅(qū)動(dòng)部分36在聚焦方向上移動(dòng)物鏡34，可以改變從物鏡34到光盤介質(zhì)M的表面的距離。
[0031]進(jìn)給電機(jī)15在跟蹤方向上移動(dòng)整個(gè)光學(xué)拾取器13。通過進(jìn)給電機(jī)15以此方式驅(qū)動(dòng)整個(gè)光學(xué)拾取器13，可以將光學(xué)拾取器13從接近于光盤介質(zhì)M的中心的位置移動(dòng)至接近于光盤介質(zhì)M的最外周的位置。
[0032]根據(jù)從伺服信號(hào)處理部分18接收的控制信號(hào)，驅(qū)動(dòng)電路16輸出用于驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)12、進(jìn)給電機(jī)15和物鏡驅(qū)動(dòng)部分36的驅(qū)動(dòng)信號(hào)。根據(jù)從驅(qū)動(dòng)電路16接收的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，主軸電機(jī)12的旋轉(zhuǎn)速度改變以控制光盤介質(zhì)M的旋轉(zhuǎn)速度。另外，根據(jù)從驅(qū)動(dòng)電路16接收的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，物鏡驅(qū)動(dòng)部分36和進(jìn)給電機(jī)15被驅(qū)動(dòng)以控制物鏡34與介質(zhì)旋轉(zhuǎn)軸之間的距離以及物鏡34與介質(zhì)表面之間的距離。
[0033]例如，信號(hào)輸出電路17、伺服信號(hào)處理部分18、記錄信號(hào)處理部分19和控制部分20典型地由模擬電路、A/D轉(zhuǎn)換器、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)和微機(jī)實(shí)施。模擬電路是用于處理由光學(xué)拾取器13輸出的模擬信號(hào)的電路。A/D轉(zhuǎn)換器是用于將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的轉(zhuǎn)換器。DSP是用于處理數(shù)字信