技術(shù)總結(jié)
本實用新型公開了一種集成電路存儲器的測試設(shè)備，包括PCB電路板，其特征在于：所述PCB電路板上焊接有單片機(jī)組件、電源適配器、操作鍵盤、測試程序存儲器、操作系統(tǒng)程序存儲器、顯示屏、測試控制組件及測試接口組件，所述單片機(jī)組件通過所述PCB電路板上的導(dǎo)線分別與所述電源適配器、所述操作鍵盤、所述測試程序存儲器、所述操作系統(tǒng)程序存儲器、所述顯示屏及所述測試接口組件電連接，所述測試控制組件通過所述PCB電路板上的導(dǎo)線分別與所述測試接口組件及所述單片機(jī)組件電連接。本實用新型的集成電路存儲器的測試設(shè)備，應(yīng)用于集成電路存儲器的品質(zhì)檢測工序中，該設(shè)備電源、主控芯片、測試機(jī)構(gòu)一體化，結(jié)構(gòu)簡單，人機(jī)界面操作簡單，整機(jī)成本低廉。

技術(shù)研發(fā)人員：溫為杰;李衛(wèi)國;李錦霞;張亞民
受保護(hù)的技術(shù)使用者：溫為杰;李錦霞;李衛(wèi)國;張亞民
文檔號碼：201720126507
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.10
技術(shù)公布日：2017.09.26