技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種嵌入式存儲(chǔ)器自適應(yīng)工作參數(shù)調(diào)整方法，包括：設(shè)定參數(shù)調(diào)整目標(biāo)M；動(dòng)態(tài)生成DAC_i的掃描基準(zhǔn)值DAC_基準(zhǔn)；i為≥1；基于動(dòng)態(tài)生成的掃描基準(zhǔn)值DAC_基準(zhǔn)，判斷后續(xù)DAC_i+1的空間檔位調(diào)整方向通過(guò)掃描基準(zhǔn)值DAC_基準(zhǔn)，動(dòng)態(tài)調(diào)整掃描起點(diǎn)，本發(fā)明分考慮到晶圓間以及晶圓內(nèi)芯片周邊環(huán)境工藝和器件差別對(duì)最終DAC參數(shù)調(diào)整空間檔位的影響，明顯減少當(dāng)前待測(cè)芯片的調(diào)整檔位數(shù)，從而減少了DAC掃描測(cè)試時(shí)間。

技術(shù)研發(fā)人員：李強(qiáng);席與凌;高金德
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海華力微電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.10
技術(shù)公布日：2017.09.01