測(cè)試裝置和方法
【專(zhuān)利摘要】一種用于測(cè)試光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置包括指令發(fā)送單元、檢測(cè)單元、計(jì)數(shù)單元、判斷單元以及輸出單元。所述指令發(fā)送單元用于依次發(fā)送進(jìn)倉(cāng)指令和出倉(cāng)指令以控制光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)出倉(cāng)；所述檢測(cè)單元用于檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)出倉(cāng)；所述計(jì)數(shù)單元用于對(duì)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；判斷單元用于判斷光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)；輸出單元用于當(dāng)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)時(shí)，輸出測(cè)試結(jié)果。此外，還提供一種用于測(cè)試光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的測(cè)試方法。
【專(zhuān)利說(shuō)明】測(cè)試裝置和方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種光盤(pán)播放器的檢測(cè)裝置和方法，尤其涉及一種測(cè)試光盤(pán)播放器的光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的測(cè)試裝置和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]機(jī)芯為光盤(pán)播放器的核心部件。機(jī)芯包括用于裝載光盤(pán)并引導(dǎo)光盤(pán)進(jìn)出倉(cāng)的光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)。光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的壽命直接影響到光盤(pán)播放器的品質(zhì)。因此，在光盤(pán)播放器生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)對(duì)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。然而，現(xiàn)有的測(cè)試方法通常是利用手工控制光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)以進(jìn)行測(cè)試。此種測(cè)試方法比較浪費(fèi)人力。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，實(shí)有必要提供一種自動(dòng)檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的測(cè)試裝置。
[0004]此外，還有必要提供一種自動(dòng)檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的測(cè)試方法。
[0005]一種測(cè)試裝置，其用于測(cè)試光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試裝置包括指令發(fā)送單元、檢測(cè)單元、計(jì)數(shù)單元、判斷單元以及輸出單元。所述指令發(fā)送單元用于依次發(fā)送進(jìn)倉(cāng)指令和出倉(cāng)指令以控制光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)出倉(cāng)；所述檢測(cè)單元用于檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)出倉(cāng)；所述計(jì)數(shù)單元用于對(duì)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；判斷單元用于判斷光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)；輸出單元用于當(dāng)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)時(shí)，輸出測(cè)試結(jié)果。
[0006]一種測(cè)試方法，其用于測(cè)試光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試方法包括如下步驟: 依次發(fā)送進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)指令給光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，以驅(qū)動(dòng)光盤(pán)裝載完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)；
檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)；
若光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)，計(jì)算光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)；
判斷進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)是否達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)；
若進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)，輸出測(cè)試結(jié)果。
[0007]上述測(cè)試裝置和方法能夠自動(dòng)檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，省時(shí)省力。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1為光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)后，測(cè)試裝置與光盤(pán)裝置傳動(dòng)機(jī)構(gòu)關(guān)系示意圖。
[0009]圖2為光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)過(guò)程中，測(cè)試裝置與光盤(pán)裝置傳動(dòng)機(jī)構(gòu)關(guān)系示意圖。
[0010]圖3為光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成出倉(cāng)后，測(cè)試裝置與光盤(pán)裝置傳動(dòng)機(jī)構(gòu)關(guān)系示意圖。
[0011]圖4為一較佳實(shí)施方式的光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的測(cè)試裝置的功能模塊圖。
[0012]圖5為測(cè)試裝置提供圖形用戶(hù)界面示意圖。[0013]圖6為測(cè)試裝置提供的測(cè)試結(jié)果示意圖。
[0014]圖7為一較佳實(shí)施方式的測(cè)試光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的測(cè)試方法流程圖。
[0015]主要元件符號(hào)說(shuō)明
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試裝置，用于測(cè)試光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試裝置包括指令發(fā)送單元、檢測(cè)單元、計(jì)數(shù)單元、判斷單元以及輸出單元，其特征在于:該指令發(fā)送單元用于依次發(fā)送進(jìn)倉(cāng)指令和出倉(cāng)指令以控制光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)出倉(cāng)；所述檢測(cè)單元用于檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)出倉(cāng)；所述計(jì)數(shù)單元用于對(duì)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；判斷單元用于判斷光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)是否達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)；輸出單元用于當(dāng)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)進(jìn)出倉(cāng)的次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)時(shí)，輸出測(cè)試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于:所述測(cè)試裝置還包括第一測(cè)試頭和第二測(cè)試頭，第一測(cè)試頭用于探測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)出倉(cāng)，并產(chǎn)生相應(yīng)的第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)，光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)或者完成出倉(cāng)時(shí)的第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)的電平分別與光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者未完成出倉(cāng)時(shí)的第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)的電平不同；所述檢測(cè)單元用于根據(jù)第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)的電平來(lái)檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)、出倉(cāng)。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于:所述第一測(cè)試頭可分離地與光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的第一極限開(kāi)關(guān)相接觸，所述第一極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)時(shí)被光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)觸發(fā)而與所述第一測(cè)試頭接觸，所述第一極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)時(shí)與所述第一測(cè)試頭接觸分離，以使第一測(cè)試頭產(chǎn)生的第一檢測(cè)信號(hào)的電平在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)和未完成進(jìn)倉(cāng)時(shí)不同。
4.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于:所述第二測(cè)試頭可分離地與光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的第二極限開(kāi)關(guān)相接觸，所述第二極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成出倉(cāng)時(shí)被光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)觸發(fā)而與所述第二測(cè)試頭接觸，所述第二極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成出倉(cāng)時(shí)與所述第二測(cè)試頭接觸分離，以使第一測(cè)試頭產(chǎn)生的第一檢測(cè)信號(hào)的電平在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成出倉(cāng)和未完成出倉(cāng)時(shí)不同。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于:所述測(cè)試裝置還包括計(jì)時(shí)單元，若光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)，所述計(jì)時(shí)單元用于對(duì)所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者出倉(cāng)的時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)；所述判斷單元還用于判斷所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者出倉(cāng)的時(shí)間是否達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間，若所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者出倉(cāng)的時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)的時(shí)間，所述輸出單元用于輸出測(cè)試結(jié)果。
6.一種測(cè)試方法，其用于測(cè)試光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試方法包括如下步驟: 依次發(fā)送進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)指令給光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，以驅(qū)動(dòng)光盤(pán)裝載完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)； 檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)； 若光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)，對(duì)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)； 判斷進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)是否達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)； 若進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)的進(jìn)出倉(cāng)次數(shù)，輸出測(cè)試結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法，其特征在于:檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)包括下面步驟: 提供第一測(cè)試頭和第二測(cè)試頭以探測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)出倉(cāng)，并分別產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)；光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)或者完成出倉(cāng)時(shí)的第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)的電平分別與光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者未完成出倉(cāng)時(shí)的第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)的電平不同；檢測(cè)第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信號(hào)的電平以檢測(cè)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是否完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于:所述第一測(cè)試頭可分離地與光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的第一極限開(kāi)關(guān)相接觸，所述第一極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)時(shí)被光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)觸發(fā)而與所述第一測(cè)試頭接觸，所述第一極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)時(shí)與所述第一測(cè)試頭接觸分離，以使第一測(cè)試頭產(chǎn)生的第一檢測(cè)信號(hào)的電平在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成進(jìn)倉(cāng)和未完成進(jìn)倉(cāng)時(shí)不同。
9.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于:所述第二測(cè)試頭可分離地與光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的第二極限開(kāi)關(guān)相接觸，所述第二極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成出倉(cāng)時(shí)被光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)觸發(fā)而與所述第二測(cè)試頭接觸，所述第二極限開(kāi)關(guān)在所述光盤(pán)光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成出倉(cāng)時(shí)與所述第二測(cè)試頭接觸分離，以使第一測(cè)試頭產(chǎn)生的第一檢測(cè)信號(hào)的電平在所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)完成出倉(cāng)和未完成出倉(cāng)時(shí)不同。
10.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法，其特征在于:所述測(cè)試方法在發(fā)送進(jìn)倉(cāng)或出倉(cāng)指令給光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)后，還包括如下步驟: 若光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)和出倉(cāng)，對(duì)所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者出倉(cāng)的時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)； 判斷所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者出倉(cāng)的時(shí)間是否達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間； 若所述光盤(pán)裝載傳動(dòng)機(jī)構(gòu)未完成進(jìn)倉(cāng)或者出倉(cāng)的時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)的時(shí)間，所述輸出單元用于輸出測(cè)試結(jié)果。
【文檔編號(hào)】G11B17/02GK103778924SQ201210405005
【公開(kāi)日】2014年5月7日 申請(qǐng)日期:2012年10月23日 優(yōu)先權(quán)日:2012年10月23日
【發(fā)明者】王雅國(guó), 陳俊卿 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司