專利名稱：光信息記錄設備和記錄校正計算方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光信息記錄設備和記錄校正計算方法，并且優(yōu)選地應 用于例如4吏用光束在記錄介質上記錄信息的光盤設備。
背景技術：
存在以下光盤設備或光信息記錄和再現(xiàn)設備，其使用包含信息記錄層 的盤狀光盤作為信息記錄介質所述信息記錄介質包括致密光盤(CD)、 數(shù)字多功能盤(DVD)或"藍光(Blu-ray)光盤(注冊商標下文中稱 之為BD)"。這樣的光盤設備已經(jīng)普及。
另外，光盤設備被設計為在光盤上記錄各種信息，比如包括音樂和 視頻內容的各種內容以及各種計算機數(shù)據(jù)。尤其是近年來，由于高清晰度 視頻數(shù)據(jù)或高質量音樂數(shù)據(jù)而導致待記錄的信息量增長。此外，待在光盤 上記錄的內容的數(shù)量正在增加。人們對于大容量光盤寄予很高的期望。
增加光盤容量的方式之一是已公開的日本專利公布No. 2007-220206 中公開的光盤設備(圖1、圖4和圖5 ):該設備將來自 一個光束源的光束 分成第一光束和第二光束，并且使得第一光束和第二光M此干涉，以形 成顯微全息圖作為在光盤的厚度方向上堆積的記錄標記，由此將信息記錄 在一個記錄層內部的多個層上。
在再現(xiàn)信息的處理期間，光盤設備將光束發(fā)射到記錄層內部的任意發(fā) 射位置；根據(jù)來自光盤的反射的強度來檢測在該位置是否存在記錄標記； 由此從記錄層上所記錄的記錄標記再現(xiàn)信息。

發(fā)明內容
另夕卜，被設計為從包含信息記錄層的光盤再現(xiàn)信息的典型光盤設備具
有二值化閾值這些典型的光盤設備根據(jù)再現(xiàn)信號RF的信號電平是比二 值化閾值高還是低而對再現(xiàn)信號RF進行二值化，由此確定在此是否存在 記錄標記，所述再現(xiàn)信號RF是從光盤上記錄的信息生成的信號。
由于可以通it^目對簡單的元件比如低通濾波器(LPF)來實現(xiàn)用于設 置閾值的電路，因此，將典型光盤設備中設置的二值化閾值確定為使得在 再現(xiàn)信號RF被二值化之后，在閾值檢測時段，"高"時段變?yōu)榈扔?低" 時段。
由于應用于光盤設備的調制方法被設計為使得再現(xiàn)信號RF的直流 (DC)分量的量盡可能小，因此"高"時段和"低"時段交替出現(xiàn)相對 短的時間段，使得有可能根據(jù)閾值檢測時段的再現(xiàn)信號RF來適當?shù)卦O置 二值化閾值。
然而，上述專利文獻中所公開的光盤在記錄層中形成三維記錄標記。 這可能導致在光束M射以用于再現(xiàn)信息之后，返回光束的強度根據(jù)記錄 標記之間的形狀差異而變化。如果光束^^C射到?jīng)]有記錄標記的區(qū)域，則 將不出現(xiàn)變化。
相應地，專利文獻1的光盤i殳備的信息再現(xiàn)處理可能導致白電平和黑 電平的變化差異較大的再現(xiàn)信號RF:白電平表示從有記錄標記的區(qū)域再 現(xiàn)的再現(xiàn)信號RF的幅度電平；黑電平表示從無記錄標記的區(qū)域再現(xiàn)的再 現(xiàn)信號RF的幅度電平。
所以，如果二值化閾值(比如典型的光盤i殳備)被確定為使得"高，， 時段變?yōu)榈扔?低"時段，則設備無法正確地識別二值化(即是否存在記 錄標記)的概率是高的(下文中將其稱之為誤碼率)。
已經(jīng)考慮到上述的各點而進行了本發(fā)明，并且本發(fā)明意欲提供可以減 少誤碼率的光信息記錄設備和記錄校正計算方法。
在本發(fā)明的一方面，提供了一種光信息記錄設備，其通過根據(jù)從記錄 信息生成的記錄信號而在記錄介質上形成記錄標記來對記錄信息進行記 錄，所述記錄標記的標記長度是參考標記長度的整數(shù)倍，所述光信息記錄 設備包括補償信息記錄和再現(xiàn)部，其在通過根據(jù)從補償記錄信息生成的 補償記錄信號而在所述記錄介質上形成記錄標記來記錄所述補償記錄信 息之后，通it^所述記錄介質讀出所述補償記錄信息來生成再現(xiàn)信號，所述補償記錄信息是任意記錄信息；再現(xiàn)時鐘生成部，其從所述再現(xiàn)信號生 成再現(xiàn)時鐘，所述再現(xiàn)時鐘的周期與所述參考標記長度相對應；分布參考 電平確定部，其根據(jù)所述再現(xiàn)信號的白電平和黑電平的變化差異，將適合 于所述再現(xiàn)信號的二值化確定的信號電平設置為分布參考電平；校正計算 部，其計算用于校正所述補償記錄信號的記錄校正值，使得所述再現(xiàn)信號
所述分布參考電平；記錄信息記錄部，其基于通過根據(jù)所述記錄校正值對 從所述記錄信息生成的記錄信息信號進行校正而生成的記錄信號，在所述 記錄介質上形成記錄標記。
相應地，在再現(xiàn)信息的處理期間，對于通過讀出記錄信息而生成的再 現(xiàn)信號，設置使"高"時段變?yōu)榈扔?低"時段的二值化閾值，使得其變 得接近于適合于二值化確定的分布參考電平。
在本發(fā)明的另一方面，提供了一種記錄校正計算方法，當通過根據(jù)從 記錄信息信號生成的記錄信號而在記錄介質上形成記錄標記來對記錄信 息進行記錄時，計算用于從所述記錄信息生成的記錄信息信號的記錄校正 值，所述記錄標記的標記長度是參考標記長度的整數(shù)倍，所述記錄校正計 算方法包括補償信息記錄和再現(xiàn)步驟在通過纟艮據(jù)從補償記錄信息生成 的補償記錄信號而在所述記錄介質上形成記錄標記來對所述補償記錄信 息進行記錄之后，通it^所述記錄^/h質讀出所述補償記錄信息來生成再現(xiàn) 信號，所述補償記錄信息是任意記錄信息；再現(xiàn)時鐘生成步驟從所述再 現(xiàn)信號生成再現(xiàn)時鐘，所述再現(xiàn)時鐘的周期與所述參考標記長度相對應； 分布參考電平確定步驟根據(jù)再現(xiàn)信號的白電平和黑電平的變化差異，將 適合于再現(xiàn)信號的二值化確定的信號電平設置為分布參考電平；以及校正 計算步驟計算用于校正所述補償記錄信號的記錄校正值，使得所述再現(xiàn)
布參考電平。
相應地，在再現(xiàn)信息的處理期間，對于通過讀出記錄信息而生成的再 現(xiàn)信號，設置使"高"時段變?yōu)榈扔?低"時段的二值化闊值，使得其變 得接近于適合于二值化確定的分布參考電平。
才艮據(jù)上述設備和方法，在再現(xiàn)信息的處理期間，對于通過讀出記錄信 息而生成的再現(xiàn)信號，設置使時段"高"變?yōu)榈扔跁r段"低"的二值化閾 值，4吏得其接近于適合于二值化確定的分布參考電平。因此，可以實現(xiàn)減 少誤碼率的光信息記錄設備和記錄校正計算方法。當結合附圖進行閱讀時，本發(fā)明的特性、原理和實用性將從以下詳細 描述中變得更加清楚,在附圖中，相似的部分由相似的標號或字符來指示。


在附圖中
圖l是示出光盤i更備的配置的示意圖2是光學拾取器的示意性外視圖3A和圖3B是示出記錄標記的形成(1)的示意圖4是示出記錄標記的形成(2)的示意圖5是示出信息的再現(xiàn)的示意圖6A和圖6B是示出再現(xiàn)信號的波形及其變化的示意圖7是示出記錄補償處理部的配置的示意圖8A至圖8E是示出補償記錄信息的記錄和再現(xiàn)的示意圖9A至圖9F是示出記錄信號的校正的示意圖IOA和圖IOB是示出再現(xiàn)信號的波形的調整的示意圖11是示出記錄校正計算處理的過程的流程圖12是示出閾值確定處理的過程的流程圖；以及
圖13是示出平均時間誤差計算處理的過程的流程圖。
具體實施例方式
將參照附圖來詳細描述本發(fā)明的實施例。
(1)光盤i殳備的配置
參照圖1,標號1總體上表示光盤設備。控制部2負責該設備的全面 控制。
控制部2包括中央處理單元(CPU)和其它組件(未示出)CPU從 只讀存儲器(ROM)讀出程序(比如基本程序、信息記錄程序以及記錄 校正計算程序)，并且將它們加載到隨M取存儲器(RAM)上，由此執(zhí) 行包括信息記錄處理和記錄校正計算處理的處理在光盤100 ;^設備中的情況下，在從外部設備等等(未示出)接收 到信息記錄命令、記錄信息以及記錄地址信息之后，控制部2例如將驅動 命令和記錄地址信息提供給驅動控制部3。同時，控制部2將記錄信息提 供給信號處理部4。順便提及，記錄地址信息表示光盤100的記錄層101 的區(qū)域的地址記錄信息將要被記錄在該區(qū)域上。
驅動控制部3根據(jù)驅動命令來旋轉主軸馬達(spindle motor) 5，由 此以預定旋轉速度來旋轉光盤100。驅動控制部3還驅動尋軌馬達(sled motor) 6，以在光盤100的半徑方向上(即，向著光盤100的最內部或最 外部)沿著移動軸7A和7B移動光學拾取器10，由此將光學拾取器10 放置在與記錄地址信息相對應的位置(虛軌道(imaginary track))之上。
信號處理部4對于所提供的記錄信息執(zhí)M如調制處理(l-7PP (奇 偶保留/禁止重復的最小轉換游長(transition run-length ))和預定解碼處 理等信號處理，以產生記錄信息信號。信號處理部4于是通it^記錄信息 信號執(zhí)行記錄補償處理而產生記錄信號，并且將記錄信號提供給光學拾取 器10。
如圖2所示，光學拾取器10基本上形成為U形。這樣允許光學拾取 器10將記錄光束Ll發(fā)射到光盤100的兩個表面，并且將它們聚焦在光 盤100上。
類似于典型的CD、 DVD和BD，這種盤狀光盤100直徑為大約 120mm，并且在其中心處具有孔100H。如作為光盤100的截面圖的圖3A 所示，光盤100具有J^L102和103以及記錄層101:記錄層101夾在基 板102與103中間。記錄標記RM將被記錄在記錄層101內部的多個層 上。
在光學拾取器10(圖l)中，激光驅動器11根據(jù)記錄信號而向激光二 極管12提供激光驅動電流，由此使得激光二極管12發(fā)射記錄光束Ll(激 光光束)。光學拾取器10的光分離部13將記錄光束Ll分為記錄光束Lla 和Lib,記錄光束Lla和Lib然后分別被引導至物鏡14和15。
在驅動控制部3的控制下，光學拾取器10執(zhí)行尋軌控制處理，在該 處理中，光學拾取器10驅動雙軸致動器14A和15B,并且在尋軌方向上 移動物鏡14和15，該尋軌方向是光盤100的半徑方向。這使得光學拾取 器10將記錄光束Lla和Lib發(fā)射到與記錄地址信息相對應的虛軌道:虛 軌道處于光盤100的記錄層101上。此外，光學拾取器10執(zhí)行聚焦控制處理，在該處理中，光學拾取器 10將物鏡14和15移動為更接近于光盤100或者遠離光盤100 (即，在聚 焦方向上)。這使得光學拾取器10將記錄光束Lla和Lib發(fā)射到與記錄 地址信息相對應的虛記錄層，并且將記錄光束Lla和Lib聚焦在同一點 上。
因此，在發(fā)射到記錄層101的任意虛標記層的任意虛軌道(下文中稱 之為目標軌道)的記錄光束Lla和Lib的聚焦點附近出現(xiàn)駐波，由此形 成全息圖或記錄標記RM。
如圖3B所示，光學#^取器10才艮據(jù)記錄地址信息來改變記錄光束Lla 和Lib的聚焦點的深度，從而在記錄層101內部的每個虛標i己層上形成 記錄標記RM。
如圖4所示，才艮據(jù)從信號處理部4揭_供的記錄信號來確定記錄層101 上記錄的記錄標記RM的標記長度(例如2T至8T )。
此外，例如，在從外部設備(未示出)接收到信息再現(xiàn)命令和再現(xiàn)地 址信息之后，控制部2向驅動控制部3提供驅動命令，所述再現(xiàn)地址信息 表示對信息進行再現(xiàn)的區(qū)域的地址。同時，控制部2將再現(xiàn)處理命令提供 給信號處理部4。
按與當記錄信息時相似的方式，驅動控制部3將主軸馬達5驅動為按 預定旋轉速度來旋轉光盤100。驅動控制部3還將尋軌馬達6驅動為將光 學拾取器10放置在與再現(xiàn)地址信息相對應的點之上。
在驅動控制部3的控制下(圖1),光學拾取器10執(zhí)行聚焦控制處理 和尋軌控制處理。這使得光學拾取器10將讀取光束L2發(fā)射到與再現(xiàn)地 址信息相對應的軌道(即，目標軌道)該軌道處于光盤100的記錄層101 上。在此情況下，光學拾取器10僅將預定強度的讀取光束L2發(fā)射到光 盤100的一個表面。
如圖5所示，光學拾取器10的光分離部13僅讓讀取光束L2進入物 鏡15,物鏡15于是將讀取光束L2引導到記錄層101的目標軌道。
接著，光學拾取器10的光電檢測器16 (圖1)接收從光盤100的記 錄層101 (圖3A和圖3B)的記錄標記RM顯現(xiàn)的再現(xiàn)光束L3。光電檢 測器16于是根據(jù)該光束的強度來向信號處理部4提供檢測信號。
信號處理部4 (圖1)從所提供的檢測信號對再現(xiàn)信號RF進行再現(xiàn)， 設置二值化閾值AO，使得再現(xiàn)信號RF的"高"時段和"低"時段變?yōu)楸舜讼嗟?，并且從再現(xiàn)信號RF生成二值化信號。
信號處理部4于是通過對二值化信號執(zhí)行諸如預定解調處理和解碼 處理等的信號處理而生成再現(xiàn)信息，并且將再現(xiàn)信息提供給控制部2?？?制部2將再現(xiàn)信息發(fā)送到外部設備(未示出)。
以此方式，光盤設備1的控制部2控制光學拾取器10在光盤100的 記錄層101的目標軌道上記錄信息、并且從目標軌道再現(xiàn)信息。
(2 )記錄校正計算處理的詳細描述
如上所述，在信息再現(xiàn)處理期間，在設置二值化閾值AO以使得"高" 時段和"低"時段變?yōu)楸舜讼嗟戎螅獗P設備1對再現(xiàn)信號RF進行二 值化。相應地，光盤設備1被設計為在校正記錄標記RM的長度之后 對其進行記錄，使得在任意信號電平都可以出現(xiàn)再現(xiàn)信號RF的從"高" 到"低"(或"低"到"高")的切換(即，過零)。
光盤設備l被設計為在信息記錄處理期間，根據(jù)記錄校正值，通過 執(zhí)行記錄補償處理來校正記錄標記RM的長度，在記錄補償處理中，通 過校正從記錄信息生成的記錄信息信號來產生記錄信號。以下描述確定記 錄校正值的記錄校正計算處理。
圖6A示出重疊的再現(xiàn)信號RF的眼圖IP:通過對其上形成記錄標記 RM或全息圖的光盤100的信息再現(xiàn)處理來生成再現(xiàn)信號RF。
該示圖說明，白電平的變化大于黑電平的變化關于眼圖IP，白電 平與從有記錄標記RM的區(qū)域生成的再現(xiàn)信號RF的幅度有關；黑電平與 從無記錄標記RM的區(qū)域(即空白SP)生成的再現(xiàn)信號RF的幅度有關。
圖6B示出表示檢測到白電平和黑電平的信號電平以及合計結果(即， 信號電平出現(xiàn)的比率)的分布曲線。白電平分布曲線WC很寬地穿過信 號電平軸，而黑電平分布曲線BC集中在較窄區(qū)域內。這意味著白電平的 變化大，而黑電平的變化小。
通常，如果二值化閾值AO被設置為白電平信號電平的平均值與黑電 平信號電平的平均值之間的中間值CT，以《吏對具有白電平與黑電平的變 化差異的信號進行二值化，則設備無法正確地確定其為"高"還是"低，， 的概率是高的(下文中將其稱之為誤碼率)。
相應地，如果光盤設備已經(jīng)對中間值CT執(zhí)行了記錄補償處理，以使 得可出現(xiàn)從"高"到"低"(或從"低"到"高")的切換，則誤碼率將上升。
因此，根據(jù)該實施例的光盤設備l，確定記錄校正值，以使得當再現(xiàn)
信號RF處于4艮據(jù)白電平和黑電平的變化差異而確定的信號電平時，再現(xiàn) 信號RF穿過零值。
當執(zhí)行信息記錄處理時，光盤設備1的控制部2 (圖1)控制記錄補 償處理部30以執(zhí)行記錄校正計算處理。
如圖7所示，在從外部設備等等接收到信息記錄命令之后，記錄補償 處理部30的補償信息記錄/再現(xiàn)部31從ROM讀出補償記錄信息(或記 錄信息)，并且將其提供給信號處理部4。如圖8A和8B所示，信號處理 部4生成補償記錄信號Sw，并且將其提供給補償信息記錄/再現(xiàn)部31:當 預定記錄時鐘CLw下降時，補償記錄信號Sw穿過零值或參考電平SL。
如圖8C所示，補償信息記錄/再現(xiàn)部31根據(jù)補償記錄信號Sw而在 記錄層101的預定補償記錄區(qū)域中形成記錄標記RM。
此外，緊接在對補償記錄信息進行記錄之后，補償信息記錄/再現(xiàn)部 31從補償記錄區(qū)域讀出補償記錄信息，并且使得信號處理部4生成再現(xiàn) 信號RF,如圖8D所示。
再現(xiàn)時鐘生成部32對再現(xiàn)信號RF執(zhí)行鎖相環(huán)(PLL )處理，由此 產生再現(xiàn)時鐘CLr:再現(xiàn)時鐘CLr的半個周期等于標記長度1T的長度的 一半，如圖8E所示。再現(xiàn)時鐘生成部32還4吏得再現(xiàn)信號RF和再現(xiàn)時鐘 CLr彼此同步。順便提及，再現(xiàn)時鐘CLr被產生為使得它在再現(xiàn)信號RF 穿it^值時下降，其中，二值化閾值AO被設置成使得"高"時段與"低" 時段變?yōu)楸舜讼嗟取?br> 分布參考電平確定部33 (圖7)在再現(xiàn)時鐘CLr上升的黑和白檢測 定時檢測(或采樣)再現(xiàn)信號RF;根據(jù)再現(xiàn)信號RF的信號電平來確定 檢測到的再現(xiàn)信號RF是白電平還是黑電平；然后在RAM中臨時存儲確 定的信號電平。
此夕卜，在所存儲的信號電平的數(shù)目例如達到預定統(tǒng)計量之后，分布參 考電平確定部33結^t再現(xiàn)信號RF的信號電平的檢測。對于白電平和 黑電平，分布參考電平確定部33將所述信號電平與檢測到該信號電平的 次數(shù)總數(shù)之間的相關性表達為高階函數(shù)，由此生成曲線。
以此方式，分布參考電平確定部33可以生成白電平分布曲線WC和 黑電平分布曲線BC。圖6B在圖上示出這些分布曲線WC和BC。分布曲線WC和BC的程度表示白電平和黑電平的變化:緩和的曲線意味著較 大變化，而尖銳的曲線表示較小的變化。
分布參考電平確定部33 (圖7)然后計算分布參考電平AD:分布參 考電平AD是分布曲線WC與分布曲線BC (圖6B)交叉之處的信號電 平。如果白電平的變化大于黑電平的變化，則由分布參考電平確定部33 計算出的分布參考電平AD比中間值CT更接近于黑電平。
因此，由分布參考電平確定部33根據(jù)再現(xiàn)信號RF的白電平和黑電 平的變化差異而計算出的分布參考電平AD是適合于再現(xiàn)信號RF的二值 化確定的信號電平。
如圖9B所示，過零時間誤差計算部34將分布參考電平AD看作參 考電平(零)，并且從再現(xiàn)信號RF檢測過零定時，所述過零定時與記錄 標記RM的開始沿Es相對應，所述"^錄標ii RM的標i己長度與待處理的 標記長度(下文中稱之為處理目標標記長度)相匹配。
具體地說，過零時間誤差計算部34計算過零時間誤差AT，所述過 零時間誤差AT表示再現(xiàn)信號RF穿過分布參考電平AD的定時與再現(xiàn)時 鐘CLr (圖9A)下降的定時(下文中稱之為過目標定時)之間的差。在 計算過零時間誤差AT達預定次數(shù)(也稱為計算數(shù)目)之后，過零時間誤 差計算部34輸出計算出的itf:時間誤差AT的平均值作為平均時間誤差 AAT。
相似地，過零時間誤差計算部34計算平均時間誤差AAT,以用于 具有處理目標標記長度的記錄標記RM的結束沿Ee。以此方式，過零時 間誤差計算部34計算所有平均時間誤差AAT，以用于所有標記長度的 開始沿Es和結束沿Ee。
例如，過零時間誤差計算部34從再現(xiàn)信號RF檢測與標記長度為2T (處理目標標記長度)的記錄標記RM (2T標記)的開始沿Es相對應的 部分穿#值的定時，并且計算平均時間誤差AAT2s。
此外，過零時間誤差計算部34從再現(xiàn)信號RF檢測與標記長度為2T 的記錄標記RM的結束沿Ee相對應的部分穿it^值的定時，并且計算平 均時間誤差AAT2e。
過零時間誤差計算部34當需要時在3T至8T之間改變處理目標標記 長度，并執(zhí)行類似處理，由此計算標記長度3T至8T的平均時間誤差A A T3s至A△ T3s以及A △ T3e至A A T8e。以此方式，過零時間誤差計算部34計算平均時間誤差AAT，以用 于每種標記長度的記錄標記RM的開始沿Es和結束沿Ee:平均時間誤差 AAT表示再現(xiàn)信號RF穿it^值(或分布參考電平AD)的定時與過目 標定時之間的差的平均值。
校正計算部35(圖7 )確定每個平均時間誤差AAT( AAT2s至AAT8s 以及AAT2e至AAT8e)是否小于預定時間誤差閾值。如果平均時間誤差 AAT大于或等于時間誤差閾值，則校正計算部35將平均時間誤差AAT 乘以小于或等于1 (例如0.8 )的常數(shù)值，由此計算用于補償記錄信號Sw 的記錄校正值。校正計算部35將記錄校正值提供給補償信息記錄/再現(xiàn)部 31。
補償信息記錄/再現(xiàn)部31將補償記錄信息和記錄校正值提供給信號處 理部4。如圖9C和9D所示，信號處理部4生成補償記錄信號Sw，并且 將其提供給光學拾取器10:補償記錄信號Sw是在記錄時鐘CLw下降之 前穿過參考電平SL (零)達與記錄校正值相對應的特定時間段的信號。
如圖9E所示，補償信息記錄/再現(xiàn)部31控制光學拾取器10以根據(jù)補 償記錄信號Sw而在記錄標記101的補償記錄區(qū)域中形成記錄標記RM， 并且從記錄標記RM生成再現(xiàn)信號RF。順便提及，為了便于解釋，圖9D 和圖9E示出當所述常數(shù)值是1時、基于補償記錄信號Sw而形成的記錄
標記RMo
記錄補償處理部30利用再現(xiàn)時鐘生成部32、分布參考電平確定部33、 過零時間誤差計算部34以及校正計算部35來重復相似的處理，以再次根 據(jù)補償記錄信號Sw來計算記錄校正值。
記錄補償處理部30重復記錄校正值的計算，直到由校正計算部35 計算出的所有標記長度的平均時間誤差AAT變?yōu)樾∮跁r間誤差閾值。
在記錄補償處理部30識別到所有標記長度的平均時間誤差AAT都 已變?yōu)樾∮跁r間誤差閾值之后，記錄補償處理部30結束記錄校正值的計 算，然后在結束記錄校正計算處理之前，在信號處理部4中設置記錄校正 值。
以此方式，如圖9F所示(與圖9B相比)，記錄補償處理部30計算 用于生成可以形成記錄標記RM的補償記錄信號Sw的記錄校正值，這使 得再現(xiàn)信號RF穿過根據(jù)分布參考電平AD的零值，所述分布參考電平 AD根據(jù)白電平和黑電平的變化而設置。光盤設備l的信號處理部4于是執(zhí)行記錄補償處理，在該處理中，通 過根據(jù)記錄校正值來對記錄信息信號進行校正而生成記錄信號，所述記錄 信息信號是基于從外部設備等等提供的記錄信息。以此方式，當將記錄信 息記錄在光盤100上時，光盤設備1根據(jù)記錄校正值而改變記錄標記RM 的長度。
這使得光盤設備1在記錄層101上形成記錄標記RM，所述記錄標記 RM可以生成再現(xiàn)信號RF，以使得再現(xiàn)信號RF穿it^值(或分布參考 電平AD)，即，"高"時段和"低"時段變?yōu)楸舜讼嗟取?br> 在圖10A中，虛線表示記錄標記在其被校正之前的長度，而實線表 示記錄標記在校正之后的長度。以此方式，光盤設備1根據(jù)記錄校正值來 校正記錄信息信號。
在圖10B中，在分布參考電平AD是參考點(零)時，虛線表示其 過零定時與過目標定時不匹配的再現(xiàn)信號RF，而實線示出其過零定時與 過目標定時匹配的再現(xiàn)信號RF。
因此，在信息再現(xiàn)處理期間，即使光盤設備l在預定閾值設置時段執(zhí) 行將二值化閾值AO設置成使得"高"時段和"低"時段變?yōu)楸舜讼嗟鹊?典型處理，也可以根據(jù)白電平和黑電平的變化差異來將二值化閾值AO設 置在分布參考電平AD附近，以使得其變得適合于二值化確定。
(3 )記錄校正計算處理過程
以下參照閨11至圖13來描述根據(jù)記錄補償程序而執(zhí)行的記錄校正計 算處理的過程。
參照圖11，在開始信息記錄處理之后，光盤設備1的控制部2開始 記錄校正計算處理的過程RT1 ，并且i^V步驟SP1 。
在步驟SP1,控制部2根據(jù)從ROM讀出的4M嘗記錄信息而將補償記 錄信息記錄在記錄層101的預定補償記錄區(qū)域中，并且進入下一步驟SP2。
在步驟SP2，控制部2讀出在步驟SP1記錄的補償記錄信息，并且在 進入步驟SP3之前開始再現(xiàn)信號RF的生成。
在步驟SP3，控制部2開始從再現(xiàn)信號RF提取再現(xiàn)時鐘CLr，然后 ii^下一步驟SP4。
在步驟SP4，控制部2使再現(xiàn)信號RF和再現(xiàn)時鐘CLr彼此同步，然 后i^下一步驟SP5。在執(zhí)行后續(xù)處理的同時，繼續(xù)從再現(xiàn)信號RF對再現(xiàn)時鐘CLr的提取以及對再現(xiàn)信號RF和再現(xiàn)時鐘CLr的同步。
在步驟SP5，控制部2進入子例程SRT11的步驟SP23,并且開始閾 值確定處理的過程(圖12)，在該過程中，根據(jù)再現(xiàn)信號RF的白電平和 黑電平的變化來確定分布參考電平AD 。
在步驟SP23，控制部2在再現(xiàn)時鐘CLr上升的黑和白檢測定時對再 現(xiàn)信號RF的信號電平進行檢測或者采樣，然后i^下一步驟SP4。
在步驟SP24,控制部2確定在步驟SP23所采樣的再現(xiàn)信號RF是否 為黑電平。如果獲得肯定的結果，則控制部2將再現(xiàn)信號RF的信號電平 識別為黑電平，并且在進入下一步驟SP25之前在RAM中臨時存儲該信 號電平。
如果在步驟SP24獲得否定的結果，則控制部2將在步驟SP23所采 樣的再現(xiàn)信號RT的信號電平識別為白電平，并且在i^V下一步驟SP26 之前在RAM中臨時存儲該信號電平。
在步驟SP26，控制部2確定是否已對再現(xiàn)信號RF的信號電平采樣 了預定次數(shù)(預定統(tǒng)計量)。如果獲得否定的結果，則控制部2返回步驟 SP23，并且繼續(xù)進行處理。
如果在步驟SP25獲得肯定的結果，則控制部2 i^V下一步驟SP28， 并且從RAM中存儲的再現(xiàn)信號RF的黑電平信號電平和白電平信號電平 生成白電平分布曲線WC和黑電平分布曲線BC。此外，在結束閾值確定 處理的過程SRT11之前，控制部2計算分布曲線WC與分布曲線WB交 叉之處的點作為分布參考電平AD?？刂撇? ^it^記錄校正計算處理 的過程RT1的步驟SP6 (圖11 )。
在步驟SP6，控制部2進入子例程SRT12 (圖13 )的步驟SP42，以 執(zhí)行平均時間誤差計算處理來計算平均時間誤差AAT，所述平均時間誤 差A△ T是再現(xiàn)信號SF的過零定時與過目標定時之間的時間差的平均值， 其中，分布參考電平AD被看作參考點(零)。
在步驟SP42,控制部2確定作為待處理標記的標記長度的處理目標 標記長度，并且i^下一步驟SP43。
在步驟SP43，控制部2隨著時間而檢測再現(xiàn)信號RF的與處理目標 標記長度的開始沿Es相對應的itf:定時，并且ii^下一步驟SP44。
在步驟SP44,控制部2計算it^時間誤差AT，并且在i^下一步驟SP45之前在RAM中臨時存儲該過零時間誤差AT，所述過零時間誤差A T表示在步驟SP43檢測到的過零定時與再現(xiàn)時鐘CLr下降的過目標定時 之間的差。
在步驟SP45,控制部2確定是否已對處理目標標記長度的開始沿Es 的過零時間誤差AT計算了預定次數(shù)(預定計算數(shù)目)。如果獲得否定的 結果，則控制部2返回步驟SP43，以便繼續(xù)計算過零時間誤差AT。
如果在步驟SP45獲得肯定的結果，則控制部2 l下一步驟SP46， 并且在進入步驟SP47之前計算平均時間誤差AAT,所述平均時間誤差 AAT是處理目標標記長度的開始沿Es的it^時間誤差AT的平均值。
在步驟SP47，控制部2隨著時間而檢測再現(xiàn)信號SF的與處理目標標 記長度的結束沿Ee相對應的過零定時，并且^下一步驟SP48。
在步驟SP48,控制部2計算過零時間誤差AT,并且在i^下一步驟 SP49之前在RAM中臨時存儲該過零時間誤差AT，所述過零時間誤差A T表示在步驟SP47檢測到的過零定時與過目標定時之間的差。
在步驟SP49,控制部2確定是否已對處理目標標記長度的結束沿Ee 的過零時間誤差AT計算了預定次數(shù)(預定計算數(shù)目)。如果獲得否定的 結果，則控制部2返回步驟SP47,以便繼續(xù)計算過零時間誤差AT。
如果在步驟SP49獲得肯定的結果，則控制部2進入步驟SP50,并且 在進入下一步驟SP51之前計算平均時間誤差AAT，所述平均時間誤差 AAT是處理目標標記長度的結束沿Ee的it^時間誤差AT的平均值。
在步驟SP51,控制部2確定是否已針對所有標記長度完成了這些處 理。如果獲得否定的結果，則控制部2返回到步驟SP42，將未處理的標 記長度設置為處理目標標記長度，并且繼續(xù)進行處理。
如果在步驟SP51獲得肯定的結果，則控制部2結束平均時間誤差計 算處理的過程SRT12 ，并且^記錄校正計算處理的過程RT1的步驟SP7 (圖11 )。
在步驟SP7，控制部2確定所有標記長度的平均時間誤差AAT是否 都小于預定時間誤差闞值。如果獲得否定的結果，則控制部2返回到下一 步驟SP8，從平均時間誤差AAT計算記錄校正值，然后將其設置在信號 處理部4中?？刂撇?隨后返回到步驟SP1，以重復處理。
如果在步驟SP8獲得肯定的結果，則控制部2ii^結束步驟，以結束記錄校正計算處理。
(4 )操作和效果
通過如上所述的配置，光盤設備1通過根據(jù)從記錄信息生成的記錄信 號而在光盤IOO(記錄介質)上形成記錄標記RM來對記錄信息進行記錄 記錄標記RM的標記長度的范圍從2T至8T，其為參考標記長度(IT) 的整數(shù)倍。
此夕卜，當執(zhí)行其中計算用于記錄信息信號的記錄校正值的記錄校正計 算處理時，光盤設備1通過根據(jù)從補償記錄信息生成的補償記錄信號Sw 而在光盤100上形成記錄標記RM來記錄補償記錄信息，然后通it^光 盤100讀出補償記錄信息而生成再現(xiàn)信號RF，所述補償記錄信息是先前 已經(jīng)存儲在ROM中的任意記錄信息。
另外，光盤設備1從再現(xiàn)信號RF生成再現(xiàn)時鐘CLr，作為周期與 1T相對應的再現(xiàn)時鐘CLr:所生成的再現(xiàn)時鐘CLr的一個周期或從其上 升時直到其下降時的時間段與1T相對應。光盤設備l還將表示白電平的 變化的分布曲線WC與表示黑電平的變化的分布曲線BC交叉之處的點看 作分布參考電平AD。以此方式，光盤設備1根據(jù)再現(xiàn)信號RF的白電平 和黑電平的變化差異來計算分布參考電平AD,所述分布參考電平AD適 合于再現(xiàn)信號RF的二值化確定。
另外，光盤設備1計算用于對^M嘗記錄信號Sw進行校正的記錄校正 值，使得再現(xiàn)信號RF在再現(xiàn)時鐘CLr下降的過目標定時變得更接近于 分布參考電平AD。
在信息記錄處理期間，光盤設備1因此根據(jù)記錄信號而在光盤100 上形成記錄標記RM，所述記錄信號通過基于記錄校正值而對從記錄信息 生成的記錄信息信號進行校正來生成。
相應地，在光盤設備l中，再現(xiàn)信號RF的信號電平變得接近于分布 參考電平AD，使得"高"時段變?yōu)榈扔?低"時段。相應地，在信息再 現(xiàn)處理期間，由光盤設備1所設置的二值化閾值AO接近于根據(jù)白電平和 黑電平的變化差異的分布參考電平AD，因此降低了誤碼率。
以此方式，光盤設備1實際上在光盤100上記錄補償記錄信息，并且 計算可以對補償記錄信號Sw進行校正的記錄校正值，使得用于所獲取的 再誕信號RF的二值化閾值AO變?yōu)榉植紖⒖茧娖紸D。具體地說，光盤 設備1沿著時間軸來校正記錄信號，以校正記錄標記RM的長度，并且沿著時間軸來調整再現(xiàn)信號RF的波形。結果，當參考點是分布參考電平 AD時，"高"時段變?yōu)榈扔?低"時段。
當在光盤100上對記錄信息進行記錄時，光盤設備1執(zhí)行記錄補償處 理，在該處理中，根據(jù)記錄校正值來校正從記錄信息生成的記錄信息信號， 以生成記錄信號。結果，再現(xiàn)信號RF的信號電平變得接近于分布參考電 平AD,使得"高"時段變?yōu)榈扔?低"時段。
因此，按與典型光盤設4^相似的方式，在從光盤100再現(xiàn)信息的光盤 設備l中所設置的二值化閾值AO是使"高"時段等于"低"時段的再現(xiàn) 信號SF的信號電平，由此簡化了光盤i殳備l的配置。
通常，信息再現(xiàn)處理比信息記錄處理更頻繁地被執(zhí)行。因此信息再現(xiàn) 處理應該即刻開始。光盤設備1必須進行的操作僅是設置二值化閾值AO。 因此，對于信息再現(xiàn)處理，可以簡化設置二值化閾值AO的處理。相應地， 與在信息再現(xiàn)處理期間根據(jù)白電平和黑電平的變化來設置二值化閾值 AO的光盤i殳^^目比，光盤設備1不花費太多時間來開始信息再現(xiàn)處理。
另夕卜，典型的光盤設備需要執(zhí)行記錄補償處理，以處理記錄光盤100 的記錄層101的記錄特性的變化。而光盤i殳備l可以通過以下簡單處理來 降低誤碼率在該處理中，4吏用記錄補償處理來校正記錄標記RM的長 度，使得當執(zhí)行信息再現(xiàn)處理時，將根據(jù)白電平和黑電平的變化來設置二 值化閾值AO。
此外，由光盤設備l設置的分布參考電平AD是分布曲線WC與分 布曲線BC交叉之處的點分布曲線WC表示白電平信號電平與該信號電 平出現(xiàn)的比率之間的相關性，而分布曲線WB表示黑電平信號電平與該 信號電平出現(xiàn)的比率之間的相關性。
相應地，由光盤設備1設置的分布參考電平AD是基于白電平的變化 以及黑電平的變化而確定的信號電平，并且適合于二值化確定。因此，在 信息再現(xiàn)處理期間所設置的二值化閾值AO接近于適合于降低誤碼率的 信號電平。
另外，光盤設備1檢測在再現(xiàn)時鐘CLr上升時的信號電平作為白電 平或黑電平的信號電平。相應地，與其中檢測"^值頂部以檢測白電平或黑 電平的信號電平的方法相比，檢測白電平或黑電平的信號電平的這種處理 是簡單的。
此外，光盤設備l從平均時間誤差AAT計算記錄校正值，所述平均時間誤差A △ T是過零時間誤差△ T的平均值過零時間誤差△ T表示再 現(xiàn)信號RF變?yōu)榉植紖⒖茧娖紸D的it^定時與過目標定時之間的差。以 此方式，從過零時間誤差AT計算記錄校正值。
相應地，光盤設備1可以沿著時間軸來校正記錄信號中與開始沿Es 和結束沿Ee相對應的部分，由此沿著時間軸來調整與開始沿Es和結束 沿Ee相對應的再現(xiàn)信號RF的波形。
另外，如果平均時間誤差AAT小于時間誤差閾值，則光盤設備l計 算記錄校正值；如果平均時間誤差AAT大于或等于時間誤差閾值，則補 償信息記錄/再現(xiàn)部31根據(jù)記錄校正值來校正補償記錄信號Sw，并且執(zhí) 行對補償記錄信息的記錄和再現(xiàn)。
相應地，光盤設備l可以繼續(xù)進行記錄補償處理，直到再現(xiàn)信號RF 實際上穿過分布參考電平AD附近的零值。因此，在信息再現(xiàn)處理期間， 光盤設備1確保再現(xiàn)信號RF的二值化閾值AO被設置在分布參考電平 AD附近。
此夕卜，光盤設備1通過將平均時間誤差AAT乘以小于或等于1的任 意常數(shù)值來計算記錄校正值。
在此，在從再現(xiàn)信號RF生成再現(xiàn)時鐘CLr時，光盤設備1根據(jù)預 定記錄時鐘CLw來生成補償記錄信號Sw。這意味著，再現(xiàn)時鐘CLr與 記錄時鐘CLw不相同。相應地，如果過零時間誤差AT被用作記錄校正 值，則該值可以大于必需的值。
此外，光盤設備1被設計為校正待一次性記錄的標記的邊沿的位置。 相應地，相鄰邊沿之間的干擾的幅度(即碼元之間的干擾)可能在校正之 前以及之后變化。結果，可能超過期望地過度進行校正。光盤設備l計算 用于開始沿Es和結束沿Ee 二者的記錄校正值。相應地，對于標記長度 的開始沿Es和結束沿Ee 二者，如果由設備設置的記錄校正值是縮短標 記長度的記錄校正值，則該記錄校正值可能太大，因為對該標記的位置的 校正可能影響另 一標記的位置的校正。
相應地，光盤設備1將平均時間誤差AAT乘以小于或等于1的任意 常數(shù)值。這防止了處理的再次發(fā)生，由此消除了發(fā)散(divergence)。相應 地，因為光盤設備l進行更少次數(shù)的處理，所以它可以即刻計算記錄校正 值。
根據(jù)上述配置，光盤設備1通過實際上在光盤100上形成記錄標記RM而記錄信息，從光盤再現(xiàn)信息以生成再現(xiàn)信號RF,并且從再現(xiàn)信號 RF生成再現(xiàn)時鐘CLr。此外，光盤設備l將二值化確定信號電平設置為 分布參考電平AD，所述二值化確定信號電平應該根據(jù)再現(xiàn)信號RF的變 化而設置；計算補償信息信號的記錄校正值以調整再現(xiàn)信號RF的波形， 使得再現(xiàn)信號RF中與邊沿E相對應的部分穿過再現(xiàn)時鐘CLr下降的定 時附近的分布參考電平AD;在信息記錄處理期間，通過根據(jù)記錄校正值 而校正記錄信息信號來生成記錄信號；然后校正記錄標記RM的長度。 因此，在信息再現(xiàn)處理期間，光盤設備1確保再現(xiàn)信號RF穿過在再現(xiàn)時 鐘CLr下降的定時附近的分布參考電平AD。相應地，由設備所設置的二 值化閾值AO接近于分布參考電平AD。因此，可以實現(xiàn)降低誤碼率的光 信息記錄設備和記錄校正計算方法。
(5)其它實施例
在上述實施例中，針對開始沿Es和結束沿Ee 二者進行記錄校正值 的計算。然而，本發(fā)明不限于此。例如，可以針對開始沿Es或者結束沿 Ee執(zhí)行記錄校正值的計算。
此外，在上述實施例中，針對每個標記長度進行記錄校正值的計算。 然而，本發(fā)明不限于此?？梢葬槍擞涢L度和空白長度的每種組合執(zhí)行記 錄校正值的計算。這允許設備更精確地執(zhí)行記錄補償處理。
以下描述這樣的情況對于記錄信號，設備使用其中最小標記長度和 最小空白是2T的調制方法。如果設備利用僅依賴于在邊沿E之前和之后 的三個時鐘的組合來計算記錄校正值，則存在四種組合大于3T的標記 與大于3T的空白，大于3T的標記與2T的空白和下一標記，前一標記與 2T的標記和3T的空白，前一空白與2T的標記和2T的空白以及下一標 記。設備計算針對這些組合的記錄校正值。如果其依賴于四個時鐘，則設 備計算針對大于或等于2T、 3T和4T的標記和空白的組合的記錄校正值。
相應地，與其中針對標記長度和空白長度的所有組合來執(zhí)行記錄校正 值的計算的方法相比，該方法可以減少所需的補償記錄信息的量。這可以 減少記錄校正計算處理所需的時間。
另外，在上述實施例中，根據(jù)與記錄標記RM的所有標記長度(2T 至8T)相對應的再現(xiàn)信號RF來確定分布參考電平。然而，本發(fā)明不限 于此。例如，如果與2T標記和2T空白相對應的白電平和黑電平與其它 標記長度4艮不同，則可以在沒有它們的情況下確定分布參考電平。即使在這種情況下，由于可以計算2T標記的記錄校正值并且執(zhí)行記錄補償處理， 因此設^5可以提供與上述實施例相同的效果。
另外，在上述實施例中，黑和白檢測定時是再現(xiàn)時鐘CLr上升的時 間；過目標定時是再現(xiàn)時鐘CLr下降的時間。然而，本發(fā)明不限于此。 過目標定時可以是再現(xiàn)時鐘CLr上升的時間；黑和白檢測定時可以是再 現(xiàn)時鐘CLr下降的時間。
另外，在上述實施例中，在生成再現(xiàn)信號SF時，設備生成再現(xiàn)時鐘 CLr，并且同時，檢測白電平和黑電平，以計算分布參考電平。然而，本 發(fā)明不限于此。例如，在生成再現(xiàn)信號RF和再現(xiàn)時鐘CLr時，i殳備可 以在RAM中臨時存儲再現(xiàn)信號RF和再現(xiàn)時鐘CLr;并且，在讀出再現(xiàn) 信號RF和再現(xiàn)時鐘CLr以使得它們保持彼此同步的同時，通過檢測白 電平和黑電平來計算分布參考電平。同樣的情況對于平均時間誤差AAT 的計算也成立。
另外，在上述實施例中，在計算一個標記長度的開始沿Es的平均時 間誤差AAT之后，設備計算該標記長度的結束沿Ee的平均時間誤差A △ T，然后開始后續(xù)標記長度的平均時間誤差AAT的計算。然而，本發(fā) 明不限于此。設備可以根據(jù)補償記錄信息的記錄模式， 一次性計算多種標 記長度的邊沿E的平均時間誤差AAT。
另夕卜，在上述實施例中，光盤設備1在光盤100的記錄層101上形成 全息圖作為記錄標記RM。然而，本發(fā)明不限于此。以下是另一示例在 記錄層101上，先前已經(jīng)形成了全息圖；設備將光束發(fā)射到記錄層101 以破壞全息圖，因此形成記錄標記。另一示例是，設備發(fā)射光束以形成氣 泡作為記錄標記。
即使在這樣的情況下，它們仍是三維記錄標記，對于通過記錄標記調 制的光束，有可能產生白電平和黑電平的變化。因此，i史備可以提供與上 述實施例相同的效果。
另夕卜，在上述實施例中，光盤100^:在其上形成三維記錄標記的體積 型(volume-type)記錄介質。然而，本發(fā)明不限于此。光盤100可以是 包括信息記錄層的典型記錄介質，比如BD和DVD:通過改變信息記錄 層的反射來形成記錄標記。上述方法可以應用于將信息記錄在光學介質上 的所有類型的光信息記錄設備，所述光學介質可能導致再現(xiàn)信號RF的白 電平和黑電平的變化。另夕卜，在上述實施例中，設備對先前存儲在ROM中的補償記錄信息 進行記錄。然而，本發(fā)明不限于此。例如，補償記錄信息可以是從外部設 備提供的記錄信息。
另夕卜，在上述實施例中，作為周期與參考標記長度相對應的再現(xiàn)時鐘， 生成一個周期與1T標記相對應的再現(xiàn)時鐘CLr。然而，本發(fā)明不限于此。 例如，可以生成周期與lT標記相對應的再現(xiàn)時鐘CLr,該周期與參考標 記長度的一半相對應兩個周期與1T的長度相對應。
另外，在上述實施例中，分布參考電平AD是白電平分布曲線WC 與黑電平分布曲線BC交叉之處的點。然而，本發(fā)明不限于此。其它方法 可以應用于根據(jù)白電平和黑電平的變化差異、對適合于再現(xiàn)信號的二值化 確定的信號電平的計算。
另外，在上述實施例中，設備基于過零時間誤差AT來計算記錄校正
值，過零時間誤差△ T是過目標定時與分布參考電平之間的時間差。然而，
本發(fā)明不限于此。例如，設備可以根據(jù)再現(xiàn)信號SF在過目標定時的信號 電平與分布參考電平之間的差來計算記錄校正值。
另外，在上述實施例中，設備通過將平均時間誤差AAT乘以任意常 數(shù)值來計算記錄校正值。然而，本發(fā)明不限于此。例如，平均時間誤差A AT可以是記錄校正值。還有可能將其乘以常數(shù)值或根據(jù)平均時間誤差A 厶T的值而確定的系數(shù)。此外，設備可以將平均時間誤差AAT連續(xù)乘以 常數(shù)值，并且將得到的值的平均值看作記錄校正值。
另外，在上述實施例中，重復步驟SP1至SP6的處理，直到平均時 間誤差AAT變?yōu)樾∮跁r間誤差閾值。然而，本發(fā)明不限于此。設備可以 從步驟SP6進入步驟SP8，計算記錄校正值，然后結束記錄校正計算處理。
另外，在上述實施例中，針對參考標記長度1T，設備利用存在長度 2T至8T的調制方法來記錄信息。然而，本發(fā)明不限于此。應用于記錄i殳 備的調制方法例如可以具有3T至14T的長度。
另夕卜，在上述實施例中，同一記錄設備既包括記錄補償記錄信息的記 錄設備的功能，又包括再現(xiàn)所記錄的補償記錄信息的再現(xiàn)設備的功能。然 而，本發(fā)明不限于此。 一個設備可以具有記錄補償記錄信息的記錄設備的 功能，或者具有再現(xiàn)所記錄的補償記錄信息的再現(xiàn)i殳備的功能。例如，以 下描述這樣的情況已經(jīng)在工廠事先將信息記錄在光盤100上記錄設備 可以是昂貴的高質量記錄機器，而再現(xiàn)設備可以是用戶可以買得起的廉的再現(xiàn)機器；因此，記錄補償可以被實現(xiàn)為使得其適合于用戶將使用的廉 價再現(xiàn)設備的特性。
另外，可以在沒有記錄校正處理部的其它記錄設備中事先存儲通過上 述方法計算出的記錄校正值。
另外，在上述實施例中，用于計算記錄校正值的光盤100與實際上根 據(jù)記錄校正值在其上記錄信息的光盤相同。然而，本發(fā)明不限于此。用于 計算記錄校正值的光盤100可以與實際上根據(jù)計算出的記錄校正值在其 上記錄期望的信息的光盤不同。
在這樣的情況下，如果質量控制在減少記錄介質中的異常數(shù)目方面取 得成功，則甚至在其它記錄設備和介質中使用事先計算出的記斜目關性也 可以實質上提供相同的效果。與其中設備在每次執(zhí)行記錄處理時都計算校 正值的方法相比，設備更少次數(shù)地執(zhí)行記錄校正值的計算。因此，設備可 以即刻開始信息記錄處理。
另外，在上述實施例中，在其上記錄全息圖作為記錄標記RM的光 盤100是盤狀光盤。然而，本發(fā)明不限于此。例如，設備可以使用立體光 信息記錄介質來對記錄標記RM進行記錄。
另外，在上述實施例中，光盤設備l (光信息記錄設備)包括補償信 息記錄/再現(xiàn)部31 (補償信息記錄和再現(xiàn)部)、再現(xiàn)時鐘生成部32 (再現(xiàn) 時鐘生成部)、分布參考電平確定部33 (分布參考電平確定部)、過零時 間誤差計算部34和校正計算部35 (二者作為校正計算部)。然而，本發(fā) 明不限于此。光信息記錄設備可以以不同方式被配置，使得其包括補償信 息記錄和再現(xiàn)部、再現(xiàn)時鐘生成部、分布參考電平確定部以及校正計算部。
上述方法可以應用于其上記錄音樂內容、視頻內容以及其它種類數(shù)據(jù) 的記錄介質。
本領域技術人員應理解，根據(jù)設計要求以及其他因素，可以出現(xiàn)各種 變型、組合、子組合和更改，只要這些變型、組合、子組合和更改在所附 權利要求及其等同內容的范圍內。
權利要求
1. 一種光信息記錄設備，其通過根據(jù)從記錄信息生成的記錄信號而在記錄介質上形成記錄標記來對所述記錄信息進行記錄，所述記錄標記的標記長度是多種類型的，并且是參考標記長度的整數(shù)倍，所述光信息記錄設備包括補償信息記錄和再現(xiàn)部，其在通過根據(jù)從補償記錄信息生成的補償記錄信號而在所述記錄介質上形成所述記錄標記來對所述補償記錄信息進行記錄之后，通過從所述記錄介質讀出所述補償記錄信息來生成再現(xiàn)信號，所述補償記錄信息是任意記錄信息；再現(xiàn)時鐘生成部，其從所述再現(xiàn)信號生成再現(xiàn)時鐘，所述再現(xiàn)時鐘的周期與所述參考標記長度相對應；分布參考電平確定部，其根據(jù)所述再現(xiàn)信號的白電平和黑電平的變化差異，將適合于所述再現(xiàn)信號的二值化確定的信號電平設置為分布參考電平；校正計算部，其計算用于校正所述補償記錄信號的校正值以作為記錄校正值，使得在基于所述再現(xiàn)時鐘所確定的過目標定時附近的所述再現(xiàn)信號的信號電平變得更接近于所述分布參考電平；記錄信息記錄部，其基于通過根據(jù)所述記錄校正值對從所述記錄信息生成的記錄信息信號進行校正而生成的記錄信號，在所述記錄介質上形成記錄標記。
2. 如權利要求1所述的光信息記錄設備，其中，所述分布參考電平確定部將表示所述白電平的信號電平與該信號電 平出現(xiàn)的比率之間的相關性的分布曲線與表示所述黑電平的信號電平與 該信號電平出現(xiàn)的比率之間的相關性的分布曲線交叉之處的點設置為所 述分布參考電平。
3. 如權利要求2所述的光信息記錄設備，其中所述再現(xiàn)時鐘生成部確保所述再現(xiàn)時鐘的半個周期與半個所述參考 標記長度相對應;所述校正計算部確保所述過目標定時是所述再現(xiàn)時鐘上升或下降的 時間；并且所述分布參考電平確定部在所述再現(xiàn)時鐘下降或上升的另一定時將 所述信號電平檢測為所述白電平的信號電平或所述黑電平的信號電平。
4. 如權利要求1所述的光信息記錄設備，其中，所述校正計算部基于過零定時與所述過目標定時之間的時間差來計 算所述記錄校正值，在所述it^定時處，所述再現(xiàn)信號變?yōu)樗龇植紖⒖?電平。
5. 如權利要求4所述的光信息記錄設備，其中，如果所述時間差大于或等于預定閾值，則所述校正計算部使:得所述補 償信息記錄和再現(xiàn)部根據(jù)所述記錄校正值來校正所述補償記錄信號，并且 執(zhí)行所述補償記錄信息的記錄和再現(xiàn)。
6. 如權利要求5所述的光信息記錄設備，其中，所述校正計算部通過將所述時間差乘以小于或等于1的任意常數(shù)值 來計算所述記錄校正值。
7. 如權利要求1所述的光信息記錄設備，其中， 所述校正計算部計算所有標記長度的記錄校正值。
8. 如權利要求1所述的光信息記錄設備，其中，所述校正計算部計算標記長度和空白長度的每一種組合的記錄校正值。
9. 如權利要求2所述的光信息記錄設備，其中， 所述記錄介質是在其上記錄三維記錄標記的立體型記錄介質。
10. —種記錄校正計算方法，當通過根據(jù)從記錄信息信號生成的記錄 信號而在記錄介質上形成記錄標記來對記錄信息進行記錄時，計算用于從 所述記錄信息生成的所述記錄信息信號的記錄校正值，所述記錄標記的標 記長度是參考標記長度的整數(shù)倍，所述記錄校正計算方法包括補償信息記錄和再現(xiàn)步猓在通過根據(jù)從補償記錄信息生成的補償記 錄信號而在所述記錄介質上形成所述記錄標記來對所述補償記錄信息進 行記錄之后，通過從所述記錄介質讀出所述補償記錄信息來生成再現(xiàn)信 號，所述補償記錄信息是任意記錄信息；再現(xiàn)時鐘生成步驟從所述再現(xiàn)信號生成再現(xiàn)時鐘，所述再現(xiàn)時鐘的 周期與所述參考標記長度相對應；分布參考電平確定步驟根據(jù)所述再現(xiàn)信號的白電平和黑電平的變化 差異，將適合于再現(xiàn)信號的二值化確定的信號電平設置為分布參考電平； 以及校正計算步驟計算用于校正所述補償記錄信號的記錄校正值，使得于所述分布參考電平。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光信息記錄設備和記錄校正計算方法。當通過根據(jù)從記錄信息信號生成的記錄信號而在記錄介質上形成其標記長度是參考標記長度的整數(shù)倍的記錄標記來對記錄信息進行記錄時，所述方法執(zhí)行以下處理在所述記錄介質上記錄補償記錄信息之后，通過讀出所述補償記錄信息而生成再現(xiàn)信號；從所述再現(xiàn)信號生成再現(xiàn)時鐘，所述再現(xiàn)時鐘的周期與所述參考標記長度相對應；根據(jù)再現(xiàn)信號的白電平和黑電平的變化差異，將適合于再現(xiàn)信號的二值化確定的信號電平設置為分布參考電平；計算用于校正所述補償記錄信號的記錄校正值，使得所述再現(xiàn)信號變得在基于所述再現(xiàn)時鐘所確定的過目標定時附近更接近于所述分布參考電平。
文檔編號G11B7/0045GK101504840SQ200910005188
公開日2009年8月12日 申請日期2009年2月6日 優(yōu)先權日2008年2月7日
發(fā)明者堀籠俊宏 申請人:索尼株式會社