專利名稱：：光學(xué)頭、光盤裝置以及集成電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種以光學(xué)方式在光盤等信息記錄媒體上記錄信息或者再生信息的光學(xué)頭、具備光學(xué)頭的光盤裝置以及集成電路。
背景技術(shù)：
：作為以往的光盤用光學(xué)頭，有一種如專利文獻(xiàn)l(日本特開2003-45058號專利公開公報)所公開的光學(xué)頭，具有檢測光盤與光學(xué)頭的光軸相對傾斜的功能。圖22是專利文獻(xiàn)1所記載的以往的光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)示意圖。符號101表示光源，符號102表示光學(xué)頭的光軸，符號103表示分光鏡(beamsplitter),符號104表示物鏡，符號105表示光盤，符號106表示檢測光學(xué)系統(tǒng)，符號107表示受光單元，符號108表示檢測光盤的傾斜的傾斜檢測單元，符號109表示信號演算單元，符號110表示將輸入信號放大k0倍的放大器，符號111表示差動放大器，符號PP1、PP2表示信號演算單元109檢測到的兩個差信號，符號TILT表示傾斜檢測單元108產(chǎn)生的傾斜檢圖23是上述受光單元107的受光區(qū)域以及射入其中的光束的示意圖。如圖23所示，受光區(qū)域107由107a107f六個區(qū)域構(gòu)成，107a107f各區(qū)域是分別檢測與射入的光束112相對應(yīng)的光量的區(qū)域。在光束112左右的圓弧所圍成的兩個區(qū)域112a、112b表示在光盤105的信息軌道槽衍射的衍射光的0次成分與士l成分重疊的區(qū)域。另外，圖中的箭頭方向表示信息軌道的方向。如圖22所示，光源101發(fā)出的激光穿過分光鏡103，經(jīng)物鏡104聚光在光盤105的信息記錄面上。光盤105反射的光線再次穿過物鏡104，在分光鏡103上反射。然后，該光線再經(jīng)光學(xué)檢測系統(tǒng)106而被引向受光單元107。如圖23所示，射入受光單元107的光束112由107a107f受光區(qū)域分別受光后，再由信號演算單元109檢測出差信號PP1和差信號PP2。如用各受光區(qū)域107a107f的輸出電信號來表示這兩個差信號PP1和PP2，則結(jié)果如下PPl=107c+107e—(107d+107f)PP2=107a—107b。此關(guān)系式中的107a107f表示的是各受光區(qū)域的輸出電信號。在傾斜檢測單元108中，差信號PP1經(jīng)放大器110放大k0倍后，由差動放大器111從差信號PP2中減去，然后作為信號TILT而輸出。也就是說，信號TILT可以用TILT二PP2—k0*PP1來表示(*表示乘號。以下相同)。此處，設(shè)定常數(shù)k0，以便用差信號PP1中產(chǎn)生的偏移對因物鏡104的光軸與光學(xué)頭光軸102的位置偏差所引起的差信號PP2的偏移進(jìn)行補(bǔ)正。因此，信號TILT則成為不會產(chǎn)生因物鏡104的位置偏差引起的偏移的信號。在光盤105相對光學(xué)頭的光軸102發(fā)生了傾斜時，光穿過光盤105的透明基片時會出現(xiàn)彗形象差(coma)現(xiàn)象。這種彗形象差主要使上述的來自信息軌道的衍射光的0次成分和±1次成分重疊的區(qū)域的波陣面發(fā)生變形。這種波陣面的變形，在檢測差信號PP1的區(qū)域和檢測差信號PP2的區(qū)域中有所不同，在這些區(qū)域檢測到的信號，通過信息軌道而分別受到不同的調(diào)制。因此，這種調(diào)制的差異表示光盤的傾斜，并體現(xiàn)在信號TILT中。于是，通過檢測光點追蹤信息軌道中心時的信號TILT，則可以實現(xiàn)不易受到物鏡104位置偏差影響的光盤傾斜檢測。然而，在前面所述的以往的光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)中，存在這樣一種課題，在被記錄的信息軌道與沒有被記錄的信息軌道的反射率有所不同，例如，在相位變化型的光盤等中，光束中央部位的光的強(qiáng)度分布的對稱性發(fā)生較大變化，在光盤傾斜檢測信號中會產(chǎn)生檢測誤差。由圖24可知，通過在光束112中央部位的光量分布的對稱性變化較大的區(qū)域(僅包含衍射光的0次成分的區(qū)域，或主要包含0次成分的區(qū)域)配置遮光區(qū)113(N區(qū)域)，則可以降低差信號PP1和差信號PP2的對稱性變化的影響。圖25為光盤105的信息軌道截面的圖案示意圖。各信息軌道分別標(biāo)注信息軌道編號19。19號信息軌道中，46號為被記錄的信息軌道，13號及79號為沒有被記錄的信息軌道。只有以影線標(biāo)示的信息軌道46表示的是被進(jìn)行了記錄而反射率降低。圖26(a)(b)是就圖24所示的受光區(qū)域，在圖25所示的信息軌道圖案周期性重復(fù)的情況下，對光點穿過這些19號信息軌道時產(chǎn)生的信號TILT電平進(jìn)行模擬的結(jié)果。而且，計算條件如下。即，光源的波長設(shè)為405nm，物鏡的NA設(shè)為0.85，光盤的透明基片厚度設(shè)為100/xm，信息軌道的間距為0.32/xm，信息軌道槽的寬度為0.2/xm，信息軌道的深度為1/12波長，被記錄的信息軌道的反射率為0.6，沒有被記錄的信息軌道的反射率為1.0，光盤的傾斜為Odeg。此外，檢測信號PP2的受光區(qū)域107a與受光區(qū)域107b的信息軌道方向的寬度為光束直徑的0.30，檢測信號PP1的受光區(qū)域107c、107d、107e、107f的信息軌道方向的寬度為光束直徑的0.60，而在其以外的區(qū)域則不作為計算條件來使用。另外，遮光區(qū)113(N區(qū)域)的信息軌道垂直方向上的寬度為光束直徑的0.35。而且，還設(shè)定常數(shù)kO值，以便對上述的物鏡的位置偏差為土10(^m時所產(chǎn)生的偏移進(jìn)行補(bǔ)正，此處取1.20。計算結(jié)果如圖26(a)(b)所示。圖26(a)的3條折線是散焦量為0Mm時，在物鏡的位置偏差分別為0/mi、士100/mi的條件下計算的結(jié)果。另外，圖26(b)的5根折線是物鏡位置偏差為0/mi時，在散焦量分別為0/mi、士0.1/mi、士0.2]um的條件下計算的結(jié)果。在這些圖中，橫軸對應(yīng)的是圖25的信息軌道編號，縱軸是將光盤傾斜檢測信號TILT換算成光盤傾斜量所得到的值(單位deg)。根據(jù)圖26(a)、(b)可知如下。即，在決定常數(shù)k0以控制物鏡的位置偏差引起的光盤傾斜檢測信號的變動的情況下，如圖26(a)所示，物鏡的光軸即使偏離了光學(xué)頭的光軸，對于所有編號的軌道，均可將光盤傾斜檢測信號即傾斜檢測信號控制在足夠小的程度。另一方面，在發(fā)生散焦的情況下，如圖26(b)所示，尤其是位于被記錄的信息軌道與沒有被記錄的信息軌道的邊界上、即編號為3、4、6、7的軌道附近的光盤傾斜檢測信號的電平會發(fā)生變動。因此，在被記錄的信息軌道與沒有被記錄的信息軌道的邊界上，就會出現(xiàn)像檢測光盤傾斜一樣的誤差。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明就是為了解決這一課題，其目的在于提供一種光學(xué)頭、集成電路以及光盤裝置，即使在被記錄的信息軌道與沒有被記錄的信息軌道的邊界上，也能夠?qū)崿F(xiàn)散焦的影響較小的光盤傾斜信號檢測。為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種光學(xué)頭，包括光源、將從該光源射出的激光聚光在光盤的信息軌道上的物鏡和對上述信息軌道反射的光束進(jìn)行受光的受光單元，其中，上述受光單元包括被分割線和區(qū)劃線分割成多個區(qū)域的光束射入?yún)^(qū)域，其中所述分割線和區(qū)劃線分別為通過上述物鏡的光軸且與上述信息軌道的切線方向平行的直線狀縱分割線、與該縱分割線垂直且相對上述光軸而相互對稱配置的直線狀第1橫分割線及第2橫分割線、在上述兩橫分割線之間、以與上述縱分割線及上述兩橫分割線相隔的狀態(tài)相對上述縱分割線而相互對稱配置的第1區(qū)劃線及第2區(qū)劃線，上述第1區(qū)劃線及第2區(qū)劃線包括，與上述兩橫分割線平行的一對橫線和連接該橫線的縱分割線側(cè)的端部的內(nèi)側(cè)線，上述光束射入?yún)^(qū)域，在上述兩橫分割線之間設(shè)置跨越上述縱分割線的N區(qū)域，同時，在上述兩橫分割線之間，由上述縱分割線劃分出的一側(cè)區(qū)域，被上述第l區(qū)劃線分割為上述光軸側(cè)的A2區(qū)域和剩余的Al區(qū)域，并且在上述兩橫分割線之間，由上述縱分割線劃分出的另一側(cè)區(qū)域被上述第2區(qū)劃線分割為上述光軸側(cè)的B2區(qū)域和剩余的Bl區(qū)域，上述Al區(qū)域和上述Bl區(qū)域相對縱分割線而相互對稱配置，上述A2區(qū)域和上述B2區(qū)域相對縱分割線而相互對稱配置，設(shè)置根據(jù)射入上述受光單元的光束射入?yún)^(qū)域的光量來檢測上述物鏡與上述光盤的相對傾斜的傾斜檢測單元。上述光學(xué)頭最好是，上述Al區(qū)域和上述Bl區(qū)域為主要檢測上述光束的0次光和士l次衍射光重疊的區(qū)域的中央部的光量的區(qū)域。上述光學(xué)頭也最好是，上述A2區(qū)域和上述B2區(qū)域為主要檢測上述光束的0次光和土l次衍射光重疊的區(qū)域除去了的上述中央部的部分的光量的區(qū)域。上述光學(xué)頭也最好是，上述第1區(qū)劃線及上述第2區(qū)劃線的內(nèi)側(cè)線，分別呈圓弧狀，上述內(nèi)側(cè)線的曲率半徑相對上述光束半徑的比值在0.5以上1.2以下。而且，上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)可以是，上述受光單元由受光元件構(gòu)成，且上述光束射入?yún)^(qū)域設(shè)于該受光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從上述受光元件的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的Bl區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光元件的A2區(qū)域得到的信號和上述受光元件的B2區(qū)域得到的信號的差信號，進(jìn)行傾斜檢測。上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)也可以是，上述受光單元包括將上述信息軌道反射的光束分為多束光束的分光元件、和對被該分光元件分光的各光束分別進(jìn)行受光的受光元件，上述光束射入?yún)^(qū)域被設(shè)在上述分光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從在上述分光元件的Al區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的Bl區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，和第2差信號、即從在上述分光元件的A2區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B2區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，進(jìn)行傾斜檢測。上述光學(xué)頭也最好是，上述光束射入?yún)^(qū)域具有相對上述縱分割線而相互對稱配置的A3區(qū)域和B3區(qū)域，其中，上述A3區(qū)域是從相對上述縱分割線在Al區(qū)域側(cè)的區(qū)域中，除去上述N區(qū)域和上述Al區(qū)域及上述A2區(qū)域的區(qū)域，上述B3區(qū)域是從相對上述縱分割線在B1區(qū)域側(cè)的區(qū)域中，除去上述N區(qū)域和上述Bl區(qū)域及上述B2區(qū)域的區(qū)域，以從上述A3區(qū)域得到的信號和從上述B3區(qū)域得到的信號的差信號為第3差信號，設(shè)置根據(jù)上述第1差信號與第2差信號的和信號及上述第3差信號而生成追蹤誤差信號的TE信號生成單元。而且，本發(fā)明還提供另一種光學(xué)頭，包括光源、將從該光源射出的激光聚光在光盤的信息軌道上的物鏡和對上述信息軌道反射的光束進(jìn)行受光的受光單元，其中,上述受光單元包括被分割線和區(qū)劃線分割成多個區(qū)域的光束射入?yún)^(qū)域，所述分割線和區(qū)劃線分別為通過上述物鏡的光軸且與上述信息軌道的切線方向平行的直線狀縱分割線、以與該縱分割線相隔的狀態(tài)相對上述縱分割線而相互對稱配置的2條第1區(qū)劃線及第2區(qū)劃線、配置在上述縱分割線與第1區(qū)劃線之間的第3區(qū)劃線、和在上述縱分割線和第2區(qū)劃線之間相對光軸而與上述第3區(qū)劃線對稱配置的第4區(qū)劃線，其中，上述第1區(qū)劃線及第2區(qū)劃線包括，在上述縱分割線的垂直方向上延伸的一對橫線和連接該橫線的縱分割線側(cè)的端部的內(nèi)側(cè)線，上述第3區(qū)劃線及第4區(qū)劃線包括，在上述縱分割線的垂直方向上延伸的一對橫線和連接該橫線的縱分割線側(cè)的端部的內(nèi)側(cè)線，上述光束射入?yún)^(qū)域，設(shè)置跨越上述縱分割線的N區(qū)域，同時，相對上述第3區(qū)劃線與上述光軸相反的一側(cè)的區(qū)域，被上述第1區(qū)劃線分割為第3區(qū)劃線側(cè)的A5區(qū)域和剩余的Al區(qū)域，相對上述第4區(qū)劃線與上述光軸相反的一側(cè)的區(qū)域，被上述第2區(qū)劃線分割為第4區(qū)劃線側(cè)的B5區(qū)域和剩余的Bl區(qū)域，上述Al區(qū)域和上述B1區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置，上述A5區(qū)域和上述B5區(qū)域，相對上述縱分割線而對稱配置，設(shè)置根據(jù)射入上述受光單元的光束射入?yún)^(qū)域的光量來檢測上述物鏡與上述光盤的相對傾斜的傾斜檢測單元。上述光學(xué)頭最好是，上述Al區(qū)域和上述Bl區(qū)域為主要檢測上述光束的0次光和±1次衍射光重疊的區(qū)域中的中央部的光量的區(qū)域。上述光學(xué)頭也最好是，上述A5區(qū)域和上述B5區(qū)域為主要檢測上述光束的0次光和±1次衍射光重疊的區(qū)域中除去了上述中央部的部分的光量的區(qū)域。上述光學(xué)頭最好是，上述第1第4區(qū)劃線的上述內(nèi)側(cè)線，均形成圓弧狀。上述光學(xué)頭也最好是，上述第3區(qū)劃線及上述第4區(qū)劃線的上述內(nèi)惻線的曲率半徑均與上述光束的半徑相同。而且，上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)可以是，上述受光單元由受光元件構(gòu)成，且上述光束射入?yún)^(qū)域設(shè)于該受光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從上述受光元件的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的Bl區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光元件的A2區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B2區(qū)域得到的信號的差信號，進(jìn)行傾斜檢上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)也可以是，上述受光單元包括將上述信息軌道反射的光束分為多束光束的分光元件、對被該分光元件分光的各光束分別進(jìn)行受光的受光元件，上述光束射入?yún)^(qū)域被設(shè)在上述分光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從在上述分光元件的Al區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的Bl區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，和第2差信號、即從在上述分光元件的A2區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B2區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，進(jìn)行傾斜檢測。上述光學(xué)頭也最好是，上述光束射入?yún)^(qū)域具有相對上述縱分割線而相互對稱配置的A6區(qū)域和B6區(qū)域，其中，上述A6區(qū)域是從相對上述縱分割線在A1區(qū)域側(cè)的區(qū)域中，除去上述N區(qū)域和上述A1區(qū)域、上述A5區(qū)域的區(qū)域，上述B6區(qū)域是從相對上述縱分割線在B1區(qū)域側(cè)的區(qū)域中，除去上述N區(qū)域和上述B1區(qū)域、上述B5區(qū)域的區(qū)域，以從上述A6區(qū)域得到的信號和從上述B6區(qū)域得到的信號的差信號為第3差信號，設(shè)置根據(jù)上述第1差信號與第2差信號的和信號及上述第3差信號而生成追蹤誤差信號的TE信號生成單元。上述光學(xué)頭也最好是，上述A5區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.55以上0.65以下，上述B5區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.55以上0.65以下，上述A1區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.25以上0.35以下，上述B1區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.25以上0.35以下，上述Al區(qū)域及上述B1區(qū)域之間的間隔相對受光光束直徑的比值在0.4以上0.5以下，上述N區(qū)域在上述縱分割線垂直方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.2以上0.4以下，上述第1區(qū)劃線的上述內(nèi)側(cè)線的曲率半徑相對受光光束半徑的比值在0.5以上1.2以下，上述第2區(qū)劃線的內(nèi)側(cè)線的曲率半徑相對上述受光光束半徑的比值在0.5以上1.2以下。而且，本發(fā)明還提供另一種光學(xué)頭，包括光源、將從該光源射出的激光聚光在光盤的信息軌道上的物鏡和對上述信息軌道反射的光束進(jìn)行受光的受光單元，其中，上述受光單元包括被各分割線分割成多個區(qū)域的光束射入?yún)^(qū)域，其中所述各分割線分別為通過上述物鏡的光軸且與上述信息軌道的切線方向平行的直線狀縱分割線、與該縱分割線垂直且相對上述光軸而相互對稱配置的直線狀第1橫分割線及第2橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述兩橫分割線之間，互相隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第3橫分割線和第4橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的另一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線和第2分割線之間，互相隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第5橫分割線和第6橫分割線、和相對上述第1橫分割線和上述第2橫分割線在上述光軸相反的一側(cè)，與這些橫分割線平行配置的，且相對上述光軸而互相對稱配置的第7橫分割線和第8橫分割線，其中，上述光束射入?yún)^(qū)域，在上述第1橫分割線和上述第2橫分割線之間設(shè)置跨越上述縱分割線的N區(qū)域，同時在由上述縱分割線劃分出的一側(cè)區(qū)域中的上述第1橫分割線和第2分割線之間的區(qū)域，被分割為上述第3橫分割線和上述第4分割線之間的Al區(qū)域和剩余的A7區(qū)域，而在由上述縱分割線劃分出的另一側(cè)區(qū)域中的上述第1橫分割線和第2分割線之間的區(qū)域，被分割為上述第5橫分割線和上述第6分割線之間的Bl區(qū)域和剩余的B7區(qū)域，相對上述第7橫分割線和上述第8分割線在上述光軸相反側(cè)的區(qū)域被設(shè)為N2區(qū)域，上述Al領(lǐng)域和上述B1區(qū)域相對上述縱分割線而相互對稱配置，上述A7區(qū)域和上述B7區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置，設(shè)置根據(jù)射入上述受光單元的光量來檢測上述物鏡和上述光盤的相對傾斜的傾斜檢測單元。上述光學(xué)頭最好是，上述受光單元具有在上述光束射入?yún)^(qū)域相對上述縱分割線而相互對稱配置的A8區(qū)域和B8區(qū)域，其中，上述A8區(qū)域是由上述縱分割線劃分的一側(cè)區(qū)域中，除去上述Al區(qū)域、上述A7區(qū)域、上述N區(qū)域和上述N2區(qū)域而形成的區(qū)域，上述B8區(qū)域是由上述縱分割線劃分的另一側(cè)區(qū)域中，除去上述B1區(qū)域、上述B7區(qū)域、上述N區(qū)域和上述N2區(qū)域而形成的區(qū)域。上述光學(xué)頭也最好是，以從上述A8區(qū)域得到的信號和從上述B8區(qū)域得到的信號之差信號為第3差信號，設(shè)置根據(jù)上述第1差信號與第2差信號的和信號及上述第3差信號，生成追蹤誤差信號的TE信號生成單元。上述光學(xué)頭也最好是，上述N區(qū)域在上述縱分割線垂直方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.35以上0.45以下，上述N區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.5以上0.6以下，上述A1區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.2以上0.32以下，上述Bl區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.2以上0.32以下，上述N2區(qū)域間的間隔相對受光光束直徑的比值在0.75以上0.S5以下。而且，本發(fā)明還提供另一種光學(xué)頭，包括光源、將從該光源射出的激光聚光在光盤的信息軌道上的物鏡和對上述信息軌道反射的光束進(jìn)行受光的受光單元，其中，上述受光單元包括被分割線和內(nèi)側(cè)線分割成多個區(qū)域的光束射入?yún)^(qū)域，所述分割線和內(nèi)側(cè)線分別為通過上述物鏡的光軸且與上述信息軌道的切線方向平行的直線狀縱分割線、在與該縱分割線垂直的方向上延伸且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第1橫分割線、與這一對第1橫分割線平行且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第2橫分割線、在由上述縱分割線劃分的一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線和上述第2橫分割線之間,相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第3橫分割線和第4橫分割線、在由上述縱分割線劃分的另一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線和上述第2橫分割線之間，相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第5橫分割線和第6橫分割線、與上述縱分割線平行延伸且連接一側(cè)的上述第1橫分割線、上述第3橫分割線、上述第4橫分割線和一側(cè)的上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第1內(nèi)側(cè)線、與上述縱分割線平行延伸且連接另一側(cè)的上述第l橫分割線、上述第5橫分割線、上述第6橫分割線和另一側(cè)的上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第2內(nèi)側(cè)線、在相對上述第1橫分割線和上述第2橫分割線而與上述光軸相反的一側(cè)，與這些橫分割線平行配置且相對上述光軸而相互對稱配置的第7橫分割線和第8橫分割線，其中，上述光束射入?yún)^(qū)域，在上述第l內(nèi)側(cè)線和上述第2內(nèi)側(cè)線之間設(shè)置跨越上述縱分割線的N區(qū)域，同時，由上述縱分割線劃分的一側(cè)區(qū)域中的、由上述第1橫分割線、上述第2分割線和上述第1內(nèi)側(cè)線區(qū)劃出的區(qū)域，被分割為上述第3橫分割線和上述第4橫分割線之間的Al區(qū)域和剩余的A7區(qū)域，由上述縱分割線劃分的另一側(cè)區(qū)域中的、由上述第1橫分割線、上述第2分割線和上述第2內(nèi)側(cè)線區(qū)劃的區(qū)域，被分割為上述第5橫分割線和上述第6橫分割線之間的Bl區(qū)域和剩余的B7區(qū)域，相對上述第7橫分割線和上述第8橫分割線與上述光軸相反側(cè)的區(qū)域，被設(shè)置為N2區(qū)域，上述一對第1橫分割線和上述一對第2橫分割線，相對上述光軸而對稱配置，上述Al區(qū)域和上述Bl區(qū)域相對上述縱分割線而對稱配置，上述A7區(qū)域和上述B7區(qū)域，相對上述縱分割線而對稱配置，并設(shè)置根據(jù)在上述受光單元中受光的光量來檢測上述物鏡和上述光盤的相對傾斜的傾斜檢測單元。上述光學(xué)頭也最好是，上述Al區(qū)域和上述Bl區(qū)域，是主要檢測上述光束的0次光和士l次衍射光重疊的區(qū)域的中央部的光量的區(qū)域。上述光學(xué)頭也最好是，上述A7區(qū)域和上述B7區(qū)域，是主要檢測上述光束的0次光和士l次衍射光重疊的區(qū)域中除去上述中央部的部分的光量的區(qū)域。上述光學(xué)頭也最好是，上述受光單元具有在上述光束射入?yún)^(qū)域中相對上述縱分割線而相互對稱配置的A8區(qū)域和B8區(qū)域，其中，上述A8區(qū)域是由上述縱分割線劃分的一側(cè)區(qū)域中除去上述Al區(qū)域、上述A7區(qū)域、上述N區(qū)域和上述N2區(qū)域而形成的區(qū)域，上述B8區(qū)域是由上述縱分割線劃分的另一側(cè)區(qū)域中除去上述B1區(qū)域、上述B7區(qū)域、上述N區(qū)域和上述N2區(qū)域而形成的區(qū)域。上述光學(xué)頭也最好是，以從上述A8區(qū)域得到的信號和從上述B8區(qū)域得到的信號之差信號為第3差信號，設(shè)置根據(jù)上述第1差信號與第2差信號的和信號及上述第3差信號，生成追蹤誤差信號的TE信號生成單元。上述光學(xué)頭也最好是，上述N區(qū)域在與上述縱分割線垂直的方向上的寬度相對受光光束直徑的比值在0.3以上0.4以下，上述N區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.54以上0.65以下，上述A1區(qū)域和上述B1區(qū)域之間的間隔相對受光光束直徑的比值在0.35以上0.45以下，上述A1區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.25以上0.3S以下，上述B1區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.25以上0.38以下，上述N2區(qū)域之間的間隔相對受光光束直徑的比值在0.8以上0.92以下。而且，上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)可以是，上述受光單元由受光元件構(gòu)成，且上述光束射入?yún)^(qū)域設(shè)于該受光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從上述受光元件的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的Bl區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光元件的A7區(qū)域得到的信號和上述受光元件的B7區(qū)域得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)也可以是，上述受光單元由受光元件構(gòu)成，且上述光束射入?yún)^(qū)域設(shè)于該受光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從上述受光元件的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的Bl區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光元件的A7區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B7區(qū)域得到的信號的差信號，和第3差信號、即從上述受光元件的A8區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B8區(qū)域得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢測。上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)也可以是，上述受光單元包括將在上述信息軌道反射的光束分為多束光束的分光元件、對被該分光元件分光的各光束分別進(jìn)行受光的受光元件，上述光束射入?yún)^(qū)域被設(shè)在上述分光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第1差信號、即從在上述分光元件的Al區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的Bl區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，和第2差信號、即從在上述分光元件的A7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢測。上述光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)也可以是，上述受光單元包括將在上述信息軌道反射的光束分為多束光束的分光元件、對被該分光元件分光的各光束分別進(jìn)行受光的受光元件，上述光束射入?yún)^(qū)域被設(shè)在上述分光元件中，上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從在上述分光元件的Al區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測的光束得到的信號和從在上述分光元件的Bl區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，和第2差信號、即從在上述分光元件的A7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，和第3差信號、即從在上述分光元件的A8區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B8區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢測。上述光學(xué)頭也最好是，上述傾斜檢測單元對上述第1差信號和上述第2差信號進(jìn)行比較。上述光學(xué)頭也最好是，上述傾斜檢測單元至少在上述第1差信號和上述第2差信號的其中之一乘以指定的權(quán)重系數(shù)之后，形成上述第1差信號和上述第2差信號的差信號。上述光學(xué)頭也最好是，上述傾斜檢測單元根據(jù)上述第1差信號和上述第2差信號的相位或相位差來檢測信號。上述光學(xué)頭也最好是，上述光盤，在被記錄了信息的信息軌道和沒有被記錄信息的信息軌道上的光反射率各不相同。而且，本發(fā)明還提供一種光盤裝置，包括本發(fā)明所提供的上光學(xué)頭、驅(qū)動光盤的光盤驅(qū)動單元、控制上述光學(xué)頭和上述光盤驅(qū)動單元的控制單元。而且，本發(fā)明還提供一種集成電路，根據(jù)來自上述光學(xué)頭的上述受光單元的信號，導(dǎo)出與上述物鏡和上述光盤的相對傾斜相對應(yīng)的傾斜信號，其中，至少在第l差信號、即從上述受光單元的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光單元的B1區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光單元的A2區(qū)域得到的信號和從上述受光單元的B2區(qū)域得到的信號的差信號的其中之一乘以指定的權(quán)重系數(shù)后，生成上述第1差信號和上述第2差信號的差信號，再根據(jù)所生成的差信號導(dǎo)出上述傾斜信號。而且，本發(fā)明還提供另一種集成電路，根據(jù)來自上述光學(xué)頭的上述受光單元的信號，導(dǎo)出與上述物鏡和上述光盤的相對傾斜相應(yīng)的傾斜信號，其中，至少在第l差信號、即從上述受光單元的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光單元的B1區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光單元的A5區(qū)域得到的信號和從上述受光單元的B5區(qū)域得到的信號20的差信號的其中之一乘以指定的權(quán)重系數(shù)后，生成上述第1差信號和上述第2差信號的差信號，再根據(jù)所生成的差信號導(dǎo)出上述傾斜信號。而且，本發(fā)明還提供另一種集成電路，根據(jù)來自上述光學(xué)頭的上述受光單元的信號，導(dǎo)出與上述物鏡和上述光盤的相對傾斜相對應(yīng)的傾斜信號，其中，至少在第l差信號、即從上述受光單元的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光單元的B1區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光單元的A7區(qū)域得到的信號和從上述受光單元的B7區(qū)域得到的信號的差信號的其中之一乘以指定的權(quán)重系數(shù)后，生成上述第1差信號和上述第2差信號的差信號，再根據(jù)所生成的差信號導(dǎo)出上述傾斜信號。而且，本發(fā)明的集成電路最好是，設(shè)定上述權(quán)重系數(shù)，以便減小伴隨上述物鏡位置偏差而產(chǎn)生的差信號的偏移(offset)，以及在被記錄了信息的信息軌道和沒有記錄信息的信息軌道的邊界上所產(chǎn)生的差信號的偏移(offset)。根據(jù)本發(fā)明，即使在相鄰的信息軌道的反射率互不相同的情況下，也可以實現(xiàn)散焦或物鏡位置偏差的影響較少、有較高準(zhǔn)確度的光盤傾斜檢圖1是本發(fā)明實施例1的光學(xué)頭的概略圖。圖2是在上述光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域示意圖。圖3(a)是表示在上述光學(xué)頭中設(shè)散焦量為0時，物鏡的位置偏差對檢測誤差的影響的特性圖，(b)是表示在上述光學(xué)頭中設(shè)物鏡的位置偏差為0時，散焦量對檢測誤差的影響的特性圖。圖4(a)是概念性的表示光盤不傾斜時受光區(qū)域上的光量分布的說明圖，(b)是概念性的表示光盤傾斜時受光區(qū)域上的光量分布的說明圖。圖5是與圖2相當(dāng)?shù)膱D，表示本發(fā)明實施例2的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域。圖6(a)是表示在本發(fā)明實施例2的光學(xué)頭中設(shè)散焦量為0時，物鏡的位置偏差對檢測誤差的影響的特性圖，(b)是表示設(shè)物鏡的位置偏差為0時，散焦量對檢測誤差的影響的特性圖。圖7是本發(fā)明實施例3的光學(xué)頭的概略圖。圖8是與圖2相當(dāng)?shù)膱D，表示本發(fā)明實施例3的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域。圖9是與圖2相當(dāng)?shù)膱D，表示本發(fā)明實施例4的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域。圖10是與圖2相當(dāng)?shù)膱D，表示本發(fā)明的其他實施例中受光元件的受光區(qū)域。圖11是與圖2相當(dāng)?shù)膱D，表示本發(fā)明實施例5的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域。圖12是與圖2相當(dāng)?shù)膱D，表示本發(fā)明實施例6的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域。圖13是本發(fā)明實施例7的光學(xué)頭的概略圖。圖14是本發(fā)明實施例7的光學(xué)頭中設(shè)置的衍射元件的受光區(qū)域示意圖。圖15是本發(fā)明實施例7的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域示意圖。圖16是本發(fā)明的其他實施例的光學(xué)頭中設(shè)置的衍射元件的受光區(qū)域示意圖。圖17是本發(fā)明的其他實施例的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域示意圖。圖18是本發(fā)明的其他實施例的光學(xué)頭中設(shè)置的衍射元件的受光區(qū)域示意圖。圖19是本發(fā)明的其他實施例的光學(xué)頭中設(shè)置的受光元件的受光區(qū)域示意圖。圖20是本發(fā)明的其他實施例中光學(xué)頭中設(shè)置的衍射元件的受光區(qū)域示意圖。圖21是本發(fā)明實施例8的光盤裝置的概略示意圖。圖22是以往的光學(xué)頭的概略示意圖。圖23是以往的光學(xué)頭中設(shè)置的受光單元的受光區(qū)域的概略示意圖。圖24是以往的光學(xué)頭的其他受光單元的說明圖。22圖25是信息軌道的圖案示意圖。圖26(a)是表示在上述光學(xué)頭中設(shè)散焦量為0時，物鏡的位置偏差對檢測誤差的影響的特性圖，(b)是表示設(shè)物鏡的位置偏差為O時，散焦量對檢測誤差的影響的特性圖。具體實施例方式以下參照圖示對本發(fā)明的最佳實施方式進(jìn)行詳細(xì)的說明。(實施例1)圖1是本實施例的光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)圖。如圖1所示，本光學(xué)頭包括光源1、分光鏡(beamsplitter)3、物鏡4、檢測光學(xué)系統(tǒng)6、作為受光單元的一個示例的受光元件7、作為傾斜檢測單元的一個示例的傾斜檢測器(tiltdetector)8。傾斜檢測器8包括具有信號演算單元9和相位差檢測單元10的功能的集成電路11。在集成電路11，來自信號演算單元9的兩個信號Pl、P2被輸出到相位差檢測單元10。光源1，例如是射出波長為405nm的光的光源。物鏡4的開口數(shù)(NA)被設(shè)定為0.85。光學(xué)頭的光軸2垂直于光盤5，物鏡4被設(shè)置成光軸與該光軸2相一致。光盤5的各部件如下所列舉，即，透明基片的厚度為100Mm、信息軌道的間距為O.32/xm、信息軌道的槽(groove)的寬度為0.22ptm、信息軌道的深度為1/12波長、被記錄的信息軌道的反射率為0.6、沒有被記錄的信息軌道的反射率為1.0。該光盤5是所謂的相位變化型的光信息記錄媒體。由光源1發(fā)射出的激光透過分光鏡3，從物鏡4穿過光盤5的透明基片，而被聚光在信息記錄面。在光盤5被反射的光束，再次穿過物鏡4，被分光鏡3反射，由檢測光學(xué)系統(tǒng)6引向受光元件7，并在此被多個區(qū)域分割而被受光。受光元件7的受光信號，被引向傾斜檢測器8，并在信號演算單元9中得到演算，從而檢測出2個推挽信號(push-pullsignal)Pl、P2。這些信號Pl、P2被輸入到相位差檢測單元10中，由信息軌道引起的調(diào)制波形(modulatedwaveform)的相位差被檢測出，并作為信號TL被輸出。另夕卜，作為一般的光學(xué)頭，聚焦檢測單元和追蹤檢測單元、信息信號檢測單元等構(gòu)成要素是必要的，但因在本發(fā)明的說明中并不需要，故省略其說明。圖2表示受光元件7的作為光束射入?yún)^(qū)域的受光區(qū)域，并以虛線表示射入到該受光區(qū)域的光束12的圖案。如圖所示，受光區(qū)域為長方形。另外，在圖2中，信息軌道的切線方向被畫成是上下方向。換言之，圖的左右方向為光盤5的半徑方向。在光盤5反射時，信息軌道槽衍射的光束12的0次成分，受光于受光區(qū)域的大致中央部位。此外，在信息軌道槽衍射的衍射光的土l次成分，雖然也受光于受光區(qū)域，但該±1次成分被射入到偏離0次成分所對應(yīng)的光盤5的半徑方向的地方。該±1次成分，其一部分與0次成分重疊而受光于受光區(qū)域。圖2所示的光束12由左右圓弧所包圍的2個區(qū)域，表示該0次成分與±1次成分重疊的區(qū)域。受光區(qū)域包括作為Al區(qū)域的區(qū)域7a、作為Bl區(qū)域的區(qū)域7b、作為A2區(qū)域的區(qū)域7c、作為B2區(qū)域的區(qū)域7d、作為A3區(qū)域的區(qū)域7e和7g、作為B3區(qū)域的區(qū)域7f和7h、作為N區(qū)域的區(qū)域13。受光區(qū)域，由在與光盤5的信息軌道切線平行的方向上延伸的縱分割線61左右分割，該分割區(qū)域再由2條橫分割線(第1橫分割線和第2橫分割線)62、63縱向分割為3個區(qū)域?？v分割線61在沒有透鏡移動的情況下穿過物鏡4的光軸4a。第1橫分割線62和第2橫分割線63為與縱分割線61互相垂直，且相對物鏡4的光軸4a而對稱配置的直線。第l橫分割線62和第2橫分割線63的間隔，與所述0次成分和±1次成分重疊的區(qū)域的縱向?qū)挾?以下簡稱"縱寬")大體上一致。所述區(qū)域13為被設(shè)置在只包含處于光束12中央部的衍射光0次成分或主要包含O次成分的區(qū)域上的遮光區(qū)。區(qū)域13為縱長方形，被設(shè)置在可將縱分割線61的一部分包括在內(nèi)的受光區(qū)域的中央處，而位于第1橫分割線62與第2橫分割線63之間。在第1橫分割線62和第2橫分割線63之間的區(qū)域之中、相對區(qū)域13而在圖2左側(cè)的區(qū)域，由第1區(qū)劃線65分割成所述區(qū)域7a和7c，而相對區(qū)域13在圖2右側(cè)的區(qū)域，由第2區(qū)劃線66分割成所述區(qū)域7b和7d。區(qū)域7a和區(qū)域7b，相對區(qū)劃線65、66位于物鏡4的光軸4a的相反一側(cè)。區(qū)域7a和區(qū)域7b左右離開區(qū)域13，相對于縱分隔線61而成左右對稱。區(qū)域7a至7d的4個區(qū)域用于傾斜檢測。上述區(qū)域7c包括區(qū)域7a和第1橫分割線62之間的A21區(qū)域即區(qū)域7cl、區(qū)域7a和第2橫分割線63之間的A22區(qū)域即區(qū)域7c2、連接區(qū)域7cl和區(qū)域7c2的A23區(qū)域即區(qū)域7c3。區(qū)域7c3設(shè)置于區(qū)域7a和區(qū)域13之間。上述區(qū)域7d包括區(qū)域7b和第1橫分割線62之間的B21區(qū)域即區(qū)域7dl、區(qū)域7b和第2橫分割線63之間的B22區(qū)域即區(qū)域7d2、連接區(qū)域7dl和區(qū)域7d2的B23區(qū)域即7d3。區(qū)域7d3設(shè)置于區(qū)域7b和區(qū)域13之間。相對第1橫分割線62與光軸4a相反的一側(cè)的區(qū)域，由縱分割線61左右分割，左側(cè)區(qū)域構(gòu)成上述區(qū)域7e，右側(cè)區(qū)域構(gòu)成上述區(qū)域7f。相對第2橫分割線63與光軸4a相反的一側(cè)的區(qū)域，由縱分割線61左右分割，左側(cè)區(qū)域構(gòu)成上述區(qū)域7g，右側(cè)區(qū)域構(gòu)成上述區(qū)域7h。區(qū)域7e、7g為從縱分割線61的左側(cè)區(qū)域除去區(qū)域13、區(qū)域7a、區(qū)域7c的區(qū)域，區(qū)域7f、7h為從縱分割線61的右側(cè)區(qū)域除去區(qū)域13、區(qū)域7b、區(qū)域7d的區(qū)域。第1區(qū)劃線65和第2區(qū)劃線66分別包括在垂直于縱分割線61的方向上延伸的一對橫線65a、66a、65b、66b，和連接兩橫線65a、66a、65b、66b彼此內(nèi)側(cè)端部的圓弧形的內(nèi)側(cè)線65c、66c。而橫線65a成為區(qū)域7a和7cl的邊界，橫線65b成為區(qū)域7a和區(qū)域7c2的邊界，內(nèi)側(cè)線65c成為區(qū)域7a和7c3的邊界。另外，橫線66a成為區(qū)域7b和區(qū)域7dl的邊界，橫線66b成為區(qū)域7b和區(qū)域7d2的邊界，內(nèi)側(cè)線66c成為區(qū)域7b和區(qū)域7d3的邊界。區(qū)域7a和區(qū)域7b的縱寬(信息軌道方向的最大寬度)，以在受光光束12直徑的0.2倍以上0.5倍以下為宜，而在0.25倍以上0.35倍以下則為更佳。區(qū)域7a和區(qū)域7b的間隔，以在受光光束12直徑的0.3倍以上0.6倍以下為宜，而在0.4倍以上0.5倍以下則為更佳。對于圖2的受光元件7，設(shè)區(qū)域7a和區(qū)域7b的縱寬約為0.30，設(shè)區(qū)域7a和區(qū)域7b的間隔約為0.47。此外，構(gòu)成區(qū)劃線65、66的內(nèi)側(cè)線65c、66c的曲率半徑，以大約在受光光束12半徑的0.5倍以上1.2倍以下左右為宜。對于圖2的受光元件7，大約為1.0倍。從圖2可知，區(qū)域7a和區(qū)域7b分別為包含受了光的衍射光(diffractedlight)的0次光和±1次光的重疊區(qū)域的大致中央部的區(qū)域。該中央部表示，由傾斜或透鏡移動所引起的光量變化最顯著的部位。上述信號Pl為從區(qū)域7a和區(qū)域7b得到的調(diào)制波形的差信號，即所謂的推挽信號。若用來自區(qū)域7a、7b的輸出電信號S7a、S7b來表示該信號P1，則為Pl二S7a—S7b。上述信號P2為從區(qū)域7c和區(qū)域7d得到的調(diào)制波形的差信號，即所謂的推挽信號。若用來自區(qū)域7c、7d的輸出電信號S7c、S7d來表示該信號P2，則為P2=S7c—S7d。信號Pl和信號P2的相位差隨著光盤5的傾斜而發(fā)生變化，其變化方向基于光盤5的傾斜方向而為正或負(fù)。因此，若檢測出該相位差和變化方向，則能夠進(jìn)行傾斜檢測即光盤5的傾斜檢測。具體地講，根據(jù)信號Pl和信號P2的相位或相位差，檢測信號Pl和信號P2的一方或雙方信號，從這些信號來產(chǎn)生作為光盤傾斜檢測信號的信號TL。相位差檢測可采用普通的檢測方法。例如，可將信號P1和信號P2，通過高通濾波器除去DC成分，然后在信號P1零交叉點的時機(jī)檢測出信號P2的電平，作為傾斜信號TL而輸出。另外，與以往的技術(shù)相同，可設(shè)定指定的常數(shù)k，以補(bǔ)正由物鏡4的光軸4a相對光學(xué)頭的光軸2的位置偏差所產(chǎn)生的偏移，當(dāng)通過TX=P1—k*P2的運(yùn)算而得出傾斜信號TL時，通過檢測光點追蹤(tracing)信息軌道時的傾斜信號TL的電平，即使是不易受物鏡4的位置偏差影響的傾斜檢測也成為可能。即，當(dāng)物鏡4在相對信息軌道方向垂直的方向上為可移動時，射入受光元件7的光束12則隨著物鏡4的移動，在受光元件7上左右移動。該光束12在受光區(qū)域上的移動距離，盡管是由物鏡4的尺寸大小、受光元件7的尺寸大小、光學(xué)頭各部件之間的距離、光學(xué)特性等因素決定，但對于通常的物鏡4的移動，則以設(shè)受光區(qū)域上的光束12的移動距離為受了光的光束12的直徑的±10%左右為宜。通過該程度的移動，在各區(qū)域7a至7d上受光的光的強(qiáng)度分別發(fā)生變化。此時，若區(qū)域7a、7b的受光強(qiáng)度增強(qiáng)，則區(qū)域7c、7d的受光強(qiáng)度會減弱。而且，雖然信號P1、P2也都在變化，但因各自的變化大小由區(qū)域7a至7d的形狀而有所不同，因此，通過根據(jù)被適當(dāng)設(shè)定的這些區(qū)域7a至7d的形狀，選擇使透鏡移動時的傾斜信號TL(=P1—k*P2)的變化變小的常數(shù)k，由此可減少物鏡4的移動對傾斜信號TL的影響。圖3(a)及圖3(b)是就圖2所示的本實施例的受光元件7，與圖25所示相同，假定反射率不同的信息軌道圖案周期性重復(fù)，對光點橫穿這些19的信息軌道時所產(chǎn)生的傾斜信號TL電平的變化進(jìn)行了模擬實驗的結(jié)果。而為了與以往的技術(shù)進(jìn)行比較，假定傾斜信號TL是作為1X二P1—k*P2而被檢測的信號。計算條件如下。即，光源的波長設(shè)為405nm、物鏡的NA設(shè)為0.85、光盤的透明基片的厚度設(shè)為lOOpm、信息軌道的間距設(shè)為0.32/xm、信息軌道的槽的寬度設(shè)為0.2pm、信息軌道的深度設(shè)為1/12波長、被記錄的信息軌道的反射率為0.6、沒有被記錄的信息軌道的反射率為1.0、光盤的傾斜為Odeg。在該模擬實驗中，將圖2中的檢測信號Pl的區(qū)域7a(Al區(qū)域)和區(qū)域7b(Bl區(qū)域)的縱寬(信息軌道的切線方向的寬度)對光束直徑的比設(shè)為0.30、將區(qū)域7a和7b的間隔對光束直徑的比設(shè)為0.47、將第1區(qū)劃線65的內(nèi)側(cè)線65c的曲率半徑及第2區(qū)劃線66的內(nèi)側(cè)線66c的曲率半徑設(shè)為與光束12的半徑相同。另夕卜，還將檢測信號P2的區(qū)域7c、7d的縱寬(信息軌道方向的寬度)、即第1橫分割線62與第2橫分割線63的間隔設(shè)為光束直徑的0.60倍。而在其以外的區(qū)域則不用于計算。此外，區(qū)域13(N區(qū)域)的橫向?qū)挾?以下簡稱為"橫寬")(垂直于信息軌道切線方向的寬度)對光束直徑的比設(shè)為0.35。而且，還設(shè)定常數(shù)k值為1.14，以補(bǔ)正物鏡位置偏差ilOO/mi所產(chǎn)生的偏移。圖3(a)的3條折線是在散焦(defocus)量為O/mi時，對物鏡位置偏差2Omiii和士100/xm進(jìn)行計算所得。而圖3(b)的5條折線是在物鏡偏差為O/xm時，對散焦量0/xm、±0.1/xm、土0.2jtmi進(jìn)行計算所得。這些圖中，橫軸對應(yīng)于圖25的信息軌道號，縱軸為將傾斜信號TL換算成光盤傾斜量所得(單位deg)。圖26(b)所示的以往的技術(shù)中，由散焦引起的光盤傾斜的檢測誤差最大為0.17deg(p—p),而圖3(b)所示的本實施例卻為O.lOdeg(p—p)。這表明，在本實施例的受光元件7中，由于信號P1和信號P2乘以常數(shù)k的信號，對應(yīng)于散焦和物鏡位置偏差而產(chǎn)生大致相等的偏移，因此，作為光盤傾斜檢測信號的傾斜信號TL，不易受散焦和物鏡位置偏差雙方的影響。另外，上述檢測誤差指的是，被記錄的信息軌道和沒有被記錄的信息軌道的邊界附近的檢測信號的最大值(deg)和最小值(deg)之差值。這樣，在本發(fā)明中，通過將光束12中特別是散焦影響較大的區(qū)域即圖2所示的區(qū)域7a、7b和區(qū)域13之間的區(qū)域，適當(dāng)?shù)胤殖尚盘朠1和信號P2，由此可獲得散焦和物鏡位置偏差雙方影響較少、有較高準(zhǔn)確度的光盤傾斜檢測信號。在本實施例的傾斜檢測器8中，雖然是根據(jù)作為第1差信號的信號Pl和在作為第2差信號的信號P2上乘以常數(shù)k的信號，而產(chǎn)生了差信號TL，但取而代之，也可以是傾斜檢測器8，至少將信號Pl和信號P2的其中之一乘以指定的權(quán)重系數(shù)后，再生成信號Pl和信號P2。即只要信號Pl和信號P2相減時，各自的權(quán)重系數(shù)比為常數(shù)k即可。另外，傾斜檢測器8還具有用來比較第1差信號Pl和第2差信號P2的大小的比較電路，亦通過該比較電路的比較結(jié)果，將光盤傾斜方向作為傾斜信號TL來檢測，根據(jù)傾斜信號TL為1或0、或者為正或負(fù)，對物鏡4的傾斜進(jìn)行微調(diào)整，以進(jìn)行相應(yīng)于光盤傾斜量的傾斜補(bǔ)正。即使在檢測信號Pl和信號P2的相位差時，亦可通過本發(fā)明的受光元件7而大幅減少將散焦和物鏡4的位置偏差誤作為光盤傾斜而輸出的程在此，區(qū)域7e至7h(即在光束12中除去了區(qū)域7a至7d和區(qū)域13(遮光區(qū))的區(qū)域)，在本實施例中并不用于傾斜檢測。這是因為要在后述(實施例3)中用于其他目的。因此亦可省略區(qū)域7e至7h。圖4(a)(b)是表示光盤傾斜時受光元件7上的光量分布變化的圖案示意圖。如圖4(a)所示，光盤沒有傾斜時，0次光和士l次光重疊的區(qū)域12a、12b的光量分布左右區(qū)域大致相同，而區(qū)域12a、12b內(nèi)的光量分布也大致相同。與此相對，如圖4(b)所示，在光盤處于傾斜狀態(tài)時，左右區(qū)域12a、12b的其中之一的中央部的光量減少，而另一方區(qū)域12b、12a的中央部的光量則增加。即光盤傾斜量增加時，0次光和土l次光重疊的區(qū)域12a、12b的中央部的光量變化也增加，信號P1有正或負(fù)增加，而信號P2則以相反符號增加，因此，通過相減兩者所得到的傾斜信號TL，能夠檢測出光盤的傾斜。另外，上述的說明是光點追蹤信息軌道的情況，而當(dāng)光點在垂直信息軌道的方向上移動時(橫穿信息軌道時)，左右區(qū)域的光量將隨著光點位置而發(fā)生變化。受光區(qū)域的分割形狀，從本實施例中的說明可知，并不局限于圖2的例子。也就是說，重要的是怎樣在區(qū)域7a和區(qū)域7c分配對光束12中的0次光和±1次光進(jìn)行受光的區(qū)域，分割線形狀為圖2所示形狀之外亦可。(實施例2)圖5表示應(yīng)用于本發(fā)明實施例2的光學(xué)頭的受光元件17的受光區(qū)域。17a至17d分別為被分割的受光區(qū)域。另外，由于本實施例與上述實施例l類似，所以對相同的構(gòu)成要素標(biāo)注與圖1、圖2相同的符號，并對不相同部分進(jìn)行說明，而省略其他說明。區(qū)域17a和區(qū)域17b的縱寬(信息軌道方向的最大寬度)在受光光束12直徑的0.2倍以上0.5倍以下為宜，而在0.25倍以上0.35倍以下則為更佳。區(qū)域17a和區(qū)域17b的間隔在受光光束12直徑的0.3倍以上0.6倍以下為宜，而在0.4倍以上0.5倍以下則為更佳。對于圖5的受光元件17，設(shè)區(qū)域17a和區(qū)域17b的縱寬約為0.30，設(shè)區(qū)域17a和區(qū)域17b的間隔約為0.47。此外，構(gòu)成區(qū)劃線65、66的內(nèi)側(cè)線65c、66c的曲率半徑，在圖5的受光元件17的情況下，約為0.5倍。信號TL作為TL=P1—k*P2而被檢測。在此，信號P1和信號P2，使用各受光區(qū)域17a17d的輸出電信號S17aS17d，以Pl=S17a—S17bPl=S17c—S17d來表示。圖6(a)、(b)，是就圖5所示的本實施例2的受光元件17，與實施例1相同，對信號TL電平進(jìn)行了模擬實驗的結(jié)果。該計算條件與實施例1相同。在該模擬實驗中，將圖5中的檢測信號Pl的區(qū)域17a(Al區(qū)域)和區(qū)域17b(Bl區(qū)域)的縱寬(信息軌道的切線方向?qū)挾?對光束直徑的比設(shè)為0.30，將區(qū)域7a和區(qū)域7b的間隔對光束直徑的比設(shè)為0.47，將第1區(qū)劃線65的內(nèi)側(cè)線65c的曲率半徑及第2區(qū)劃線66的內(nèi)側(cè)線66c的曲率半徑設(shè)為光束12半徑的1/2。而將檢測信號P2的區(qū)域17c、17d的縱寬設(shè)為光束直徑的0.60倍。另外，其外側(cè)的區(qū)域不用于計算。并且，還將區(qū)域13(N區(qū)域)的橫寬對光束直徑的比設(shè)為0.35。決定常數(shù)k值并設(shè)為1.15，以補(bǔ)正物鏡位置偏差士100Mm所產(chǎn)生的偏移。圖6(b)所示的本實施例2中，由散焦引起的光盤傾斜檢測誤差為0.08deg(P—P)，可以說，該受光元件17的光盤傾斜檢測信號TL，即使與實施例1的受光元件7相比較，也不易受到散焦和物鏡位置偏差雙方的影響。這表明，區(qū)域17a(Al區(qū)域)和區(qū)域17c(A2區(qū)域)的分界線、即第1區(qū)劃線65，區(qū)域17b(Bl區(qū)域)和區(qū)域17d(B2區(qū)域)的分界線、即第2區(qū)劃線66分別位于光束12內(nèi)特別是散焦影響較大的區(qū)域附近，并且，因其區(qū)域在信息軌道方向也有分布，因此不僅可通過改變區(qū)域17a(Al區(qū)域)和區(qū)域17b(Bl區(qū)域)的間隔，也可通過將區(qū)劃線設(shè)為適當(dāng)?shù)男螤睿瑥亩@得有較高準(zhǔn)確度的光盤傾斜檢測信號。從上述說明可知，受光元件17的分割形狀并不局限于圖5的示例。即，重要的是怎樣在Al區(qū)域和A2區(qū)域中分配光束12的0次光±1次光的受光區(qū)域，一般來說，如果將光束12的0次光和士1次光的重疊區(qū)域即區(qū)域17a(Al區(qū)域)受光的面積、和光束12的0次光和±1次光重疊區(qū)域即17c(A2區(qū)域)受光的面積的比設(shè)為0.61.5左右時，區(qū)域17a17d的形狀亦可為圖5所示形狀以外的形狀。(實施例3)圖7是表示本發(fā)明實施例3的光學(xué)頭的概略圖。圖7中，與圖l相同的構(gòu)成要素標(biāo)注上與圖1相同的符號，并省略其說明。以下，對與圖l不同的構(gòu)成要素進(jìn)行說明。作為受光單元的一個示例的受光元件27，與集成電路28a的信號演算29通信連接，其中所述集成電路28a設(shè)于作為信號檢測單元的一個示例的信號檢測器28中。在信號檢測器28中，設(shè)置有放大器31和32、差動放大器33和34、加法放大器35。由信號演算單元29輸出3個差信號Pl、P2、P3。放大器31將信號演算單元29輸出的輸入信號P2放大kl倍。放大器32，將信號演算單元29輸出的輸入信號P3放大k2倍。信號檢測器28，輸出光盤傾斜檢測信號即傾斜信號TL和追蹤誤差信號TE。圖8表示受光元件27的受光區(qū)域。該受光區(qū)域被分割的分割圖案，與圖1的受光元件7的分割圖案相同。即受光區(qū)域分割成區(qū)域27a27h，同時也設(shè)有作為遮光區(qū)而形成的區(qū)域13(N區(qū)域)。區(qū)域13被配置在只包含存在于光束12中央部的衍射光的0次成分或主要包含0次成分的區(qū)域。在受光元件27檢測到的信號被引向信號檢測器28，并在信號演算單元29中予以演算，從而檢測出3個推挽信號P1、P2、P3。信號Pl是在區(qū)域27a、27b檢測出的推挽信號，信號P2是在區(qū)域27c、27d檢測出的推挽信號，信號P3是在區(qū)域27e27h檢測出的推挽信號。若將這些信號Pl、P2、P3，用來自各區(qū)域27a27h的輸出電信號S27aS27h來表示，則為Pl=S27a—S27bP2=S27c—S27dP3=S27e+S27g—(S27f+S27h)。信號Pl和信號P2是為了檢測衍射光的0次成分和士l次成分重疊區(qū)域的光而受到信息軌道調(diào)制的信號。另一方面，信號P3則檢測只包含衍射光的0次成分或主要包含0次成分的區(qū)域的光，幾乎不受信息軌道的調(diào)制。因此，根據(jù)物鏡4的位置偏差，檢測與在受光元件27上移動的光束12的位置相對應(yīng)的信號。光盤5存在傾斜時，信號P1和信號P2的相位差發(fā)生變化，其變化方向基于光盤傾斜的方向而為正或負(fù)。因此，與實施例l相同，如果檢測出該相位差和方向，則能夠檢測出光盤的傾斜。而且，信號P2由放大器31放大kl倍后，通過差動放大器33從信號Pl中減去，而作為傾斜信號TL被輸出。即傾斜信號TL通過TL二P1H2的運(yùn)算而得出。另外，與實施例l相同，設(shè)定指定的常數(shù)k，以補(bǔ)正物鏡4的光軸相對光學(xué)頭的光軸2的位置偏差所產(chǎn)生的偏移。對于此受光元件27產(chǎn)生的光盤傾斜信號，由于用于光盤傾斜檢測的區(qū)域27a27d的形狀和實施l相同，所以，顯然也不易受到散焦和物鏡位置偏差雙方的影響，故省略詳其細(xì)說明。信號Pl和信號P2的和信號為，因光盤傾斜產(chǎn)生的波形的零交叉點(zerocrossing)偏差較小的信號。關(guān)于該信號Pl和信號P2的和信號，可以通過利用信號P3補(bǔ)正物鏡位置偏差所引起的偏移，而作為追蹤誤差信號來使用。即如圖7所示，通過差動放大器34，從加法放大器35產(chǎn)生的信號P1和信號P2的和信號中，減去由放大器32放大k2倍的信號P3，由此得到物鏡位置偏差或光盤傾斜產(chǎn)生的波形的零交叉點偏差較小且穩(wěn)定的追蹤誤差信號TE。即信號TE可通過TE=(Pl+P2)—k2*P3的運(yùn)算而得出。換言之，通過加法放大器35、放大器32、差動放大器34而構(gòu)成產(chǎn)生追蹤誤差信號的TE信號生成單元。而且還設(shè)定常數(shù)k2，以補(bǔ)正因物鏡的位置偏差而在信號Pl和信號P2的和信號中產(chǎn)生的偏移。因此，通過利用信號TE進(jìn)行追蹤控制，并測定光點追蹤信息軌道時的傾斜信號TL，從而可以檢測光盤傾斜。上述的說明中，是在信號P1和信號P2的和信號(Pl+P2)、第3差信號P3的后者上乘以上述常數(shù)k2而生成追蹤誤差信號TE的，但也可以在和信號(Pl+P2)和第3差信號P3的至少一方乘以指定的權(quán)重系數(shù)后，生成和信號和第3差信號P3的差信號。也就是，將和信號(P1+P2)和第3差信號P3進(jìn)行相減時，各自的權(quán)重系數(shù)的比為常數(shù)k2即可。而且，在上述的說明中，即設(shè)定指定的常數(shù)kl，以補(bǔ)正物鏡4的光軸位置偏差所產(chǎn)生的偏移，又設(shè)定指定的常數(shù)k2，以補(bǔ)正因物鏡位置偏差而在信號P1和信號P2的和信號中產(chǎn)生的偏移，但也并不局限于此。例如，信號TL也可通過以下的計算式，即TL=TU—TL2TU=P1—k3*P2Pl=S27a—S27bP2=S27c—S27dTL2=S27e+S27g—k4*(S27f+S27h)而得出。在此演算中設(shè)定常數(shù)k3、k4時，可以首先設(shè)定常數(shù)k3，以使移動物鏡時的TL1信號AC振幅達(dá)到最小，然后設(shè)定常數(shù)k4，以使TL信號的偏移變動在指定范圍內(nèi)。這樣，則可抑制偏離軌道時傾斜信號TL的電平的變動，同時也可抑制透鏡移動所產(chǎn)生的傾斜信號TL的誤差變動。另外，追蹤誤差信號TE也可以根據(jù)以下計算式TE=P1+P2而得出。此時，由加法放大器35構(gòu)成TE信號生成單元。(實施例4)圖9和圖10，表示應(yīng)用于本發(fā)明實施例4的光學(xué)頭的受光元件37的受光區(qū)域。在此，與實施例l相同的構(gòu)成要素標(biāo)注上相同的符號，并省略其說明。在受光區(qū)域設(shè)有作為Al區(qū)域的區(qū)域37a、作為Bl區(qū)域的區(qū)域37b、作為A5區(qū)域的區(qū)域37c、作為B5區(qū)域的區(qū)域37d、為A6區(qū)域的區(qū)域37e、作為B6區(qū)域的區(qū)域7f、作為N區(qū)域的區(qū)域13。受光區(qū)域由縱分割線61左右分割。其左側(cè)區(qū)域形成有區(qū)域37a、區(qū)域37c、區(qū)域37e。區(qū)域37a和區(qū)域37c由第1區(qū)劃線65分割。換言之，相對第3區(qū)劃線67而與光軸4a相反的一側(cè)區(qū)域，由第1區(qū)劃線65分割成第3區(qū)劃線67側(cè)的區(qū)域37c和區(qū)域37a。而縱分割線61的左側(cè)區(qū)域，則由第3區(qū)劃線67分割成區(qū)域37c和區(qū)域37e。另一方面，縱分割線61的右側(cè)區(qū)域形成有區(qū)域37b、區(qū)域37d、區(qū)域37f。區(qū)域37b和區(qū)域37d由第2區(qū)劃線66分割。換言之，相對第4區(qū)劃線68而與光軸4a相反的一側(cè)區(qū)域，由第2區(qū)劃線66分割成第4區(qū)劃線68側(cè)的區(qū)域37d和區(qū)域37b。而縱分割線61的右側(cè)區(qū)域，則由第4區(qū)劃線68分割成區(qū)域37d和區(qū)域37f。區(qū)域13形成為縱長方形，并設(shè)置在只包含存在于光束12中央部的衍射光0次成分或主要包含0次成分的區(qū)域。區(qū)域37a和區(qū)域37b與區(qū)域13相隔，在區(qū)域13的縱寬范圍內(nèi)相對于縱分隔線61而對稱配置。區(qū)域37c和區(qū)域37d也相對于縱分隔線61而對稱配置。區(qū)域37a及區(qū)域37b與實施例1中的區(qū)域7a及區(qū)域7b結(jié)構(gòu)相同。第1區(qū)劃線65和第2區(qū)劃線66分別包括，在垂直于縱分割線61的方向上延伸的一對橫線65a、66a、65b、66b和彼此連接兩橫線65a、66a、65b、66b的內(nèi)側(cè)端部的圓弧形的內(nèi)側(cè)線65c、66c。第3區(qū)劃線67和第4區(qū)劃線68分別包括，在垂直于縱分割線61的方向上延伸的一對橫線67a、68a、67b、68b和彼此連接兩橫線67a、68a、67b、68b的內(nèi)側(cè)端部的圓弧形的內(nèi)側(cè)線67c、68c。橫線67a、68a、67b、68b配置在射入光束12的0次光和±1次光重疊區(qū)域的端部附近。內(nèi)側(cè)線67c、68c配置在緊鄰射入光束12的0次光和±1次光重疊區(qū)域的縱分割線6U則，其中央部分別與區(qū)域13相接，另一方面，在此中央部的兩側(cè)與區(qū)域13相隔。該內(nèi)側(cè)線67c、68c的曲率半徑，與受光光束12的半徑大致相同。另外，內(nèi)側(cè)線67c、68c亦可不與區(qū)域13相接。區(qū)域37c包括作為一對A51區(qū)域的一對區(qū)域37cl和作為連接兩區(qū)域37cl的A52區(qū)域的區(qū)域37c2，從三個方向包圍區(qū)域37a。區(qū)域37cl與區(qū)域37a在信息軌道切線方向的兩側(cè)鄰接配置。換言之，區(qū)域37a在縱分割線61的延伸方向上被兩區(qū)域37cl所夾。區(qū)域37c2則在形成彎曲形狀的同時，又沿著光束12的士l次光的外圍而設(shè)置在區(qū)域37a和區(qū)域13之間。區(qū)域37d包括作為一對B51區(qū)域的一對區(qū)域37dl和作為連接兩區(qū)域37dl的B52區(qū)域的區(qū)域37d2，從三個方向包圍區(qū)域37b。區(qū)域37dl與區(qū)域37b在信息軌道切線方向的兩側(cè)鄰接配置。換言之，區(qū)域37b在縱分割線61的延伸方向上被兩區(qū)域37dl所夾。區(qū)域37d2則在形成彎曲形狀的同時，又沿著光束12的±1次光的外圍而設(shè)置在區(qū)域37b和區(qū)域13之間。區(qū)域37e在縱分割線61左側(cè)的區(qū)域中而形成于區(qū)域37c外側(cè)。另一方面，區(qū)域37f在縱分割線61右側(cè)的區(qū)域中而形成于區(qū)域37d外側(cè)。區(qū)域37a、37b分別包含受了光的衍射光的0次光和士l次光重疊區(qū)域的大致中央部分，是0次光和士1次光的受光區(qū)域。而區(qū)域37c、37d則是除去0次光和±1次光重疊區(qū)域的中央部以外的0次光和士l次光的受光區(qū)域。另一方面，區(qū)域37e、37f是僅對光束12的0次光、或主要對0次光進(jìn)行受光的區(qū)域。例如，比較圖9所示的受光區(qū)域和圖8所示的受光區(qū)域可知，區(qū)域27c(A2區(qū)域)和區(qū)域37c(A5區(qū)域)的形狀不同，區(qū)域27d(B2區(qū)域)和區(qū)域37d(B5區(qū)域)的形狀也不同。在該不同的部位、即從區(qū)域27c、27d中除去并被納入?yún)^(qū)域37e、37f的約呈三角形的區(qū)域中，由于幾乎不受信息軌道的調(diào)制，所以，幾乎對光盤傾斜檢測信號即傾斜信號TL無影響。另一方面，該約呈三角形的區(qū)域，由于受被記錄.未被記錄的信息軌道邊界的影響輕微，這樣，通過將劃分為區(qū)域37e、37f的區(qū)域設(shè)定成適當(dāng)?shù)男螤?大小，則可以不使光盤傾斜檢測性能降低，而使追蹤誤差信號在被記錄，未被記錄的信息軌道邊界上的影響減小。為此，有必要隨著區(qū)域37c、37d的面積減少而相應(yīng)的減少區(qū)域37a、37b的面積。具體而言，可以擴(kuò)大區(qū)域37a和區(qū)域37b間的間隔或減小區(qū)域37a及區(qū)域37b的縱寬，或同時采用這兩種方法。此處，對本實施例4的受光元件37，就散焦引起的光盤傾斜的檢測誤差的模擬實驗結(jié)果進(jìn)行說明。該模擬實驗，與實施例l中的說明相同，如表1所示，附上5項條件作為計算條件來進(jìn)行計算。所附條件的項目為1)區(qū)域37c(A5區(qū)域)的縱寬(二區(qū)域37d(B5區(qū)域)的縱寬)2)區(qū)域37a(Al區(qū)域)的縱寬(二區(qū)域37b(Bl區(qū)域)的縱寬)3)區(qū)域37a(Al區(qū)域)與區(qū)域37b(Bl區(qū)域)之間的間隔4)區(qū)域13(N區(qū)域)的橫寬5)區(qū)劃線65、66的內(nèi)側(cè)線65c、66c的曲率半徑。表中各項目的數(shù)字，1)至4)表示相對受光光束12直徑的比值，5)表示相對受光光束12半徑的比值。此外，檢測誤差用將光盤傾斜檢測信號即傾斜信號TL換算成光盤傾斜量所得(單位deg)來表示。其他計算條件與實施例1中的說明相同。<table>tableseeoriginaldocumentpage36</column></row><table>例2至例6，任何一例的項目與其他各例不同，而例1沒有與其他例不同的項目。具體而言，例2的5)與其他例不同，例3的4)與其他例不同，例4的3)與其他例不同，例5的2)與其他例不同，例6的1)與其他例不同。其中，例1是5)的曲率半徑為0.5的圖10所示的例子，例2是5)的曲率半徑為1.0的圖9所示的例子。由該模擬試驗的結(jié)果可知，例1至例3中，檢測誤差為0.0820.096deg(p-p)，與以往技術(shù)的0.17deg相比減小了一半，是良好的結(jié)果。與此相對，例4至例6與以往技術(shù)相比難說較好。綜合以上結(jié)果，1)區(qū)域37c、37d的縱寬相對光束直徑的比值以在0.55以上0.65以下為宜，2)區(qū)域37a、37b的縱寬相對光束直徑的比值以在0.25以上0.35以下為宜，3)區(qū)域37a、37b間的間隔相對光束直徑的比值以在0.4以上0.5以下為宜，4)區(qū)域13的橫寬相對光束直徑的比值以在0.2以上0.4以下為宜，5)內(nèi)側(cè)線65c、66c的曲率半徑相對光束半徑的比值以在0.5以上1.2以下為宜。若在以上的這些數(shù)值范圍內(nèi)，則即使在被記錄了信息的信息軌道和未被記錄信息的信息軌道的邊界上，也可以不易受到散焦和物鏡雙方的影響。受光元件37的受光區(qū)域的分割形狀，從上述說明中可知，并不局限于圖9及圖10的例子。光束12中0次光與士l次光重疊的區(qū)域，在Al區(qū)域和A5區(qū)域中如何分布則很重要，而分割線的形狀亦可為圖9及圖10所示形狀以外的形狀。此外，本實施例4的受光元件37，即可與圖1所示的傾斜檢測器8電連接，亦可與圖7所示的信號檢測器28電連接。其他的結(jié)構(gòu)、作用及效果與實施例1相同。(實施例5)圖11表示應(yīng)用于本發(fā)明實施例5的光學(xué)頭的受光元件47的受光區(qū)域。此處，與實施例l相同的構(gòu)成要素標(biāo)注上相同的符號，省略其說明。受光區(qū)域設(shè)有，作為Al區(qū)域的區(qū)域47a、作為B1區(qū)域的區(qū)域47b、作為A7區(qū)域的區(qū)域47c、作為B7區(qū)域的區(qū)域47d、作為A8區(qū)域的區(qū)域47e、作為B8區(qū)域的區(qū)域47f、作為N區(qū)域的區(qū)域13和作為N2區(qū)域的區(qū)域14。受光區(qū)域被縱分割線61左右分割，同時，設(shè)有跨越該縱分割線61兩側(cè)的區(qū)域13。該區(qū)域13設(shè)于與縱分割線61垂直的第1橫分割線62與第2橫分割線63之間。區(qū)域13在縱分割線方向的寬度(縱寬)與第l橫分割線62和第2橫分割線63的間隔一致，而在與縱分割線61垂直方向的寬度(橫寬)比衍射光的0次成分和土l次光重疊的左右區(qū)域間的間隔略窄。區(qū)域13的左側(cè)區(qū)域，在縱分割線61的延伸方向上被與橫分割線62、63平行的第3橫分割線64a及第4橫分割線64b分割為3個區(qū)域。其中，中間的區(qū)域形成上述區(qū)域47a，其兩側(cè)的區(qū)域形成上述區(qū)域47c。區(qū)域13的右側(cè)區(qū)域，在縱分割線61的延伸方向上被與橫分割線62、63平行的第5橫分割線64c及第6橫分割線64d分割為3個區(qū)域。其中，中間的區(qū)域形成上述區(qū)域47b，其兩側(cè)的區(qū)域形成上述區(qū)域47d。區(qū)域47a和區(qū)域47b即相對縱分割線61而相互對稱配置，又分別與區(qū)域13相鄰接。此外，區(qū)域47c和區(qū)域47d即相對縱分割線61而相互對稱配置，又分別與區(qū)域13相鄰接。區(qū)域47a、47b分別包含受了光的衍射光的0次光和士l次光重疊區(qū)域的大致中央部，是0次光和±1次光的受光區(qū)域。區(qū)域47c、47d則是除去0次光和土l次光重疊區(qū)域的中央部以外的0次光和士l次光的受光區(qū)域。相對第1橫分割線62而與上述光軸4a相反的一側(cè)區(qū)域，被與第1橫分割線62平行的第7橫分割線64e所分割。另一方面，相對第2橫分割線63而與上述光軸4a相反的一側(cè)區(qū)域，被與第2橫分割線63平行的第8橫分割線64f所分割。第7橫分割線64e和第8橫分割線64f相對光軸4a對稱配置。而相對第7橫分割線64e及第S橫分割線64f與光軸4a相反的一側(cè)區(qū)域被設(shè)為上述區(qū)域14。區(qū)域14由不檢測射入光束12的遮光區(qū)構(gòu)成。這樣，通過在區(qū)域13的上下兩側(cè)設(shè)置由遮光區(qū)構(gòu)成的區(qū)域14，可容易地調(diào)整用于分別補(bǔ)正伴隨物鏡的位置偏差產(chǎn)生的追蹤誤差信號的偏移、和在被記錄了信息的信息軌道及未被記錄信息的信息軌道的邊界上產(chǎn)生的追蹤誤差信號的偏移的系數(shù)。第1橫分割線62和第7橫分割線64e之間的區(qū)域被縱分割線61左右分害"，同時，第2橫分割線63和第8橫分割線64f之間的區(qū)域也被縱分割線61左右分割。而且，在第1橫分割線62及第7橫分割線64e間的區(qū)域和第2橫分割線63及第8橫分割線64f間的區(qū)域中，縱分割線61左側(cè)的區(qū)域為上述區(qū)域47e，右側(cè)的區(qū)域為上述區(qū)域47f。換言之，區(qū)域47e和區(qū)域47f相對第1橫分割線62及第2橫分割線63而形成于光軸4a的相反側(cè)。該區(qū)域47e、47f是僅對光束12的0次光、或主要對0次光進(jìn)行受光的區(qū)域。在受光元件47檢測到的信號，被引向信號檢測器，從而檢測出3個推挽信號P1、P2、P3。信號Pl是在區(qū)域47a、47b檢測的推挽信號，信號P2是在區(qū)域47c、47d檢測的推挽信號，信號P3是在區(qū)域47e、47f檢測的推挽信號。若用來自各區(qū)域47a至47f的輸出電信號S47a至S47f來表示信號Pl、P2、P3，則有Pl二S47a—S47bP2二S47c—S47dP3=S47e—S47f。而傾斜信號TL則可由TL=P1—kl*P2演算而得。另外，取而代之，還可采用傾斜信號TL通過TL=Pl—kl*P2—k2*P3的演算而得到的結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)中，在設(shè)定常數(shù)kl、k2時，亦可首先設(shè)定常數(shù)kl以便使物鏡移動時的Pl—kl*P2的AC振幅達(dá)到最小，然后再設(shè)定常數(shù)k2以便使傾斜信號TL的偏移變動在指定范圍內(nèi)。這樣，即可以抑制偏離軌道時的傾斜信號TL的電平變動，又可以抑制透鏡移動(lensshift)所引起的傾斜信號TL的誤差變動。此外，在信號檢測器中，作為檢測以下2個推挽信號P1、P2Pl=S47a—S47bP2=S47c+S47e_(S47d+S47f)的結(jié)構(gòu)，也可以是傾斜信號TL通過TL=P1—kl*P2的運(yùn)算而得到的結(jié)構(gòu)。此處，對本實施例5的受光元件47，就散焦引起的光盤傾斜的檢測誤差的模擬實驗結(jié)果進(jìn)行說明。在此模擬試驗中，用上述的計算式TL=P1—kl*P2導(dǎo)出信號TL。在此模擬試驗中，如表2所示，附上4項條件作為計算條件來進(jìn)行計算。所附條件的項目為1)區(qū)域13(N區(qū)域)的橫寬(二區(qū)域47a(Al區(qū)域)和區(qū)域47b(Bl區(qū)域)之間的間隔)2)區(qū)域13(N區(qū)域)的縱寬(二區(qū)域47a(Al區(qū)域)和區(qū)域47c(區(qū)域A7)的合計縱寬)3)區(qū)域47a(Al區(qū)域)的縱寬(二區(qū)域47b(Bl區(qū)域)的縱寬)4)區(qū)域14(N2區(qū)域)間的間隔(二區(qū)域47a(Al區(qū)域)、區(qū)域47c(A7區(qū)域)和區(qū)域47e(A8區(qū)域)的合計縱寬)。表中的數(shù)字表示相對受光光束12直徑的比值。另外，表中的TE平衡表示追蹤誤差信號穩(wěn)定性的指標(biāo)，是表示追蹤誤差信號的零交叉點的偏差表2<table>tableseeoriginaldocumentpage39</column></row><table><formula>formulaseeoriginaldocumentpage40</formula>例2至例5，任何一例的項目與其他各例不同，而例1沒有與其他例不同的項目。具體而言，例2的1)與其他例不同，例3的4)與其他例不同，例4的3)與其他例不同，例5的2)與其他例不同。由該模擬試驗的結(jié)果可知，本實施例的受光元件47，任一例的檢測誤差都在0.0650.075deg(p-p)之間，與以往的技術(shù)的0.17deg(p-p)相比減小了4成，是非常良好的結(jié)果。因此，1)區(qū)域13的橫寬相對光束直徑的比值以在0.35以上0.45以下為宜，而在0.36以上0.40以下則為更佳。2)區(qū)域13的縱寬相對光束直徑的比值以在0.5以上0.6以下為宜，而在0.54以上0.60以下則為更佳。3)區(qū)域47a、47b的縱寬相對光束直徑的比值以在0.2以上為宜，而在0.26以上則為更佳。并且,該比值以在0.32以下為宜，而在0.30以下則為更佳。4)區(qū)域14、14間的間隔相對光束直徑的比值以在0.75以上0.85以下為宜，而在0.80以上0.85以下則為更佳。若在以上的這些數(shù)值范圍內(nèi)，則即使在被記錄了信息的軌道和未被記錄信息的軌道的邊界上，也可以不易受到散焦和物鏡雙方的影響。其他的結(jié)構(gòu)、作用及效果與實施例4相同。(實施例6)圖12表示應(yīng)用于本發(fā)明實施例5的光學(xué)頭的受光元件57的受光區(qū)域。此處，與實施例l相同的構(gòu)成要素標(biāo)注上相同的符號，省略其說明。受光區(qū)域設(shè)有，作為Al區(qū)域的區(qū)域57a、作為B1區(qū)域的區(qū)域57b、作為A7區(qū)域的區(qū)域57c、作為B7區(qū)域的區(qū)域57d、作為A8區(qū)域的區(qū)域57e、作為B8區(qū)域的區(qū)域57f、作為N區(qū)域的區(qū)域13和作為N2區(qū)域的區(qū)域14。受光區(qū)域中設(shè)有相對縱分割線61而對稱配置的一對第1橫分割線62a、62b，和同樣相對縱分割線61而對稱配置的一對第2橫分割線63a、63b。這些橫分割線62a、62b、63a、63b均為配置成在縱分割線垂直方向上延伸的直線狀。而且，一對第1橫分割線62a、62b和一對第2橫分割線63a、63b，還相對上述光軸4a而對稱配置。相對第1橫分割線62a、62b與光軸4a相反的一側(cè)設(shè)有與該第1橫分割線62a、62b平行的第7橫分割線64e，相對第2橫分割線63a、63b與光軸4a相反的一側(cè)設(shè)有與該第2橫分割線63a、63b平行的第8橫分割線64f。第7橫分割線64e和第8橫分割線64f相對光軸4a而對稱配置。相對第7橫分割線64e及第8橫分割線64f與光軸4a相反的一側(cè)區(qū)域設(shè)為上述區(qū)域14。在圖12的縱分割線61的左側(cè)區(qū)域中，第1橫分割線62a和第2橫分割線63a之間的區(qū)域，設(shè)有互相隔開間隔而與其平行配置的直線狀第3橫分割線64a及第4橫分割線64b。而且，還設(shè)有分別連接第1橫分割線62a、第3橫分割線64a、第4橫分割線64b及第2橫分割線63a的內(nèi)側(cè)端部而與縱分割線61平行的直線狀第1內(nèi)側(cè)線69a。在該左側(cè)區(qū)域中，由第1橫分割線62a、第1內(nèi)側(cè)線69a和第2橫分割線63a區(qū)劃的矩形區(qū)域，被分割為第3橫分割線64a及第4橫分割線64b之間的上述區(qū)域57a和其兩側(cè)的上述區(qū)域57c。此外，該左側(cè)區(qū)域中除去區(qū)域57a、區(qū)域57c、區(qū)域13、區(qū)域14的區(qū)域則形成上述區(qū)域57e。在圖12的縱分割線61的右側(cè)區(qū)域中，第1橫分割線62b和第2橫分割線63b之間的區(qū)域，設(shè)有互相隔開間隔而與其平行配置的直線狀第5橫分割線64c及第6橫分割線64d。而且，還設(shè)有分別連接第1橫分割線62b、第5橫分割線64c、第6橫分割線64d及第2橫分割線63b的內(nèi)側(cè)端部而與縱分割線61平行的直線狀第2內(nèi)側(cè)線69b。在該右側(cè)區(qū)域中，由第1橫分割線62b、第2內(nèi)側(cè)線69b和第2橫分割線63b區(qū)劃的矩形區(qū)域，被分割為第5橫分割線64c及第6橫分割線64d之間的上述區(qū)域57b和其兩側(cè)的上述區(qū)域57d。此外，該右側(cè)區(qū)域中除去區(qū)域57b、區(qū)域57d、區(qū)域13、區(qū)域14的區(qū)域則形成上述區(qū)域57f。區(qū)域57e具有作為A81區(qū)域的區(qū)域57el和作為A82區(qū)域的區(qū)域57e2。區(qū)域57el在信息軌道的切線方向上設(shè)有2個，在兩區(qū)域57el之間配置有區(qū)域57a、區(qū)域57c及區(qū)域13。區(qū)域57e2形成于第1內(nèi)側(cè)線69a和區(qū)域13之間。而且，該區(qū)域57e2還形成為在區(qū)域13與區(qū)域57a、57c之間連接兩區(qū)域57el。換言之，區(qū)域57a、區(qū)域57c是與區(qū)域13相隔的。區(qū)域57a和區(qū)域57b相對縱分割線61而對稱配置，區(qū)域57c和區(qū)域57d相對縱分割線61而對稱配置。區(qū)域57f具有作為B81區(qū)域的區(qū)域57fl和作為B82區(qū)域的區(qū)域57f2。區(qū)域57fl在信息軌道的切線方向上設(shè)有2個，在兩區(qū)域57fl之間配置有區(qū)域57b、區(qū)域57d及區(qū)域13。區(qū)域57f2形成于第2內(nèi)側(cè)線69b和區(qū)域13之間。而且該區(qū)域57f2還形成為在區(qū)域13與區(qū)域57b、57d之間連接兩區(qū)域57fl。換言之，區(qū)域57b、區(qū)域57d是與區(qū)域13相隔的。區(qū)域57e2、57f2跨越只對衍射光0次光受光的區(qū)域及0次光和士l次光重疊的區(qū)域。區(qū)域13，則設(shè)置于只包含存在于光束12中央部的衍射光0次成分或主要包含0次成分的區(qū)域中。在受光元件57檢測到的信號，被引向信號檢測器，從而檢測出3個推挽信號P1、P2、P3。信號Pl是在區(qū)域57a、57b中檢測的推挽信號，信號P2是在區(qū)域57c、57d中檢測的推挽信號，信號P3是在區(qū)域57e、57f中檢測的推挽信號。若用來自各區(qū)域57a至57f的輸出電信號S57aS57f來表示信號Pl、P2、P3，則有Pl=S57a—S57bPl=S57c—S57dP3二S57e—S57f。而傾斜信號TL則可通過TX=P1—kl*P2的運(yùn)算而得。另外，取而代之，還可采用傾斜信號TL通過TL=P1—kl*P2-k2*P3的運(yùn)算而得到的結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)中，在設(shè)定常數(shù)kl、k2時，亦可首先設(shè)定常數(shù)kl以便使物鏡移動時的Pl—kl*P2的AC振幅達(dá)到最小，然后再設(shè)定常數(shù)k2以便使傾斜信號TL的偏移變動在指定范圍內(nèi)。此處，對本實施例6的受光元件57，就散焦引起的光盤傾斜的檢測誤差的模擬實驗結(jié)果進(jìn)行說明。在此模擬試驗中，用上述計算式TL=P1—kl*P2導(dǎo)出傾斜信號TL。在此模擬試驗中，如表3所示，附上5項條件作為計算條件來進(jìn)行計算。所附條件的項目為1)區(qū)域13(N區(qū)域)的橫寬2)區(qū)域13(N區(qū)域)的縱寬(二區(qū)域57a(Al區(qū)域)和區(qū)域57c(區(qū)域A7)的合計縱寬)3)區(qū)域57a(Al區(qū)域)與區(qū)域57b(Bl區(qū)域)之間的間隔4)區(qū)域57a(Al區(qū)域)的縱寬(-區(qū)域57b(Bl區(qū)域)的縱寬)5)區(qū)域14(N2區(qū)域)間的間隔(二區(qū)域57a(Al區(qū)域)、區(qū)域57c(A7區(qū)域)和區(qū)域57e(A8區(qū)域)的合計縱寬)。表中的數(shù)字表示相對受光光束12直徑的比值。表3<table>tableseeoriginaldocumentpage43</column></row><table>例2至例6，任何一例的項目與其他各例不同，而例l沒有與其他例不同的項目。具體而言，例2的1)與其他例不同，例3的3)與其他例不同，例4的5)與其他例不同，例5的4)與其他例不同，例6的2)與其他例不同。由該模擬試驗的結(jié)果可知，本實施例的受光元件57，任一例的檢測誤差都在0.0780.111deg(p-p)之間，與以往技術(shù)的0.17deg(p-p)相比減小了一半，是非常良好的結(jié)果。因此，1)區(qū)域13的橫寬相對光束直徑的比值以在0.3以上0.4以下為宜，而在0.30以上0.35以下為更佳。2)區(qū)域13的縱寬相對光束直徑的比值以在0.54以上為宜，而在0.55以上則為更佳。并且，該比值以在0.65以下為宜，而在0.60以下則為更佳。3)區(qū)域57a、57b間的間隔相對光束直徑的比值以在0.35以上0.45以下為宜，而在0.38以上0.42以下則為更佳。4)區(qū)域57a、57b的縱寬相對光束直徑的比值以在0.25以上為宜，而在0.30以上則為更佳。并且，該比值以在0.38以下為宜，而在0.35以下則為更佳。5)區(qū)域14、14間的間隔相對光束直徑的比值以在0.8以上為宜，而在0.85以上則為更佳。并且，該比值以在0.92以下為宜，而在0.90以下則為更佳。若在以上的這些數(shù)值范圍內(nèi)，則即使在被記錄了信息的軌道和未被記錄信息的軌道的邊界上，也可以不易受到散焦和物鏡雙方的影響。其他的結(jié)構(gòu)、作用及效果與實施例5相同。(實施例7)圖13是本發(fā)明實施例7中涉及的光學(xué)頭結(jié)構(gòu)的概略圖。此處，與實施例1相同的構(gòu)成要素標(biāo)注上相同的符號，并省略其說明。本實施例7不同于上述任何實施例，作為受光單元的一個示例的受光器，其結(jié)構(gòu)包括有分光元件和受光元件。具體地來說，就是設(shè)置作為在來自光盤5的反射光束的光路中將光束分成多束光束的分光元件的一個示例的衍射元件71。受光元件72具有可對被衍射元件71分成的多束光束分別進(jìn)行受光的受光區(qū)域。衍射元件71被設(shè)置于光路中分光鏡3和受光元件72之間。衍射元件71是由例如全息圖元件(hologramelement)構(gòu)成。衍射元件71的光束射入?yún)^(qū)域如圖14所示，和實施例1中的受光元件7—樣，被分割為多個區(qū)域。對這些區(qū)域，為方便起見而標(biāo)注與圖2相同的符號，并省略其詳細(xì)的說明。衍射元件71將射入光束相隔成0次光和在7a7h、13的各區(qū)域中分別被衍射的士l次光。在7a7h和13各區(qū)域中，被衍射并相隔成0次光和±1次光。由于各區(qū)域具有不同的衍射模式，因而，使得來自各區(qū)域的衍射光射向各個不同的方向，而在受光元件72的各受光區(qū)域上受光。受光元件72，如圖15所示，具有15個對在衍射元件71中被相隔的光束分別進(jìn)行受光的受光區(qū)域。即，由于衍射元件71被分割為7個區(qū)域，所以，為了能對0次光和在各區(qū)域上衍射的土1次光進(jìn)行受光，有15個受光區(qū)域被設(shè)置。本實施例中，由于被分割的光束在受光元件72受光，所以，各受光區(qū)域不是被分割線分割，而是形成了各自被相隔的結(jié)構(gòu)。在圖15中，X區(qū)域是檢測O次光的區(qū)域。用此被檢測信號，，可進(jìn)行例如聚焦檢測和信息信號檢測。Al+A3+區(qū)域是檢測在衍射元件71的Al區(qū)域A3區(qū)域中被衍射的+1次光的檢測區(qū)域，Bl+B3+區(qū)域是檢測在衍射元件71的Bl區(qū)域B3區(qū)域中被衍射的+1次光的檢測區(qū)域。此夕卜，A1—B3+區(qū)域是檢測在衍射元件71的Al區(qū)域B3區(qū)域中被衍射的-l次光的檢測區(qū)域。此外，N+區(qū)域是檢測N區(qū)域+1次光的區(qū)域，N-區(qū)域是檢測N區(qū)域-1次光的區(qū)域。傾斜檢測器8根據(jù)第1差信號、即從在衍射元件71的7a區(qū)域中衍射、由受光元件72檢測到的光束得到的信號和從在衍射元件71的7b區(qū)域中衍射、由受光元件72檢測到的光束得到的信號的差信號，和第2差信號、即從在衍射元件71的7c區(qū)域中衍射、由受光元件72檢測到的光束得到的信號和從在衍射元件71的7d區(qū)域中衍射、由受光元件72檢測到的光束得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢測。此傾斜檢測的演算和上述實施例相同，在此處將省略其詳細(xì)的說明。在此結(jié)構(gòu)中，區(qū)域13(N區(qū)域)是作為衍射元件71上的一個區(qū)域而構(gòu)成的。因此，可以在受光元件上不對在此區(qū)域13中被衍射的光束進(jìn)行檢測，或即使檢測，也不用于光盤傾斜檢測。這樣，就可實現(xiàn)與上述實施例的光學(xué)頭同等的性能。另外，在由分光元件和受光元件構(gòu)成受光單元的情況下，作為分光元件一個示例的衍射元件71，如圖16所示，可以與實施例4相同的形式而分割。此時，受光元件72可如圖17所示設(shè)置受光區(qū)域。而且，作為分光元件一個示例的衍射元件71，如圖18所示，可以與實施例5相同的形式而分割。此時，受光元件72可如圖19所示設(shè)置受光區(qū)域。在此受光元件72中，N+區(qū)域?qū)?3區(qū)域和14區(qū)域各自的+1次光進(jìn)行受光，而N-區(qū)域則對13區(qū)域和14區(qū)域各自的-1次光進(jìn)行受光。此外，作為分光元件一個示例的衍射元件71，如圖20所示，可以與實施例6相同的形式而分割。此時的受光元件72也與圖19相同。(實施例8)圖21是本發(fā)明實施例的光盤裝置的概略圖。在圖21中，光盤裝置包括一筐體(casing)，此筐體80的內(nèi)部包括光盤驅(qū)動單元81、控制單元82和光學(xué)頭83。光盤驅(qū)動單元81具有旋轉(zhuǎn)驅(qū)動光盤5的功能。光學(xué)頭83是由例如實施例1的光學(xué)頭所構(gòu)成。另外，取而代之，也可由實施例2至實施例7的光學(xué)頭構(gòu)成?？刂茊卧?2具有驅(qū)動控制光盤驅(qū)動單元81和光學(xué)頭83的功能、對在光學(xué)頭83中被受光的控制信號、信息信號進(jìn)行信號處理的功能、以及在筐體80的外部和內(nèi)部使信息信號接口(interfacing)的功能。此光盤裝置，由于光學(xué)頭83可由實施例1至7中的任何之一的光學(xué)頭所構(gòu)成，因此，可以進(jìn)行散焦和物鏡位置偏差的影響較少的、有較高準(zhǔn)確度的光盤傾斜檢測。本發(fā)明的光學(xué)頭，可進(jìn)行有較高準(zhǔn)確度的光盤傾斜檢測。因此，本發(fā)明可用于對相位變化型的光盤等進(jìn)行信息記錄或再生的光學(xué)頭。而且，也可用于具有調(diào)整光盤傾斜的調(diào)整結(jié)構(gòu)的光盤驅(qū)動，或具有通過傾斜物鏡對由于光盤傾斜而產(chǎn)生的彗形象差進(jìn)行補(bǔ)正的功能的光學(xué)頭。權(quán)利要求1.一種光學(xué)頭，其特征在于包括，光源、將從該光源射出的激光聚光在光盤的信息軌道上的物鏡、對上述信息軌道反射的光束進(jìn)行受光的受光單元以及檢測上述物鏡與光盤的相對傾斜的傾斜檢測單元，其中上述受光單元包括被縱分割線、橫分割線以及內(nèi)側(cè)線分割成多個區(qū)域的光束射入?yún)^(qū)域，其中所述縱分割線為通過上述物鏡的光軸且與上述信息軌道的切線方向平行的直線狀縱分割線；所述橫分割線為在與該縱分割線相垂直的方向上延伸且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第1橫分割線、與這一對第1橫分割線平行且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第2橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的其中一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線及上述第2橫分割線之間，相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第3橫分割線及第4橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的另一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線及第2分割線之間，相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第5橫分割線及第6橫分割線、在相對上述第1橫分割線及上述第2橫分割線而與上述光軸相反的一側(cè)、和這些橫分割線平行配置且相對上述光軸而相互對稱配置的第7橫分割線及第8橫分割線；所述內(nèi)側(cè)線為與上述縱分割線平行延伸且連接處于其中一側(cè)的上述第1橫分割線、上述第3橫分割線、上述第4橫分割線及上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第1內(nèi)側(cè)線、與上述縱分割線平行延伸且連接處于另一側(cè)的上述第1橫分割線、上述第5橫分割線、上述第6橫分割線及上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第2內(nèi)側(cè)線；其中，上述光束射入?yún)^(qū)域，在上述第1內(nèi)側(cè)線及上述第2內(nèi)側(cè)線之間設(shè)有跨越上述縱分割線的N區(qū)域；由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的其中一側(cè)區(qū)域的由上述第1橫分割線、上述第2橫分割線及上述第1內(nèi)側(cè)線區(qū)劃出的區(qū)域，被分割為位于上述第3橫分割線及上述第4橫分割線之間的A1區(qū)域和剩余的A7區(qū)域；由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的另一側(cè)區(qū)域中的由上述第1橫分割線及上述第2橫分割線及上述第2內(nèi)側(cè)線區(qū)劃出的區(qū)域，被分割為位于上述第5橫分割線及上述第6橫分割線之間的B1區(qū)域和剩余的B7區(qū)域；相對上述第7橫分割線及上述第8橫分割線與上述光軸相反的一側(cè)區(qū)域設(shè)有N2區(qū)域；上述的一對第1橫分割線和上述的一對第2橫分割線，相對上述光軸而相互對稱配置；上述A1區(qū)域和上述B1區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置；上述A7區(qū)域和上述B7區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置；上述傾斜檢測單元，根據(jù)在上述受光單元受光的光量來檢測上述物鏡與光盤的相對傾斜。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于，上述Al區(qū)域和上述Bl區(qū)域，是主要用于檢測上述光束的0次光和士l次衍射光相重疊的區(qū)域的中央部的光量的區(qū)域。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)頭，其特征在于，上述A7區(qū)域和上述B7區(qū)域，是主要用于檢測上述光束的0次光和土l次衍射光相重疊的區(qū)域中除去了上述中央部的那部分的光量的區(qū)域。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于上述受光單元，具有在上述光束射入?yún)^(qū)域中相對上述縱分割線而相互對稱配置的A8區(qū)域和B8區(qū)域；其中，上述A8區(qū)域是由上述縱分割線劃分出的一側(cè)區(qū)域中、除去上述Al區(qū)域、上述A7區(qū)域、上述N區(qū)域及上述N2區(qū)域的區(qū)域；上述B8區(qū)域是由上述縱分割線劃分出的另一側(cè)區(qū)域中、除去上述B1區(qū)域、上述B7區(qū)域、上述N區(qū)域及上述N2區(qū)域的區(qū)域。5.根據(jù)權(quán)利要求l所述的光學(xué)頭，其特征在于上述受光單元由受光元件構(gòu)成，且上述光束射入?yún)^(qū)域設(shè)于該受光元件中；上述傾斜檢測單元，根據(jù)第1差信號、即從上述受光元件的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B1區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光元件的A7區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B7區(qū)域得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢測。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于上述受光單元包括，將上述信息軌道反射的光束分為多束光束的分光元件、對被該分光元件分光的各光束分別進(jìn)行受光的受光元件；上述光束射入?yún)^(qū)域被設(shè)置在上述分光元件內(nèi)；上述傾斜檢測單元，根據(jù)第l差信號、即從在上述分光元件的Al區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的Bl區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，和第2差信號、即從在上述分光元件的A7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢測。7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的光學(xué)頭，其特征在于還包括追蹤誤差信號生成單元，其中，設(shè)從上述A8區(qū)域得到的信號和從上述B8區(qū)域得到的信號的差信號為第3差信號，上述追蹤誤差信號生成單元，根據(jù)上述第1差信號與上述第2差信號的和信號及上述第3差信號，生成追蹤誤差信號。8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)頭，其特征在于上述受光單元由受光元件構(gòu)成，且上述光束射入?yún)^(qū)域設(shè)于該受光元件中；上述傾斜檢測單元，根據(jù)第1差信號、即從上述受光元件的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B1區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光元件的A7區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B7區(qū)域得到的信號的差信號，和第3差信號、即從上述受光元件的A8區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B8區(qū)域得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)頭，其特征在于上述受光單元包括，將上述信息軌道反射的光束分為多束光束的分光元件、對被該分光元件分光的各光束分別進(jìn)行受光的受光元件；上述光束射入?yún)^(qū)域被設(shè)置在上述分光元件內(nèi)；上述傾斜檢測單元器，根據(jù)第1差信號、即從在上述分光元件的Al區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B1區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，第2差信號、即從在上述分光元件的A7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B7區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，和第3差信號、即從在上述分光元件的A8區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號和從在上述分光元件的B8區(qū)域中衍射、由上述受光元件檢測到的光束得到的信號的差信號，來進(jìn)行傾斜檢測。10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的光學(xué)頭，其特征在于還包括追蹤誤差信號生成單元，其中，該追蹤誤差信號生成單元，根據(jù)上述第l差信號與上述第2差信號的和信號及上述第3差信號，生成追蹤誤差信號。11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭，其特征在于上述N區(qū)域在與上述縱分割線垂直的方向上的寬度相對受光光束直徑的比值在0.3以上0.4以下；上述N區(qū)域在縱分割線方向上的寬度相對受光光束直徑的比值在0.54以上0.65以下；上述A1區(qū)域及上述B1區(qū)域間的間隔相對受光光束直徑的比值在0.35以上0.45以下；上述Al區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.25以上0.38以下；上述Bl區(qū)域在縱分割線方向的寬度相對受光光束直徑的比值在0.25以上0.38以下；上述N2區(qū)域間的間隔相對上述受光光束直徑的比值在0.8以上0.92以下。12.—種光盤裝置，其特征在于包括-具備光源、將從該光源射出的激光聚光在光盤的信息軌道上的物鏡、對上述信息軌道反射的光束進(jìn)行受光的受光單元以及檢測上述物鏡與光盤的相對傾斜的傾斜檢測單元的光學(xué)頭；驅(qū)動光盤的光盤驅(qū)動單元；控制上述光學(xué)頭及上述光盤驅(qū)動單元的控制單元；其中，上述受光單元包括被縱分割線、橫分割線以及內(nèi)側(cè)線分割成多個區(qū)域的光束射入?yún)^(qū)域，所述縱分割線為通過上述物鏡的光軸且與上述信息軌道的切線方向平行的直線狀縱分割線；所述橫分割線為在與該縱分割線相垂直的方向上延伸且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第1橫分割線、與這一對第1橫分割線平行且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第2橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的其中一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線及上述第2橫分割線之間，相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第3橫分割線及第4橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的另一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線及第2分割線之間，相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第5橫分割線及第6橫分割線、在相對上述第1橫分割線及上述第2橫分割線與上述光軸相反的一側(cè)、與這些橫分割線平行配置且相對上述光軸而相互對稱配置的第7橫分割線及第8橫分割線；所述內(nèi)側(cè)線為與上述縱分割線平行延伸且連接處于其中一側(cè)的上述第1橫分割線、上述第3橫分割線、上述第4橫分割線及上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第l內(nèi)側(cè)線、與上述縱分割線平行延伸且連接另一側(cè)的上述第1橫分割線、上述第5橫分割線、上述第6橫分割線及上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第2內(nèi)側(cè)線；其中，上述光束射入?yún)^(qū)域，在上述第1內(nèi)側(cè)線及上述第2內(nèi)側(cè)線間設(shè)有跨越上述縱分割線的N區(qū)域；由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的其中一側(cè)區(qū)域的由上述第1橫分割線、上述第2橫分割線及上述第1內(nèi)側(cè)線區(qū)劃出的區(qū)域，被分割為位于上述第3橫分割線及上述第4橫分割線之間的Al區(qū)域和剩余的A7區(qū)域；由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的另一側(cè)區(qū)域中的由上述第1橫分割線、上述第2橫分割線及上述第2內(nèi)側(cè)線區(qū)劃出的區(qū)域，被分割為位于上述第5橫分割線及上述第6橫分割線之間的Bl區(qū)域和剩余的B7區(qū)域；相對上述第7橫分割線及上述第8橫分割線與上述光軸相反的一側(cè)區(qū)域設(shè)有N2區(qū)域；上述的一對第1橫分割線和上述的一對第2橫分割線，相對上述光軸而相互對稱配置；上述A1區(qū)域和上述B1區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置；上述A7區(qū)域和上述B7區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置；上述傾斜檢測單元，根據(jù)在上述受光單元受光的光量來檢測上述物鏡與光盤的相對傾斜。13.—種集成電路，根據(jù)來自將光源射出的激光通過物鏡聚光在光盤的信息軌道上、通過受光單元對該信息軌道反射的光束進(jìn)行受光的光學(xué)頭的上述受光單元的信號，導(dǎo)出對應(yīng)于上述物鏡與上述光盤的相對傾斜的傾斜信號，其特征在于上述受光單元包括被縱分割線、橫分割線以及內(nèi)側(cè)線分割成多個區(qū)域的光束射入?yún)^(qū)域，所述縱分割線為通過上述物鏡的光軸且與上述信息軌道的切線方向平行的直線狀縱分割線；所述橫分割線為在與該縱分割線相垂直的方向上延伸且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第1橫分割線、與這一對第1橫分割線平行且相對上述縱分割線而相互對稱配置的一對第2橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的其中一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線及上述第2橫分割線之間，相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第3橫分割線及第4橫分割線、在由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的另一側(cè)區(qū)域內(nèi)的上述第1橫分割線及第2分割線之間，相互隔開間隔而與上述橫分割線平行配置的第5橫分割線及第6橫分割線、在相對上述第1橫分割線及上述第2橫分割線而與上述光軸相反的一側(cè)、和這些橫分割線平行且相對上述光軸而相互對稱地配置的第7橫分割線及第8橫分割線；所述內(nèi)側(cè)線為與上述縱分割線平行延伸且連接處于其中一側(cè)的上述第1橫分割線、上述第3橫分割線、上述第4橫分割線及上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第1內(nèi)側(cè)線、與上述縱分割線平行延伸且連接上述另一側(cè)的第1橫分割線、上述第5橫分割線、上述第6橫分割線及上述第2橫分割線的內(nèi)側(cè)端部的第2內(nèi)側(cè)線；其中，上述光束射入?yún)^(qū)域，在上述第1內(nèi)側(cè)線及上述第2內(nèi)側(cè)線間設(shè)有跨越上述縱分割線的N區(qū)域；由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的其中一側(cè)區(qū)域的由上述第1橫分割線、上述第2分割線及上述第1內(nèi)側(cè)線區(qū)劃出的區(qū)域，被分割為位于上述第3橫分割線及上述第4橫分割線之間的Al區(qū)域和剩余的A7區(qū)域；由上述縱分割線劃分出的區(qū)域中的另一側(cè)區(qū)域的由上述第1橫分割線、上述第2分割線及上述第2內(nèi)側(cè)線區(qū)劃出的區(qū)域，被分割為位于上述第5橫分割線及上述第6橫分割線之間的Bl區(qū)域和剩余的B7區(qū)域；相對上述第7橫分割線及上述第8橫分割線與上述光軸相反的一側(cè)區(qū)域被設(shè)為N2區(qū)域，上述的一對第1橫分割線和上述的一對第2橫分割線，相對上述光軸而相互對稱配置；上述A1區(qū)域和上述B1區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置；上述A7區(qū)域和上述B7區(qū)域，相對上述縱分割線而相互對稱配置；至少對第1差信號、即從上述受光元件的Al區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B1區(qū)域得到的信號的差信號，和第2差信號、即從上述受光元件的A7區(qū)域得到的信號和從上述受光元件的B7區(qū)域得到的信號的差信號的其中之一乘以指定的權(quán)重系數(shù)后，生成上述第1差信號和上述第2差信號的差信號，再根據(jù)所生成的差信號導(dǎo)出上述傾斜信號。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的集成電路，其特征在于，上述權(quán)重系數(shù)被設(shè)定成使伴隨上述物鏡的位置偏差所產(chǎn)生的差信號的偏移減小。全文摘要本發(fā)明提供一種光學(xué)頭、光盤裝置以及集成電路，即使在被記錄的信息軌道和未被記錄的信息軌道的邊界上，也能夠?qū)崿F(xiàn)散焦的影響較小的光盤傾斜信號檢測。受光元件7的受光區(qū)域具有區(qū)域13、7a至7d。傾斜檢測器，根據(jù)第1差信號、即，從區(qū)域7a得到的信號和從區(qū)域7b得到的信號的差信號，和第2差信號、即，從區(qū)域7c得到的信號和從區(qū)域7d得到的信號的差信號，進(jìn)行傾斜檢測。文檔編號G11B7/13GK101430897SQ200810185958公開日2009年5月13日申請日期2005年7月8日優(yōu)先權(quán)日2004年8月31日發(fā)明者佐野晃正,山崎文朝,荒井昭浩,門脅慎一申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社