專利名稱：閃存檢測分類方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及閃存存儲(chǔ)領(lǐng)域，尤指一種閃存檢測分類方法，其可將閃存 精確分類，充分利用閃存容量。
背景技術(shù)：
閃存閃存是Flash Ram的音譯。閃存作為一種非揮發(fā)性(簡單說就 是在不加電的情況下數(shù)據(jù)也不會(huì)丟失，區(qū)別于目前常用的計(jì)算機(jī)內(nèi)存)的 半導(dǎo)體存儲(chǔ)芯片，具有體積小、功耗低、不易受物理破壞的優(yōu)點(diǎn)，是移動(dòng) 數(shù)碼產(chǎn)品的理想存儲(chǔ)介質(zhì)，目前，其普遍應(yīng)用在數(shù)碼電視、數(shù)碼便攜式攝 像機(jī)、移動(dòng)電話、數(shù)碼相機(jī)、掌上電腦(PDA)、游戲機(jī)、MP3播放器等設(shè) 備中，閃存的種類大致分為儲(chǔ)存容量大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)型(NAND)和處理 速度快的代碼存儲(chǔ)型(NOR)兩種。
閃存的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，其是由很多個(gè)塊(block)組成，每個(gè)塊(block)包 括64頁(page),每一個(gè)頁(page)包括4個(gè)扇區(qū)(sector)。
閃存的特定不是很穩(wěn)定，其一般來說，都會(huì)有壞塊，所以，要在使用 前，將壞塊數(shù)找出來，屏蔽壞塊數(shù)，防止寫文件時(shí)寫到壞塊區(qū)，造成文件 丟失。
另外，為了充分利用不同容量的閃存，現(xiàn)有的辦法是4艮據(jù)閃存的壞塊 數(shù)來為閃存分類，將閃存分為不同的級(jí)別，以將不同級(jí)別的閃存作不同的 用處。
如圖l所示，現(xiàn)有的檢測分類方法，主要包括以下步驟
步驟101:將閃存設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上； 步驟102:將測試架連接到測試單元上， 一個(gè)測試單元可連接多個(gè)測 試架；
步驟103:通過安裝在測試單元中的量產(chǎn)模塊，可以掃描出閃存的好 壞塊；
步驟104:根據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級(jí)。
其中，安裝在測試單元中的量產(chǎn)模塊，是用來提供給卡生產(chǎn)廠商批量 生產(chǎn)存儲(chǔ)卡的，功能包括卡掃描、格式化和生產(chǎn)選項(xiàng)配置。在進(jìn)行每種 卡產(chǎn)品前，首先要配置好參數(shù)，然后量產(chǎn)模塊根據(jù)參數(shù)掃描、格式化卡， 并將需要的文件寫入到卡，完成生產(chǎn)。
利用上述的分類方法，是可以4艮據(jù)掃描結(jié)果，將閃存分為不同的級(jí)別， 但是，由于閃存本身的特性所限，其本質(zhì)是不穩(wěn)定的，即本次掃描的壞塊， 下次再掃描不一定是壞塊，而本次掃描的好塊，下次再掃描不一定還是好 塊，因此，這種靜態(tài)分類方法較為粗略，不精確。
另外，根據(jù)掃描結(jié)果，將閃存分為不同的等級(jí)，不同等級(jí)的閃存用于 不同i也方。
即使這樣，由于閃存的不穩(wěn)定性，掃描時(shí)的好塊，如果在使用過程中 發(fā)現(xiàn)是壞塊的話，將會(huì)影響閃存的使用。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的是提供了一種閃存檢測分類方法，其可克服現(xiàn)有檢 測方法的缺陷，對閃存進(jìn)行精確分類。
本發(fā)明的次要目的在于提供一種閃存的動(dòng)態(tài)補(bǔ)償方法，其可對存在壞 塊的閃存進(jìn)行動(dòng)態(tài)補(bǔ)償，確保數(shù)據(jù)安全。
為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明的目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為
一種閃存檢測分類方法，其包括
按照閃存類別抽出部分閃存樣品；用讀、寫操作才莫式掃描閃存樣品； 根據(jù)掃描結(jié)果，找出閃存特性；
將特性相同的閃存分別設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上； 通過量產(chǎn)工具，才艮據(jù)閃存特性來掃描閃存的好壞塊情況； 根據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級(jí)。
所述的閃存檢測分類方法，其在掃描閃存中，找出的閃存特性為，奇 數(shù)塊的壞塊比例較偶數(shù)塊高；則在通過量產(chǎn)工具對閃存進(jìn)行再次掃描時(shí)， 其對偶數(shù)塊掃描一次，對奇數(shù)塊進(jìn)行多次掃描。
所述的閃存檢測分類方法，其在掃描閃存中，其找出的閃存特性為， 偶數(shù)塊的壞塊比例4支奇數(shù)塊高；則在通過量產(chǎn)工具對閃存進(jìn)行再次掃描時(shí)， 對奇數(shù)塊掃描一次，對偶數(shù)塊進(jìn)行多次掃描。
所述的閃存檢測分類方法，其在掃描閃存中，找出的閃存特性為，其 閃存按順序?qū)懭胧钦_的，但隨機(jī)寫入會(huì)出錯(cuò)。
所述的閃存檢測分類方法，其還包括以下步驟
將閃存中預(yù)留 一組好塊作為替換塊；
通過檢測，若發(fā)現(xiàn)有壞塊，則將該組好塊中的一塊把壞塊替換。 所述的閃存檢測分類方法，其還包括以下步驟將壞塊放在該組好塊 后面。
采用上述方法后，由于該方法在現(xiàn)有的靜態(tài)分類法前采用了特殊的掃 描方法，即讀寫操作模式掃描閃存樣品，這種先利用前期的掃描總結(jié)出閃 存特性，再利用靜態(tài)的分類方法針對特性來分，比只利用靜態(tài)方法分類， 更為準(zhǔn)確；另外，對于已經(jīng)分類好的閃存，再利用替換塊的方法進(jìn)行動(dòng)態(tài) 補(bǔ)償，可以減少閃存出錯(cuò)的機(jī)率，更好的使用閃存。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中閃存的分類方法流程圖； 圖2為本發(fā)明方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明提供一種閃存檢測分類方法，包括步驟按照閃存類別抽出部 分閃存樣品；用讀、寫操作模式掃描閃存樣品；根據(jù)掃描結(jié)果，找出閃存 特性；將特性相同的閃存分別設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上；將測試 架連接到電腦主機(jī)上；通過安裝在電腦中的量產(chǎn)工具，才艮據(jù)閃存特性來掃 描閃存的好壞塊情況；才艮據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級(jí)。
在該檢測分類方法中，其主要是在靜態(tài)分類前，先采用特殊的掃描方 法，即讀寫操作模式掃描閃存樣品，每種閃存都有它的特性，本領(lǐng)域的技 術(shù)人員都知道，如果能先利用前期的掃描總結(jié)出閃存特性，再利用靜態(tài)的 分類方法針對特性來分，比只利用靜態(tài)方法分類，更為準(zhǔn)確。
另外，對于已經(jīng)分類好的閃存，再利用替換塊的方法進(jìn)行動(dòng)態(tài)補(bǔ)償， 可以減少閃存出錯(cuò)的機(jī)率，更好的使用閃存。
為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結(jié)合附圖和實(shí) 施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
圖2出示了本發(fā)明的流程圖，如圖所示，包括
步驟201:按照閃存類別抽出部分閃存樣品；
閃存的類型主要有Norflash、 AG-AND flash、 Nand flash。每種閃存 都具有不同的特性。
NOR的特點(diǎn)是芯片內(nèi)執(zhí)行(XIP， eXecute In Place),這樣應(yīng)用程序可以 直接在flash閃存內(nèi)運(yùn)行，不必再把代碼讀到系統(tǒng)RAM中。NOR的傳輸效 率很高，在1~4MB的小容量時(shí)具有很高的成本效益，但是很低的寫入和 擦除速度大大影響了它的性能。
NAND結(jié)構(gòu)能提供極高的單元密度，可以達(dá)到高存儲(chǔ)密度，并且寫入 和擦除的速度也很快。應(yīng)用NAND的困難在于flash的管理和需要特殊的 系統(tǒng)j妻口。
AG-AND Flash,擁有高速寫入的特性，不但組件大小和NAND型接 近，而且擁有高速寫入的速度10MB/s，比起一般NAND型4MB/s快上2.5
倍。
即使為同一種類型的閃存，其不同的批次，可能特性都不相同，所以， 首先要一個(gè)批次中抽出閃存樣品。
步驟202:用讀、寫操作模式掃描閃存樣品；
在閃存未初始化之前，只能通過讀或?qū)懙牟僮髂Ｊ綊呙栝W存，了解其 內(nèi)部的特性。
步驟203: 4艮據(jù)掃描結(jié)果，找出閃存特性；
比如掃描閃存的結(jié)果發(fā)現(xiàn)奇數(shù)塊的壞塊比例較偶數(shù)塊高；或者是發(fā) 現(xiàn)偶數(shù)塊的壞塊比例較奇數(shù)塊高；
步驟204:將特性相同的閃存分別設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上；
一個(gè)測試架可以i殳一個(gè)閃存，在測試時(shí)，可以同時(shí)4吏用一組測試架， 一般是16個(gè)，但為了節(jié)約成本和時(shí)間，最好是將特性相同的閃存一起設(shè)在 測試架上，如一組全是奇數(shù)塊的壞塊比例較偶數(shù)塊高的閃存，或全是偶數(shù) 塊的壞塊比例較奇數(shù)塊高的閃存，這樣，測試時(shí)，可采用相同的測試方法。
步驟205:通過量產(chǎn)工具，才艮據(jù)閃存特性來掃描閃存的好壞塊情況；
比如，若掃描的閃存特性是奇數(shù)塊的壞塊比例較偶數(shù)塊高；則在掃描 時(shí)，對偶數(shù)塊掃描一次，對奇數(shù)塊進(jìn)行多次掃描。
若掃描的閃存特性是偶數(shù)塊的壞塊比例較奇數(shù)塊高，則在掃描時(shí)，對 奇數(shù)塊掃描一次，對偶數(shù)塊進(jìn)行多次掃描。
在掃描閃存中，找出的閃存特性為，其閃存按順序?qū)懭胧钦_的，但 隨機(jī)寫入會(huì)出錯(cuò)，對于這種類型的閃存，就要重點(diǎn)多次掃描。
步驟206:根據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級(jí)。
一般來說，會(huì)將幾乎沒有壞塊的閃存定義為I級(jí)；將只有少數(shù)的壞塊 的閃存定義為II級(jí)；依次累推。
雖然按照掃描結(jié)果將閃存分為了不同的等級(jí)，但是，由于閃存的不穩(wěn) 定性，掃描時(shí)的好塊，如果在使用過程中發(fā)現(xiàn)是壞塊的話，將會(huì)影響閃存 的使用。
因此，為了更好地使用閃存芯片，將在分類的基礎(chǔ)上，再對其進(jìn)行動(dòng) 態(tài)補(bǔ)償，以確保數(shù)據(jù)安全。步驟207:首先在閃存中預(yù)留一組好塊，將其定義為替換塊。
步驟208:通過EDC(誤碼檢測單元)及ECC (糾錯(cuò)單元)對閃存進(jìn)行
掃描，然后將信息反饋回來，將兩種信息進(jìn)行對比，即可發(fā)現(xiàn)其中是否有
壞塊，如果有，則用該組好塊中的一個(gè)替換該壞塊。
步驟209:被替換后的壞塊，其可放置在該組好塊后面。 若不斷發(fā)現(xiàn)有壞塊，當(dāng)所有的好塊替換完后，再將第一次被替換的壞
塊當(dāng)作好塊去替換。
采用這種方法，因?yàn)樵撻W存芯片已被精確分過類，因此其壞塊數(shù)并不
會(huì)很多，只是為了應(yīng)付突然發(fā)現(xiàn)在的壞塊數(shù)，并且，因?yàn)殚W存本來的性能
不穩(wěn)定，有時(shí)其發(fā)現(xiàn)的壞塊并不是真正的壞塊，只是在掃描時(shí)認(rèn)為的壞塊，
所以將壞塊放在替換塊后面，當(dāng)下次有壞塊時(shí)，就可以當(dāng)作好塊使用。
雖然通過實(shí)施例描繪了本發(fā)明，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員知道，本發(fā)明有
許多變形和變化而不脫離本發(fā)明的精神，希望所附的權(quán)利要求包括這些變
形和變化而不脫離本發(fā)明的精神。
權(quán)利要求
1.一種閃存檢測分類方法，其特征在于包括按照閃存類別抽出部分閃存樣品；用讀、寫操作模式掃描閃存樣品；根據(jù)掃描結(jié)果，找出閃存特性；將特性相同的閃存分別設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上；通過量產(chǎn)工具，根據(jù)閃存特性來掃描閃存的好壞塊情況；根據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級(jí)。
2、 如權(quán)利要求1所述的閃存檢測分類方法，其特征在于在掃描 閃存中，找出的閃存特性為，奇數(shù)塊的壞塊比例4交偶數(shù)塊高；則在通過 量產(chǎn)工具對閃存進(jìn)行再次掃描時(shí)，其對偶數(shù)塊掃描一次，對奇數(shù)塊進(jìn)行 多次掃描。
3、 如權(quán)利要求1所述的閃存檢測分類方法，其特征在于在掃描 閃存中，其找出的閃存特性為，偶數(shù)塊的壞塊比例較奇數(shù)塊高；則在通 過量產(chǎn)工具對閃存進(jìn)行再次掃描時(shí)，對奇數(shù)塊掃描一次，對偶數(shù)塊進(jìn)行 多次掃描。
4、 如權(quán)利要求1所述的閃存檢測分類方法，其特征在于在掃描 閃存中，找出的閃存特性為，其閃存按順序?qū)懭胧钦_的，但隨機(jī)寫入 會(huì)出錯(cuò)。
5、 如權(quán)利要求1~4所述的閃存檢測分類方法，其特征在于其還 包括以下步驟將閃存中預(yù)留 一組好塊作為替換塊；通過檢測，若發(fā)現(xiàn)有壞塊，則將該組好塊中的一塊把壞塊替換。
6、 如權(quán)利要求5所述的閃存檢測分類方法，其特征在于其還包 括以下步驟將壞塊》文在該組好塊后面。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種閃存檢測分類方法，其包括按照閃存類別抽出部分閃存樣品；用讀、寫操作模式掃描閃存樣品；根據(jù)掃描結(jié)果，找出閃存特性；將特性相同的閃存分別設(shè)于控制芯片廠家生產(chǎn)的測試架上；通過量產(chǎn)工具，根據(jù)閃存特性來掃描閃存的好壞塊情況；根據(jù)掃描的結(jié)果，將閃存分為不同的等級(jí)；將閃存中預(yù)留一組好塊作為替換塊；通過檢測，若發(fā)現(xiàn)有壞塊，則將該組好塊中的一塊把壞塊替換；由于該方法在現(xiàn)有的靜態(tài)分類法前采用了特殊的掃描方法，比只利用靜態(tài)方法分類，更為準(zhǔn)確；另外，對于已經(jīng)分類好的閃存，再利用替換塊的方法進(jìn)行動(dòng)態(tài)補(bǔ)償，可以減少閃存出錯(cuò)的幾率，更好的使用閃存。
文檔編號(hào)G11C29/00GK101369463SQ20071007578
公開日2009年2月18日 申請日期2007年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月17日
發(fā)明者勤 范 申請人:芯邦科技(深圳)有限公司