專利名稱：盤驅(qū)動設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及用于把信息寫入光存儲盤/從光存儲盤中讀出信息的光盤驅(qū)動設(shè)備。
背景技術(shù)：
如所公知的，光存儲盤包括存儲空間的連續(xù)螺旋線形式或多個(gè)同心圓形式的至少一條軌跡，其中可以按數(shù)據(jù)模式的形式存儲信息。光盤可以是只讀類型的，其中在制造期間記錄信息，該信息僅能夠由用戶讀取。光存儲盤還可以是可寫類型的，其中可以由用戶存儲信息。為了把信息寫入光存儲盤的存儲空間中，或者為了從盤中讀出信息，光盤驅(qū)動器一方面包括用于接收并旋轉(zhuǎn)光盤的旋轉(zhuǎn)裝置；并且另一方面包括光裝置，用于生成通常為激光束的光束，以及利用所述激光束掃描存儲軌跡。由于能夠在光盤中存儲信息的方式以及可以從光盤讀出光數(shù)據(jù)的方式的光盤技術(shù)通常是公知的，所以在這里不需要更具體描述這個(gè)技術(shù)。
為了旋轉(zhuǎn)光盤，光盤驅(qū)動器通常包括馬達(dá)，該馬達(dá)驅(qū)動嚙合光盤的中心部分的輪轂(hub)。通常，馬達(dá)被實(shí)施為主軸馬達(dá)(spindlemotor)，并且馬達(dá)驅(qū)動的輪轂可以被直接安裝在馬達(dá)的主軸上。
為了光掃描旋轉(zhuǎn)盤，光盤驅(qū)動器包括光束生成器裝置(通常是激光二極管)；用于把光束聚焦在盤上的焦斑中的物鏡；和光檢測器，用于接收從盤反射的反射光和用于生成電檢測器輸出信號。光檢測器包括多個(gè)檢測器段(segment)，每個(gè)段提供單獨(dú)的段輸出信號。
在操作期間，光束應(yīng)保持聚焦在盤上。為此，物鏡被安排成軸向地可位移的(displaceable)，并且光盤驅(qū)動器包括用來控制物鏡的軸向位置的聚焦致動器裝置。此外，焦斑應(yīng)保持與軌跡對準(zhǔn)或者應(yīng)當(dāng)能夠相對于新軌跡進(jìn)行定位。為此，至少物鏡被安裝成徑向可位移的，并且光盤驅(qū)動器包括用于控制物鏡的徑向位置的徑向致動器裝置。
在許多盤驅(qū)動器中，物鏡被可傾斜地安排，并且這種光盤驅(qū)動器包括用于控制物鏡的傾角的傾斜致動器裝置。
為了控制這些致動器，光盤驅(qū)動器包括從光檢測器接收輸出信號的控制器。從這個(gè)信號(以下還稱之為讀信號)中，控制器導(dǎo)出一個(gè)或多個(gè)誤差信號，比如聚焦誤差信號、徑向誤差信號，并且根據(jù)這些誤差信號，控制器生成致動器控制信號，用于控制致動器以減少或者消除位置誤差。
在生成致動器控制信號的處理中，控制器顯示某些控制特征。這樣的控制特征是控制器的特性，其可以被描述為控制器表現(xiàn)為對檢測到位置誤差的反應(yīng)的方式。
位置誤差可能實(shí)際上由不同類型的擾動而引起的。擾動的兩個(gè)最重要的類別是1)盤缺陷2)外部震動和(周期性)振動。
第一分類包括類似于黑點(diǎn)的內(nèi)部盤缺陷、類似于指紋的污染、類似于劃痕的損傷等。第二分類包括由于碰撞盤驅(qū)動器的物體引起的震動，但是震動和振動主要預(yù)期在便攜式盤驅(qū)動器和汽車應(yīng)用中。除了起源不同之外，一方面的盤缺陷與另一方面的震動和振動之間的重要區(qū)別是信號擾動的頻率范圍由于盤缺陷引起的信號擾動通常是高頻率，而震動和振動通常是低頻率。
這個(gè)方面的問題是適當(dāng)處理第一分類的擾動需要不同于適當(dāng)處理第二分類擾動的控制特征。通常，盤驅(qū)動器的控制器具有固定的控制特征，這個(gè)控制特征或者特別適合于適當(dāng)處理第一分類的擾動(在這種情況下，在第二分類擾動情況中誤差控制不是最佳的)或者特別適合于適當(dāng)處理第二分類的擾動(在這種情況下，在第一分類擾動的情況中誤差控制不是最佳的)，或者該控制特征是折中的(在這種情況下，在第一分類擾動的情況中以及在第二分類擾動的情況中誤差控制都不是最佳的)。只要控制器應(yīng)用線性控制技術(shù)，總是存在低頻擾動拒絕與對測量噪聲的高頻敏感度之間的折衷。
在本技術(shù)領(lǐng)域中，已建議根據(jù)所經(jīng)歷的擾動的類型改變控制器的增益。例如，參見美國專利US 4722079。
為了能夠?qū)崿F(xiàn)具有可變增益的控制器，必須確定哪類擾動即將到來。所述US專利4722079披露了其中處理光讀信號以確定擾動類別的系統(tǒng)，但是這個(gè)系統(tǒng)需要3射束光學(xué)系統(tǒng)。
US專利5867461也披露了一種處理光讀信號以確定擾動類別的系統(tǒng)。在這個(gè)已知系統(tǒng)中，確定高頻信號內(nèi)容的包絡(luò)。這個(gè)方法的一個(gè)缺點(diǎn)是它依賴于盤上所寫入的數(shù)據(jù)；它不可應(yīng)用于空白盤。另一個(gè)缺點(diǎn)是這個(gè)方法需要復(fù)雜的電路，尤其需要用于檢測上峰值和下峰值的電路、用于過濾以檢測上包絡(luò)和下包絡(luò)的電路、用于分析這些包絡(luò)的電路以及用于把信號存儲在存儲器中的電路。
一般問題涉及適應(yīng)盤驅(qū)動器中的控制特征，其應(yīng)當(dāng)能夠處理機(jī)械震動以及盤缺陷。改變控制特征以便更好地處理一種類型的擾動，這可能嚴(yán)重地影響處理另一類型擾動的控制器的能力。
此外，本發(fā)明人已經(jīng)發(fā)現(xiàn)單個(gè)檢測信號不總是用于辨別機(jī)械震動與盤缺陷的信息的可靠源。換言之，某種信號可以在機(jī)械震動的情況中以及在盤缺陷的情況中生成，因此事件可能被錯誤地確定為盤缺陷或者機(jī)械震動。
本發(fā)明的一般目的是提供一種用于更可靠地確定事件是對應(yīng)于機(jī)械震動的出現(xiàn)還是對應(yīng)于盤缺陷的出現(xiàn)的方法。
此外，本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種用于確定擾動類別的方法，該方法可以相對容易地進(jìn)行實(shí)施。
此外，本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種用于根據(jù)上述確定的結(jié)果改變控制器的控制特征的方法。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的第一重要方面，用于辨別盤驅(qū)動設(shè)備中不同類型擾動的方法基于接收和處理至少兩種類型的信號，其中每個(gè)類型信號從檢測器信號中導(dǎo)出。第一類型的信號是基于兩個(gè)或多個(gè)單獨(dú)段輸出信號之和的信號；通過生成所有檢測器段的單獨(dú)段輸出信號的總和(有可能地，加權(quán)和)，生成第一類型的優(yōu)選信號。這種類型1的信號是盤的反射率的測量(即，“盤質(zhì)量”)，并且將主要地對于盤缺陷是敏感的。
第二類型的信號是基于兩個(gè)或多個(gè)單獨(dú)段輸出信號之和的信號，其中這些信號中的至少一個(gè)信號乘以-1。這種類型2的信號將僅僅指示位置誤差的出現(xiàn)。
第一類型的信號可以給出指示盤缺陷或震動的某種響應(yīng)；同樣，第二類型的信號可以給出在盤缺陷或震動情況中的某種響應(yīng)。根據(jù)本發(fā)明的第二重要方面，如果第一和第二類型的信號彼此相一致，才確定盤缺陷或震動，因此減少了錯誤判斷的機(jī)會。
注意，通過分別考慮聚焦誤差信號和徑向誤差信號，可以區(qū)別垂直方向(即，平行于盤旋轉(zhuǎn)軸)中的震動和水平方向(即，垂直于盤旋轉(zhuǎn)軸)中的震動。


利用下面結(jié)合附圖的說明將進(jìn)一步解釋本發(fā)明的這些和其它方面、特征和優(yōu)點(diǎn)，其中相同的標(biāo)號指示相同的或類似的部分，以及其中圖1A示意地圖示了光盤驅(qū)動設(shè)備的相關(guān)組成部件；圖1B更詳細(xì)地示意地圖示了光檢測器的實(shí)施例；圖2是示意地圖示致動器控制電路的方框圖；圖3是示意地圖示用于改變致動器控制電路的功能的圖表；圖4是用于說明本發(fā)明的操作的信號的時(shí)序圖。
具體實(shí)施例方式
圖1A示意地顯示了光盤驅(qū)動設(shè)備1，適于把信息存儲在通常是DVD或CD的光盤2上，或適于從光盤2中讀出信息。為了旋轉(zhuǎn)盤2，盤驅(qū)動設(shè)備1包括固定到構(gòu)架(frame)(為了簡化而未示出)上的馬達(dá)4，所述構(gòu)架限定旋轉(zhuǎn)軸5。
盤驅(qū)動設(shè)備1還包括光(學(xué))系統(tǒng)30，用于利用光束掃描盤2的軌跡(未示出)。更特別地，在圖1A所示的示范性安排中，光系統(tǒng)30包括光束生成裝置31，通常是激光器，諸如激光二極管，被安排成生成光束32。在下面，沿光(路)徑39的光束32的不同部分將利用附加到標(biāo)號32上的字符a、b、c等來指示。
光束32通過分光器33、準(zhǔn)直(儀)透鏡37和物鏡34，到達(dá)(光束32b)盤2。物鏡34被設(shè)計(jì)成把光束32b聚焦到盤的記錄層(為了簡明而未示出)上的焦斑F中。光束32b從盤2反射(反射的光束32c)，并通過物鏡34、準(zhǔn)直透鏡37和分光器33，到達(dá)(光束32d)光檢測器35。在所示的情形中，光學(xué)元件38諸如棱鏡插入在分束器33與光檢測器35之間。
盤驅(qū)動設(shè)備1還包括致動器系統(tǒng)50，其包括用于使物鏡34相對于盤2徑向位移的徑向致動器51。由于徑向致動器本身是公知的，而本發(fā)明并不涉及這種徑向致動器的設(shè)計(jì)和功能，因此在這里不需要更詳細(xì)討論徑向致動器的設(shè)計(jì)和功能。
為了實(shí)現(xiàn)和保持正確聚焦，精確地聚焦到盤2的預(yù)期位置上，所述物鏡34被安裝成軸向可位移的，同時(shí)致動器系統(tǒng)50還包括聚焦致動器52，其被安排成使物鏡34相對于盤2軸向位移。由于聚焦致動器本身是公知的，而這種聚焦致動器的設(shè)計(jì)和操作不是本發(fā)明的主題，因此在這里不需要非常詳細(xì)地討論這種聚焦致動器的設(shè)計(jì)和操作。
為了實(shí)現(xiàn)和維持物鏡34的正確傾斜位置，物鏡34可以在樞軸上轉(zhuǎn)動地進(jìn)行安裝；在這種情況下，如所示的，致動器系統(tǒng)50還包括傾斜致動器53，被安排成相對于盤2樞軸轉(zhuǎn)動物鏡34。由于傾斜致動器本身是公知的，而這種傾斜致動器的設(shè)計(jì)和操作不是本發(fā)明的主題，因此這里不需要非常詳細(xì)地討論這種傾斜致動器的設(shè)計(jì)和操作。
還注意，用于相對于設(shè)備構(gòu)架支持物鏡的裝置、用于軸向和徑向位移物鏡的裝置以及用于旋轉(zhuǎn)物鏡的裝置其本身通常是公知的。由于這種支持和位移裝置的設(shè)計(jì)和操作不是本發(fā)明的主題，因此在這里不需要非常詳細(xì)討論其設(shè)計(jì)和操作。
還注意，徑向致動器51、聚焦致動器52和傾斜致動器53可以被實(shí)施為一個(gè)集成致動器。
盤驅(qū)動設(shè)備1還包括控制電路90，其具有第一輸出92連接到馬達(dá)4的控制輸入，具有第二輸出93耦合到徑向致動器51的控制輸入，具有第三輸出94耦合到聚焦致動器52的控制輸入，并具有第四輸出95耦合到傾斜致動器53的控制輸入?？刂齐娐?0被設(shè)計(jì)成在其第一輸出92上生成用于控制馬達(dá)4的控制信號SCM、在其第二輸出93上生成用于控制徑向致動器51的控制信號SCR、在其第三輸出94上生成用于控制聚焦致動器52的控制信號SCF并且在其第四輸出95上生成用于控制傾斜致動器53的控制信號SCT。
控制電路90還具有用于從光檢測器35接收讀信號SR的讀信號輸入91。
圖1B示出了光檢測器35可以包括多個(gè)檢測器段。在圖1B所示的情況中，光檢測器35包括能夠分別提供單獨(dú)檢測器信號A、B、C、D、S1、S2的6個(gè)檢測器段35a、35b、35c、35d、35e、35f，分別指示入射到6個(gè)檢測器段之每個(gè)上的光量。也被表示為中央孔徑檢測器段的4個(gè)檢測器段35a、35b、35c和35d被安排在四象限配置中。將第一和第四段35a和35d與第二和第三段35b和35c分離開的中心線36具有與軌跡方向相對應(yīng)的方向。還被表示為衛(wèi)星檢測器段并且其本身可以被細(xì)分為子段的兩個(gè)檢測器段35e、35f被對稱地安排在中央檢測器象限的旁邊，并在所述中心線36的相對側(cè)上。由于這樣的6段檢測器本身是公知的，因此在這里不需要給出其設(shè)計(jì)和功能的更詳細(xì)說明。
注意，用于光檢測器35的不同設(shè)計(jì)也是有可能的。例如，可以省略衛(wèi)星段，因?yàn)槠浔旧硎且阎摹?br> 圖1B還顯示控制電路90的讀信號輸入91實(shí)際上包括用來接收所有單個(gè)檢測器信號的多個(gè)輸入。因而，在所示的6象限檢測器的情況下，控制電路90的讀信號輸入91實(shí)際上包括6個(gè)輸入91a、91b、91c、91d、91e、91f，用于分別接收所述單個(gè)檢測器信號A、B、C、D、S1、S2。如對于本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員將是清楚的，控制電路90被設(shè)計(jì)為處理所述單個(gè)檢測器信號A、B、C、D、S1、S2，以導(dǎo)出數(shù)據(jù)信號和一個(gè)或多個(gè)誤差信號。徑向誤差信號(以下簡稱為RE)指示軌跡與焦斑F之間的徑向距離。聚焦誤差信號(以下簡稱為FE)指示存儲層與焦斑F之間的軸向距離。注意，根據(jù)光檢測器的設(shè)計(jì)，可以使用誤差信號計(jì)算的不同公式。一般來說，這樣的誤差信號每個(gè)都是檢測器35上中央光(斑)點(diǎn)的某種不對稱性的測量，并因此對于光掃描點(diǎn)相對于盤的位移是敏感的。
通過處理所述單個(gè)檢測器信號可以導(dǎo)出的特殊信號是利用根據(jù)公式(1)的所有單個(gè)檢測器信號A、B、C、D、S1、S2的加權(quán)求和而獲得的鏡像(mirror)信號MIRnMIRn＝A+B+C+D+W(S1+S2)(1)其中W表示加權(quán)因子，通常量級為大約15。這個(gè)信號是盤反射率的測量。
相反，通常的誤差信號諸如REn是通過適當(dāng)?shù)叵嗉訂蝹€(gè)檢測器信號A、B、C、D、S1、S2的一些(或全部)而導(dǎo)出的，這些信號中的至少一個(gè)(但不是所有)被反向(即，被乘以-1)，如本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員將會明白的。例如，可以根據(jù)公式(2)定義徑向誤差信號REnREn=(A+D)-(B+C)-W(S1-S2)A+B+C+D+S1+S2···(2)]]>W是加權(quán)因子。
控制電路90被設(shè)計(jì)成生成其控制信號作為誤差信號的函數(shù)，以減少相應(yīng)誤差，如本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員將會明白的。在此情況下，控制電路90具有依賴于誤差類型的可變控制特征。在由于盤缺陷導(dǎo)致誤差的情況下，根據(jù)第一策略修改(adapt)控制電路90的控制特征，以便適當(dāng)?shù)靥幚肀P缺陷。在由于外部震動導(dǎo)致誤差的情況下，根據(jù)第二策略修改控制電路90的控制特征，以便適當(dāng)?shù)靥幚硗獠空饎?，其中第二策略不同于第一策略?br> 這些被修改的控制特征的精確特性是設(shè)計(jì)的事情。例如，修改控制電路的增益是有可能的。例如修改控制電路的濾波器的截止頻率也是有可能的。修改控制電路的參數(shù)的選擇不是本發(fā)明的主題。此外，具有可變增益的控制電路本身是公知的，所以在這里不需要更詳細(xì)解釋實(shí)際上如何改變電路參數(shù)，以修改控制特征。
因而，一般來說控制電路90的控制特征包含多個(gè)可變控制參數(shù)。這些可變控制參數(shù)中的至少一個(gè)的設(shè)置是作為至少兩個(gè)檢測信號(即至少上述的第一和第二類型的兩個(gè)信號)的函數(shù)而變化的，這個(gè)函數(shù)使得在盤缺陷的情況下可靠地實(shí)施所述第一策略，而在外部震動或振動的情況下可靠地實(shí)施所述第二策略。
下面，將對于具有可變增益的控制電路的示范情形更詳細(xì)地解釋本發(fā)明的這個(gè)方面。
圖2是更詳細(xì)地圖示示范性控制電路90的一部分的方框圖。為了討論，控制電路90的這個(gè)部分可以涉及徑向致動器51的控制。假設(shè)控制電路90包括具有輸入61和輸出69的PID控制器60。徑向誤差信號在輸入61上被接收，并經(jīng)受具有可變增益k1的第一公用放大器71的處理。PID控制器60包括三個(gè)平行分支，即P分支62、I分支63和D分支64，每個(gè)分支接收放大的輸入信號，并且每個(gè)分支分別包括放大器72、73、74，這些放大器分別具有可變增益k2、k3、k4。P分支62包括P處理器65，將P信號SP提供給求和點(diǎn)68。I分支63包括I處理器66，將I信號S1提供給求和點(diǎn)68。D分支64包括D處理器67，將D信號SD提供給求和點(diǎn)68。求和點(diǎn)輸出信號S+經(jīng)歷帶有可變增益k5的第二公用放大器75的處理。
所述增益ki(i表示1-5)中的至少一個(gè)并且最好所有的所述增益根據(jù)至少兩種類型的信號而改變，每種信號從光檢測器信號SR中推導(dǎo)出。因此，每個(gè)增益ki可以被描述為兩個(gè)信號x1和x2的函數(shù)fi(x1，x2)，x1和x2分別表示兩種類型的信號。在優(yōu)選實(shí)施例中，鏡像信號MIRn被用作第一類型的信號x1，并且歸一化徑向誤差信號REn被用作第二類型的信號x2。
鏡像信號MIRn是盤的反射率的測量。通常，這個(gè)信號具有基本上恒定的值，以下表示為M，它基本上與震動或者振動無關(guān)，但是它在盤缺陷的情況下迅速降低。因此，MIRn允許辨別盤缺陷與震動；例如，只有可能在MIRn＜α·M時(shí)確定盤缺陷出現(xiàn)，其中α是預(yù)定的閾值因子，例如α＝0.9。作為選擇，替代鏡像信號MIRn，基于兩個(gè)或多個(gè)單獨(dú)段輸出信號的另一個(gè)信號可以被用作第一類型的信號。適于在本發(fā)明的上下文中用作第一類型信號的這種替代信號的示例是CA＝A+B+C+D。
歸一化徑向誤差信號REn是沿徑向方向的光點(diǎn)位移的測量。作為選擇，替代歸一化徑向誤差信號REn，基于兩個(gè)或多個(gè)單獨(dú)段輸出信號之和的另一信號可以被用作第二類型的信號，其中這些輸出信號的至少一個(gè)信號(但不是全部)被乘以-1。適于在本發(fā)明的上下文中用作第二類型信號的這種替代信號的實(shí)例是S1-S2；A-B；FEn。
舉例來說，圖3示出了用于改變第一增益k1的可能的第一函數(shù)f1。注意，用于改變其它增益k2-k5的函數(shù)可能等于f1，但是改變其它增益k2-k5的函數(shù)是互不相同的，這也是有可能的，盡管這些函數(shù)的一般形狀將至少是相似的。
圖3是包含曲線80的曲線圖，該曲線80把增益k1(垂直軸)顯示為用于MIRn的不同值的徑向誤差REn(水平軸)的函數(shù)。也有可能把k1顯示為用于REn不同值的MIRn(水平軸)的函數(shù)，或者把k1顯示為三維曲線圖，這應(yīng)是清楚的。
在所示的實(shí)施例中，第一增益k1具有標(biāo)稱值k1，0。只要徑向誤差相對小，即低于閾值RT，則第一增益k1就在其標(biāo)稱值k1，0(曲線80的水平軸(stem)83)上保持恒定。如果徑向誤差在所述閾值RT之上，就依據(jù)第二類型的輸入信號MIRn增加(曲線80的第一分支81)或降低(曲線80的第二分支82)第一增益k1。如果MIRn具有指示盤缺陷的值，則第一增益k1降低。反之，如果MIRn具有指示震動或振動的值，則第一增益k1增加。降低或增加的量分別取決于REn的量級。因此，根據(jù)兩個(gè)信號來選擇第一增益k1的值。
原則上，如果只有一個(gè)所述增益的值取決于上述的至少兩個(gè)信號，則已具體實(shí)施了本發(fā)明。然而，優(yōu)選地，根據(jù)至少兩個(gè)信號來改變一個(gè)以上的所述增益，更加優(yōu)選地改變所有的所述增益。每個(gè)增益可以與相應(yīng)閾值相關(guān)聯(lián)，盡管閾值RT最好對于所有的增益都是相同的。此外，可以根據(jù)兩個(gè)(或多個(gè))信號的各自函數(shù)，設(shè)置每個(gè)所述增益，盡管這樣的函數(shù)(曲線80)最好對于所有的增益都是相同的。
圖4是圖示有關(guān)上述增益k1的本發(fā)明效果的曲線圖。圖4的左手部分圖示了(周期性)震動例如40Hz上的情況，而圖4的右手部分圖示了盤缺陷(黑斑點(diǎn))的情況。
如果所有的增益都將在其相應(yīng)標(biāo)稱值上保持恒定，則虛曲線101和102分別顯示徑向誤差信號REn的特性，因此控制電路90將執(zhí)行線性控制。曲線101顯示了(周期)振動情況下REn的正弦形特性。在黑斑情況下，曲線102顯示與進(jìn)入和離開黑斑的光點(diǎn)一致的大峰值。
實(shí)線103顯示了當(dāng)本發(fā)明應(yīng)用于(周期)振動情況中時(shí)徑向誤差信號REn的特性。在時(shí)間t1之前的初始時(shí)間間隔中，徑向誤差信號REn低于閾值RT，因此增益k1位于其標(biāo)稱值k1，0(這對應(yīng)于圖3中曲線80的軸線83)上。在時(shí)間t1，徑向誤差信號REn上升到閾值RT以上，而MIRn具有利用曲線111指示的其標(biāo)稱值M。與圖3中曲線80的分支81相對應(yīng)，增益k1從其標(biāo)稱值k1，0開始增加，在此情況下，達(dá)到最大值k1MAX，如曲線121所示。事實(shí)上，REn仍然上升到閾值RT以上，但是由REn達(dá)到的最大值低于線性控制情形中的值(曲線101)。
當(dāng)REn降低時(shí)，增益k1也降低，并且在時(shí)間t2，當(dāng)REn跌落到閾值RT以下時(shí)，增益k1再次達(dá)到其標(biāo)稱值k1，0。
這個(gè)處理本身每次在REn的絕對值上升到閾值RT以上時(shí)重復(fù)。
實(shí)線104示出了當(dāng)本發(fā)明應(yīng)用于盤缺陷情形中時(shí)徑向誤差信號REn的特性。在時(shí)間t3之前的初始時(shí)間間隔中，徑向誤差信號REn低于閾值RT，所以增益k1在其標(biāo)稱值k1，0(這對應(yīng)于圖3中曲線80的軸線83)上。在時(shí)間t3，徑向誤差信號REn升高到閾值RT以上，而MIRn降低到開關(guān)閾值αM以下，如曲線112所示。與圖3中曲線80的分支82相對應(yīng)，增益k1從其標(biāo)稱值k1，0降低，在此情況下，達(dá)到最小值k1MIN，如曲線122所示。事實(shí)上，REn仍然上升到閾值RT以上，但是REn所達(dá)到的最大值低于線性控制情況中的值(曲線102)。
當(dāng)REn降低時(shí)，增益k1增加，并且在時(shí)間t4，當(dāng)REn降至閾值RT以下時(shí)，增益k1再次達(dá)到其標(biāo)稱值k1，0。光點(diǎn)現(xiàn)在已離開黑斑點(diǎn)，并且鏡像信號MIRn已返回到其標(biāo)稱值M。
本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明并不限于以上討論的示范性實(shí)施例，并且多種變化和修改都有可能落入所附的權(quán)利要求中定義的本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
在上面，已經(jīng)參考其中根據(jù)兩個(gè)光信號設(shè)置一個(gè)或多個(gè)增益的實(shí)施例解釋了本發(fā)明。還有可能修改致動器控制的其他參數(shù)，比如高通或低通濾波器的截止頻率，或者帶通或帶阻濾波器的中心頻率。本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)明白，對于震動和盤缺陷情況具有不同的最佳設(shè)置的任何控制參數(shù)都可以按照上述方式來修改。此外，根據(jù)三個(gè)或多個(gè)信號設(shè)置任何這樣的控制參數(shù)都是有可能的。在上述的示范性實(shí)施例中，例如，有可能把聚焦誤差信號用作指示Z方向中震動的第三信號。
在上面，已經(jīng)參考具有6段光檢測器的實(shí)施例解釋了本發(fā)明。本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員應(yīng)明白，具有不同設(shè)計(jì)的檢測器也是有可能的，在此情況下誤差信號的公式可以是不同的。
在上面，已經(jīng)參考圖示根據(jù)本發(fā)明的裝置的功能塊的方框圖解釋了本發(fā)明。應(yīng)當(dāng)理解，可以利用硬件實(shí)施這些功能塊中的一個(gè)或幾個(gè)，其中這種功能決的功能由各個(gè)硬件組成部分執(zhí)行，但是還有可能利用軟件來實(shí)施這些功能塊中的一個(gè)或幾個(gè)，因此這種功能決的功能利用計(jì)算機(jī)程序的一個(gè)或多個(gè)程序行執(zhí)行或者利用諸如微處理器、微控制器等的可編程裝置來執(zhí)行。
權(quán)利要求
1.一種用于辨別光盤驅(qū)動設(shè)備(1)中不同類型擾動的方法，所述盤驅(qū)動設(shè)備(1)包括掃描裝置(30)，用于掃描光盤(2)的記錄軌跡和用于生成讀信號(SR)；該方法包括以下步驟從所述讀信號(SR)中導(dǎo)出互不相同類型的至少兩個(gè)信號(REn；MIRn)；如果所述信號之一在第一范圍值內(nèi)(REn＞RT)，同時(shí)所述信號的另一個(gè)在第二范圍值內(nèi)(MIRn＞α·M)，則判定擾動對應(yīng)于震動或振動等，而如果所述信號中的所述一個(gè)在所述第一范圍值內(nèi)(REn＞RT)，同時(shí)所述信號中的所述另一個(gè)在第三范圍值內(nèi)(MIRn＜α·M)，則判定擾動對應(yīng)于盤缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述信號中的所述一個(gè)(REn；FEn)是光點(diǎn)位移測量的信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述信號中的所述一個(gè)(REn；FEn)是檢測器(35)上中央光點(diǎn)的某種類型不對稱的測量的信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述信號中的所述一個(gè)(REn)是徑向誤差信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述信號中的所述一個(gè)(FEn)是聚焦誤差信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述信號中的所述另一個(gè)是盤反射率測量的信號(MIRn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述掃描裝置(30)包括光檢測器(35)，所述光檢測器包括多個(gè)檢測器段(35a，35b，35c，35d，35e，35f)，分別用來接收反射的光束(32d)和用于生成單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D，S1，S2)；和其中所述信號中的所述一個(gè)(REn；FEn)是基于兩個(gè)或多個(gè)單個(gè)段輸出信號之求和的信號，其中這些單個(gè)段輸出信號中的至少一個(gè)但不是所有的信號乘以-1。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述掃描裝置(30)包括光檢測器(35)，所述光檢測器包括多個(gè)檢測器段(35a，35b，35c，35d，35e，35f)，分別用來接收反射的光束(32d)和用于生成單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D，S1，S2)；和其中所述信號中的所述另一個(gè)(MIRn)是基于兩個(gè)或多個(gè)單個(gè)段輸出信號之和的信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中所述信號中的所述另一個(gè)是歸一化鏡像信號(MIRn)，它是來自所有檢測器段(35a，35b，35c，35d，35e，35f)的所有單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D，S1，S2)之和。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中所述信號中的所述另一個(gè)是中心孔徑信號(CA)，它是來自以四象限配置安排的四個(gè)中心孔徑檢測器段(35a，35b，35c，35d)的所有單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D)之和。
11.一種用于控制光盤驅(qū)動設(shè)備(1)的方法，該盤驅(qū)動設(shè)備(1)包括掃描裝置(30)，用于掃描光盤(2)的記錄軌跡和用于生成讀信號(SR)；致動器裝置(50)，用于控制所述掃描裝置(30)的至少一個(gè)讀/寫元素(34)相對于盤(2)的定位；控制電路(90)，用于接收所述讀信號(SR)并根據(jù)所述讀信號(SR)的至少一個(gè)信號分量生成至少一個(gè)致動器控制信號(SCR)，該控制電路(90)具有至少一個(gè)可變控制參數(shù)；該方法包括以下步驟使用權(quán)利要求1的方法，辨別不同類型的擾動；和在盤缺陷的情況下，根據(jù)第一策略(81)改變所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)的設(shè)置，在震動或振動的情況下，根據(jù)第二策略(82)改變所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)的設(shè)置。
12.一種用于控制光盤驅(qū)動設(shè)備(1)的方法，該盤驅(qū)動設(shè)備(1)包括掃描裝置(30)，用于掃描光盤(2)的記錄軌跡和用于生成讀信號(SR)；致動器裝置(50)，用于控制所述掃描裝置(30)的至少一個(gè)讀/寫元素(34)相對于盤(2)的定位；控制電路(90)，用于接收所述讀信號(SR)并根據(jù)所述讀信號(SR)的至少一個(gè)信號分量生成至少一個(gè)致動器控制信號(SCR)，該控制電路(90)具有至少一個(gè)可變控制參數(shù)；該方法包括以下步驟從所述讀信號(SR)中導(dǎo)出相互相同類型的至少兩個(gè)信號(REn；MIRn)；和作為所述至少兩個(gè)信號(REn；MIRn)的函數(shù)，改變所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)的設(shè)置。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)是所述控制電路(90)的信號處理組成部分的增益。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述至少兩個(gè)信號中的第一類型信號是盤的反射率測量的信號(MIRn)。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述掃描裝置(30)包括光檢測器(35)，所述光檢測器包括多個(gè)檢測器段(35a，35b，35c，35d，35e，35f)，分別用來接收反射的光束(32d)和用于生成單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D，S1，S2)；和其中所述至少兩個(gè)信號中的第一類型信號是基于兩個(gè)或多個(gè)單個(gè)段輸出信號之和的信號。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中所述第一類型信號是歸一化鏡像信號(MIRn)，它是來自所有檢測器段(35a，35b，35c，35d，35e，35f)的所有單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D，S1，S2)之和。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中所述第一類型信號是中心孔徑信號(CA)，它是來自以四象限配置安排的四個(gè)中心孔徑檢測器段(35a，35b，35c，35d)的所有單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D)之和。
18.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述至少兩個(gè)信號中的第二類型信號是光點(diǎn)位移測量的信號(REn；FEn)。
19.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述至少兩個(gè)信號中的第二類型信號是中央光點(diǎn)在檢測器(35)上某種類型的不對稱的測量的信號(REn；FEn)。
20.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述掃描裝置(30)包括光檢測器(35)，所述光檢測器包括多個(gè)檢測器段(35a，35b，35c，35d，35e，35f)，分別用來接收反射的光束(32d)和用于生成單個(gè)檢測器信號(A，B，C，D，S1，S2)；和其中所述至少兩個(gè)信號中的第二類型信號是基于兩個(gè)或多個(gè)單個(gè)段輸出信號之和的信號，其中這些信號中的至少一個(gè)乘以-1。
21.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中所述至少兩個(gè)信號中的所述第二類型信號是徑向誤差信號(REn)。
22.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中所述至少兩個(gè)信號中的所述第二類型信號是聚焦誤差信號(FEn)。
23.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中只要所述第二類型信號(REn)低于預(yù)定閾值(RT)，所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)(k1)就具有標(biāo)稱值(k1，0)；其中如果所述第二類型信號(REn)高于所述預(yù)定閾值(RT)，同時(shí)所述第一類型信號(MIRn)滿足指示擾動源自機(jī)械震動或振動的第一條件(MIRn＞α·M)，則在第一方向改變所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)(k1)的值(增加；121)；其中如果所述第二類型信號(REn)高于所述預(yù)定閾值(RT)，同時(shí)所述第一類型信號(MIRn)滿足指示擾動源自盤缺陷的第二條件(MIRn＜α·M)，則在不同于所述第一方向的第二方向改變所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)(k1)的值(降低；122)。
24.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中只要所述第二類型信號(REn)低于預(yù)定閾值(RT)，所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)(k1)就具有標(biāo)稱值(k1，0)；其中如果所述第二類型信號(REn)高于所述預(yù)定閾值(RT)，同時(shí)所述第一類型信號(MIRn)滿足指示盤的常規(guī)反射率的第一條件(MIRn＞α·M)，則在第一方向改變所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)(k1)的值(增加；121)；和其中如果所述第二類型信號(REn)高于所述預(yù)定閾值(RT)，同時(shí)所述第一類型信號(MIRn)滿足指示盤的減小反射率的第二條件(MIRn＜α·M)，則在不同于所述第一方向的第二方向改變所述至少一個(gè)可變控制參數(shù)(k1)的值(降低；122)。
25.一種盤驅(qū)動設(shè)備(1)，包括掃描裝置(30)，用于掃描光盤(2)的記錄軌跡和用于生成讀信號(SR)；致動器裝置(50)，用于控制所述掃描裝置(30)的至少一個(gè)讀/寫元素(34)相對于盤(2)的定位；控制電路(90)，用于接收所述讀信號(SR)并根據(jù)所述讀信號(SR)的至少一個(gè)信號分量生成至少一個(gè)致動器控制信號(SCR)，該控制電路(90)具有至少一個(gè)可變控制參數(shù)；該控制電路(90)適合于執(zhí)行權(quán)利要求1的方法。
26.一種盤驅(qū)動設(shè)備(1)，包括掃描裝置(30)，用于掃描光盤(2)的記錄軌跡和用于生成讀信號(SR)；致動器裝置(50)，用于控制所述掃描裝置(30)的至少一個(gè)讀/寫元素(34)相對于盤(2)的定位；控制電路(90)，用于接收所述讀信號(SR)并根據(jù)所述讀信號(SR)的至少一個(gè)信號分量生成至少一個(gè)致動器控制信號(SCR)，該控制電路(90)具有至少一個(gè)可變控制參數(shù)；該控制電路(90)適合于執(zhí)行權(quán)利要求12的方法。
全文摘要
描述了用于控制一種類型的光盤驅(qū)動設(shè)備(1)的方法，該光盤驅(qū)動設(shè)備包括掃描裝置(30)，用于掃描光盤(2)的記錄軌跡和用于生成讀信號(S
文檔編號G11B7/09GK1860533SQ200480028591
公開日2006年11月8日 申請日期2004年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月2日
發(fā)明者M·F·赫特杰斯, F·L·M·克利默斯, F·B·斯帕林, G·A·L·利恩克奈特, H·朗夫 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司