專利名稱：不平衡盤片檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是一種不平衡盤片檢測方法，尤指應(yīng)用于一光學讀取裝置對一待讀取光盤片的處理過程。
背景技術(shù)：
一般市售的光盤片，除了其中記錄數(shù)據(jù)的一面須將數(shù)據(jù)以電鍍等方式記錄在此數(shù)據(jù)面上之外，另外一面通常為加以涂裝或圖記該光盤片的標題或公司名稱的設(shè)計，然而對于不同的光盤片制片廠牌就有不同的涂裝和制成方式，不同的生產(chǎn)方式對光盤片本身就產(chǎn)生不同程度的重量分布的影響，而在同一面光盤片上可能便因此產(chǎn)生分布不均的結(jié)果，甚至有些光盤片的造型設(shè)計本身就是不為對稱的非圓形光盤片，因此光學讀取裝置在對該光盤片進行讀取時就會造成程度不一的徑向方向上的晃動，若晃動到一定程度的話便會影響光學讀取裝置對該光盤片上數(shù)據(jù)判斷的正確性，對于此種緣故使得數(shù)據(jù)無法被光學讀取裝置作正確判讀的光盤片，我們稱為不平衡盤片(unbalance disk)。
請參閱圖1(a)(b)，是為在現(xiàn)有光盤片制造技術(shù)下所產(chǎn)生的一不平衡盤片(unbalance disk)10在一光學讀取裝置內(nèi)部的現(xiàn)有運作情形，由圖1(a)(b)所示可知在該不平衡盤片10上存在一涂裝不平均部分S，在圖1(a)中顯示為該光學讀取裝置中的一旋轉(zhuǎn)軸20和一光學讀取頭21仍在靜止狀態(tài)，而在圖1(b)中則顯示該旋轉(zhuǎn)軸20已開始轉(zhuǎn)動但該光學讀取頭21仍保持靜止，此是因為該光學讀取裝置在進行一開回路控制的檢測狀態(tài)，由于在該不平衡盤片10上重量分布不均勻的關(guān)系，造成該涂裝不平均部分S在一徑向方向r上有一向心力的作用而使得該不平衡盤片10整體產(chǎn)生晃動，另外由圖1(a)(b)可知在該光學讀取頭21保持靜止的情況下，該不平衡盤片10上的一軌道11在該旋轉(zhuǎn)軸20轉(zhuǎn)動開始之后亦有偏離其被讀取的軌道的現(xiàn)象。
所以現(xiàn)有的檢測技術(shù)便是以光學讀取裝置進行一開回路控制的檢測狀態(tài)，使光學讀取頭在靜止狀況下(即光學讀取頭并不伴隨不平衡盤片所產(chǎn)生的晃動而晃動，對光盤片以一高轉(zhuǎn)速檢測其循軌誤差信號(tracking error，簡稱TE)的跨軌數(shù)大于一門坎值時，判斷為不平衡盤片(unbalance disk)。而目前光學讀取裝置的測試方式是設(shè)定一組因涂裝而造成光盤片的徑向方向上輕重不一的測試用光盤片，分別為3g、5g和6g，此數(shù)字愈大即代表將造成讀取時的晃動程度會愈大。
請參閱圖2，是以現(xiàn)有的檢測技術(shù)在高轉(zhuǎn)速下并且光學讀取頭為靜止時，用不同的測試用光盤片3g、5g和6g以不同的置放方式來檢測其TE的跨軌數(shù)，由圖所示可知，縱軸表TE的跨軌數(shù)，數(shù)字愈大代表TE的跨軌數(shù)亦愈多且相對的測試用光盤片晃動的程度也愈大，橫軸的部分則代表對測試用光盤片3g、5g和6g的分類，由圖所示可知測試用光盤片在現(xiàn)有的檢測技術(shù)中的置放方式有三種，分別為平放、朝左側(cè)放(LSB)和朝右側(cè)放(RSB)，而圖中每一種測試用光盤片的置放方式所得到TE的跨軌數(shù)其結(jié)果是以一直線區(qū)段來表現(xiàn)。在此圖中存在一橫線R，是標示出了在該光學讀取裝置以高轉(zhuǎn)速檢測之下，得到TE的跨軌數(shù)約為225的數(shù)值，因此如前所述的現(xiàn)有的檢測技術(shù)中，得到TE的跨軌數(shù)大于一門坎值時，判斷為不平衡盤片，我們便定義該門坎值約為該橫線R所標示出的數(shù)值225，便是判斷為正常片的最大極限，換句話說在該橫線R以上皆判斷為不平衡盤片，而在該橫線R以下皆判斷為正常片。然而以此方式所作的判片機制是將測試用光盤片3g以朝左側(cè)放(LSB)方式作TE的跨軌數(shù)檢測所定下的一預(yù)設(shè)基準，并把此基準以下的其它結(jié)果皆判斷為正常片，所以，如此的設(shè)計可能會造成部分不平衡盤片被當成是正常片而以高轉(zhuǎn)速的方式進行數(shù)據(jù)讀取，造成后續(xù)讀取動作的困擾。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明發(fā)明的主要目的便是為了降低不平衡盤片(unbalance disk)發(fā)生檢測錯誤的機率，以確保光學讀取裝置的保護機制能正確運作，并提高光學讀取裝置的判片成功率，在使用上使3g的光盤片能夠必定被讀取到且能以高轉(zhuǎn)速的方式來讀取。
本發(fā)明是為一種不平衡盤片檢測方法，應(yīng)用于一光學讀取裝置對一待讀取光盤片的處理過程，該不平衡盤片檢測方法包含下列步驟對該待讀取光盤片以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進行一第一檢測過程，該第一檢測過程包含判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片；當該第一檢測過程中未能判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片時，對該待讀取光盤片以一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進行一第二檢測過程，該第二檢測過程包含判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片；以及在該第一檢測過程與該第二檢測過程中，當該待讀取光盤片被判斷為一正常片時，結(jié)束檢測并以一第一讀取模式進行讀取，當該待讀取光盤片被判斷為一不平衡盤片時，結(jié)束檢測并以一第二讀取模式進行讀取。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速是大于該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該第二讀取模式的最高讀取速度是小于該第一讀取模式的最高讀取速度。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該第一檢測過程包含下列步驟執(zhí)行一開回路控制的檢測狀態(tài)；以及以該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測該待讀取光盤片的一循軌誤差信號的跨軌數(shù)，并和一第一門坎值以及一第二門坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該第二門坎值是小于該第一門坎值。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該循軌誤差信號的跨軌數(shù)是指對該待讀取光盤片上的一軌道作檢測時，偏離該軌道而跨越過的一軌道數(shù)量，當該軌道數(shù)量大于該第一門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一不平衡盤片，當該軌道數(shù)量小于該第二門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一正常片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該第二檢測過程包含下列步驟執(zhí)行一開回路控制的檢測狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測該待讀取光盤片的一循軌誤差信號的跨軌數(shù)，并和一第三門坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該第三門坎值是小于該第二門坎值。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該循軌誤差信號的跨軌數(shù)是指對該待讀取光盤片上的一軌道作檢測時，偏離該軌道而跨越過的一軌道數(shù)量，當該軌道數(shù)量大于該第三門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一不平衡盤片，當該軌道數(shù)量小于該第三門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一正常片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤片檢測方法，其中該第二檢測過程包含下列步驟執(zhí)行一開回路控制的檢測狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測該待讀取光盤片的一循軌誤差信號的跨軌數(shù)，并和一門坎值作比較，當該循軌誤差信號的跨軌數(shù)大于該門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一不平衡盤片，當該循軌誤差信號的跨軌數(shù)小于該門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一正常片。


本發(fā)明得通過由下列圖式及詳細說明，以便得一更深入的了解圖1(a)(b)，是為一不平衡盤片在一光學讀取裝置的現(xiàn)有運作情形示意圖；圖2，是以現(xiàn)有的檢測技術(shù)在高轉(zhuǎn)速下用不同的測試用光盤片以不同的置放方式來檢測其TE的跨軌數(shù)；圖3，是為本發(fā)明較佳實施例中，在高轉(zhuǎn)速下用不同的測試用光盤片以不同的置放方式來檢測其TE的跨軌數(shù)；圖4，是為本發(fā)明較佳實施例中，在低轉(zhuǎn)速下用不同的測試用光盤片以不同的置放方式來檢測其TE的跨軌數(shù)；圖5，是為本發(fā)明較佳實施例中，其不平衡盤片檢測方法的流程圖。
本發(fā)明圖式中所包含的各組件列示如下不平衡盤片10 軌道11旋轉(zhuǎn)軸20 光學讀取頭21涂裝不平均部分S徑向方向r橫線R 第一基線L1第二基線L2 第三基線L具體實施方式
請參閱圖3，是為本發(fā)明較佳實施例中，光學讀取裝置以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速(此實施例中約為每分鐘3000轉(zhuǎn))并且采開回路控制的檢測狀態(tài)下即光學讀取頭為靜止時，用不同的測試用光盤片3g、5g和6g以三種不同的置放方式分別為平放、朝左側(cè)放(LSB)和朝右側(cè)放(RSB)，進行一第一檢測過程，即檢測該測試用光盤片的循軌誤差信號(tracking error，簡稱TE)的跨軌數(shù)。由圖所示可知縱軸表TE的跨軌數(shù)，數(shù)字愈大代表TE的跨軌數(shù)亦愈多且相對的測試用光盤片晃動的程度也愈大，橫軸則代表對測試用光盤片3g、5g和6g的分類，而各測試用光盤片所得到TE的跨軌數(shù)其結(jié)果是以一直線區(qū)段來表現(xiàn)。
由圖3所示可知，是為一第一檢測過程的檢測結(jié)果的示意圖，在圖中存在一第一基線L1和一第二基線L2，分別對應(yīng)于縱軸上的TE的跨軌數(shù)而各得到一第一門坎值和一第二門坎值，標示出了在光學讀取裝置以該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測之下設(shè)定該第一門坎值約為225的數(shù)值，而該第二門坎值約為175的數(shù)值，因此，首先我們除了利用先前所述的現(xiàn)有的檢測技術(shù)中，將檢測結(jié)果(即TE的跨軌數(shù))大于該第一門坎值的部分，判斷為不平衡盤片，進而在本發(fā)明較佳實施例中，我們將檢測結(jié)果小于該第二門坎值的部分，判斷為正常片。因此由圖所示可知，測試用光盤片中的5g的朝左側(cè)放(LSB)、5g的朝右側(cè)放(RSB)、6g的朝左側(cè)放(LSB)和6g的朝右側(cè)放(RSB)便因此判斷為不平衡盤片，而平放6g的測試用光盤片在檢測過程中其結(jié)果若部分是落于該第一基線L1以上時，我們也判斷是不平衡盤片，另一方面，圖中的平放3g的測試用光盤片因為是在該第二基線L2以下，故判斷為正常片，而3g的朝右側(cè)放(RSB)的檢測結(jié)果若部分是落于該第二基線L2以下時，亦判斷是正常片。然而在該第一檢測過程中若當檢測結(jié)果是在該第一門坎值與該第二門坎值之間時，即所得到T E的跨軌數(shù)小于等于225并且大于等于175的時，我們便以低于該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速的一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速并且采開回路控制的檢測狀態(tài)下即光學讀取頭為靜止時，進行一第二檢測過程，所以由圖3所示可知，需要再作判斷的有3g的朝左側(cè)放(LSB)、3g的朝右側(cè)放(RSB)、平放5g以及平放6g。
請參閱圖4，是為本發(fā)明較佳實施例中，光學讀取裝置以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速(此實施例中約為每分鐘2000轉(zhuǎn))并且采開回路控制的檢測狀態(tài)下，即光學讀取頭為靜止時，用不同的測試用光盤片，以不同的置放方式，進行一第二檢測過程來檢測該測試用光盤片的TE的跨軌數(shù)。由于一般現(xiàn)有的光學讀取裝置在高轉(zhuǎn)速時側(cè)放會比平放測得的TE的跨軌數(shù)大，而在低轉(zhuǎn)速時側(cè)放會比平放測得的TE的跨軌數(shù)小，因此，我們便可通過此一現(xiàn)象來作為是否為不平衡盤片的進一步判斷方式。
由圖4所示可知，是為該第二檢測過程的檢測結(jié)果的示意圖，在圖中存在一第三基線L3，對應(yīng)于縱軸上的TE的跨軌數(shù)而得到一第三門坎值，標示出了在光學讀取裝置以低轉(zhuǎn)速檢測的下設(shè)定該第三門坎值約為72的數(shù)值，因此我們將該第三門坎值的大小，作為判斷是否為正常片的基準，換句話說在該第三基線L3以上者皆判斷為不平衡盤片，而TE的跨軌數(shù)小于等于該第三門坎值者皆判斷為正常片。此判斷方式的目的是在于，若一般的不平衡盤片其晃動的程度若只有達到如本發(fā)明較佳實施例中的測試用光盤片3g的程度的話，在我們所設(shè)定的基準與判斷的機制上就要能夠使之被判斷成為正常片而作進一步讀取的動作，因而定義出該第三基線L3的位置。由圖所示可知，被圈出的部分便是在該第一檢測過程中，TE的跨軌數(shù)是在該第一門坎值與該第二門坎值的間未能判斷是否為不平衡盤片或正常片的檢測結(jié)果，因此在該第二檢測過程中就可以被決定，由圖所示可知，平放6g和大部分的平放5g以及部分6g的朝左側(cè)放(LSB)的測試用光盤片，便被判斷為不平衡盤片，而若平放5g的檢測結(jié)果在該第三基線L3以下時則判斷為正常片，但6g的朝左側(cè)放(LSB)在該第一檢測過程中就已被確認為不平衡盤片了，所以在該第二檢測過程中就不會再被判斷為正常片，而3g的朝左側(cè)放(LSB)與3g的朝右側(cè)放(RSB)則因此判斷為正常片，是故經(jīng)由該第二檢測過程的判斷方式與檢測結(jié)果，符合了我們對于晃動程度若只有達到測試用光盤片3g的程度時視為正常片的要求。
請參閱圖5，是為本發(fā)明較佳實施例中，其不平衡盤片檢測方法的流程圖，當該第一檢測過程和該第二檢測過程皆檢測完畢之后，結(jié)束開回路控制的檢測狀態(tài)并將被判斷為正常片的部分以一第一讀取模式進行數(shù)據(jù)讀取，而被判斷為不平衡盤片的部分則以一第二讀取模式進行數(shù)據(jù)讀取，該第一讀取模式以及該第二讀取模式可各自于不同的讀取速度間切換，以最佳化伺服系統(tǒng)及讀取盤片的效率，且該第二讀取模式的最高讀取速度是小于該第一讀取模式的最高讀取速度，以便使讀取不平衡片時能以平均較低于讀取正常片時的讀取速度進行讀取操作。如此，使得3g的光盤片能夠必定被讀取到且能以高轉(zhuǎn)速的方式來讀取，同時，部分重量分布不平均情況大于3g的光盤片若無法以高轉(zhuǎn)速來讀取的話，亦可用降低轉(zhuǎn)速的方式來進行讀取，因而提高了光學讀取裝置的判片成功率和降低不平衡盤片發(fā)生檢測錯誤的機率，故成功地達成了發(fā)展本發(fā)明的主要目的，但本發(fā)明得由熟習此技藝的人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利范圍所欲保護。
權(quán)利要求
1.一種不平衡盤片檢測方法，應(yīng)用于一光學讀取裝置對一待讀取光盤片的處理過程，其特征在于，該不平衡盤片檢測方法包含下列步驟對該待讀取光盤片以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進行一第一檢測過程，該第一檢測過程包含判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片；當該第一檢測過程中未能判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片時，對該待讀取光盤片以一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進行一第二檢測過程，該第二檢測過程包含判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片；以及在該第一檢測過程與該第二檢測過程中，當該待讀取光盤片被判斷為一正常片時，結(jié)束檢測并以一第一讀取模式進行讀取，當該待讀取光盤片被判斷為一不平衡盤片時，結(jié)束檢測并以一第二讀取模式進行讀取。
2.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速是大于該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速。
3.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該第二讀取模式的最高讀取速度是小于該第一讀取模式的最高讀取速度。
4.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該第一檢測過程包含下列步驟執(zhí)行一開回路控制的檢測狀態(tài)；以及以該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測該待讀取光盤片的一循軌誤差信號的跨軌數(shù)，并和一第一門坎值以及一第二門坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片。
5.如權(quán)利要求4所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該第二門坎值是小于該第一門坎值。
6.如申權(quán)利要求4所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該循軌誤差信號的跨軌數(shù)是指對該待讀取光盤片上的一軌道作檢測時，偏離該軌道而跨越過的一軌道數(shù)量，當該軌道數(shù)量大于該第一門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一不平衡盤片，當該軌道數(shù)量小于該第二門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一正常片。
7.如權(quán)利要求4所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該第二檢測過程包含下列步驟執(zhí)行一開回路控制的檢測狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測該待讀取光盤片的一循軌誤差信號的跨軌數(shù)，并和一第三門坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片。
8.如權(quán)利要求7所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該第三門坎值是小于該第二門坎值。
9.如權(quán)利要求7所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該循軌誤差信號的跨軌數(shù)是指對該待讀取光盤片上的一軌道作檢測時，偏離該軌道而跨越過的一軌道數(shù)量，當該軌道數(shù)量大于該第三門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一不平衡盤片，當該軌道數(shù)量小于該第三門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一正常片。
10.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤片檢測方法，其特征在于所述該第二檢測過程包含下列步驟執(zhí)行一開回路控制的檢測狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測該待讀取光盤片的一循軌誤差信號的跨軌數(shù)，并和一門坎值作比較，當該循軌誤差信號的跨軌數(shù)大于該門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一不平衡盤片，當該循軌誤差信號的跨軌數(shù)小于該門坎值時便判斷該待讀取光盤片為一正常片。
全文摘要
本發(fā)明是一種不平衡盤片檢測方法，應(yīng)用于一光學讀取裝置對一待讀取光盤片的處理過程，該不平衡盤片檢測方法包含下列步驟對該待讀取光盤片以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進行一第一檢測過程，該第一檢測過程包含判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片；當該第一檢測過程中未能判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片時，對該待讀取光盤片以一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進行一第二檢測過程，該第二檢測過程包含判斷該待讀取光盤片是否為一不平衡盤片；以及在該第一檢測過程與該第二檢測過程中，當該待讀取光盤片被判斷為一正常片時，結(jié)束檢測并以一第一讀取模式進行讀取，當該待讀取光盤片被判斷為一不平衡盤片時，結(jié)束檢測并以一第二讀取模式進行讀取。
文檔編號G11B20/18GK1728244SQ20041005898
公開日2006年2月1日 申請日期2004年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月28日
發(fā)明者謝仁貴, 潘怡全 申請人:建興電子科技股份有限公司