專利名稱：信息記錄裝置、信息記錄方法、信息記錄介質(zhì)、信息復(fù)制裝置和信息復(fù)制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明相關(guān)于信息記錄裝置、信息記錄方法、信息記錄介質(zhì)、信息復(fù)制裝置和信息復(fù)制方法，可通過例如壓縮光盤等等用于光盤系統(tǒng)。根據(jù)本發(fā)明，當(dāng)出現(xiàn)光盤缺陷，但至少主數(shù)據(jù)仍可以正確復(fù)制時(shí)，通過分配一比特子數(shù)據(jù)給具有預(yù)定長度或更長的一個(gè)凹槽行(a pit row)以使子數(shù)據(jù)可以正確復(fù)制，當(dāng)通過部分改變凹槽的形狀等記錄與版權(quán)相關(guān)的數(shù)據(jù)等等時(shí)，數(shù)據(jù)可以確定地復(fù)制，而不必重復(fù)記錄子數(shù)據(jù)。
背景技術(shù)：
在傳統(tǒng)的壓縮光盤中記錄了用戶使用的信號(hào)，如在節(jié)目區(qū)域和和讀入?yún)^(qū)域的音頻信號(hào)、目錄(TOC)等等，并且在讀入?yún)^(qū)域的外圍內(nèi)側(cè)形成了一個(gè)記錄國際音像工業(yè)聯(lián)盟(IFPI)碼的區(qū)域。
這里，IFPI碼是可以通過光觀測確認(rèn)制造商、生產(chǎn)地點(diǎn)、盤號(hào)等等的代碼，在采用光盤的情況下，可以通過確認(rèn)該代碼來發(fā)現(xiàn)非法復(fù)制的盜版產(chǎn)品。
與此同時(shí)，當(dāng)非法復(fù)制的光盤可以由光盤播放機(jī)自動(dòng)檢測時(shí)，對(duì)這類非法復(fù)制就似乎可以采取各種措施，從而版權(quán)擁有者的權(quán)利可以得到有效的保護(hù)。
在這種情況下，盡管可以采用IFPI代碼來檢測非法復(fù)制，但前提是該代碼能夠通過光觀察來確認(rèn)，因此，當(dāng)建立起可以由光盤播放機(jī)確認(rèn)IFPI代碼的結(jié)構(gòu)時(shí)，光盤播放機(jī)結(jié)構(gòu)會(huì)非常復(fù)雜。此外，由于IFPI代碼能夠通過光觀察來確認(rèn)，因此該代碼本身可以偽造，在這種情況下，非法復(fù)制還是不能確定。
因此，如日本專利申請(qǐng)288960/1997、日本專利申請(qǐng)34837/1997、日本專利申請(qǐng)332222/1998和日本專利申請(qǐng)371795/1998中所述，當(dāng)通過部分改變凹槽形狀來記錄與版權(quán)相關(guān)的數(shù)據(jù)等等，使音頻信號(hào)的復(fù)制不受任何影響時(shí)，非法復(fù)制可以肯定被檢測出來。
然而，在通過部分改變凹槽形狀來記錄與版權(quán)相關(guān)的數(shù)據(jù)等等時(shí)，由于光盤的缺陷，可能很難檢測到形狀的部分改變，在這種情況下，需要通過重復(fù)記錄相同的數(shù)據(jù)來建立肯定性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明考慮到了上面所述的方面，在通過部分改變凹槽等等的形狀來記錄與版權(quán)相關(guān)的數(shù)據(jù)時(shí)，本發(fā)明提出了一個(gè)不用重復(fù)記錄數(shù)據(jù)就可以肯定復(fù)制數(shù)據(jù)的信息復(fù)制裝置和信息復(fù)制方法、一個(gè)用于這類信息復(fù)制裝置的信息記錄介質(zhì)、以及一個(gè)形成該信息記錄介質(zhì)的信息記錄裝置和信息記錄方法。
為了解決這樣一個(gè)問題，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，將本發(fā)明應(yīng)用于信息記錄裝置或信息記錄方法，對(duì)缺陷大小仍能至少保證主數(shù)據(jù)能夠正確復(fù)制的情況，通過分配一比特子數(shù)據(jù)給具有預(yù)定長度或更長的一個(gè)凹槽行或標(biāo)記行以使子數(shù)據(jù)能夠正確地復(fù)制，來產(chǎn)生一個(gè)第二調(diào)制信號(hào)。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一方面，將本發(fā)明應(yīng)用于信息記錄介質(zhì)，對(duì)缺陷大小仍能至少保證主數(shù)據(jù)能夠正確復(fù)制的情況，分配一比特子數(shù)據(jù)給具有預(yù)定長度或更長的行凹槽或標(biāo)記行，以使子數(shù)據(jù)能夠正確地復(fù)制。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一方面，將本發(fā)明應(yīng)用于信息復(fù)制裝置或信息復(fù)制方法，通過在一個(gè)預(yù)定的時(shí)間期限內(nèi)重復(fù)求取采樣信號(hào)的積分、由一個(gè)凹槽行或標(biāo)記行中的一個(gè)凹槽或標(biāo)記的局部變化記錄的子數(shù)據(jù)被復(fù)制，并且對(duì)缺陷大小仍能至少保證主數(shù)據(jù)能夠正確復(fù)制的情況，相應(yīng)于一比特子數(shù)據(jù)的積分時(shí)間被設(shè)置為該子數(shù)據(jù)可以正確記錄的時(shí)間期限。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面的規(guī)則，通過部分改變凹槽形狀，與版權(quán)有關(guān)的數(shù)據(jù)被記錄，并且在例如出現(xiàn)一個(gè)肉眼無法看見的小的缺陷時(shí)，當(dāng)不需要重復(fù)記錄子數(shù)據(jù)就可以復(fù)制主數(shù)據(jù)時(shí)，子數(shù)據(jù)可以被復(fù)制。
此外，根據(jù)本發(fā)明另一方面的規(guī)則，通過將本發(fā)明應(yīng)用于信息記錄介質(zhì)，對(duì)缺陷大小仍能至少保證主數(shù)據(jù)能夠正確復(fù)制的情況，分配一比特子數(shù)據(jù)給具有預(yù)定長度或更長的行凹槽或標(biāo)記行，以使子數(shù)據(jù)能夠正確地復(fù)制，從而，只要主數(shù)據(jù)可以被正確地復(fù)制，不必重復(fù)記錄子數(shù)據(jù)，就可以正確復(fù)制子數(shù)據(jù)。
此外，根據(jù)本發(fā)明另一方面的規(guī)則，將本發(fā)明應(yīng)用于信息復(fù)制裝置或信息復(fù)制方法，通過在一個(gè)預(yù)定的時(shí)間期限內(nèi)重復(fù)求取采樣信號(hào)的積分，由改變一個(gè)凹槽行或標(biāo)記行中的一個(gè)凹槽或標(biāo)記記錄的子數(shù)據(jù)被復(fù)制，并且對(duì)缺陷大小仍能至少保證主數(shù)據(jù)能夠正確復(fù)制的情況，相應(yīng)于一比特子數(shù)據(jù)的積分時(shí)間被設(shè)置為該子數(shù)據(jù)可以正確記錄的時(shí)間期限。從而，在例如出現(xiàn)一個(gè)肉眼無法看見的小的缺陷時(shí)，當(dāng)不必重復(fù)記錄子數(shù)據(jù)就可以復(fù)制主數(shù)據(jù)時(shí)，子數(shù)據(jù)可以被復(fù)制。
圖1的方框圖顯示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光盤原件曝光裝置的一個(gè)附加調(diào)制電路。
圖2的方框圖顯示了與圖1的附加調(diào)制電路相關(guān)的磁盤原件曝光裝置。
圖3的方框圖顯示了在圖1的附加調(diào)制電路中的一個(gè)7T或更多的檢測電路。
圖4A至4C是由圖2中的光盤原件曝光裝置形成的光盤的透視圖和結(jié)構(gòu)圖。
圖5的方框圖顯示了用于復(fù)制圖4A至4C中的光盤的光盤復(fù)制裝置。
圖6的方框圖顯示了圖5的光盤復(fù)制裝置的第二譯碼電路。
圖7的方框圖顯示了圖6中的第二譯碼電路的M序列產(chǎn)生電路。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的說明。
(1)實(shí)施例的構(gòu)造圖2的方框圖顯示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的光盤原件曝光裝置，根據(jù)光盤原件曝光裝置1，對(duì)光盤原件2曝光，并記錄從信號(hào)源3輸出的音頻數(shù)據(jù)SA。在制作光盤的步驟中，當(dāng)作出光盤原件2后，通過進(jìn)行電鑄處理，形成一個(gè)母盤，并在母盤上形成一個(gè)模子。此外，在制作光盤的步驟中，用以這種方式形成的模子構(gòu)成一個(gè)光盤襯底，在光盤襯底上方形成一層反射膜和一層保護(hù)膜，從而形成光盤。
也就是說，根據(jù)光盤原件曝光裝置1，主軸電機(jī)4驅(qū)動(dòng)光盤原件2旋轉(zhuǎn)，并從頻率發(fā)生器(FG)信號(hào)產(chǎn)生電路的底部部分輸出在每個(gè)預(yù)定的旋轉(zhuǎn)角度信號(hào)電平都升高的頻率發(fā)生器信號(hào)FG。主軸伺服電路5驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)4，以使頻率發(fā)生器信號(hào)FG的頻率成為預(yù)定的頻率，從而以恒定的線性速度驅(qū)動(dòng)光盤原件2。
激光器6由氣體激光器構(gòu)成，發(fā)射激光束L1來曝光光盤原件。
光盤調(diào)制器7是由電聲光元件等等構(gòu)成的聲光偏轉(zhuǎn)裝置(AOD)，用于控制由激光器6發(fā)射的激光束的光量，該激光器數(shù)根據(jù)光調(diào)制信號(hào)SD進(jìn)行開/關(guān)控制的，從而通過光調(diào)制信號(hào)SD調(diào)制激光光束L1，并發(fā)射該激光光束。
反射鏡8通過偏轉(zhuǎn)一個(gè)光通道將光調(diào)制器7發(fā)射的激光光束L2發(fā)射出去。物鏡9將反射鏡8的反射光聚焦到光盤原件2的保護(hù)層表面。反射鏡8和物鏡9通過一個(gè)線狀機(jī)構(gòu)(沒有示出)與光盤旋轉(zhuǎn)同步在光盤原件2的外圍方向連續(xù)移動(dòng)，從而轉(zhuǎn)移激光光束L2對(duì)光盤原件2的外圍方向的曝光位置。
因此，根據(jù)光盤原件曝光裝置1，在驅(qū)動(dòng)光盤原件2在恒定的線性速度下旋轉(zhuǎn)時(shí)，通過移動(dòng)鏡子8和物鏡9，形成一條螺旋狀的軌跡，并根據(jù)音頻數(shù)據(jù)SA在軌跡上形成一條凹槽行。
信號(hào)源3由數(shù)字錄音機(jī)或類似的設(shè)備構(gòu)成，并輸出由凹槽行記錄的音頻數(shù)據(jù)SA。子代碼產(chǎn)生電路12輸出子代碼數(shù)據(jù)SC，其中包括由光盤相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的TOC信息。
ECC電路11將一個(gè)錯(cuò)誤校正代碼加到音頻數(shù)據(jù)SA，隨后對(duì)該音頻數(shù)據(jù)SA進(jìn)行交錯(cuò)處理，從而即使在光盤有缺陷的情況下，也能正確地復(fù)制音頻數(shù)據(jù)SA。8-14調(diào)制(EFM)電路13執(zhí)行8-14調(diào)制操作，將從子代碼產(chǎn)生電路12輸出的子代碼數(shù)據(jù)SC加到音頻數(shù)據(jù)SA和從ECC電路11輸出的誤差校正代碼，并將一個(gè)同步信號(hào)插入到調(diào)制的結(jié)果中，從而產(chǎn)生8-14調(diào)制信號(hào)EFM。從而8-14調(diào)制電路13構(gòu)成第一調(diào)制信號(hào)發(fā)生裝置，用來產(chǎn)生作為符合凹槽行或標(biāo)記行的第一調(diào)制信號(hào)的8-14調(diào)制信號(hào)EFM。
根據(jù)用于制造光盤的傳統(tǒng)光盤原件曝光裝置，光調(diào)制器7直接由以這種方式產(chǎn)生的8-14調(diào)制信號(hào)EFM驅(qū)動(dòng)，根據(jù)8-14調(diào)制信號(hào)EFM的電平，由激光光束L1的開/關(guān)控制對(duì)光盤原件的連續(xù)曝光，從而形成凹槽行。
根據(jù)光盤曝光裝置1，在一個(gè)附加的調(diào)制電路14中，8-14調(diào)制信號(hào)EFM被信號(hào)源15輸出的子數(shù)據(jù)SB進(jìn)一步調(diào)制，產(chǎn)生光調(diào)制信號(hào)SD，從而在光盤上不僅記錄音頻數(shù)據(jù)SA，而且記錄第二數(shù)據(jù)SB。
這里，信號(hào)源15輸出一個(gè)光盤識(shí)別代碼作為子數(shù)據(jù)SB。光盤識(shí)別代碼SB是識(shí)別光盤的歷史等等的數(shù)據(jù)，包括例如ID信息、與制造商和生產(chǎn)日期相關(guān)的信息、控制可復(fù)制/不可復(fù)制的信息等等，它們被設(shè)置成每個(gè)光盤原件所固有的信息。信號(hào)源15輸出2比特?cái)?shù)據(jù)的光盤識(shí)別代碼，包括高位b0和低位b1。此外，信號(hào)源15在一個(gè)長重復(fù)周期以子代碼數(shù)據(jù)SC作為參考輸出光盤識(shí)別代碼SB，也就是說，在子代碼數(shù)據(jù)SC中的一個(gè)時(shí)間代碼的一塊周期構(gòu)成光盤識(shí)別代碼SB的重復(fù)周期。
這里，根據(jù)子代碼數(shù)據(jù)SC，因?yàn)闀r(shí)間代碼的一塊周期按標(biāo)準(zhǔn)被規(guī)定為1/75秒，因此信號(hào)源15以75比特/秒輸出1比特的光盤識(shí)別代碼SB，并對(duì)包括2比特的全部光盤識(shí)別代碼SB而言，以150比特/秒的發(fā)送速度輸出光盤識(shí)別代碼SB。
在光盤情況下，由一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)確定采用1.2至1.4m/秒的線性速度記錄。因此，當(dāng)調(diào)查1.2m/秒最慢線性速度時(shí)，信號(hào)源15輸出光盤識(shí)別代碼SB，這樣，當(dāng)轉(zhuǎn)換為光盤原件2中的磁道長度時(shí)，16mm的磁道長度相應(yīng)于1位的光盤識(shí)別代碼SB。
因此，根據(jù)光盤原件曝光裝置1，當(dāng)在光盤原件2上有一個(gè)16mm的磁道長度時(shí)，光盤識(shí)別代碼SB的相應(yīng)位可通過部分改變?cè)趨^(qū)域中具有預(yù)定長度的一個(gè)凹槽進(jìn)行分配和記錄。
對(duì)光盤而言，由缺陷產(chǎn)生的位誤差可通過將誤差校正碼加到音頻數(shù)據(jù)來進(jìn)行誤差校正處理。此外，當(dāng)缺陷的尺寸較大，位誤差很難校正時(shí)，作為復(fù)制結(jié)果的音頻信號(hào)受到消除或竄改處理。在光盤情況下，當(dāng)出現(xiàn)具有預(yù)定長度或更長的缺陷，并且這種消除或竄改處理的頻率變高時(shí)，任何用戶都會(huì)對(duì)復(fù)制的結(jié)果感到奇怪。也就是說，當(dāng)出現(xiàn)具有預(yù)定長度或更長的缺陷時(shí)，光盤的商業(yè)價(jià)值就會(huì)嚴(yán)重受損。
也就是說，當(dāng)這樣一個(gè)嚴(yán)重?fù)p害商業(yè)價(jià)值的缺陷長度用符號(hào)L1表示，即使采用誤差校正代碼也無法正確復(fù)制音頻信號(hào)的缺陷長度用符號(hào)L2表示時(shí)，構(gòu)成用1比特的光盤識(shí)別代碼SB分配的16mm長度，使得分別去除L1或L2長度的16mm長度就是光盤識(shí)別代碼SB可以以光盤識(shí)別代碼SB的記錄/復(fù)制系統(tǒng)中的一個(gè)預(yù)定誤差率或更小值進(jìn)行正確復(fù)制的一個(gè)長度，對(duì)此將在后面敘述。
因此，根據(jù)光盤曝光裝置1，即使當(dāng)造成缺陷時(shí)，當(dāng)作為主數(shù)據(jù)的音頻數(shù)據(jù)SA可以由誤差校正代碼正確復(fù)制，并且構(gòu)成主數(shù)據(jù)的音頻數(shù)據(jù)SA可以被正確復(fù)制到保證光盤的商業(yè)價(jià)值的程度，以使光盤識(shí)別代碼SB也可以被正確復(fù)制，那么光盤識(shí)別代碼SB被分配在光盤上的一段長距離范圍。但當(dāng)出現(xiàn)較大缺陷，從而導(dǎo)致光盤失去商業(yè)價(jià)值時(shí)，光盤識(shí)別代碼就很難被復(fù)制。
此外，根據(jù)光盤原件曝光裝置1，即使對(duì)作為光盤應(yīng)用產(chǎn)品的CD-ROM，也建立了相互關(guān)系，因此，代之以通過記錄音頻數(shù)據(jù)SA形成光盤，光盤原件曝光裝置1也可用于形成CD-ROM。另外，在CD-ROM的情況下，當(dāng)位誤差即使通過CD-ROM比光盤更強(qiáng)化了的誤差校正功能也很難校正，計(jì)算機(jī)程序之類的數(shù)據(jù)很難正確復(fù)制，商業(yè)價(jià)值也會(huì)受到損害，從而磁盤識(shí)別代碼SB也很難復(fù)制。
另外，在造成的缺陷達(dá)到很難正確復(fù)制光盤識(shí)別代碼SB時(shí)，16mm的長度就是光檢測器足以檢測到該缺陷的一個(gè)長度。從而，光盤識(shí)別代碼SB難以被正確復(fù)制的缺陷可以很容易由光檢測器發(fā)現(xiàn)。
附加調(diào)制電路14通過由光盤識(shí)別代碼SB調(diào)制8-14調(diào)制信號(hào)EFM來輸出光調(diào)制信號(hào)SD，在這種情況下，附加調(diào)制電路14用光盤識(shí)別代碼SB調(diào)制8-14調(diào)制信號(hào)EFM，以使對(duì)由8-14調(diào)制信號(hào)EFM形成的凹槽而言，其形狀在局部產(chǎn)生變化，并且該變化對(duì)音頻數(shù)據(jù)SA的復(fù)制不產(chǎn)生影響。因此，附加調(diào)制電路14構(gòu)成調(diào)制8-14調(diào)制信號(hào)EFM的第二調(diào)制裝置，其中8-14調(diào)制信號(hào)是由作為子數(shù)據(jù)的光盤識(shí)別代碼調(diào)制的第一調(diào)制信號(hào)。
圖1的方框圖顯示了附加調(diào)制電路14的詳細(xì)構(gòu)成。該附加調(diào)制電路14輸出8-14調(diào)制信號(hào)EFM給PLL電路(沒有示出)，并用PLL電路復(fù)制8-14調(diào)制信號(hào)EFM的頻道時(shí)鐘。附加調(diào)制電路14提供帶有時(shí)鐘的相應(yīng)電路方框，作為處理8-14調(diào)制信號(hào)EFM的參考。
同步檢測電路20輸出一個(gè)同步檢測信號(hào)SY，通過檢測由一幀單元(588頻道時(shí)鐘單位)分配給8-14調(diào)制信號(hào)EFM的同步信號(hào)來指示8-14調(diào)制信號(hào)EFM的幀邊界。另外。同步檢測電路20由分配給8-14調(diào)制信號(hào)EFM的時(shí)間代碼檢測時(shí)間代碼塊的邊界，并輸出指示該邊界的塊劃分脈沖信號(hào)。因此，塊劃分脈沖信號(hào)BP指示光盤識(shí)別代碼SB的位邊界，如上所述，并由光盤標(biāo)準(zhǔn)在98幀周期輸出。
M序列產(chǎn)生電路21A產(chǎn)生M序列信號(hào)MA，它是M序列的一個(gè)隨機(jī)數(shù)，該電路以同步檢測信號(hào)SY和塊劃分信號(hào)BP作為參考，并輸出M序列信號(hào)MA。
也就是說，根據(jù)M序列產(chǎn)生電路21A，一個(gè)同步模式計(jì)數(shù)電路22用塊劃分脈沖信號(hào)BP將計(jì)數(shù)值清零，并對(duì)同步檢測信號(hào)SY連續(xù)計(jì)數(shù)。這里，對(duì)光盤而言，用98幀構(gòu)成一塊，同步模式計(jì)數(shù)電路22與塊劃分脈沖信號(hào)BP同步周期性地連續(xù)輸出從0到97的計(jì)數(shù)值。
初始值產(chǎn)生電路23由例如存儲(chǔ)器構(gòu)成，并根據(jù)同步模式計(jì)數(shù)電路22的計(jì)數(shù)值輸出一個(gè)初始值。
M序列計(jì)算電路24有一系列持續(xù)相連的觸發(fā)器和異或電路，它將初始值產(chǎn)生電路23輸出的初始值通過同步檢測信號(hào)SY的定時(shí)賦予觸發(fā)器。M序列計(jì)算電路24與8-14調(diào)制信號(hào)EFM的頻道時(shí)鐘同步連續(xù)發(fā)送觸發(fā)器中的內(nèi)容，從而產(chǎn)生并輸出M序列信號(hào)MA。這里，M序列信號(hào)MA是M序列的一個(gè)隨機(jī)數(shù)，并且是邏輯1和邏輯0在同等的可能性下隨機(jī)出現(xiàn)的一個(gè)信號(hào)。
因此，M序列產(chǎn)生電路21A構(gòu)成二進(jìn)制數(shù)因子行產(chǎn)生裝置，用于在MA序列信號(hào)MA旁輸出二進(jìn)制因子行，并通過運(yùn)行同步模式計(jì)數(shù)電路22和初始值產(chǎn)生電路23在以8-14調(diào)制信號(hào)EFM作為參考的一個(gè)恒定的周期內(nèi)將二進(jìn)制數(shù)因子行初始化。
除了M序列計(jì)算電路24中的計(jì)算處理不同之外，M序列產(chǎn)生電路21B的構(gòu)成與M序列產(chǎn)生電路21A的構(gòu)成相同，M序列發(fā)生電路21B產(chǎn)生與M序列產(chǎn)生電路21A輸出的M序列信號(hào)MA不同的M序列信號(hào)MB，并將其輸出。
異或電路26A和26B根據(jù)光盤識(shí)別代碼SB對(duì)M序列信號(hào)MA和MB和位b0和b1分別進(jìn)行異或處理，并輸出異或信號(hào)。
也就是說，當(dāng)光盤識(shí)別代碼SB對(duì)應(yīng)的位b0是邏輯0時(shí)，異或電路26A輸出M序列信號(hào)MA本身，當(dāng)位b0是邏輯1時(shí)，輸出反轉(zhuǎn)的M序列信號(hào)。因此，異或電路26A用M序列信號(hào)MA干擾光盤識(shí)別代碼SB的較低位b0，并輸出該較低位b0。從而，異或電路26A構(gòu)成第一干擾裝置，用于通過干擾光盤識(shí)別代碼SB產(chǎn)生第一干擾信號(hào)。光盤識(shí)別代碼SB是由M序列產(chǎn)生電路21A產(chǎn)生的二進(jìn)制因子行的子數(shù)據(jù)。
與此類似，當(dāng)光盤識(shí)別代碼SB對(duì)應(yīng)的位b1是邏輯0時(shí)，異或電路26B輸出M序列信號(hào)MB本身，當(dāng)位b1是邏輯1時(shí)，輸出反轉(zhuǎn)的M序列信號(hào)。因此，異或電路26B用M序列信號(hào)MB干擾光盤識(shí)別代碼SB的較高位b1，并輸出該較高位b1。從而，異或電路26B構(gòu)成第二干擾裝置，用于通過干擾光盤識(shí)別代碼SB產(chǎn)生第二干擾信號(hào)。光盤識(shí)別代碼SB是由M序列產(chǎn)生電路21B產(chǎn)生的二進(jìn)制因子行的子數(shù)據(jù)。
隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生電路27通過一個(gè)任意的方法產(chǎn)生隨機(jī)數(shù)信號(hào)(或準(zhǔn)隨機(jī)數(shù)信號(hào))RX，并輸出該隨機(jī)數(shù)信號(hào)。數(shù)據(jù)選擇器28根據(jù)由隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生電路27輸出的隨機(jī)數(shù)信號(hào)RX選擇并輸出異或電路26A和26B的輸出信號(hào)。從而，附加調(diào)制電路14進(jìn)一步干擾和復(fù)合分別被M序列信號(hào)MA和MB干擾了的光盤識(shí)別代碼的兩位b0和b1，并產(chǎn)生一系列干擾信號(hào)。
鎖存器29在8-14調(diào)制信號(hào)上升沿的一個(gè)時(shí)刻鎖存并輸出數(shù)據(jù)選擇器28的輸出信號(hào)。這里，根據(jù)光盤原件曝光裝置1，8-14調(diào)制信號(hào)的上升沿被相應(yīng)于光盤中凹槽的起點(diǎn)時(shí)間設(shè)置，從而，鎖存器29在該起點(diǎn)時(shí)間鎖存并輸出數(shù)據(jù)選擇器28的信號(hào)，并形成凹槽，并在一段時(shí)間周期內(nèi)保持該輸出信號(hào)，直到形成凹槽的一個(gè)相繼的起點(diǎn)時(shí)間為止。
一個(gè)7T或更長的檢測電路30的構(gòu)成如圖3所示，它在7T或更長時(shí)間期限中的一個(gè)時(shí)間周期內(nèi)相應(yīng)于8-14調(diào)制信號(hào)EFM中的頻道時(shí)鐘的一個(gè)周期T檢測信號(hào)電平上升的一個(gè)時(shí)間周期。因此，該7T或更長的檢測電路30檢測由相應(yīng)于光盤2上周期7T或更長的一個(gè)長度形成的凹槽時(shí)間，并輸出檢測結(jié)果作為檢測脈沖SX。
也就是說，7T或更長的檢測電路30輸入8-14調(diào)制信號(hào)EFM到8級(jí)觸發(fā)器31A至31H，這些觸發(fā)器互相連接，并以8-14調(diào)制信號(hào)EFM的頻道時(shí)鐘CK作為參考相繼傳輸8-14調(diào)制信號(hào)EFM。此外，該7T或更長的檢測電路30將這些觸發(fā)器31A至31H的輸出信號(hào)輸入到與電路32。這里，7T或更長的檢測電路30在最后階段相應(yīng)于觸發(fā)器31A反轉(zhuǎn)并輸出信號(hào)，并將該反轉(zhuǎn)的輸出信號(hào)輸入到與電路32。
因此，當(dāng)觸發(fā)器31H在最后階段的輸出信號(hào)是邏輯0，而其它觸發(fā)器31A至31G是邏輯1時(shí)，該7T或更長的檢測電路30使與電路32的輸出信號(hào)上升到邏輯1。從而，在與電路32的輸出信號(hào)以該方式上升到邏輯1時(shí)，這是在8-14調(diào)制信號(hào)EFM的信號(hào)電平上升后的7T或更長的時(shí)間周期內(nèi)該信號(hào)電平繼續(xù)上升的一種情況，因此，檢測到7T或更長的周期中形成凹槽的時(shí)刻。
該7T或更長的檢測電路30以頻道時(shí)鐘CK作為參考，用鎖存器33鎖存與電路32的輸出信號(hào)，并輸出鎖存結(jié)果作為檢測脈沖SX。因此，在8-14調(diào)制信號(hào)EFM的信號(hào)電平上升，并且在7T或更長的周期內(nèi)該信號(hào)電平的上升持續(xù)進(jìn)行的情況下，該檢測脈沖SX被輸出，以使信號(hào)電平在一個(gè)周期的頻道時(shí)鐘CK的T時(shí)間周期上升。
與電路34(圖1)產(chǎn)生并輸出由鎖存器29的輸出信號(hào)產(chǎn)生的與信號(hào)和7T或更長的檢測電路30的脈沖SX。用從與電路34輸出的信號(hào)觸發(fā)單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器(MM)35，并輸出信號(hào)電平根據(jù)預(yù)定的脈沖寬度上升的脈沖信號(hào)RP。
延遲電路36在將8-14調(diào)制信號(hào)EFM延遲一個(gè)預(yù)定的時(shí)間數(shù)后，輸出8-14調(diào)制信號(hào)EFM，減法電路37從延遲電路36的輸出信號(hào)中減去單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器35的輸出信號(hào)RP，并輸出光調(diào)制信號(hào)SD。這里，根據(jù)延遲電路36，8-14調(diào)制信號(hào)EFM被延遲，以使得在減法電路37的處理中，脈沖信號(hào)RP的信號(hào)電平上升的時(shí)間周期成為基本上位于相應(yīng)的8-14調(diào)制信號(hào)的信號(hào)電平上升的時(shí)間周期中央的一個(gè)時(shí)間周期。
此外，根據(jù)本實(shí)施例，延遲電路36的延遲時(shí)間被設(shè)置為使得輸出信號(hào)RP的信號(hào)電平上升的時(shí)間成為從7T或更長的時(shí)間周期的起點(diǎn)開始經(jīng)過3T的時(shí)間周期后的一個(gè)時(shí)間點(diǎn)。因此，根據(jù)附加調(diào)制電路14，輸出信號(hào)RP被制止用凹槽行中的8-14調(diào)制信號(hào)EFM對(duì)音頻數(shù)據(jù)SA的復(fù)制產(chǎn)生影響，該8-14調(diào)制信號(hào)EFM是通過由單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器35的輸出信號(hào)RP校正8-14調(diào)制信號(hào)EFM的信號(hào)電平形成的。
圖4A至4C是由光盤原件2形成的光盤的結(jié)構(gòu)圖的透視圖。如上所述，根據(jù)光調(diào)制信號(hào)SD，在形成具有7T或更長周期的一個(gè)凹槽P1時(shí)，通過在基本上處于凹槽P1中心的時(shí)刻，由脈沖信號(hào)RP使信號(hào)電平下降，在光盤40的情況下，在具有7T或更長周期的凹槽中，形成的凹槽寬度根據(jù)M序列信號(hào)MA和MB和光盤識(shí)別代碼SB在凹槽P1的中央附近被窄化。
因此，在光盤40的情況下，光盤識(shí)別代碼SB通過對(duì)凹槽的局部改變被記錄，從而不對(duì)由凹槽行記錄的數(shù)據(jù)的復(fù)制產(chǎn)生任何影響，并且通過分配一個(gè)超長的長度來記錄1比特的光盤識(shí)別代碼SB，從而，對(duì)缺陷大小不影響音頻數(shù)據(jù)的主數(shù)據(jù)被正確復(fù)制的情況，作為子數(shù)據(jù)的光盤識(shí)別代碼可以正確地被予以復(fù)制。
此外，根據(jù)光盤40，2比特的光盤識(shí)別代碼SB被隨機(jī)數(shù)信號(hào)RX干擾，并且相應(yīng)的比特行由M序列信號(hào)MA和MB進(jìn)一步干擾，因此，具有7T或更長的周期的凹槽P1的局部改變被不規(guī)則地形成，從而，根據(jù)顯微鏡之類裝置的觀察，光盤識(shí)別代碼SB的記錄可以很容易被發(fā)現(xiàn)。此外，根據(jù)示波器之類的裝置對(duì)復(fù)制信號(hào)的觀察，這種局部變化被看作是噪聲，因此，通過對(duì)該復(fù)制信號(hào)的波形研究，可以很容易地發(fā)現(xiàn)光盤識(shí)別代碼SB的記錄。
圖5的方框圖顯示了用于復(fù)制以這種方式形成的光盤40的光盤復(fù)制裝置。根據(jù)光盤復(fù)制裝置41，主軸電機(jī)42通過以光盤40提供的時(shí)鐘作為參考控制主軸伺服電路(沒有顯示)，驅(qū)動(dòng)光盤40以恒定的線速度旋轉(zhuǎn)。
光拾取裝置H用激光光束輻射光盤40，用預(yù)定的光接收元件接收返回的光束，對(duì)光接收元件的接收結(jié)果進(jìn)行電流/電壓轉(zhuǎn)換處理，并輸出光接收結(jié)果。矩陣電路(MA)43對(duì)光拾取裝置H輸出的光接收信號(hào)進(jìn)行矩陣計(jì)算處理，從而輸出信號(hào)電平根據(jù)在光盤40上形成的凹槽行改變的復(fù)制信號(hào)HF、信號(hào)電平根據(jù)跟蹤誤差量改變的跟蹤誤差信號(hào)TK、和信號(hào)電平根據(jù)聚光誤差量改變的聚光誤差信號(hào)FS。因此，光拾取裝置H和矩陣電路43構(gòu)成了復(fù)制信號(hào)產(chǎn)生裝置，用于接收返回的光束，并產(chǎn)生信號(hào)電平根據(jù)凹槽行或標(biāo)記行改變的復(fù)制信號(hào)HF。
伺服電路44根據(jù)跟蹤誤差信號(hào)TK和聚光誤差信號(hào)FS用跟蹤控制和聚光控制來控制光拾取裝置H。此外，通過對(duì)控制器(沒有顯示)的控制，來移動(dòng)光拾取裝置H在光盤40的徑向移動(dòng)，從而使光拾取裝置H觀測。
二進(jìn)制運(yùn)算電路45用預(yù)定的閾值對(duì)復(fù)制的信號(hào)進(jìn)行二進(jìn)制處理，并輸出作為二進(jìn)制處理結(jié)果的信號(hào)BD。PLL電路46以二進(jìn)制處理信號(hào)BD作為參考運(yùn)行，復(fù)制并輸出頻道時(shí)鐘CK。
譯碼電路47通過以頻道時(shí)鐘CK作為參考持續(xù)處理二進(jìn)制處理信號(hào)BD，來復(fù)制并輸出由凹槽行記錄的音頻數(shù)據(jù)和誤差校正代碼。ECC電路48對(duì)譯碼裝置47輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，由此復(fù)制并輸出凹槽行記錄的音頻數(shù)據(jù)SA。因此，二進(jìn)制處理電路45、PLL電路46和譯碼電路47構(gòu)成了主要的譯碼裝置，用于通過識(shí)別被復(fù)制的信號(hào)來譯碼作為主數(shù)據(jù)的音頻數(shù)據(jù)SA。
模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換電路(AD)49用頻道時(shí)鐘CK作為參考對(duì)復(fù)制的信號(hào)HF進(jìn)行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換，從而輸出包括8位的數(shù)字化復(fù)制信號(hào)DX。因而，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換電路49構(gòu)成采樣裝置，用于對(duì)復(fù)制信號(hào)HF進(jìn)行采樣，并輸出作為采樣信號(hào)的數(shù)字化復(fù)制信號(hào)DX。
第二譯碼電路50通過將數(shù)字化復(fù)制信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理，來復(fù)制并輸出光盤識(shí)別代碼SB。根據(jù)光盤復(fù)制裝置41，復(fù)制的光盤代碼SB用于保護(hù)版權(quán)擁有者。從而，第二譯碼裝置50構(gòu)成復(fù)制子數(shù)據(jù)的子譯碼裝置，該子數(shù)據(jù)是通過在預(yù)定的時(shí)間周期內(nèi)對(duì)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換裝置49產(chǎn)生的采樣信號(hào)進(jìn)行重復(fù)積分，由凹槽行或標(biāo)記行非凹槽或標(biāo)記的局部改變來記錄的。
圖6的方框圖顯示了第二譯碼電路50。根據(jù)該第二譯碼電路50，子代碼檢測電路51用頻道時(shí)鐘鎖存并處理二進(jìn)制信號(hào)BD，從而由二進(jìn)制信號(hào)BD檢測子代碼數(shù)據(jù)。此外，子代碼檢測電路51從檢測的子代碼數(shù)據(jù)中檢測時(shí)間代碼的塊邊界，并輸出指示該邊界的塊分割脈沖信號(hào)。從而，塊分割脈沖信號(hào)BP指示包括在復(fù)制的信號(hào)HF中的光盤識(shí)別代碼SB的位邊界。
同步檢測電路52通過用頻道時(shí)鐘信號(hào)CK相繼鎖存二進(jìn)制信號(hào)BD，從二進(jìn)制信號(hào)BD中檢測一個(gè)同步信號(hào)，并確定其邏輯電平。此外，同步檢測電路52輸出一個(gè)同步檢測信號(hào)SY，從檢測的結(jié)果中指示二進(jìn)制信號(hào)BD的幀邊界。
M序列產(chǎn)生電路(M序列)53A和53B分別產(chǎn)生并輸出M序列信號(hào)MA和MB，它們與記錄操作中干擾光盤識(shí)別代碼SB中所用的相同。也就是說，如圖7所示，根據(jù)M序列產(chǎn)生電路A，同步插值電路54以同步檢測信號(hào)SY作為參考對(duì)頻道時(shí)鐘CK計(jì)數(shù)，從而產(chǎn)生并輸出一個(gè)同步檢測信號(hào)SY2，從而即使在同步檢測信號(hào)SY沒有被一個(gè)缺陷以同步檢測信號(hào)為參考通過計(jì)數(shù)時(shí)鐘頻率CK檢測到時(shí)，也能正確地指示二進(jìn)制信號(hào)SY中的幀邊界。
因此，對(duì)光盤來說，通過將作為同步檢測信號(hào)SY的插入周期的1幀設(shè)置給588個(gè)頻道時(shí)鐘，同步插入電路54利用該關(guān)系產(chǎn)生同步檢測信號(hào)SY2，從而輸出該同步檢測信號(hào)SY2，用于在同步檢測信號(hào)SY被錯(cuò)誤檢測的情況下，即使在同步檢測信號(hào)SY沒有被缺陷檢測出來時(shí)，也能正確指示幀邊界。
同步模式計(jì)數(shù)電路55用塊分割脈沖信號(hào)BP將計(jì)數(shù)值清零，并對(duì)同步檢測信號(hào)SY相繼計(jì)數(shù)。這里，對(duì)光盤來說，1塊包括98幀，因此，同步模式計(jì)數(shù)電路55在塊分割脈沖信號(hào)BP的周期內(nèi)從0到97重復(fù)輸出計(jì)數(shù)值，與記錄操作中的同步模式計(jì)數(shù)電路22(圖1)類似。
初始值產(chǎn)生電路56由例如存儲(chǔ)器IC構(gòu)成，它保持與記錄側(cè)的初始值產(chǎn)生電路23相同的內(nèi)容，并根據(jù)同步模式計(jì)數(shù)電路55的計(jì)數(shù)值輸出一個(gè)初始值。
M序列計(jì)算電路63與記錄側(cè)的M序列計(jì)算電路24相同，由互相連接的觸發(fā)器和異或電路構(gòu)成，在同步檢測電路SY的時(shí)間將初始值產(chǎn)生電路56輸出的初始值設(shè)置給這些觸發(fā)器。M序列計(jì)算電路63與頻道時(shí)鐘CK同步連續(xù)傳輸觸發(fā)器從的內(nèi)容，從而產(chǎn)生并輸出與記錄操作中產(chǎn)生的值相同的M序列信號(hào)。
因此，當(dāng)通過這種方式用幀周期執(zhí)行初始化產(chǎn)生M序列信號(hào)MA時(shí)，即使在PLL電路46被光盤40上大約1mm的缺陷錯(cuò)誤操作時(shí)，M序列信號(hào)MA也可以在正確的時(shí)刻初始化，結(jié)果，在頻道時(shí)鐘CK中產(chǎn)生位滑移，從而，以M序列信號(hào)MA作為參考，光盤識(shí)別代碼SB被譯碼并可以提供正確的譯碼結(jié)果。
此外，M序列產(chǎn)生電路53B相應(yīng)于記錄操作中的M序列產(chǎn)生電路21B，除了M序列計(jì)算電路63中的計(jì)算操作不同之外，M序列產(chǎn)生電路53B的構(gòu)成與M序列產(chǎn)生電路53A相同，因此，在此將不再對(duì)其作詳細(xì)的說明。
7T或更長的檢測電路57對(duì)應(yīng)于記錄操作中的7T或更長的檢測電路30，它輸出一個(gè)鎖存信號(hào)，其信號(hào)電平只在7T或更長周期的一個(gè)凹槽中的1頻道時(shí)鐘周期T的時(shí)間周期上升，所述周期是以頻道時(shí)鐘作為參考，通過確定二進(jìn)制信號(hào)BD的連續(xù)信號(hào)電平，由光盤識(shí)別代碼SB分配的。因此，7T或更長的檢測電路57與參考圖3解釋的7T或更長的檢測電路30相同，除了二進(jìn)制信號(hào)BD被持續(xù)傳輸以代替8-14調(diào)制信號(hào)EFM之外。
鎖存器58以鎖存信號(hào)作為參考鎖存經(jīng)由延遲電路59輸入的數(shù)字復(fù)制信號(hào)DX，延遲電路59將數(shù)字復(fù)制信號(hào)DX延遲預(yù)定的時(shí)間周期，從而鎖存器58的鎖存時(shí)間成為在具有7T或更長周期的一個(gè)凹槽中局部改變凹槽寬度的時(shí)間。
乘法電路60A根據(jù)M序列產(chǎn)生電路53A產(chǎn)生的M序列信號(hào)MA的邏輯電平轉(zhuǎn)換從鎖存器58輸出的鎖存結(jié)果的極性，并將其輸出。這里，在記錄操作中的凹槽寬度的局部改變是通過由隨機(jī)數(shù)信號(hào)RX進(jìn)一步干擾位b0和b1來形成的，其中位b0和b1此前已經(jīng)分別被M序列信號(hào)MA和MB干擾，因此，根據(jù)乘法電路60A的一個(gè)輸出信號(hào)，由M序列信號(hào)MA干擾位b0產(chǎn)生的一個(gè)信號(hào)和由M序列信號(hào)MB干擾位b1產(chǎn)生的一個(gè)信號(hào)被混合在一起。
其中，根據(jù)位b0和M序列信號(hào)MA被正確反映的第一乘積值，在1位的光盤識(shí)別代碼SB被作為一個(gè)單位分配的一個(gè)時(shí)間周期內(nèi)，位b0被M序列信號(hào)MA相乘，并被累加，從而，該第一乘積值相應(yīng)于位b0的邏輯電平收斂為一個(gè)恒定值。根據(jù)本實(shí)施例，根據(jù)M序列信號(hào)MA的邏輯電平，通過轉(zhuǎn)換鎖存器58輸出的鎖存結(jié)果的極性，將M序列信號(hào)MA相乘。并以值0作為參考對(duì)累加的結(jié)果進(jìn)行二進(jìn)制值識(shí)別，從而正確譯碼位b0。
與此相反，根據(jù)由M序列信號(hào)MA干擾位b1產(chǎn)生的信號(hào)，由于M序列信號(hào)MA和MB是隨機(jī)數(shù)，其中的邏輯0和邏輯1產(chǎn)生的可能性相同，在一個(gè)恒定的時(shí)間周期內(nèi)，用M序列信號(hào)MA乘以位b1，并將乘積累加，該信號(hào)逐漸收斂為0值。也就是說，根據(jù)本實(shí)施例，通過根據(jù)M序列信號(hào)MA的邏輯電平轉(zhuǎn)換從鎖存器58輸出的鎖存結(jié)果的極性，通過在一個(gè)恒定的周期累加，位b1的信息收斂為0值。
根據(jù)乘法電路60A的輸出信號(hào)，其中第一和第二乘積值根據(jù)隨機(jī)數(shù)信號(hào)RX重復(fù)，當(dāng)在1位的光盤識(shí)別代碼SB被分配的時(shí)間周期內(nèi)累加之后，通過對(duì)位b0以值0為參考進(jìn)行二進(jìn)制值識(shí)別，低位b0可以被正確地譯碼。
因此，累加電路61A輸出代表位b0的邏輯電平的的累加結(jié)果，這可以通過對(duì)乘法電路60A的乘積在塊分割信號(hào)BP的周期內(nèi)累加來實(shí)現(xiàn)，確定電路62A根據(jù)以塊分割信號(hào)BP作為參考的0電平對(duì)累加電路61A的累加結(jié)果進(jìn)行二進(jìn)制值識(shí)別，從而譯碼并輸出光盤識(shí)別代碼SB的較低位b0。
與M序列信號(hào)MA處的處理類似，乘法電路60B根據(jù)由M序列產(chǎn)生電路53B產(chǎn)生的M序列信號(hào)MB的邏輯電平，轉(zhuǎn)換由鎖存器58輸出的鎖存結(jié)果的極性，并輸出鎖存結(jié)果。這里，根據(jù)以此方式提供的乘法電路的輸出結(jié)果，計(jì)算M序列信號(hào)MB和鎖存結(jié)果的乘積。
因此，累加電路61B將乘積電路60B的乘積結(jié)果在塊分割信號(hào)BP的周期內(nèi)進(jìn)行累加，從而輸出代表位b1的邏輯電平的累加結(jié)果，確定電路62B以塊分割信號(hào)BP作為參考對(duì)0電平累加電路61B的累加結(jié)果進(jìn)行操作，從而記錄并輸出光盤識(shí)別代碼SB的較高位b1。
(2)實(shí)施例的操作在上面描述的構(gòu)成中，在根據(jù)本實(shí)施例構(gòu)造光盤40時(shí)，在光盤原件曝光裝置1中(圖2)，根據(jù)從信號(hào)源3(這是一個(gè)數(shù)字錄音機(jī))輸出的音頻數(shù)據(jù)SA，光盤原件被相繼曝光，形成母盤，此后，由母盤形成光盤40。
在對(duì)光盤原件2曝光時(shí)，音頻數(shù)據(jù)SA被轉(zhuǎn)換為8-14調(diào)制信號(hào)EFM，這是通過在ECC電路11中執(zhí)行加上誤差校正代碼的處理，然后在8-14調(diào)制電路23與子代碼數(shù)據(jù)SC相加實(shí)現(xiàn)的。此外，8-14調(diào)制信號(hào)EFM在附加調(diào)制電路14中被轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，并通過由驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD驅(qū)動(dòng)光調(diào)制器7將其記錄在光盤原件2上。由此，通過根據(jù)用整數(shù)乘以相應(yīng)于頻道時(shí)鐘的一個(gè)周期的一個(gè)基本長度產(chǎn)生的長度重復(fù)凹槽和空格，音頻數(shù)據(jù)SA被記錄在光盤原件2上。
在將8-14調(diào)制信號(hào)EFM轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD時(shí)，8-14調(diào)制信號(hào)EFM通過局部切換信號(hào)電平被轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，從而，在光盤原件2上構(gòu)成的凹槽行中，形成了一個(gè)具有局部窄寬度的凹槽。因此，凹槽寬度被調(diào)制，光盤識(shí)別代碼的子數(shù)據(jù)被記錄在光盤原件2上。
也就是說，根據(jù)光盤原件曝光裝置1，包括較低位b0和較高位b1的2位的光盤識(shí)別代碼SB被輸出，并且8-14調(diào)制信號(hào)EFM被根據(jù)光盤識(shí)別代碼由附加調(diào)制電路144調(diào)制，從而產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD。
在這種情況下，光盤識(shí)別代碼SB被依據(jù)由一個(gè)長位周期分配給子代碼數(shù)據(jù)SC的時(shí)間代碼輸出，在該長位周期中，子代碼數(shù)據(jù)SC中的1塊時(shí)間代碼周期構(gòu)成光盤識(shí)別代碼SB的重復(fù)周期，從而，在光盤40中具有16mm軌跡長度的一個(gè)區(qū)域中分配并記錄1位。
在作為主數(shù)據(jù)的音頻數(shù)據(jù)SA可以被誤差校正代碼正確復(fù)制時(shí)，和在作為主數(shù)據(jù)的音頻數(shù)據(jù)SA可以被正確復(fù)制到保證光盤商業(yè)價(jià)值的程度時(shí)，16mm的長度是光盤識(shí)別代碼SB可以被正確復(fù)制長度，因此，光盤識(shí)別代碼SB可以被正確復(fù)制，而不用重復(fù)記錄。
此外，16mm是當(dāng)缺陷的大小使得正確復(fù)制光盤代碼SB很困難時(shí)，缺陷也足以被光觀察器觀察到的長度，從而，光盤識(shí)別代碼SB難以正確被復(fù)制的缺陷可以很容易被光檢測器發(fā)現(xiàn)。
更詳細(xì)地說，根據(jù)光盤原件曝光裝置1(圖1)，形成了兩種M序列信號(hào)MA和MB，它們是M序列產(chǎn)生電路21A和21B的二進(jìn)制因子行，并且在異或電路26a和26b中，光盤識(shí)別代碼SB的較低位b0和較高位b1被M序列信號(hào)MA和MB分別干擾，隨后被數(shù)據(jù)選擇器28多路傳輸。此外，在附加調(diào)制電路14的7T或更長的檢測電路30中，從8-14調(diào)制信號(hào)EFM中檢測與具有7T或更長周期的的一個(gè)凹槽相應(yīng)的時(shí)間，并根據(jù)檢測該時(shí)間的結(jié)果，使8-14調(diào)制信號(hào)EFM的信號(hào)電平通過減法電路37由數(shù)據(jù)選擇器28多路傳輸，在相應(yīng)于具有7T或更長周期的凹槽的大約中央位置下降。從而，光盤識(shí)別代碼SB在具有16mm長度的軌跡中被分配1位，分散在16mm的范圍內(nèi)，并通過改變具有7T或更長的周期的凹槽的中央部位予以記錄。
對(duì)具有這樣一種長周期的凹槽來說，當(dāng)大致在中央部位的凹槽寬度被改變時(shí)，對(duì)光盤40來說，從凹槽的起點(diǎn)位置和凹槽的終點(diǎn)位置到凹槽寬度被改變部分的距離基本上等于或大于在復(fù)制操作中輻射的激光光束的直徑。因此，對(duì)光盤40來說，當(dāng)凹槽以這種方式被局部改變時(shí)，在復(fù)制信號(hào)橫切二進(jìn)制削波電平時(shí)，凹槽的構(gòu)成可以使任何事情都不發(fā)生改變，從而，光盤識(shí)別代碼SB可以被記錄來進(jìn)行多路傳輸，對(duì)音頻數(shù)據(jù)的復(fù)制不產(chǎn)生任何影響，該音頻數(shù)據(jù)是由凹槽行記錄的主數(shù)據(jù)。
因此，根據(jù)以該方式記錄的光盤識(shí)別代碼SB，通過采用兩種M序列信號(hào)MA和MB干擾并多路傳輸光盤識(shí)別代碼SB，光盤識(shí)別代碼SB在由具有7T或更長周期的凹槽形成的局部改變中由連續(xù)的凹槽不規(guī)則地形成。這樣光盤識(shí)別代碼SB可以做得很難被顯微鏡的觀察和對(duì)復(fù)制信號(hào)的波形研究來發(fā)現(xiàn)或檢測到。
此外，通過由隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生電路27作為參考產(chǎn)生的隨機(jī)數(shù)信號(hào)RX選擇兩組干擾信號(hào)來執(zhí)行多路傳輸處理，在凹槽中形成的局部改變可以由連續(xù)的凹槽很不規(guī)則地設(shè)置。因此，這種子數(shù)據(jù)的記錄可以做得更難以被發(fā)現(xiàn)或檢測。
因此，在復(fù)制邊，根據(jù)檢測光盤識(shí)別代碼的結(jié)果，不規(guī)則的復(fù)制可以被有效地排除，從而版權(quán)擁有者的權(quán)利可以得到保護(hù)。
此外，采用通常的非法復(fù)制方法難以復(fù)制該凹槽形狀的局部位置，因此，非法復(fù)制也可以因此被有效地排除。
更詳細(xì)地說，根據(jù)本實(shí)施例，通過將16mm的軌道長度分配給1位的光盤識(shí)別代碼SB，并通過能夠設(shè)置一個(gè)時(shí)間周期，使8-14調(diào)制信號(hào)EFM的信號(hào)電平通過單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器35下降，光盤識(shí)別代碼SB可以確定地予以復(fù)制，并顯著地減小信號(hào)凹槽的變形，而且光盤識(shí)別代碼可以做得很難發(fā)現(xiàn)和檢測到，也很難復(fù)制。
在通過以該方式干擾M序列信號(hào)MA和MB來記錄光盤識(shí)別代碼SB時(shí)，根據(jù)附加調(diào)制電路14，在同步檢測電路20中，時(shí)間代碼的幀邊界和塊邊界由8-14調(diào)制信號(hào)EFM檢測。此外，以檢測結(jié)果作為參考，用初始值產(chǎn)生電路23的一個(gè)幀單元將初始值設(shè)置給M序列計(jì)算電路24，從而該M序列信號(hào)MA和MB被該幀的一個(gè)周期初始化。
因此，在復(fù)制邊，在產(chǎn)生類似的M序列信號(hào)MA和MB，以復(fù)制通過干擾記錄的光盤識(shí)別代碼SB時(shí)，即使在頻道時(shí)鐘中出現(xiàn)所謂的位滑移錯(cuò)誤時(shí)，由該錯(cuò)誤產(chǎn)生的影響也能在很短的時(shí)間消除。因此，很難發(fā)現(xiàn)和檢測到的光盤識(shí)別代碼可以確定地予以復(fù)制。
也就是說，根據(jù)由光盤原件2形成的光盤40，在光盤復(fù)制裝置41中(圖5)，通過輻射激光光束提供的返回光束是被接收并復(fù)制的信號(hào)HF，其信號(hào)電平根據(jù)凹槽行改變。根據(jù)光盤復(fù)制裝置41，復(fù)制信號(hào)HF被進(jìn)行二進(jìn)制處理，頻道時(shí)鐘CK被復(fù)制，并以頻道時(shí)鐘CK作為參考，通過處理譯碼電路47和ECC電路48，來復(fù)制音頻數(shù)據(jù)SA。
在這種情況下，對(duì)光盤40來說，由于凹槽的局部改變通過具有7T或更長周期的凹槽在凹槽的大致中央部位形成，激光光束的光束點(diǎn)掃描凹槽的邊緣和凹槽寬度在不同的時(shí)間被改變的位置，從而，在被復(fù)制的信號(hào)HF中，由局部減小凹槽寬度產(chǎn)生的影響可以避免。也就是說，對(duì)光盤40而言，在相應(yīng)的邊緣位置的相鄰地帶通過改變凹槽而產(chǎn)生的信號(hào)電平的變化被制止，從而可以通過與對(duì)普通激光唱機(jī)相同的處理來復(fù)制音頻數(shù)據(jù)。
對(duì)光盤復(fù)制裝置41來說，在模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換電路49中，復(fù)制的信號(hào)HF在頻道時(shí)鐘的周期被采樣，由此產(chǎn)生數(shù)字化的復(fù)制信號(hào)DX，并且該信號(hào)被第二譯碼電路50處理，由此復(fù)制光盤識(shí)別代碼SB。根據(jù)光盤復(fù)制裝置41，根據(jù)復(fù)制光盤識(shí)別代碼SB的結(jié)果，例如，對(duì)音頻數(shù)據(jù)SA的處理被切換，從而，版權(quán)所有者的權(quán)利可以得到有效的保護(hù)。
在第二譯碼電路50的處理過程中(圖6)，對(duì)7T或更長的檢測電路57而言，通過以頻道時(shí)鐘CK作為參考檢測連續(xù)進(jìn)行二進(jìn)制處理的信號(hào)BD的信號(hào)電平，與記錄側(cè)的檢測類似，與具有7T或更長周期的凹槽對(duì)應(yīng)的時(shí)間被檢測到。此外，根據(jù)檢測的結(jié)果，數(shù)字復(fù)制信號(hào)DX被鎖存到鎖存器58，由此，數(shù)字復(fù)制信號(hào)DX被相對(duì)于迭加光盤識(shí)別代碼SB的時(shí)間有選擇地予以輸入。
此外，在同步檢測電路52中，幀邊界和塊邊界在M序列產(chǎn)生電路53A和53B中從二進(jìn)制信號(hào)BD中檢測到，與記錄操作中的M序列信號(hào)類似的M序列信號(hào)MA和MB基于檢測幀邊界和塊邊界的結(jié)果產(chǎn)生。此外，通過兩種M序列信號(hào)MA和MB，用有選擇地分別輸入到鎖存器58的數(shù)字復(fù)制信號(hào)DX提供乘積和計(jì)算結(jié)果，并且該乘積和計(jì)算結(jié)果由確定電路62A和62B確定。
根據(jù)光盤復(fù)制裝置41，在分配了1位光盤識(shí)別代碼SB的每個(gè)16mm長度，重復(fù)進(jìn)行處理，從而光盤識(shí)別代碼SB被譯碼。因此，以該方式從16mm范圍提供的凹槽的局部改變的乘積和計(jì)算結(jié)果被予以提供，其值比混合在復(fù)制信號(hào)HF中的隨機(jī)噪聲要大得多。因此，即使當(dāng)相應(yīng)凹槽處的改變量被設(shè)置為非常小的變形量時(shí)，該改變量也可以確定地予以復(fù)制。
此外，在復(fù)制操作中，通過分別使用M序列信號(hào)MA和MB來計(jì)算乘積和計(jì)算結(jié)果，即使當(dāng)相應(yīng)于M序列信號(hào)MA和MB的低位b0和高位b1的干擾信號(hào)被不規(guī)則的安排多路傳輸，并且譯碼多路傳輸構(gòu)成的參考值沒有從譯碼方傳輸?shù)綇?fù)制方，低位b0和高位b1也可以被正確地譯碼。因此，光盤識(shí)別代碼做得很難被發(fā)現(xiàn)，從而可以確定地予以復(fù)制。
以此方式，用于譯碼光盤識(shí)別代碼SB的M序列信號(hào)MA和MB分別與記錄操作中的對(duì)應(yīng)，并被M序列產(chǎn)生電路53A和53B中的幀周期初始化。因此，根據(jù)光盤復(fù)制裝置41，即使當(dāng)復(fù)制信號(hào)HF被光盤40的缺陷中斷，從而產(chǎn)生所謂的位滑移錯(cuò)誤，M序列信號(hào)MA和MB也可以迅速予以校正，從而可以阻止對(duì)光盤識(shí)別代碼SB的錯(cuò)誤檢測。
(3)實(shí)施例的效果根據(jù)上面描述的構(gòu)成，對(duì)缺陷大小至少使作為主數(shù)據(jù)的音頻數(shù)據(jù)SA可以被正確復(fù)制的情況，通過記錄作為子數(shù)據(jù)的光盤識(shí)別代碼SB，使得光盤識(shí)別代碼SB可以通過分配1位的光盤識(shí)別代碼SB給具有預(yù)定長度或更長的凹槽行來正確地予以復(fù)制，在光盤識(shí)別代碼被通過部分改變凹槽的形狀予以記錄時(shí)，光盤識(shí)別代碼可以確定地予以復(fù)制，而不用重復(fù)記錄光盤識(shí)別代碼。此外，通過在較長的范圍內(nèi)分配1位，凹槽形狀的局部改變可以減小，從而，光盤識(shí)別代碼SB可以很難被發(fā)現(xiàn)，復(fù)制可以被制止，因而有效防止了非法復(fù)制問題。
此外，在缺陷導(dǎo)致1位的光盤識(shí)別代碼SB難以被復(fù)制時(shí)，由于分配1位的光盤識(shí)別代碼SB的長度是可以由光觀察檢測到缺陷的長度，對(duì)其中的光盤識(shí)別代碼不能被正確復(fù)制的光盤來說，卻很容易被發(fā)現(xiàn)，并且光盤的質(zhì)量可以得到改進(jìn)。
此外，通過由作為二進(jìn)制因子行的M序列信號(hào)MA和MB來干擾并記錄光盤識(shí)別代碼SB，在凹槽中形成的局部改變可以做得很難被發(fā)現(xiàn)或檢測到，從而可以制止非法復(fù)制。
此外，二進(jìn)制因子行是M序列的二進(jìn)制因子行，因此，這種二進(jìn)制因子行很容易形成。
此外，光盤識(shí)別代碼的相應(yīng)位分別被兩個(gè)序列的M序列信號(hào)MA和MB干擾，然后該相應(yīng)位被通過凹槽形狀的局部改變多路傳輸并記錄，因此，光盤識(shí)別代碼可以做得難以被檢測到。
此外，通過采用隨機(jī)數(shù)有選擇地進(jìn)行多路傳輸處理，光盤識(shí)別代碼SB可以進(jìn)一步做得難以檢測到。
此外，通過由幀周期進(jìn)行M序列信號(hào)MA和MB的初始化，可以制止因位滑移錯(cuò)誤對(duì)光盤識(shí)別代碼的錯(cuò)誤檢測。
因此，通過相應(yīng)于上述規(guī)則構(gòu)造復(fù)制方，可以有效地制止非法復(fù)制，從而版權(quán)擁有者的權(quán)利可以有效地得到保護(hù)。
(4)其它實(shí)施例此外，盡管根據(jù)上面描述的實(shí)施例，描述了在作為子數(shù)據(jù)的1位光盤識(shí)別代碼被分配給16mm長度的情況，本發(fā)明并不局限于此，分配1位的長度可以設(shè)置為符合不同需要的不同長度。此外，在各種調(diào)查之后，人們發(fā)現(xiàn)缺陷的影響可以通過分配1位的光盤識(shí)別代碼給1mm或更長的長度來特別予以避免，盡管這取決于光盤識(shí)別代碼的錯(cuò)誤率的允許程度。
此外，盡管根據(jù)上面描述的實(shí)施例，描述了在光盤識(shí)別代碼被二進(jìn)制因子行干擾之后還進(jìn)一步被隨機(jī)數(shù)干擾并多路傳輸?shù)那闆r，但本發(fā)明并不局限于此，在光盤識(shí)別數(shù)據(jù)被二進(jìn)制因子行干擾之后，光盤識(shí)別代碼也可以簡單地被選擇并多路傳輸，然后，相應(yīng)的干擾信號(hào)可以通過分別分配干擾信號(hào)給具有預(yù)定長度的凹槽來多路傳輸。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了2位的光盤識(shí)別代碼被多路傳輸并被記錄的情況，本發(fā)明并不僅僅局限與此，還可以根據(jù)不同的情況多路傳輸一些不同的位，然后通過省略多路傳輸處理用1位來記錄序列數(shù)據(jù)。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了對(duì)具有7T或更長周期的凹槽而言調(diào)制凹槽寬度并記錄光盤識(shí)別代碼的情況，本發(fā)明并不僅僅局限與此，當(dāng)復(fù)制系統(tǒng)能夠保證足夠容忍復(fù)制信號(hào)的顫動(dòng)時(shí)，可以根據(jù)需要選擇凹槽形狀可以進(jìn)行多種改變的凹槽，與具有6T或更長周期的凹槽情況時(shí)對(duì)凹槽形狀的改變相同，在后一種情況下，僅僅對(duì)具有預(yù)定長度的凹槽才改變凹槽形狀。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了通過使8-14調(diào)制信號(hào)的信號(hào)電平下降將激光光束暫時(shí)控制為“關(guān)”來改變凹槽形狀的情況，本發(fā)明并不僅僅局限于此，凹槽形狀還可以通過改變激光光束的光量來改變。因此，也可以通過改變凹槽形狀來局部增大凹槽的寬度，并且光盤識(shí)別代碼也可以通過局部增大或減小凹槽寬度，用3個(gè)數(shù)值來譯碼。此外，也可以通過逐步建立增大或減小的程度，通過記錄高于3個(gè)數(shù)值的多個(gè)數(shù)字來記錄光盤識(shí)別代碼。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了通過改變凹槽形狀來記錄光盤識(shí)別代碼的情況，本發(fā)明并不僅僅局限于此，各種數(shù)據(jù)都可以適用于通過改變凹槽形狀記錄的數(shù)據(jù)。也就是說，主數(shù)據(jù)可以用凹槽行來加密和記錄，還可以通過改變凹槽的形狀來記錄用于解密的必要數(shù)據(jù)，由此，版權(quán)擁有者的權(quán)利可以更有效地得到保護(hù)。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了與用凹槽行記錄主數(shù)據(jù)平行同步記錄子數(shù)據(jù)的情況，本發(fā)明并不僅僅局限于此，該子數(shù)據(jù)可以僅僅記錄在光盤的特定區(qū)域。此外，在這種情況下，可以考慮將子數(shù)據(jù)記錄在讀入?yún)^(qū)域的情況。另外，在這些情況下，在根本沒有記錄子數(shù)據(jù)的區(qū)域，凹槽寬度也可以改變，因此，記錄了子數(shù)據(jù)的一個(gè)區(qū)域可以做得很難被發(fā)現(xiàn)。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了用確定電路確定乘積和的計(jì)算結(jié)果并復(fù)制光盤識(shí)別代碼的情況，本發(fā)明并不僅僅局限于此，還可以廣泛采用Viterbi譯碼或各種識(shí)別方法。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，采用8-14調(diào)制來記錄數(shù)字音頻數(shù)據(jù)，本發(fā)明并不僅僅局限于此，它廣泛適用其它各種調(diào)制，如1-7調(diào)制、8-16調(diào)制、2-7調(diào)制等等。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了通過凹槽行記錄要求的數(shù)據(jù)的情況，本發(fā)明并不僅僅局限與此，它也廣泛適用于用標(biāo)記行記錄要求的數(shù)據(jù)的情況。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了通過輻射激光光束曝光光盤原件的情況，本發(fā)明并不僅僅局限于此，它也廣泛適用于通過輻射電子束來記錄要求的數(shù)據(jù)的情況。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了將本發(fā)明用于光盤和外設(shè)裝置來記錄音頻數(shù)據(jù)的情況，本發(fā)明并不僅僅局限與此，它還可以廣泛應(yīng)用于各種其它光盤和外設(shè)裝置，如錄影盤等等。
此外，盡管根據(jù)上面的實(shí)施例，描述了本發(fā)明應(yīng)用于光盤系統(tǒng)的情況，但本發(fā)明并不僅僅局限于此，它也可以廣泛應(yīng)用于卡片形狀的信息記錄介質(zhì)，其信息記錄面與光盤及其外設(shè)裝置中的類似。
權(quán)利要求
1.一種信息記錄介質(zhì)，其中在由凹槽行或標(biāo)記行記錄了主數(shù)據(jù)的信息記錄介質(zhì)中，對(duì)大小至少能使主數(shù)據(jù)能夠正確復(fù)制的缺陷，通過局部改變凹槽行或標(biāo)記行的一個(gè)凹槽或一個(gè)標(biāo)記來記錄子數(shù)據(jù)，并且分配子數(shù)據(jù)的1位給具有預(yù)定長度的凹槽行或標(biāo)記行，從而使子數(shù)據(jù)能夠被正確地復(fù)制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于預(yù)定的長度是1mm或更長的一個(gè)長度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于預(yù)定的長度是在造成使子數(shù)據(jù)的1位難以被復(fù)制的缺陷的情況下，該缺陷可以被光觀測裝置觀測到的一個(gè)長度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于局部改變是根據(jù)用二進(jìn)制因子行干擾子數(shù)據(jù)的一個(gè)干擾信號(hào)形成的。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于二進(jìn)制因子行是M序列的一個(gè)二進(jìn)制因子行。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于二進(jìn)制因子行包括至少一個(gè)第一和一個(gè)第二二進(jìn)制因子行，干擾信號(hào)通過分別采用第一和第二二進(jìn)制因子行由子數(shù)據(jù)干擾第一和第二凹槽行產(chǎn)生一個(gè)第一和一個(gè)第二干擾信號(hào)，并通過多路傳輸?shù)谝缓偷诙蓴_信號(hào)來產(chǎn)生的。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于通過根據(jù)一個(gè)預(yù)定的隨機(jī)數(shù)選擇第一和第二干擾信號(hào)，由此來產(chǎn)生干擾信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于二進(jìn)制因子行以凹槽行和標(biāo)記行作為參考在一個(gè)恒定的時(shí)間周期被初始化。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于主數(shù)據(jù)被加密和記錄，而子數(shù)據(jù)是解密該主數(shù)據(jù)所必須的數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明相關(guān)于信息記錄裝置、信息記錄方法、信息記錄介質(zhì)、信息復(fù)制裝置和信息復(fù)制方法，當(dāng)本發(fā)明被用于例如壓縮光盤等等用于光盤系統(tǒng)時(shí)，當(dāng)通過部分改變凹槽的形狀等記錄與版權(quán)相關(guān)的數(shù)據(jù)等等時(shí)，數(shù)據(jù)可以確定地復(fù)制，而不必重復(fù)記錄子數(shù)據(jù)。根據(jù)本發(fā)明，當(dāng)出現(xiàn)光盤缺陷，但至少主數(shù)據(jù)仍可以正確復(fù)制時(shí)，通過分配一比特子數(shù)據(jù)SB給具有預(yù)定長度或更長的一個(gè)凹槽行，以使子數(shù)據(jù)可以正確復(fù)制。
文檔編號(hào)G11B7/005GK1516165SQ03138620
公開日2004年7月28日 申請(qǐng)日期2000年7月14日 優(yōu)先權(quán)日1999年7月14日
發(fā)明者小林誠司, 藤木敏宏, 宏 申請(qǐng)人:索尼株式會(huì)社