專利名稱：光學(xué)掃描裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于在第一模式和第二模式中分別掃描第一類型和第二類型記錄載體的光學(xué)掃描裝置，該裝置包含輻射生成裝置，用于在第一模式中生成至少具有第一波長的輻射光束和在第二模式中生成至少具有第二波長的輻射光束；物鏡系統(tǒng)，用于在第一模式中將具有第一波長的輻射光束在第一類型記錄載體上形成一聚焦點，在第二模式中將具有第二波長的輻射光束在第二類型記錄載體上形成一聚焦點；結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件，該結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件與物鏡系統(tǒng)的元件相分離地設(shè)置在輻射光束中，用于將像差引入第二波長的輻射光束中。
這種光學(xué)掃描裝置可從美國專利第6067283號中獲知。該專利描述的光學(xué)掃描裝置能夠兼容用于再現(xiàn)CD和DVD。比較CD和DVD的結(jié)構(gòu)可以發(fā)現(xiàn)，DVD的外表面和記錄信息的表面之間的距離是0.6mm，該距離是由透明層的厚度形成的。在CD中，同樣的距離和透明層厚度相等，為1.2mm。當(dāng)使用一種光學(xué)掃描裝置，并且在這種光學(xué)掃描裝置中輻射被會聚成在記錄信息層的區(qū)域內(nèi)的聚焦點時，如果使該光學(xué)掃描裝置適用于掃描DVD，那么CD中更大厚度的透明層將引入波前像差。在美國專利第6067283號中，沒有對所產(chǎn)生的像差作進一步討論。該專利除了描述利用分離光學(xué)元件上的全息消除像差外，沒有描述其他消除像差的方法。通過以下段落將會顯而易見的是，在這個專利中所給出的說明不能使本領(lǐng)域技術(shù)人員確定所述問題的準(zhǔn)確解決方案。
關(guān)于所述美國專利中所描述的利用分離板上的衍射結(jié)構(gòu)的情況，即該結(jié)構(gòu)未設(shè)置在物鏡系統(tǒng)自身或該物鏡系統(tǒng)的一個透鏡之上，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來講，有兩種已知的用于涉及像差的相位校正的方法。初始的狀況是該光學(xué)掃描裝置無需進一步校正就可用于掃描DVD，而掃描CD則需要校正。相反的狀況是該光學(xué)掃描裝置無需進一步校正就可用于掃描CD，而掃描DVD則需要校正，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來講，在閱讀了以下段落后，這種狀況將是顯而易見的，并不再進一步討論。
首先，衍射結(jié)構(gòu)可以是這樣一種結(jié)構(gòu)，使得用于CD的相位校正遵循以2π為模的二次冪函數(shù)，這意味著該衍射結(jié)構(gòu)的周期隨著從中心處算起的徑向距離的增加而按照平方關(guān)系變小。因此形成了會聚程度更小、更加發(fā)散的光束，以至于對于物鏡系統(tǒng)自身來講，該光源似乎不再是無限遠的，而似乎位于有限距離處。因此，在物鏡系統(tǒng)中將出現(xiàn)球差。通過正確選擇隨著到這個結(jié)構(gòu)中心的距離而變化的衍射結(jié)構(gòu)周期，可以確定用于物鏡系統(tǒng)的共軛距離，在CD中，使得物鏡系統(tǒng)中由于共軛系統(tǒng)有限性而產(chǎn)生的球差補償了由于更大厚度的透明層所引入的球差。
其次，衍射結(jié)構(gòu)可以是這樣的一種結(jié)構(gòu)使得CD的相位校正遵循以2π為模的第四次冪函數(shù)。這樣，球差由衍射結(jié)構(gòu)自身形成并存在于該衍射結(jié)構(gòu)中，而光束的聚散度沒有改變，并且在該衍射結(jié)構(gòu)中形成并被引入輻射光束中的球差足夠大并且與CD上更大厚度的透明層所引入的球差符號相反，從而補償由CD上更大厚度的透明層所引入的球差。
以上所述的公知的解決方案，即引入聚散度變化或者不改變聚散度而改變輻射光束的像差狀態(tài)，有以下缺點。
如果衍射結(jié)構(gòu)是這樣一種結(jié)構(gòu)，即相位校正遵循以2π為模的二次冪函數(shù)，那么衍射結(jié)構(gòu)徑向方向上的定位不是很重要的。然而，由于衍射結(jié)構(gòu)和物鏡系統(tǒng)之間的輻射光束的聚散度變化，所以阿貝正弦條件不再被滿足。因此，在物鏡系統(tǒng)的軸外產(chǎn)生了大范圍以彗差形式出現(xiàn)的像差。
另一方面，若該衍射結(jié)構(gòu)是這樣一種結(jié)構(gòu)，即相位校正遵循以2π為模的四次冪函數(shù)，則該衍射結(jié)構(gòu)與透鏡組合而符合正弦條件，并且限制了在物鏡系統(tǒng)軸外以彗差形式出現(xiàn)的像差范圍。然而在這種情況下，橫向的公差，即衍射結(jié)構(gòu)和物鏡系統(tǒng)相對于彼此的徑向位移是極為關(guān)鍵的。
除了用于提供相位校正的所述衍射結(jié)構(gòu)以外，用于提供相位校正的非衍射結(jié)構(gòu)也是公知的。歐洲專利申請EP0865037A1中已經(jīng)描述了這樣的例子。該申請涉及具有階梯式、非周期性環(huán)狀區(qū)域的結(jié)構(gòu)。對于這些結(jié)構(gòu)來說同樣有效的是這樣一種相位校正遵循以2π為模的二次冪函數(shù)的結(jié)構(gòu)，會導(dǎo)致物鏡系統(tǒng)軸外的大范圍以彗差形式出現(xiàn)的像差。
同樣有效的是，這樣一種相位校正遵循以2π為模的四次冪函數(shù)的非周期性結(jié)構(gòu)導(dǎo)致了極為嚴格的橫向公差，即該結(jié)構(gòu)和物鏡系統(tǒng)相對于彼此的徑向位移。
本發(fā)明的一個目的是提供一種光學(xué)掃描裝置，該裝置對于該結(jié)構(gòu)和物鏡系統(tǒng)的彼此橫向定位(即徑向定位)的要求不是非常嚴格，并且對于物鏡系統(tǒng)軸外的彗差范圍的要求也不是非常嚴格。
根據(jù)本發(fā)明，這個目的得到了實現(xiàn)，因為用于第二波長的分離的結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件所引入的像差既包含了聚散度變化，又包含了球差。
因此實現(xiàn)了該結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件徑向定位的敏感度出人意料地顯著小于在由該結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的相位校正僅遵循以2π為模的四次冪函數(shù)時的敏感度。另一方面，也意外地發(fā)現(xiàn)了軸外彗差的數(shù)量顯著地小于來自如下衍射結(jié)構(gòu)的彗差數(shù)量，所述衍射結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的相位校正遵循以2π為模的二次冪函數(shù)。從而實現(xiàn)了由于CD和DVD透明層厚度差異(即在由聚散度變化所導(dǎo)致的像差所進行的補償之后)，被物鏡系統(tǒng)中所產(chǎn)生的像差部分地消除了，物鏡系統(tǒng)中所產(chǎn)生的像差是由于該結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件使通過的光束的聚散度發(fā)生變化而引入的，由于該結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件所引入的球差與厚度差異所引入的殘余像差大小一致并且符號相反，因此其余的部分也得到了消除。
根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)掃描裝置的優(yōu)選實施例，其特征在于，用于第二波長的分離的結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件所引入的像差的相位函數(shù)能被寫成多項式形式的歸一化光瞳射線函數(shù)(a function of normalized pupilray)，該函數(shù)至少具有兩個項a2*ρ↑2和a4*ρ↑4。
從國際專利申請WO99/57720中可以獲知一種衍射表面，其通過多項式相位函數(shù)描述出來，該函數(shù)形式為相位＝c2r+c4r/4。此處，c2構(gòu)成衍射強度項，其控制對色差的校正，c4是球面強度項，其控制對球差的校正。在所述國際專利申請中給出的數(shù)值沒有給出單位。因此不可能理解所給出的系數(shù)c2值和c4值的意義。此外，所述國際申請中的衍射結(jié)構(gòu)設(shè)置在物鏡系統(tǒng)的一個元件的入射面上?？梢酝ㄟ^這樣一種方法精確地實現(xiàn)這樣的設(shè)置，使得本發(fā)明提供的解決方案所要解決的問題根本不會發(fā)生，該問題即對未設(shè)置在透鏡上的分離結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件所提出的極為嚴格的橫向定位公差。
因此實現(xiàn)了設(shè)置在該結(jié)構(gòu)化元件上的結(jié)構(gòu)以極為簡單的方法使通過該結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件的光束中產(chǎn)生聚散度變化以及球差。
根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)掃描裝置的另一個優(yōu)選實施例，其特征在于，在a20和a40分別是a4＝0和a2＝0情況下，校正全部球差所需的a2和a4的值，其特征還在于，a2和a4由關(guān)系式0.9＜((a2/a20)+(a4/a40))＜1.1確定。
因此，在球差范圍和像差范圍之間達到了某種平衡，其中該球差是作為光束聚散度變化的結(jié)果，由物鏡系統(tǒng)引入的，該像差是由結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件引入光束中的。
根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)掃描裝置的又一個優(yōu)選實施例，其特征在于，a2和a20在a4＜0的情況下是由關(guān)系式0.20＜(a2/a20)＜0.9確定的，或者，在a4＞0的情況下是由關(guān)系式1.05＜(a2/a20)＜2.00確定的。
因此，在作為結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件引入的聚散度變化的結(jié)果而由物鏡系統(tǒng)引入的像差范圍和由結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件自身引入的像差范圍之間達到了更大程度的平衡。
因此實現(xiàn)了，根據(jù)對于特定光學(xué)掃描裝置的要求，能夠提供遵循特定的二次冪和四次冪函數(shù)的組合的相位校正。這樣的相位校正使得結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件的橫向定位可以具有相當(dāng)大的公差以及導(dǎo)致了小范圍以彗差形式出現(xiàn)的像差。
本發(fā)明的這些以及其他方面將從以下所述的實施例中顯現(xiàn)出來，并且將參照以下的實施例進行闡述。
在附圖中

圖1A和1B表示根據(jù)本發(fā)明的掃描裝置；圖2A是具有結(jié)構(gòu)的板、物鏡系統(tǒng)和DVD上的透明層的橫截面圖；圖2B是具有結(jié)構(gòu)的板、物鏡系統(tǒng)和CD上的透明層的橫截面圖；圖3A表示對于DVD的光路長度差別；圖3B表示對于CD的光路長度差別；圖4A表示對于具有0.05mm的橫向位移的CD，具有衍射結(jié)構(gòu)的板相對于物鏡系統(tǒng)的光路長度差別；圖4B表示對于具有0.5°場的CD情況的光路長度差別；圖5表示具有四個不同實施例的表格，表示了對于每個實施例由位移和場引入的彗差的范圍；圖6表示了和圖5相似的表格，該表格用于兩個不滿足本發(fā)明的要求的結(jié)構(gòu)。
圖1A表示根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)掃描裝置的一個實施例。該裝置具有用于在第一類型記錄載體上讀取和寫入信息的具有短波長的光路和用于讀取第二類型記錄載體的具有長波長的光路。該光路包含輻射光源1，例如半導(dǎo)體激光器，其發(fā)出具有第一波長的線偏振發(fā)散輻射光束2，例如波長為650nm。該光束通過對于輻射光束具有高透射性的偏振分束器5。準(zhǔn)直透鏡6將輻射光束2會聚為準(zhǔn)直光束7。具有根據(jù)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)的板10對光束2是完全透明的。物鏡11將準(zhǔn)直光束7變?yōu)橛糜趻呙栌涗涊d體13的會聚光束12。記錄載體13為具有高密度的第一類型，并且包含例如0.6mm厚的透明層14，以及信息層15，會聚光束12在該信息層15上形成一聚焦點16。被信息層15反射的輻射沿著光束12和7的光路返回。反射光束被準(zhǔn)直透鏡6會聚并被偏振分束器5傳遞。光路中的負透鏡18有助于調(diào)整聚焦點16的位置。反射光束入射到探測器系統(tǒng)19上，該探測器系統(tǒng)提供作為輸出信號的信息信號，其表示儲存在信息層15中的信息。
用于掃描第二類型記錄載體的第二模式的光路示于圖1B中，該光路包含輻射光源20，例如半導(dǎo)體激光器，其發(fā)出具有第二波長的線偏振發(fā)散輻射光束21，例如波長為780nm。輻射光束21被二色分束器8反射。準(zhǔn)直透鏡6將輻射光束21會聚為準(zhǔn)直光束25。具有結(jié)構(gòu)的板10向光束21中增加了聚散度和球差。物鏡11將準(zhǔn)直光束25變?yōu)闀酃馐?6。光束26的數(shù)值孔徑通常小于光束12的數(shù)值孔徑。會聚光束26適用于掃描第二類型的記錄載體27。記錄載體27具有諸如1.2mm厚的透明層28以及信息層29。會聚光束26到達信息層29上的聚焦點30。被信息層29反射的輻射沿著光束26和21的光路返回并被二色分束器8傳遞到負透鏡18和探測器系統(tǒng)19。
物鏡11被設(shè)計為在第一模式中使通過透明層14的具有第一波長的準(zhǔn)直光束7會聚，從而在信息層15上形成聚焦點16。會聚光束12在通過透明層14時所保持的球差在物鏡11中得到補償。該物鏡符合阿貝正弦條件。如果在記錄載體的特定實施例中沒有出現(xiàn)透明層14，則該物鏡11不應(yīng)被用于補償球差。在第二模式中，輻射光束通過透明層28，該透明層28的厚度與透明層14的厚度不同。因此，光束26獲得了不同范圍的球差，因而這個范圍的球差不能被物鏡11補償。
對該衍射結(jié)構(gòu)10進行選擇，使之對光束21沒有任何影響。能夠?qū)崿F(xiàn)這一點的方法已經(jīng)在本申請人的歐洲專利申請EP00203998.0中進行了描述。這個申請同樣說明了該結(jié)構(gòu)10如何成為能夠用作光束7的閃耀光柵的衍射結(jié)構(gòu)。此外，本申請人的歐洲專利申請EP00203066.6描述了具有這樣結(jié)構(gòu)的透鏡所必須服從的標(biāo)準(zhǔn)。由Jorrit E.de Vries和Benno W.Hendriks在發(fā)表的論文“光盤系統(tǒng)中的非周期性相位結(jié)構(gòu)”，光學(xué)數(shù)據(jù)存儲會議論文集，圣達菲，(2001)中進一步描述了使該結(jié)構(gòu)10形成階梯型、非周期性環(huán)狀區(qū)域的方法。如這篇論文中所述的，這樣的非周期性結(jié)構(gòu)不能被表示為所指的衍射結(jié)構(gòu)。然而，為了在說明書和權(quán)利要求書中簡化語言用法，該術(shù)語“衍射結(jié)構(gòu)”既能理解為傳統(tǒng)意義上的衍射結(jié)構(gòu)又能理解為非周期性區(qū)域結(jié)構(gòu)。此處的這種結(jié)構(gòu)也可由術(shù)語衍射結(jié)構(gòu)表示。
衍射結(jié)構(gòu)10在光束7中產(chǎn)生相位校正，該相位校正形成了二次冪函數(shù)和四次冪函數(shù)的線性組合。因而可以在該結(jié)構(gòu)軸外的不良性能和該結(jié)構(gòu)非常關(guān)鍵的橫向定位之間發(fā)現(xiàn)折中方案，該結(jié)構(gòu)軸外的不良性能僅引起了光束7聚散度的變化，該結(jié)構(gòu)的橫向定位引起了光束7中由四次冪函數(shù)所描述的相位校正。
由衍射結(jié)構(gòu)10引起的相位校正通常能夠由函數(shù)Φ(ρ)＝a2*ρ□+a4*ρ4+O(ρ2n；n≥3)描述，其中ρ是歸一化光瞳射線，即孔徑光闌邊緣處的ρ＝1。要注意，當(dāng)選擇了不同類型的光瞳坐標(biāo)時，系數(shù)a2和a4也相應(yīng)地改變。更高次項0(ρ2n；n≥3)表示Φ(ρ)任何情況下都包含二次冪和四次冪項。
從衍射結(jié)構(gòu)10的中心到物鏡11的中心的最大橫向位移由Δ表示。衍射結(jié)構(gòu)10的最大場角由γ表示，a20表示a4＝0時(即在Φ(ρ)中只有二次冪項)校正全部球差所需的a2的值。同樣，a40表示a2＝0時(在Φ(ρ)中只有四次冪項)校正全部球差所需的a4的值。如果a2＝0，圖1B中所示的系統(tǒng)對結(jié)構(gòu)10的橫向位移非常敏感，如果a4＝0，圖1B中所示的系統(tǒng)可以容忍結(jié)構(gòu)10的橫向位置偏移，但是該系統(tǒng)受到相當(dāng)大范圍的像差困擾，該像差是以圖1B所示光學(xué)系統(tǒng)軸外的彗差形式出現(xiàn)的。
為了獲得既能容忍結(jié)構(gòu)10的橫向位移又能容許場(其即圖1中所示的結(jié)構(gòu)10的軸向和光學(xué)裝置的軸向之間存在的夾角)的系統(tǒng)，可以找到對于橫向位移Δ(既對于大位移又對于小位移)的a2和a4的最佳值。具有了a2和a4的這些值之后，就能通過已知的方式制造該結(jié)構(gòu)10。
小位移Δ意味著(f/75)＜Δ＜f*((γ/18°)+1/110))，在下文中也表示為條件1，其中f是物鏡系統(tǒng)11的焦距，并且Δ和f由相同的量級表示，例如毫米，γ的單位為度。對于這樣的小位移Δ，a4的最佳值變?yōu)樨摂?shù)。a4的符號由用于波前像差的符號約定來確定。在相關(guān)描述中，如果當(dāng)透鏡的像平面移動時波前像差(在那種情況下，焦距)為正，則放棄該符號約定。這個條件與物鏡系統(tǒng)11的數(shù)值孔徑和波長無關(guān)。對于以上定義的小位移Δ，如果a2和a4滿足0.20＜((a2/a20)＜0.9(條件2)、a4＜0并且0.9＜((a2/a20)+(a4/a40))＜1.1(條件3)，那么就在軸外像差和橫向位移引入的像差之間找到了良好的折中方案。
如果可能出現(xiàn)更大的橫向位移Δ，那么由位移引入的像差變得過大以至于應(yīng)該以降低場的性能為代價來減少這些像差。因此，能夠在這種情形下發(fā)現(xiàn)對于a4＞0的最佳值。所給出的Δ在以下范圍內(nèi)Δ＞f*((γ/18°)+1/110))(條件4)。在這種情形下，如果1.05＜(a2/a20)＜2.00(條件5)、a4＞0并且0.9＜((a2/a20)+(a4/a40))＜1.1，那么場中的像差和橫向位移產(chǎn)生的像差之間就找到了優(yōu)化的折中方案。
圖2A和2B示出了結(jié)構(gòu)10、物鏡系統(tǒng)11和第一類型記錄載體上的透明層14，以及第二類型記錄載體上的透明層28。圖2A所示的情形涉及諸如DVD，圖2B所示的情形涉及諸如CD。在圖2A中，光束2不受妨礙地通過結(jié)構(gòu)10，而在圖2B中，光束21在通過結(jié)構(gòu)10之后，與光束7相比具有較小、但已經(jīng)足夠大的發(fā)散范圍，從而在物鏡11中生成一定范圍的球差，其很大程度上補償了由于更厚的透明層28所產(chǎn)生的球差。然而，圖2B中光束25的發(fā)散程度沒有大到這樣一個程度，即通過由物鏡系統(tǒng)11產(chǎn)生的發(fā)散所引入的球差來完全地補償由透明層28引入的球差。完全的補償將會在聚焦點30周圍區(qū)域中導(dǎo)致大范圍的彗差。圖2A和2B涉及實施例1，其將通過圖5中的表1進一步詳細說明?，F(xiàn)將分別討論圖5表格中所示的實施例1-4。
對于實施例1，Δ符合條件1，a4＜0并且a2/a20值為0.50，因此滿足條件2。由位移Δ和場γ引入的彗差近似相等。圖3表示利用實施例1中所示的結(jié)構(gòu)10在聚焦點處獲得良好質(zhì)量的光點。圖4A和4B也表示了對于位移Δ＝0.5mm和場γ＝0.5°的情況，像差近似相等。
對于實施例2，Δ大于對于實施例1的Δ，并且系數(shù)a2將大于對于實施例1的a2。條件1已經(jīng)滿足，a2/a20＝0.89使得條件2也滿足。由于Δ更大，由位移和場引入的彗差都大于實施例1中的彗差，所以位移的負面影響和場的負面影響之間具有最佳的折中方案。
對于實施例3，所選擇的物鏡f＝1.8mm。由于具有γ＝0.5°的這個透鏡，Δ的最大值保證依照條件1，a4＜0應(yīng)該不大于0.06mm。在這個實施例中，Δ＝0.05mm，所以條件1得到滿足。位移公差和較大場的最佳組合獲得了a2/a20＝0.70的值，所以條件2也得到滿足。
對于實施例4，最大位移Δ過大以至于獲得了a4的正值。此時條件4得到滿足，而不服從條件1。由于a2/a20＝1.07，條件5得到滿足而不是條件2得到滿足。由位移和場引入的彗差顯著地大于諸如實施例1中的彗差。然而，通過所給的a2和a4的值，在較大位移公差和較大場之間獲得了良好的折中方案。
圖6中的表格表示實例a和b，其中前述條件中至少有一個沒有得到滿足。
對于實例a，場減少到0.3°，但具有更小的位移Δ。這是接近條件1的上限的一種情形。條件2得不到滿足。通過幾乎純二次冪的校正來實現(xiàn)最佳校正，并且a2≈a20。
對于實例b，Δ非常接近條件1所給定的上限。條件2得不到滿足。對于這個實例，兩種情況下的彗差值顯著不同。
通過上面的描述，不同的修改和實施例對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來講將會是顯而易見的。所有這些修改和實例都被認為在本發(fā)明的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種用于在第一模式和第二模式中分別掃描第一類型(13)和第二類型(27)記錄載體的光學(xué)掃描裝置，該裝置包含用于在第一模式中生成至少具有第一波長的輻射光束(2、7、21、25)和在第二模式中生成至少具有第二波長的輻射光束(2、7、21、25)的輻射生成裝置(1、20)；物鏡系統(tǒng)(11)，用于在第一模式中將具有第一波長的輻射光束(2、7)在第一類型記錄載體(13)上形成一聚焦點(16)，在第二模式中將具有第二波長的輻射光束(21、25)在第二類型記錄載體(27)上形成一聚焦點(30)；結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件(10)，該結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件(10)與物鏡系統(tǒng)的元件相分離地設(shè)置在輻射光束(2、7、21、25)中，用于將像差引入具有第二波長的輻射光束(25)中；其特征在于，用于第二波長的分離的結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件(10)所引入的像差既包含聚散度變化又包含球差。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)掃描裝置，其特征在于，用于第二波長的分離的結(jié)構(gòu)化光學(xué)元件(10)所引入的像差的相位函數(shù)能被寫成多項式形式的歸一化光瞳射線函數(shù)，該函數(shù)至少具有兩個項a2*ρ↑2和a4*ρ↑4。
3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)掃描裝置，其特征在于，在a4＝0和a2＝0情況中，a20和a40分別是校正全部球差所需的a2和a4的值，其特征還在于，a2和a4由關(guān)系式0.9＜((a2/a20)+(a4/a40))＜1.1定義。
4.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)掃描裝置，其特征在于，在a4＜0的情況中，a2和a20是由關(guān)系式0.20＜(a2/a20)＜0.9定義的，或者，在a4＞0的情況中，a2和a20是由關(guān)系式1.05＜(a2/a20)＜2.00定義的。
全文摘要
在第一模式和第二模式中分別掃描第一類型(13)和第二類型(27)記錄載體的光學(xué)掃描裝置，包含輻射生成裝置(1、20)，用于在第一模式中生成至少具有第一波長的輻射光束(2、21)和在第二模式中生成至少具有第二波長的輻射光束。該裝置還包含物鏡系統(tǒng)(11)，用于在第一模式中將具有第一波長的輻射光束(2)聚焦(16)在第一類型的記錄載體上，在第二模式將具有第二波長的輻射光束(21)聚焦(30)在第二類型的記錄載體(27)上。該光學(xué)掃描裝置還包含位于輻射光束(2、21)中的具有結(jié)構(gòu)的光學(xué)元件(10)，用于將聚散度和像差引入第二波長的輻射光束(21)中。該像差能被寫成至少具有兩個項a2？2和a4？4的多項式。若a2＝0且a4＝0，則相應(yīng)的a4和a2的值分別由a40和a20給出。a2、a4、a20和a40滿足關(guān)系式0.9＜((a2/a20)+(a4/a40))＜1.1，和0.20＜(a2/a20)＜0.9(若a4＜0)，或滿足關(guān)系式1.05＜(a2/a20)＜2.00(若a4＞0)。
文檔編號G11B7/125GK1556985SQ02818427
公開日2004年12月22日 申請日期2002年9月19日 優(yōu)先權(quán)日2001年9月20日
發(fā)明者J·E·德維里斯, B·H·W·肯德里克斯, J E 德維里斯, W 肯德里克斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司