專利名稱：參考電平的調(diào)整方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種參考電平調(diào)整方法，尤指一種適用于光驅(qū)等光電系統(tǒng)的參考電平的調(diào)整方法裝置。
公知的在光驅(qū)等光電系統(tǒng)的應(yīng)用中，信號的產(chǎn)生方式是利用光學(xué)讀取頭(Pickup Head)中的雷射二極管(Laser Diode)發(fā)射雷射光，此一激光束會在光盤片上產(chǎn)生聚焦點(diǎn)(Fousing Point)。由于光盤表面具有長度不一的凹槽(Pit)與平面(Land)，因此部份光線會反射回到光學(xué)讀取頭中的光傳感器(Photo sensor)而部份光線不會，而光傳感器則接收反射的光線，并經(jīng)由后續(xù)電路的轉(zhuǎn)換將使光驅(qū)的驅(qū)動裝置接收到一射頻模擬信號。
請參閱

圖1(a)，其為公知應(yīng)用于光驅(qū)內(nèi)部的數(shù)字信號處理系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，其主要包含模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)10、重新計時系統(tǒng)(Retiming System)電路11、零交越電平循軌電路(Zero-Crossing Level Tracking)12及檢測器(Detector)13所構(gòu)成。模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)10接收該射頻模擬信號并根據(jù)一取樣周期對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣(Samples)，進(jìn)而獲得復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值；接著，利用重新計時系統(tǒng)電路11來檢測使用該取樣點(diǎn)值，以確認(rèn)其是否保留原有射頻模擬信號的特性而不失真。如果無法達(dá)到上述的要求則重新調(diào)整該等取樣點(diǎn)，以使取得較佳的取樣值。
接著，借由零交越電平循軌電路12由復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值中尋找出零交越電平值，以供后續(xù)檢測器13作為判斷輸出信號電平的基準(zhǔn)點(diǎn)。隨后，即可根據(jù)該復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值與該零交越電平值間的相對關(guān)系，來決定輸出高電平信號或是低電平信號。
請參閱圖1(b)，其為另一公知應(yīng)用于光驅(qū)內(nèi)部的數(shù)字信號處理系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，其主要包含模數(shù)轉(zhuǎn)換器((ADC)14、鎖相回路(Phase Locked Loop)電路15、零交越電平循軌電路16及檢測器17所構(gòu)成，模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)14接收該射頻模擬信號、并根據(jù)鎖相回路電路15所提供的一取樣周期，用以對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣，進(jìn)而獲得復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)。
此外，該取樣周期為該鎖相回路電路15根據(jù)該射頻模擬信號的波形特性、以及其浮動的程度所產(chǎn)生的最佳取樣頻率。至于零交越電平循軌電路16及檢測器17的運(yùn)作方式與圖1(a)相同，因此不在此加以敘述。
至于公知零交越電平循軌電路12調(diào)整零交越電平值所采用的演算方式如下先預(yù)設(shè)一參考電平值C為零交越電平值，并在產(chǎn)生每個取樣點(diǎn)時，隨后針對在目前取樣點(diǎn)之前特定時間所累積的取樣點(diǎn)(包含目前取樣點(diǎn))中，進(jìn)行該等取樣點(diǎn)值大于該參考電平的個數(shù)及小于該參考電平值的個數(shù)的計算；接著再根據(jù)如下所述的表達(dá)式調(diào)整該參考電平值1.假如A＞B，則C＝C+D2.假如B＞A，則C＝C-D其中A＝取樣點(diǎn)值大于參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)B＝取樣點(diǎn)值小于參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)C＝參考電平值D＝特定值即若大于該參考電平值的取樣點(diǎn)的個數(shù)比小于該參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)來的多，那么就必須將參考電平值往上調(diào)整一特定值而成為一新的參考電平值。同理，若小于該參考電平的取樣點(diǎn)個數(shù)比大于該參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)來的多，那么就必須將參考電平值往下調(diào)整。接著，在取得下一個取樣點(diǎn)值后，再重復(fù)上述的比較步驟。如果大于該參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)，與小于該參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)仍不相同，則根據(jù)檢測結(jié)果再次調(diào)整參考電平值；直到取樣點(diǎn)個數(shù)相同時，即將該參考電平值設(shè)定為零交越電平值。
請參見圖1(c)，其為圖1(a)及圖1(b)的零交越電平循軌電路所尋得的零交越電平示意圖。如果由該射頻模擬信號上半部的取樣點(diǎn)開始尋找零交越電平值，那么將會收斂至該第一零交越電平值為零交越電平值；如果由該射頻模擬信號下半部的取樣點(diǎn)開始尋找零交越電平值，那么將會收斂至該第三零交越電平值為零交越電平值。明顯的，公知尋求零交越電平的方法過于粗糙，所以無法收斂至最佳零交越電平值，例如圖1(c)中的第二零交越電平值。此外，由于該第一零交越電平值及第三零交越電平值均與取樣點(diǎn)非常地接近，因此當(dāng)光盤讀取頭在讀取光盤片信號的過程受到干擾而產(chǎn)生噪聲、或是光驅(qū)驅(qū)動電路所產(chǎn)生的直流電源信號不穩(wěn)定而晃動時，將會導(dǎo)致光盤讀取頭讀取的信號產(chǎn)生浮動的現(xiàn)象，而使原先零交越電平循軌電路12設(shè)定的第一零交越電平值或是第三零交越電平值無法符合要求，于是便影響檢測器13判斷輸出信號電平為高電平信號或是低電平信號的正確性。
而如何改善上述慣用手段的缺失，而使零交越電平收斂至如圖1(c)所示的第二零交越電平值，為發(fā)明本發(fā)明的主要目的。
本發(fā)明的另一目的是為了提供一種參考電平調(diào)整裝置，該裝置可將零交越電平值收斂最佳值，而使得零交越電平值與取樣點(diǎn)值之間具有一段距離，這將使零交越電平不輕易受光盤讀取頭讀取的信號浮動現(xiàn)象所影響。
本發(fā)明的目的可通過如下措施來實(shí)現(xiàn)一種參考電平調(diào)整方法，其是接收復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值以調(diào)整一參考電平值，其中這些取樣點(diǎn)值是以一取樣周期對一模擬信號進(jìn)行取樣所產(chǎn)生，該方法包含下列步驟在一目前取樣點(diǎn)之前的一特定時間內(nèi)所累積的取樣點(diǎn)中，計算位于該參考電平值的第一側(cè)及第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)大于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第一側(cè)的方向調(diào)整一第一特定值而成為一第一階段參考電平值，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)小于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第二側(cè)的方向調(diào)整該第一特定值而成為該第一階段參考電平值；以及當(dāng)該目前取樣點(diǎn)以及該目前取樣點(diǎn)之前一個取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值分別位于該第一階段參考電平值的第一側(cè)與第二側(cè)時，分別檢測該目前取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第一位移、以及該前一個取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第二位移，并且當(dāng)該第一位移大于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該目前取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生一第二階段參考電平值，當(dāng)該第一位移小于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該前一個取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生該第二階段參考電平值；經(jīng)由上述兩階段的重復(fù)執(zhí)行，以使調(diào)整后的參考電平值更接近最佳零交越電平值。
上述方法中的該第二階段參考電平值的調(diào)整方式包含下列步驟將該第一位移與該第二位移相加以產(chǎn)生一位移和；將該位移和乘以一第二特定值以產(chǎn)生位移量；以及將該第一階段參考電平值與該位移量相加，用以產(chǎn)生該第二階段參考電平值。
上述方法中的該信號處理方法適用于一光電系統(tǒng)中。
上述方法中的該參考電平值為使用于該光電系統(tǒng)的一零交越電平值。
上述方法中的該光電系統(tǒng)為CD-ROM碟機(jī)、CD-RW碟機(jī)、DVD-ROM碟機(jī)、DVD+R碟機(jī)、DVD+RW碟機(jī)、或DVD-RAM碟機(jī)。
本發(fā)明的另一目的還可通過如下措施來實(shí)現(xiàn)一種參考電平調(diào)整裝置，其是接收復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值用以調(diào)整一參考電平值，其中這些取樣點(diǎn)值是以一取樣周期對一模擬信號進(jìn)行取樣所產(chǎn)生，該調(diào)整裝置包含一零交越電平循軌裝置，對應(yīng)于復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)用以對一目前取樣點(diǎn)之前的一特定時間內(nèi)所累積的取樣點(diǎn)中，計算位于該參考電平值的第一側(cè)及第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)大于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第一側(cè)的方向調(diào)整一第一特定值而成為一第一階段參考電平值，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)小于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第二側(cè)的方向調(diào)整該第一特定值而成為該第一階段參考電平值；以及當(dāng)該目前取樣點(diǎn)以及該目前取樣點(diǎn)之前一個取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值分別位于該第一階段參考電平值的第一側(cè)與第二側(cè)時，分別檢測該目前取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第一位移、以及該前一個取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第二位移，并且當(dāng)該第一位移大于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該目前取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生一第二階段參考電平值，當(dāng)該第一位移小于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該前一個取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生該第二階段參考電平值；以及一檢測裝置，以該第二階段參考電平值為基準(zhǔn)點(diǎn)，用以檢測一輸入信號的信號電平。
上述裝置中的該模擬信號為一射頻信號。
上述裝置還包含一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用以接收射頻模擬信號并根據(jù)一取樣周期對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣，以獲得該取樣點(diǎn)；以及一重新計時系統(tǒng)電路，用以檢測該取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值，以確認(rèn)該取樣點(diǎn)值是否保留原有該射頻模擬信號的特性而不失真。
上述裝置還包含一鎖相回路電路，用以產(chǎn)生該取樣周期，其中該取樣周期系該射頻模擬信號的最佳取樣頻率；以及一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用以接收該射頻模擬信號，且根據(jù)該鎖相回路電路所提供的該取樣周期，以對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣，進(jìn)而獲得該取樣點(diǎn)。
上述裝置中的該光電系統(tǒng)為CD-ROM碟機(jī)、CD-RW碟機(jī)、DVD-ROM碟機(jī)、DVD+R碟機(jī)、DVD+RW碟機(jī)、或DVD-RAM碟機(jī)。
圖1(b)為另一公知應(yīng)用于光驅(qū)內(nèi)部的數(shù)字信號處理系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意1(c)為圖1(a)及圖1(b)的零交越電平循軌電路所尋得的零交越電平示意圖。
圖2為本發(fā)明參考電平調(diào)整方法的較佳實(shí)施例的流程圖。
圖3為使用本發(fā)明參考電平調(diào)整方法所產(chǎn)生的參考電平值收斂示意圖。
圖4為描繪圖3部分區(qū)域的放大示意圖。
具體的實(shí)施方式請參閱圖2，其為本發(fā)明的參考電平調(diào)整方法的較佳實(shí)施例的步驟流程圖，本發(fā)明的參考電平調(diào)整方法應(yīng)用于如圖1(a)、(b)所示的電路示意圖中的零交越電平循軌電路，主要接收以一取樣周期對一射頻模擬信號進(jìn)行取樣所產(chǎn)生的復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值來進(jìn)行參考電平值的調(diào)整，該處理方法可包含下列步驟步驟(A)在第一階段的粗調(diào)程序中，首先計算包含目前取樣點(diǎn)、以及之前特定時間所累積的取樣點(diǎn)中，位于一參考電平值的第一側(cè)及第二側(cè)的取樣點(diǎn)值個數(shù)，并根據(jù)如下所述的表達(dá)式調(diào)整該參考電平值1.假如E＞F，則G＝G+H2.假如F＞E，則G＝G-H其中E＝大于參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)F＝小于參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)G＝參考電平值H＝特定值即若大于該參考電平值的取樣點(diǎn)的個數(shù)比小于該參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)來的多，那么就必須將參考電平值往上調(diào)整一特定值而成為一第一階段參考電平值。同理，若小于該參考電平的取樣點(diǎn)個數(shù)比大于該參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)來的多，那么就必須將參考電平值往下調(diào)整，來產(chǎn)生第一階段參考電平值。應(yīng)注意的是，上述被調(diào)整的參考電平值亦即G是由前一個取樣點(diǎn)所衍生。
其中特定值H為一預(yù)設(shè)值，例如固定預(yù)設(shè)為0伏特。
步驟(B)在第二階段的微調(diào)程序中，是在目前取樣點(diǎn)與前一個取樣點(diǎn)是分別位于第一階段參考電平值的兩側(cè)時，隨后檢測前一個取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的位移A1、以及目前取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的位移A2，接著利用位移A1與A2、并根據(jù)如下所述的表達(dá)式來調(diào)整第一階段參考電平值I＝I+(A1+A2)*J (公式1)其中A1＝前一個取樣點(diǎn)值至該參考電平值的位移A2＝目前取樣點(diǎn)值至該參考電平值的位移J＝每單位的調(diào)整距離大小
I＝第一階段參考電平值即若該前一個取樣點(diǎn)值至該參考電平值的位移A1大于該目前取樣點(diǎn)值至該參考電平值的位移A2時，依據(jù)上述(公式1)的指示，第一階段參考電平值將朝著前一個取樣點(diǎn)值所在的方向調(diào)整，進(jìn)而產(chǎn)生第二階段參考電平值，所調(diào)整的位移將是(A1+A2)*J。同理，若A2大于A1，則第一階段參考電平值將朝向該目前取樣點(diǎn)值所在的方向調(diào)整(A1+A2)*J的位移，來產(chǎn)生第二階段參考電平值。應(yīng)注意的是，步驟(A)中的特定值H以及步驟(B)中的調(diào)整距離大小J，皆可視實(shí)際的應(yīng)用來調(diào)整與設(shè)定，熟習(xí)本發(fā)明技藝者當(dāng)可依情形對本發(fā)明較佳實(shí)施例進(jìn)行變更，然所有不脫離本發(fā)明較佳實(shí)施例精神所為的等效修飾，仍應(yīng)包含于本發(fā)明申請范圍之中。
其中調(diào)整距離大小J則可根據(jù)要求而有所改變。如當(dāng)需快速到達(dá)一收斂值，則調(diào)整距離大小J可設(shè)定為較大的值，如0.1伏特，但發(fā)此一來，收斂值與理想值間的誤差較大且不穩(wěn)定。但當(dāng)調(diào)整距離大小J設(shè)定為較小的值，如0.05伏特時，收斂速度較慢但與理想值間的誤差較小且較為穩(wěn)定。
圖3描繪本發(fā)明所揭露的參考電平調(diào)整方法所產(chǎn)生的參考電平值收斂示意圖。明顯的，當(dāng)由射頻模擬信號上方的取樣點(diǎn)開始尋找零交越電平值時，將沿著曲線I朝向最佳零交越電平值(例如圖1(c)的第二零交越電平值)收斂；同樣地，當(dāng)由射頻模擬信號下方的取樣點(diǎn)開始尋找零交越電平值時，將沿著曲線II朝向最佳零交越電平值。在實(shí)際實(shí)施上，可對每個取樣點(diǎn)重復(fù)執(zhí)行步驟(A)與步驟(B)的運(yùn)算方式，以使參考電平值得以收斂至如圖3所示的參考電平值；或是先對取樣點(diǎn)執(zhí)行步驟(A)，等到執(zhí)行步驟(A)皆無法再近一步收斂時，再在往后的取樣點(diǎn)重復(fù)執(zhí)行步驟(A)與步驟(B)，以使參考電平值得以近一步收斂。最后，即將參考電平設(shè)定為一零交越電平值，可用來提供如圖1(a)、(b)所述的檢測器來作為判斷輸出信號電平的基準(zhǔn)點(diǎn)。易言之，可根據(jù)該復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值與該零交越電平值間的相對關(guān)系，來決定輸出高電平信號或是低電平信號。
舉例而言，圖4描繪圖3A-A’區(qū)間的放大示意圖，而在A-A’時間內(nèi)共有S1～S20等共20個取樣點(diǎn)，每個取樣點(diǎn)利用步驟(A)、(B)來計算參考電平值。以取樣點(diǎn)S6為例，當(dāng)取得S6的取樣值后，隨即在步驟(A)計算S6(含)之前一特定時間的取樣點(diǎn)(包含S5、S4、S3、S2、…)中，位于參考電平值R2(由第圖4可知，R2是由S3所產(chǎn)生)兩側(cè)的數(shù)量。此外，因?yàn)镾5與S6分別位于參考電平值兩側(cè)的取樣點(diǎn)，所以必須再利用步驟(B)來對參考位準(zhǔn)值進(jìn)行微調(diào)。由于S5對參考電平值R2的位移d5，是大于S6對參考電平值R2的位移d6，因此在執(zhí)行步驟(B)之后，參考電平值R2將向下調(diào)整為R3。明顯的，由圖4可知，在相鄰的兩個取樣點(diǎn)中，有著分別大于以及小于參考電平值的關(guān)系者，分別有(S2，S3)、(S5，S6)、(S8，S9)、(S11，S12)、(S14，S15)、(S17，S18)六組，因此步驟(B)將在S3、S6、S9、S12、S15、S18這六個取樣點(diǎn)進(jìn)行參考電平值的調(diào)整。此外，雖然在步驟(B)中調(diào)整參考電平值時，可能有時會往偏離最佳零交越電平值的方向調(diào)整(例如R3調(diào)整至R4)，但就整體而言，通過本發(fā)明的方法仍可將電平值收斂至最佳零交越電平值上。再者，即使在步驟(A)發(fā)生“大于參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)”與“小于參考電平值的取樣點(diǎn)個數(shù)”相等(亦即E＝F)的情況下，雖然粗調(diào)程序已無法提供參考電平值的調(diào)整，但仍可通過步驟(B)來對參考電平值進(jìn)行微調(diào)的操作。
此外，本發(fā)明較佳實(shí)施例是適用于所有的光電系統(tǒng)，例如CD-ROM碟機(jī)(drive)、CD-RW碟機(jī)、DVD-ROM碟機(jī)、DVD+R碟機(jī)、DVD+RW碟機(jī)、或DVD-RAM碟機(jī)等系統(tǒng)、甚至其它應(yīng)用之中。
上述方法步驟(A)、(B)的實(shí)施方式，可通過硬件、或是變更上述光電系統(tǒng)的軟件(例如控制程序)等方式來進(jìn)行。
參考圖1(a)，為一種參考電平調(diào)整方法的裝置，該裝置是基于原公知的基礎(chǔ)上進(jìn)行的改進(jìn)；其是接收復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值用以調(diào)整一參考電平值，其中這些取樣點(diǎn)值是以一取樣周期對一射頻信號進(jìn)行取樣所產(chǎn)生，該調(diào)整裝置包含一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用以接收射頻模擬信號并根據(jù)一取樣周期對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣，以獲得該取樣點(diǎn)；以及一重新計時系統(tǒng)電路，用以檢測該取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值，以確認(rèn)該取樣點(diǎn)值是否保留原有該射頻模擬信號的特性而不失真；一零交越電平循軌裝置，對應(yīng)于復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)用以對一目前取樣點(diǎn)之前的一特定時間內(nèi)所累積的取樣點(diǎn)中，計算位于該參考電平值的第一側(cè)及第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)大于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第一側(cè)的方向調(diào)整一第一特定值而成為一第一階段參考電平值，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)小于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第二側(cè)的方向調(diào)整該第一特定值而成為該第一階段參考電平值；以及當(dāng)該目前取樣點(diǎn)以及該目前取樣點(diǎn)之前一個取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值分別位于該第一階段參考電平值的第一側(cè)與第二側(cè)時，分別檢測該目前取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第一位移、以及該前一個取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第二位移，并且當(dāng)該第一位移大于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該目前取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生一第二階段參考電平值，當(dāng)該第一位移小于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該前一個取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生該第二階段參考電平值；以及一檢測裝置，以該第二階段參考電平值為基準(zhǔn)點(diǎn)，用以檢測一輸入信號的信號電平。
參照圖1(b)，該實(shí)施例的參考電平調(diào)整裝置除包含有一鎖相回路電路，用以產(chǎn)生該取樣周期，其中該取樣周期系該射頻模擬信號的最佳取樣頻率；以及一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用以接收該射頻模擬信號，且根據(jù)該鎖相回路電路所提供的該取樣周期，以對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣，進(jìn)而獲得該取樣點(diǎn)。之外，其余電路與上述實(shí)施例同。
綜合上面所述，由圖3可清楚得知，使用本發(fā)明的參考電平調(diào)整方法，確實(shí)能夠?qū)⒘憬辉诫娖街凳諗恐寥鐖D1(c)圖中所示的第二零交越電平值，而使得零交越電平值與取樣點(diǎn)值之間具有一段距離，這將使零交越電平不輕易受光盤讀取頭讀取的信號浮動現(xiàn)象所影響。
權(quán)利要求
1.一種參考電平調(diào)整方法，其是接收復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值以調(diào)整一參考電平值，其中這些取樣點(diǎn)值是以一取樣周期對一模擬信號進(jìn)行取樣所產(chǎn)生，該方法包含下列步驟在一目前取樣點(diǎn)之前的一定時間內(nèi)所累積的取樣點(diǎn)中，計算位于該參考電平值的第一側(cè)及第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)大于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第一側(cè)的方向調(diào)整一第一特定值而成為一第一階段參考電平值，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)小于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第二側(cè)的方向調(diào)整該第一特定值而成為該第一階段參考電平值；以及當(dāng)該目前取樣點(diǎn)以及該目前取樣點(diǎn)之前一個取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值分別位于該第一階段參考電平值的第一側(cè)與第二側(cè)時，分別檢測該目前取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第一位移、以及該前一個取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第二位移，并且當(dāng)該第一位移大于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該目前取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生一第二階段參考電平值，當(dāng)該第一位移小于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該前一個取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生該第二階段參考電平值。
2.如權(quán)利要求1所述的參考電平調(diào)整方法，其特征在于該第二階段參考電平值的調(diào)整方式包含下列步驟將該第一位移與該第二位移相加以產(chǎn)生一位移和；將該位移和乘以一第二特定值以產(chǎn)生位移量；以及將該第一階段參考電平值與該位移量相加，用以產(chǎn)生該第二階段參考電平值。
3.如權(quán)利要求1所述的參考電平調(diào)整方法，其特征在于該信號處理方法適用于一光電系統(tǒng)中。
4.如權(quán)利要求1或3所述的參考電平調(diào)整方法，其特征在于該參考電平值為使用于該光電系統(tǒng)的一零交越電平值。
5.如權(quán)利要求3所述的參考電平調(diào)整方法，其特征在于該光電系統(tǒng)為CD-ROM碟機(jī)、CD-RW碟機(jī)、DVD-ROM碟機(jī)、DVD+R碟機(jī)、DVD+RW碟機(jī)、或DVD-RAM碟機(jī)。
6.一種應(yīng)用于權(quán)利要求1所述的參考電平調(diào)整方法的裝置，其是接收復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)值用以調(diào)整一參考電平值，其中這些取樣點(diǎn)值是以一取樣周期對一模擬信號進(jìn)行取樣所產(chǎn)生，該調(diào)整裝置包含一零交越電平循軌裝置，對應(yīng)于復(fù)數(shù)個取樣點(diǎn)用以對一目前取樣點(diǎn)之前的一特定時間內(nèi)所累積的取樣點(diǎn)中，計算位于該參考電平值的第一側(cè)及第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)大于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第一側(cè)的方向調(diào)整一第一特定值而成為一第一階段參考電平值，當(dāng)該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)小于該第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)時，將該參考電平值朝該第二側(cè)的方向調(diào)整該第一特定值而成為該第一階段參考電平值；以及當(dāng)該目前取樣點(diǎn)以及該目前取樣點(diǎn)之前一個取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值分別位于該第一階段參考電平值的第一側(cè)與第二側(cè)時，分別檢測該目前取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第一位移、以及該前一個取樣點(diǎn)值至該第一階段參考電平值的第二位移，并且當(dāng)該第一位移大于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該目前取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生一第二階段參考電平值，當(dāng)該第一位移小于該第二位移時，依據(jù)該第一位移與該第二位移以將該第一階段參考電平值朝向該前一個取樣點(diǎn)值的方向進(jìn)行調(diào)整，用以產(chǎn)生該第二階段參考電平值；以及一檢測裝置，以該第二階段參考電平值為基準(zhǔn)點(diǎn)，用以檢測一輸入信號的信號電平。
7.如權(quán)利要求6所述的參考電平調(diào)整裝置，其特征在于該模擬信號為一射頻信號。
8.如權(quán)利要求7所述的參考電平調(diào)整裝置，其特征在于還包含一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用以接收射頻模擬信號并根據(jù)一取樣周期對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣，以獲得該取樣點(diǎn)；以及一重新計時系統(tǒng)電路，用以檢測該取樣點(diǎn)的取樣點(diǎn)值，以確認(rèn)該取樣點(diǎn)值是否保留原有該射頻模擬信號的特性而不失真。
9.如權(quán)利要求7所述的參考電平調(diào)整裝置，其特征在于還包含一鎖相回路電路，用以產(chǎn)生該取樣周期，其中該取樣周期系該射頻模擬信號的最佳取樣頻率；以及一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用以接收該射頻模擬信號，且根據(jù)該鎖相回路電路所提供的該取樣周期，以對輸入的射頻模擬信號進(jìn)行取樣，進(jìn)而獲得該取樣點(diǎn)。
10.如權(quán)利要求6所述的參考電平調(diào)整裝置，其特征在于該光電系統(tǒng)為CD-ROM碟機(jī)、CD-RW碟機(jī)、DVD-ROM碟機(jī)、DVD+R碟機(jī)、DVD+RW碟機(jī)、或DVD-RAM碟機(jī)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種參考電平的調(diào)整方法，其方法包含先計算在目前取樣點(diǎn)之前特定時間的取樣點(diǎn)中，位于參考電平值的第一及第二側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)，并在該第一側(cè)的取樣點(diǎn)個數(shù)大于該第二側(cè)的個數(shù)時，將該參考電平值朝第一側(cè)的方向調(diào)整一特定值而成為一第一階段參考電平值，反之則朝第二側(cè)的方向調(diào)整產(chǎn)生第一階段參考電平值；接著，當(dāng)目前取樣點(diǎn)與前一個取樣點(diǎn)分別位于第一階段參考電平值的第一側(cè)與第二側(cè)時，檢測目前取樣點(diǎn)及前一個取樣點(diǎn)至該第一階段參考電平值的位移，利用該位移來產(chǎn)生第二階段參考電平值；重復(fù)上述步驟，以使調(diào)整后的參考電平值接近最佳零交越電平值。
文檔編號G11B7/09GK1414545SQ0215041
公開日2003年4月30日 申請日期2002年11月8日 優(yōu)先權(quán)日2002年11月8日
發(fā)明者馬清文 申請人:威盛電子股份有限公司