傳感器電極路徑錯誤診斷的制作方法
【專利摘要】用于電容性感測輸入裝置的處理系統(tǒng)包括感測模塊、第一內部診斷機制，以及確定模塊。感測模塊配置成與多個傳感器電極路徑的第一傳感器電極路徑耦合，并且配置成以第一信號驅動第一傳感器電極路徑。第一內部診斷機制配置成與第二傳感器電極路徑耦合，并且在感測模塊以第一信號驅動第一傳感器電極路徑時，獲得測試信號輸出。第一內部診斷機制包括可選電流源，其配置成與第二傳感器電極路徑耦合，并且該可選電流源在測試信號輸出的獲得期間被使能。確定模塊配置成基于測試信號輸出，確定第一和第二傳感器電極路徑是否歐姆地耦合在一起。
【專利說明】傳感器電極路徑錯誤診斷
[0001] 對相關申請的交叉引用 本申請要求由Jorge Saucedo和John M. Weinerth于2015年4月23日提交的、題為 "CAPACITIVE SENSOR CHAN肥L OPEN AND SHORT TEST"的共同待決美國臨時專利申請?zhí)?62/151，958的優(yōu)先權及權益，其具有律師案卷號SYNA-140181US01，并且轉讓給本申請的受 讓人，通過其整體的參考將其公開內容并入本文。
[0002] 本申請也是由Wen Fang于2014年2月13日提交的、題為"INIPUT DEVICE TRANSM口TER PATH ERROR DIAGNOSIS"的共同待決美國專利申請?zhí)?4/180,266的部分延續(xù) 申請，且要求其優(yōu)先權及權益，其具有律師案卷號SYNA-20100211-A1. C0N，并且轉讓給本申 請的受讓人，通過其整體的參考將其公開內容并入本文。
[0003] 申請 14/180,266是由Wen Fang于2011年 1 月25 日提交的、題為"INPUT DEVICE TRANSMITTER PATH ERROR DIAGNOSIS"的共同待決美國專利申請?zhí)?3/012,943的延續(xù)申 請，且要求其權益，其具有律師案卷號SYNA-20100211-A1，并且轉讓給本申請的受讓人。
【背景技術】
[0004] 包括接近傳感器裝置(通常也稱為觸摸墊或者觸摸傳感器裝置）的輸入裝置被廣 泛應用于多種電子系統(tǒng)中。接近傳感器裝置典型地包括感測區(qū)，其通常由表面區(qū)分，在其中 接近傳感裝置確定一個或多個輸入對象的存在、位置和/或運動。接近傳感器裝置可用于為 電子系統(tǒng)提供接口。例如，接近傳感器裝置經(jīng)常作為輸入裝置用于較大計算系統(tǒng)(諸如集成 在或外設于筆記本或桌上型電腦的不透明觸摸墊）中。接近傳感器裝置也經(jīng)常用于較小的 計算系統(tǒng)(諸如集成在蜂窩電話中的觸摸屏）中。

【發(fā)明內容】

[0005] 在一些處理系統(tǒng)實施例中，用于電容性感測輸入裝置的處理系統(tǒng)包括感測模塊、 第一內部診斷機制、和確定模塊。感測模塊配置成與多個傳感器電極路徑中的第一傳感器 電極路徑禪合，并且配置成W第一信號驅動該第一傳感器電極路徑。第一內部診斷機制配 置成與第二傳感器電極路徑禪合，并且在感測模塊W第一信號驅動第一傳感器電極路徑時 獲得測試信號輸出。第一內部診斷機制包括配置成與第二傳感器電極路徑禪合的可選電流 源，并且可選電流源在測試信號輸出的獲得期間被使能。確定模塊配置成基于測試信號輸 出確定第一和第二傳感器電極路徑是否歐姆地禪合在一起。在一些實施例中，處理系統(tǒng)包 含在電容性感測輸入裝置中。
【附圖說明】
【附圖說明】 [0006] 中提到的圖不應被理解為按比例繪制，除非確切說明。包含在具體實施 方式中且構成其部分的附隨圖，示出了本發(fā)明的各種實施例并且，和【具體實施方式】一起，用 于解釋W下討論的原理，其中相似的標號表示相似的元件。
[0007] 圖1A是依照實施例的、示例輸入裝置的框圖。
[0008] 圖IB示出依照實施例的、可用于產(chǎn)生輸入裝置所有或部分感測區(qū)域的示例傳感器 電極圖案的部分。
[0009] 圖1C示出依照各種實施例的、按發(fā)射器路徑形式的傳感器電極路徑的示例。
[0010] 圖1D示出依照各種實施例的、按接收器路徑形式的傳感器電極路徑的示例。
[0011] 圖2A和圖2B示出依照實施例的、兩個示例輸入裝置中的發(fā)射器路徑的主要組件。
[0012] 圖3示出依照各種實施例的、可隨輸入裝置使用的示例處理系統(tǒng)。
[0013] 圖4示出依照各種實施例的、與發(fā)射器電路禪合的內部診斷機制的第一種類型的 示例。
[0014] 圖5A、5B和5C示出依照各種實施例的、輸入裝置發(fā)射器路徑錯誤診斷的示例方法 的流程圖。
[0015] 圖6A示出依照各種實施例的、與傳感器電極路徑禪合的內部診斷機制的第二種類 型的示例。
[0016] 圖6B示出依照各種實施例的、與傳感器電極路徑禪合的內部診斷機制的第二種類 型W及接地導電板的使用。
[0017] 圖74、78、7(：、70、76和7。示出依照各種實施例的、傳感器電極路徑錯誤診斷的示例 方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0018]下列實施例描述僅僅作為示例而非限制來提供。另外，不存在由之前【背景技術】或 簡要說明、或W下詳細描述中提出的任何已表達或暗示的理論所約束的意圖。
[0019] 討論概述 本文描述了各種實施例，它們通過促進能夠更容易測試諸如發(fā)射器路徑和接收器路徑 (統(tǒng)稱為傳感器電極路徑)的各種導電路徑的連續(xù)性的方法、處理系統(tǒng)、輸入裝置和電路，提 供促進經(jīng)改進的可用性的輸入裝置和方法。在本文描述的各種實施例中，輸入裝置可W是 電容性感測裝置。
[0020] 討論分成Ξ個部分。在部分1中，討論從示例輸入裝置的描述開始，此處描述的各 種實施例可W采用其來實現(xiàn)或實現(xiàn)于其上;接著是關于示例處理系統(tǒng)的描述，隨后描述其 組件。處理系統(tǒng)可隨諸如電容性感測裝置的輸入裝置、或隨某個其他裝置/系統(tǒng)一起使用。 部分2中，描述了內部診斷機制的第一種類型的示例。結合輸入裝置傳輸錯誤診斷的示例方 法的描述，進一步描述了包括內部診斷機制的第一種類型的、處理系統(tǒng)及其組件的操作。部 分3中，描述了內部診斷機制第二種類型的示例。結合電極路徑錯誤診斷的示例方法的描 述，進一步描述了包括內部診斷機制的第二種類型的、處理系統(tǒng)及其組件的操作。
[0021] 部分1:示例輸入裝置和示例處理系統(tǒng) 示例輸入裝置 圖1A是依照本發(fā)明的實施例的、示例輸入裝置100的框圖。輸入裝置100可配置成給電 子裝置150提供輸入。輸入裝置100可配置成給電子系統(tǒng)(未示出）提供輸入。正如此文檔中 使用的，術語"電子系統(tǒng)"（或"電子裝置"）廣泛地指能夠電子地處理信息的任何系統(tǒng)。電子 系統(tǒng)的一些非限制性示例包括所有尺寸和形狀的個人計算機，諸如桌上型計算機、膝上型 計算機、上網(wǎng)本計算機、平板、網(wǎng)頁瀏覽器、電子書籍閱讀器，和個人數(shù)字助手(PDA)。另外的 示例電子系統(tǒng)包括復合輸入裝置，諸如包括輸入裝置100和獨立的操縱桿或按鍵開關的物 理鍵盤。進一步的示例電子系統(tǒng)包括諸如數(shù)據(jù)輸入裝置(包括遠程控制和鼠標），和數(shù)據(jù)輸 出裝置(包括顯示屏和打印機)的外部設備。其他示例包括遠程終端、廣告亭，和視頻游戲機 (例如，視頻游戲控制臺、便攜式游戲裝置，和類似的裝置）。其他示例包括通訊裝置(包括蜂 窩電話，諸如智能手機），和媒體裝置(包括錄制器、編輯器、和諸如電視的播放器、機頂盒、 音樂播放器、數(shù)碼相框和數(shù)碼相機）。另外，電子系統(tǒng)可W是輸入裝置的主機或從機。
[0022] 輸入裝置100能夠被實現(xiàn)為該電子系統(tǒng)的物理部件或者能與該電子系統(tǒng)物理地分 離。適當情況下，輸入裝置100能使用下列方式的任一個或多個與電子系統(tǒng)的部件通信:總 線、網(wǎng)絡，和其他有線或無線互連。示例包括，但不限于：內集成電路（I2c)、串行外圍接口 (SPI)、個人系統(tǒng)2(PS/2)、通用串行總線（USB)、藍牙霞、無線電頻率RF和紅外數(shù)據(jù)協(xié)會 (IrDA)o
[0023] 在圖1A中，輸入裝置100示出為接近傳感器裝置(通常也稱為"觸摸墊"或"觸摸傳 感器裝置"），其配置成感測由一個或多個輸入對象140在感測區(qū)域120中提供的輸入。一些 示例輸入對象包括手指和觸控筆，如圖1A所示。
[0024] 感測區(qū)域120包含在輸入裝置100之上、周圍、之中和/或附近的任何空間，在其中 輸入裝置100能夠檢測用戶輸入(例如，由一個或多個輸入對象140提供的用戶輸入）。特定 感測區(qū)域的大小、形狀和位置可能逐個實施例廣泛變化。在一些實施例中，感測區(qū)域120從 輸入裝置100的表面沿一個或多個方向延伸至空間中直到信噪比阻止充分精確的對象檢 巧。。該感測區(qū)域120沿特定方向延伸的距離，在各種實施例中，可能為大約小于一毫米、數(shù)毫 米、數(shù)厘米或者更多，并且可能隨所用的感測技術的類型和期望精度而顯著變化。因此，一 些實施例感測輸入，其中包括與輸入裝置100任何表面無接觸、與輸入裝置100的輸入表面 (例如觸摸表面)接觸、與禪合一定量外加力或壓力的輸入裝置100的輸入表面接觸、和/或 它們的組合。在各種實施例中，輸入表面可由傳感器電極位于其中的殼體的表面來提供，由 應用在傳感器電極或任何殼體之上的面板來提供等。在一些實施例中，感測區(qū)120在投射到 輸入裝置100的輸入表面上時具有矩形形狀。
[0025] 輸入裝置100可W利用傳感器組件和感測技術的任何組合來檢測在感測區(qū)120中 的用戶輸入。該輸入裝置100包括一個或多個用于檢測用戶輸入的感測元件。作為幾個非限 制性示例，輸入裝置100可W使用電容性、倒介電、電阻性、電感性、磁、聲、超聲，和/或光技 術。
[00%] -些實現(xiàn)配置成提供跨一維、二維、Ξ維，或更高維度空間的圖像。一些實現(xiàn)配置 成提供沿特定軸或平面輸入的投影。
[0027] 在輸入裝置100的一些電容性實現(xiàn)中，施加電壓或電流W創(chuàng)建電場。附近的輸入對 象導致電場的變化，并且產(chǎn)生電容性禪合的可檢測變化，其可作為電壓、電流等的變化而被 檢測。
[0028] -些電容性實現(xiàn)利用陣列或者其他電容性感測元件的規(guī)則或不規(guī)則的圖案來創(chuàng) 建電場。在一些電容性實現(xiàn)中，獨立的感測元件可W歐姆地短接在一起W形成更大的傳感 器電極。一些電容性實現(xiàn)利用電阻片，其可W是電阻均勻的。
[0029] -些電容性實現(xiàn)利用基于在傳感器電極和輸入對象之間的電容性禪合的變化的 "自電容"（或"絕對電容"）感測方法。在各種實施例中，傳感器電極附近的輸入對象改變傳 感器電極附近的電場，從而改變量得的電容性禪合。在一個實現(xiàn)中，絕對電容感測方法通過 相對于參考電壓(例如，系統(tǒng)地)調制傳感器電極，W及通過檢測傳感器電極與輸入對象之 間的電容性禪合，來進行操作。
[0030] -些電容性實現(xiàn)利用基于在傳感器電極之間的電容性禪合的變化的"互電容"（或 "跨電容"）感測方法。在各種實施例中，傳感器電極附近的輸入對象改變傳感器電極之間的 電場，從而改變量得的電容性禪合。在一個實現(xiàn)中，跨電容感測方法通過檢測在一個或多個 發(fā)射器傳感器電極(也是"發(fā)射器電極"或"發(fā)射器"）與一個或多個接收器傳感器電極(也是 "接收器電極"或"接收器"）之間的電容性禪合，來進行操作。發(fā)射器傳感器電極可相對于參 考電壓(例如，系統(tǒng)地)來調制W傳送發(fā)射器信號。接收器傳感器電極可相對于參考電壓保 持大體上穩(wěn)定W促進結果信號的接收，其中包括對應于發(fā)射器信號的響應。傳感器電極可 為專用的發(fā)射器或接收器，或者可配置成既傳送又接收。
[0031] 在圖1A中，處理系統(tǒng)110示出為輸入裝置100的部件。處理系統(tǒng)110配置成操作輸入 裝置100的硬件來檢測感測區(qū)120中的輸入。處理系統(tǒng)110包括一個或多個集成電路(1C)和/ 或其他電路組件的部分或全部。（例如，用于互電容傳感器裝置的處理系統(tǒng)可包括配置成W 發(fā)射器傳感器電極來傳送信號的發(fā)射器電路，和/或配置成W接收器傳感器電極來接收信 號的接收器電路）。在一些實施例中，處理系統(tǒng)110還包括電子可讀指令，諸如固件代碼、軟 件代碼等。在一些實施例中，組成處理系統(tǒng)110的組件定位在一起，諸如在輸入裝置100的感 測元件附近。在其他實施例中，處理系統(tǒng)110的組件在物理上是獨立的，其中一個或多個組 件靠近輸入裝置100的感測元件，而一個或多個組件在別處。例如，輸入裝置100可為禪合到 桌上型計算機的外設，并且處理系統(tǒng)110可包括配置成在桌上型計算機的中央處理單元上 運行的軟件W及與該中央處理單元分離的一個或多個IC(或許具有關聯(lián)的固件）。作為另一 示例，輸入裝置100可物理地集成在電話中，并且處理系統(tǒng)110可包括作為該電話的主處理 器的一部分的電路和固件。在一些實施例中，處理系統(tǒng)110專用于實現(xiàn)輸入裝置100。在其他 實施例中，處理系統(tǒng)110也執(zhí)行其他功能，諸如操作顯示屏、驅動觸覺制動器等。
[0032] 處理系統(tǒng)110可W作為處理該處理系統(tǒng)110不同功能的一組模塊被實現(xiàn)。每一模塊 可包括作為處理系統(tǒng)110的一部分的電路、固件、軟件或它們的組合。在各種實施例中，可使 用模塊的不同組合。示例模塊包括用于操作諸如傳感器電極和顯示屏之類硬件的硬件操作 模塊，用于處理諸如傳感器信號和位置信息之類數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)處理模塊，W及用于報告信息 的報告模塊。另外的示例模塊包括傳感器操作模塊，其配置成操作感測元件來檢測輸入;識 別模塊，其配置成識別諸如模式變更手勢之類的手勢；W及模式變更模塊，其用于變更操作 模式。
[0033] 在一些實施例中，處理系統(tǒng)110直接通過引起一個或多個動作來響應感測區(qū)域120 中的用戶輸入(或缺少用戶輸入）。示例動作包括改變操作模式，W及諸如光標移動、選擇、 菜單導航、和其他功能的GUI動作。在一些實施例中，處理系統(tǒng)110向電子系統(tǒng)的某個部分 (例如，向與處理系統(tǒng)110分離的電子系統(tǒng)的中央處理系統(tǒng)，如果運樣一個獨立的中央處理 系統(tǒng)存在的話)提供關于輸入(或缺少輸入)的信息。在一些實施例中，電子系統(tǒng)的某個部分 處理從該處理系統(tǒng)110接收到的信息W對用戶輸入采取動作，諸如促進全范圍的動作，包括 模式改變動作和GUI動作。
[0034] 例如，在一些實施例中，處理系統(tǒng)110操作輸入裝置100的感測元件W產(chǎn)生指示感 測區(qū)域120中的輸入(或缺少輸入)的電信號。處理系統(tǒng)110在產(chǎn)生提供給電子系統(tǒng)的信息中 可對該電信號執(zhí)行任何適量的處理。例如，處理系統(tǒng)110可W數(shù)字化從傳感器電極獲得的模 擬電信號。作為另一個例子，處理系統(tǒng)110可W執(zhí)行濾波或其他信號調節(jié)。作為又一個例子， 處理系統(tǒng)110可W減去或W其他方式計及基線，W使得信息反映電信號和基線之間的差異。 作為另一些示例，處理系統(tǒng)110可確定位置信息，識別作為命令的輸入，識別筆跡等。
[0035] 本文使用的"位置信息"廣義地包含絕對位置、相對位置、速度、加速度和其他類型 的空間信息。示例性的"零維"位置信息包括近/遠或接觸/非接觸信息。示例性的"一維"位 置信息包括沿軸的位置。示例性的"二維"位置信息包括在平面中的運動。示例性的"Ξ維" 位置信息包括在空間中的瞬時或平均速度。進一步的示例包括空間信息的其他表示。也可 確定和/或存儲關于一種或多種類型位置信息的歷史數(shù)據(jù)，包括，例如隨時間追蹤位置、運 動、或瞬時速度的歷史數(shù)據(jù)。
[0036] 在一些實施例中，輸入裝置100采用由處理系統(tǒng)110或由某個其他處理系統(tǒng)操作的 附加輸入組件來實現(xiàn)。運些附加輸入組件可為感測區(qū)120中的輸入提供冗余的功能性，或某 個其他功能性。圖1A示出感測區(qū)120附近的按鈕130,其能夠用于促進使用輸入裝置100的項 目的選擇。其他類型的附加輸入組件包括滑塊、球、輪、開關等。相反地，在一些實施例中，輸 入裝置100可在沒有其他輸入組件的情況下實現(xiàn)。
[0037] -些實施例中，輸入裝置100包括觸摸屏界面，并且感測區(qū)120與顯示屏的有源區(qū) 的至少一部分重疊。例如，輸入裝置100可包括覆蓋該顯示屏的、大體透明的傳感器電極，W 及為關聯(lián)的電子系統(tǒng)提供觸摸屏界面。該顯示屏可W是能向用戶顯示可視界面的、任何類 型的動態(tài)顯示器，并可包括任何類型的發(fā)光二極管化抓）、有機LED(化抓）、陰極射線管 (CRT)、液晶顯示器化CD)、等離子體、電致發(fā)光(EL)，或其他顯示技術。輸入裝置100和顯示 屏可共用物理元件。例如，一些實施例可將相同電組件的一些用于顯示及感測。作為另一示 例，顯示屏可部分或整個地由處理系統(tǒng)110操作。
[0038] 應理解，盡管本發(fā)明的諸多實施例在完全功能設備的上下文中描述，本發(fā)明的機 制能夠作為采用多種形式的程序產(chǎn)品（例如軟件)來被分配。例如，本發(fā)明的機制可作為電 子處理器可讀取的信息承載介質(例如，可由處理系統(tǒng)110讀取的、非暫時性計算機可讀和/ 或可記錄/可寫的信息承載介質）之上的軟件程序來實現(xiàn)及分配。另外，無論用于執(zhí)行分配 的介質的特定類型，本發(fā)明的實施例同樣地適用。非暫時性、電子可讀介質的示例包括各種 光盤、存儲棒、存儲卡、存儲模塊等。電子可讀介質可基于閃速、光、磁、全息、或任何其他存 儲技術。
[0039] 圖1B示出依照實施例的、示例傳感器電極圖案的部分，其可W布置為生成輸入裝 置的感測區(qū)域的全部或部分。出于圖示和描述的清楚的目的，示出簡單的矩形圖案，然而將 領會其他圖案也可W使用。感測圖案由互相覆蓋且布置于襯底180之上的多個接收器電極 170(170-1、170-2、170-3，.-170-11)和多個發(fā)射器電極 160(160-1、160-2、160-3，.-160-11) 組成。在此示例中，觸摸感測像素 W發(fā)射器和接收器電極交叉的位置為中屯、。將領會，某些 形式的絕緣材料典型地布置在發(fā)射器電極160和接收器電極170之間。在一個實施例中，發(fā) 射器電極 160(160-1、160-2、160-3,…160-n)和接收器電極 170(170-1、170-2、170-3,… 170-n)可布置在相似層上，其中發(fā)射器電極包括多個布置于第二層上的跳線。在各種實施 例中，觸摸感測包括感測位于感測區(qū)域120中任何地方的輸入對象并且可包括:與輸入裝置 100任何表面無接觸，與輸入裝置100的輸入表面接觸(例如，觸摸表面），與禪合一定量作用 力或壓力的輸入裝置100的輸入表面接觸，和/或它們的組合。
[0040] 圖1C示出依照各種實施例的、采用發(fā)射器路徑190A形式的傳感器路徑190的示例。 圖1C示出處理系統(tǒng)110通過連接/引腳191-1與跡線195-1禪合并且跡線195-1通過連接/引 腳191-2與發(fā)射器電極160-1禪合。本文中，至多情況下，發(fā)射器電極連同全部電路徑被認為 是發(fā)射器路徑，其中電路徑將發(fā)射器電極與處理器中的發(fā)射器電路禪合。然而，一些實施例 中，諸如當存在發(fā)射器路徑錯誤或者當輸入裝置僅僅部分地組裝時，發(fā)射器路徑可能被縮 短和/或包括更少的組件。因此，正如圖1C所示，發(fā)射器路徑190A可能包括發(fā)射器電極（例 如，160-1)，連接/引腳191-1和191-2W及跡線195-1。在一個實施例中，發(fā)射器路徑包括連 接/引腳191-1和跡線195-1。在另一個實施例中，發(fā)射器路徑包括連接/引腳191-1、跡線 195-1和連接/引腳191-2。在進一步的實施例中，發(fā)射器路徑包括連接/引腳-1、跡線195-1、 連接/引腳-2和發(fā)射器電極160-1。在其他實施例中，發(fā)射器路徑可包括其他跡線和連接。例 如，一個實施例中，連接/引腳-2可將跡線195-1與另一個跡線禪合，其中該跡線之后通過另 一個連接與發(fā)射器電極160-1禪合。在那樣的實施例中，發(fā)射器路徑190A可包括任何跡線、 連接和發(fā)射器電極中的一個或多個。連接/引腳-1和連接/引腳-2包括熱棒化ot bar)連接、 零插入力連接、焊盤、和傳感器通道。在其他實施例中，連接191-1和191-2包括能將跡線 195-1與處理系統(tǒng)110或發(fā)射器電極160-1禪合起來的任何裝置。
[0041] 圖1D示出依照各種實施例的、采用接收器路徑190B形式的傳感器路徑190的第二 種類型的示例。圖1D示出處理系統(tǒng)110通過連接/引腳-3與跡線195-2禪合并且跡線195-2通 過連接/引腳-4與接收器電極170-1禪合。本文中，至多情況下，接收器電極連同全部電路徑 被認為是接收器路徑，其中電路徑將接收器電極與處理器中的接收器電路禪合。然而，一些 實施例中，諸如當存在接收器路徑錯誤或者當輸入裝置僅僅部分地組裝時，接收器路徑可 能被縮短和/或包括更少的組件。因此，正如圖1D所示，接收器路徑190A可能包括接收器電 極(例如，170-1)，連接191-3和191-4W及跡線195-2。在一個實施例中，接收器路徑包括連 接/引腳191-3和跡線195-2。在另一個實施例中，接收器路徑包括連接/引腳-3、跡線195-2 和連接/引腳-4。在進一步的實施例中，接收器路徑包括連接/引腳-3、跡線195-2、連接/引 腳-4和接收器電極170-1。在其他實施例中，接收器路徑可包括其他跡線和連接。例如，一個 實施例中，連接/引腳-4可將跡線195-2與另一個跡線禪合，其中該跡線之后通過另一個連 接與接收器電極170-1禪合。在那樣的實施例中，接收器路徑190A可包括任何跡線、連接和 接收器電極中的一個或多個。連接/引腳-3和連接/引腳-4包括熱棒化ot bar)連接、零插入 力連接、焊盤、和傳感器通道。在其他實施例中，連接191-3和191-4包括能將跡線195-2與處 理系統(tǒng)110或接收器電極170-1禪合起來的任何裝置。
[0042] 其他實施例中，多個發(fā)射器電極160和多個接收器電極170通過多個跡線與處理系 統(tǒng)110禪合，其中每個發(fā)射器電極和接收器電極通過不同的跡線與處理系統(tǒng)110禪合。進一 步，在一些實施例中，多個發(fā)射器電極160與第一批多個跡線禪合，其中多個發(fā)射器電極160 和第一批多個跡線布置于襯底180之上。包括第二批多個跡線的連接裝置，通過將第一批多 個跡線中的跡線與相對應的第二批多個跡線中的跡線禪合，將處理系統(tǒng)110與多個發(fā)射器 電極160中的發(fā)射器電極禪合。第二批多個跡線中的每一個隨后與處理系統(tǒng)110中的不同連 接禪合。在運樣的示例中，發(fā)射器路徑可能包括下述中至少一個:發(fā)射器電極、第一批多個 跡線中對應的跡線、第二批多個跡線中對應的跡線、在相對應的跡線之間的任何連接、在發(fā) 射器電極和對應跡線之間的任何連接、W及在第二批多個跡線中對應跡線和處理系統(tǒng)110 的發(fā)射器電路之間的連接。
[0043] 圖2A和2B示出依照實施例的、兩個示例輸入裝置中的發(fā)射器路徑的主要組件。輸 入裝置100A在圖2A中示出，而輸入裝置100B在圖2B中示出。運兩個輸入裝置100A和100B都 示出為覆蓋在顯示器上，然而本文描述的實施例可隨未結合顯示器實現(xiàn)的輸入裝置來使 用。在各種實施例中，輸入裝置100A和100B可與顯示器共用元件。例如，發(fā)射器電極160可W 為輸入裝置（100A或100B)和顯示器共用，其中發(fā)射器電極160配置成既用于電容性感測又 用于顯示器更新。在一個實施例中，顯示器的公共電壓電極(Vcom電極)被分段W形成發(fā)射 器電極160。其他實施例中，輸入裝置100A和100B的元件可布置在顯示器內部，諸如布置在 偏光器、濾色板或顯示器的其他襯底上。一個實施例中，發(fā)射器電極160和接收器電極170可 W布置在襯底的同一層或襯底的不同層上:該襯底覆蓋于顯示器之上。
[0044] 輸入裝置100A包括清晰的跨電容性觸摸屏210,其配置W發(fā)射器電極160和接收器 電極170的傳感器電極圖案(參見例如，圖1BW獲知那樣的傳感器電極圖案的一個示例）。在 許多實施例中，傳感器電極由透明的材料組成和/或只可在一端可訪問。如圖所示，觸摸屏 210布置在顯示器的薄膜晶體管(TFT)玻璃220的玻璃架上。處理系統(tǒng)110布置于柔性印制電 路(FPC)板230A上。FPC 230A包括用于連接到其他電子裝置(例如，電子裝置150)的連接器 235、用于禪合顯示器的組件的連接器237,和用于可移除地禪合FPC 240A的零插入力(ZIF) 連接241的第一部分(例如，插座）dFPC 240A包括ZIF連接241的第二部分(例如，配置成適合 ZIF插座的引腳）、和連接器245,其與觸摸屏210的發(fā)射器電極160和接收器電極170禪合。在 ZIF 241的第二部分和連接器245之間，F(xiàn)PC 240A包括將處理系統(tǒng)110的發(fā)射器電路和發(fā)射 器電極160禪合的跡線，W及將處理系統(tǒng)110的接收器電路和接收器電極170禪合的跡線。在 圖2A中，組成發(fā)射器路徑的組件可包括W下任何一個或多個:處理系統(tǒng)110A的發(fā)射器電路、 ZIF連接241、柔性印制電路240A上的跡線、連接器245,和觸摸屏210上的發(fā)射器電極(例如， 160-1)。應領會，，短路或開路可能在此發(fā)射器路徑中任何位置發(fā)生，并且本文描述的實施 例可用于診斷短路或開路的出現(xiàn)W及在一些情況下，短路或開路所在的發(fā)射器路徑中的組 件。
[0045] 輸入裝置100B包括清晰的跨電容性觸摸屏210,其配置W發(fā)射器電極160和接收器 電極170的傳感器電極圖案(參見例如，圖1BW獲知那樣的傳感器電極圖案的一個示例）。在 許多實施例中，傳感器電極由透明的材料組成并且/或者只可在一端可訪問。如圖所示，觸 摸屏210布置在顯示器的薄膜晶體管(TFT)玻璃220的玻璃架上。處理系統(tǒng)110布置于柔性印 制電路(FPC)板230B上。FPC 230B包括用于連接到其他電子裝置(例如，電子裝置150)的連 接器235、用于禪合顯示器的組件的連接器237,和襯墊(不可見），其上進行了焊錫熱棒連接 W用于禪合FPC 240BdFPC 240B包括熱棒連接器243、和連接器245,其與觸摸屏210的發(fā)射 器電極160和接收器電極170禪合。在熱棒連接器243和連接器245之間，F(xiàn)PC 240B包括將處 理系統(tǒng)110的發(fā)射器電路和發(fā)射器電極160禪合的跡線，W及將處理系統(tǒng)110的接收器電路 和接收器電極170禪合的跡線。在圖2B中，組成發(fā)射器路徑的組件可包括W下任何一個或多 個:處理系統(tǒng)110A的發(fā)射器電路、熱棒連接器243、柔性印制電路240B上的跡線、連接器245， 和觸摸屏210上的發(fā)射器電極(例如，160-1)。應領會，短路或開路可能在此發(fā)射器路徑中任 何位置發(fā)生，并且本文描述的實施例可用于診斷短路或開路的出現(xiàn)w及在一些情況下，短 路或開路所在的發(fā)射器路徑中的組件。
[0046] 示例處理系統(tǒng) 圖3示出依照各種實施例的、可隨輸入裝置(例如，輸入裝置100)使用的示例處理系統(tǒng) 110A。處理系統(tǒng)110A可采用一個或多個ASIC、一個或多個1C、一個或多個控制器，或它們的 某個組合來實現(xiàn)。一個實施例中，處理系統(tǒng)110A與實現(xiàn)輸入裝置100的感測區(qū)域120的多個 發(fā)射器和多個接收器電極通信地禪合。在一個輸入裝置100的實施例中，處理系統(tǒng)110A包括 感測模塊301(包括發(fā)射器電路305和接收器電路315)、解調電路325、計算電路335,內部診 斷機制345,和確定模塊355。在一些實施例中，處理系統(tǒng)110A和輸入裝置100,其中處理系統(tǒng) 是其部分，可布置于電子裝置(諸如顯示裝置、計算機，或其他電子裝置）150中或與其通信 地禪合。
[0047] 在各種實施例中，傳感器模塊301包括電路（例如，發(fā)射器電路305和接收器電路 315)并且進行操作W和傳感器電極圖案的傳感器電極交互，其(傳感器電極圖案）用于生成 感測區(qū)域120。運包括操作第一批多個傳感器電極來靜默、由發(fā)射器信號驅動、用于跨電容 性感測，和/或用于絕對電容性感測。運也包括操作第二批多個傳感器電極來靜默、由發(fā)射 器信號驅動、用于跨電容性感測，和/或用于絕對電容性感測。
[0048] 傳感器模塊301配置成通過W輸入裝置的多個傳感器電極的第一個進行傳送和W 多個傳感器電極的第二個進行接收來獲得跨電容性結果信號。在絕對電容性感測中，傳感 器電極既被驅動又用于接收由驅動到傳感器電極上的信號導致的結果信號。
[0049] 發(fā)射器電路305進行操作W在一個或多個傳感器電極160、170上傳送發(fā)射器信號。 在傳感器電極上被傳送的信號各自通過傳感器電極路徑(例如，190A、190B)傳播到相應的 傳感器電極。在一些實施例中，發(fā)射器電極或接收器電極是傳感器電極路徑的部分。各種傳 感器電極路徑的實施例之前已經(jīng)結合圖1C、1D、2A和2B描述過了。在給定的時間間隔內，發(fā) 射器電路305可W在多個傳感器電極160或170的一個或多個上傳送發(fā)射器信號(波形）。當 其不在運種傳感器電極上傳送波形的時候，發(fā)射器電路305也可用于將多個傳感器電極中 的一個或多個傳感器電極（160和/或170W及相應的傳感器電極路徑)禪合到高阻抗、地面、 或恒定電壓上。發(fā)射器信號可W是方波、梯形波、或某些其他波形。
[0050] 接收器電路315進行操作W通過傳感器電極接收結果信號。在傳感器電極上被接 收的信號通過傳感器電極路徑(例如，190A、190B)各自從相應的接收器電極傳播。在一些實 施例中，發(fā)射器電極或接收器電極是傳感器電極路徑的部分。接收到的結果信號對應于且 包括所傳送的發(fā)射器信號的一些版本。然而，除其他因素 W外，由于寄生電容、噪聲、干擾， 和/或電路缺陷，所傳送的發(fā)射器信號可能在結果信號中被轉變或改變，因此可能與其被傳 送的版本輕微或極大不同。在一時間間隔期間結果信號可在一個或多個傳感器電極上被接 收。
[0051] 當W第一傳感器電極完成傳送W及W第二、不同的傳感器電極完成結果信號的接 收時，跨電容性感測發(fā)生。當W-傳感器電極完成傳送并且W同一傳感器電極完成結果信 號的接收時，絕對電容性感測發(fā)生。
[0052] 解調電路325進行操作W解調從一個或多個傳感器電極獲得的、所接收結果信號。 在一個實施例中，結果信號受到或可能受到用戶輸入影響。例如，所接收結果信號可能受用 戶輸入(諸如將輸入對象140放入感測區(qū)域120)影響振幅、相位或頻率。
[0053] 計算電路335進行操作W計算/確定絕對電容的度量和/或在發(fā)射器電極和接收器 電極之間跨電容性禪合的變化的度量。計算電路335隨后使用運些度量來確定輸入對象(如 果有)相對于感測區(qū)域120的位置信息。一個實施例中，變化的度量基于所解調輸出來確定， 所解調輸出由解調電路325獲得。
[0054] 內部診斷機制345包括一個或多個內部診斷機審ij(例如，圖4中的345-A和圖6A及她 中的345-B)。例如，在一個實施例中，發(fā)射器電路305中的每個發(fā)射器電路(例如，圖4中的 305-1)可圖4描述的方式配置成帶有其自己的診斷機制。在其他實施例中，如圖6A和6B 所示，一個或多個內部診斷機制可與一個或多個傳感器電極路徑190(例如，發(fā)射器路徑 190-A和/或接收器路徑190-B)選擇性地禪合。內部診斷機制345A由處理系統(tǒng)110A用來監(jiān)測 發(fā)射器路徑W及建立與發(fā)射器路徑禪合的可選弱漏電路徑。例如，可W選擇可選漏電路徑， W便對已被驅動到發(fā)射器路徑上的電荷放電?？蒞監(jiān)測與特定發(fā)射器路徑禪合的內部診斷 機制345-A的輸出，W測量與其禪合的發(fā)射器路徑上的任何電荷或信號。內部診斷機制345- B與一個或多個傳感器電極路徑190禪合并且用于診斷傳感器電極路徑190中的錯誤，諸如 至其他傳感器電極路徑190的開路或短路。取決于使用的模式，內部診斷機制345-B的輸出 可W向處理系統(tǒng)110A指明被測試傳感器電極路徑190是否有開路或短路;并且在一些實施 例中，短路的本質可被進一步表征。一個實施例中，內部診斷機制345-A作為與發(fā)射器電路 305相同的集成電路的部分布置在同一娃片上，從而消除了對外部測試工具的需求。在一個 實施例中，內部診斷機制345-B作為與處理系統(tǒng)110A相同的集成電路的部分布置在同一娃 片上，從而消除了對外部測試工具的需求。將結合圖4和圖6A及6B的討論詳盡地描述內部診 斷機制345的功能。
[0055] 確定模塊355從一個或多個內部診斷機制345接收輸出并利用輸出來確定輸入裝 置的傳感器電極路徑的一個或多個中是否存在中斷(開路)或歐姆禪合（即，某些程度的短 路）W及，在一些情況下，確定在特定傳感器電極路徑的哪里存在開路。確定開路或短路的 出現(xiàn)能阻止有缺陷輸入裝置退出生產(chǎn)周期，由于其或被處理或被修復了。進一步，確定位于 存在開路的傳感器電極路徑中的組件能促進關于修復或處理的決定。例如，如果確定開路 處于觸摸屏或觸摸墊內的傳感器電極路徑的部分中，觸摸屏/觸摸墊經(jīng)常因為難于修理而 被處理，然而傳感器電極路徑內的其他組件可W保全和重復使用。相似地，如果確定開路處 于輸入裝置內的其他地方(不在觸摸屏/觸摸墊內），觸摸屏/觸摸墊能夠被保存而一個或多 個其他組件被替換、重新焊錫、換底座、或再接合。另外，如果開路情況能被表征為僅在或高 于某電壓電平的時候發(fā)生，市場可能能夠被表征為對某些應用中的使用或對某些用戶是可 接受的，但對具有更嚴苛的操作條件的其他情形而言則是不可接受的。此類表征允許一些 本可能被處理、失效、或送修的組件得W使用。
[0056] 部分2:輸入裝置發(fā)射器路徑錯誤診斷 示例內部診斷機制 圖4示出依照實施例的、與發(fā)射器電路305-1禪合的內部診斷機制345-A1的第一種類型 的示例。在一個實施例中，內部診斷機制345-A1布置在與發(fā)射器電路305-1相同的娃片上， 從而消除了對外部測試工具的需求。在各種實施例中，由于只需要少數(shù)組件來實現(xiàn)內部診 斷機制345-A1，運對于整體ASIC或其他集成電路而言是極小的附加。
[0057]在一個實施例中，發(fā)射器電路305-1是Ξ態(tài)數(shù)字驅動器，其傳送輸入(IN)信號并且 在輸出端(TX OUT)提供此信號W及提供此信號至發(fā)射器路徑190A(只示出部分)上，W響應 W使能信號(EN)來使能。在一個實施例中，發(fā)射器電路305-1是可操作的，W基于在STR接收 到的強度輸入的可選驅動水平或強度，來驅動輸出（TX OUT)W及發(fā)射器路徑190A。在一個 實施例中，發(fā)射器電路305-1是可操作的，W可選速度或回轉速率，來驅動輸出（TX OUT) W 及發(fā)射器路徑190A。另外，在缺少ΕΝ上的使能信號的情況下，TX OUT的輸出進入Ξ態(tài)模式， 其將發(fā)射器路徑190A維持在高阻抗。應領會，輸入裝置可能有一個或多個諸如發(fā)射器電路 305-1的發(fā)射器電路。例如，在一個實施例中，可能有一個或多個諸如305-1的發(fā)射器電路， 其禪合于輸入裝置中的每一個發(fā)射器電極(例如，發(fā)射器電極160-1)。連接器410是ASIC、控 制器、或其他集成電路(發(fā)射器電路305-1布置于其中）的導電連接器。
[005引內部診斷機制345-A1包括緩存輸出0UT_1，其禪合于發(fā)射器電路305-1的輸出TX OUT。如圖所示，緩沖由兩個串聯(lián)的反相器INV1和INV2提供。應領會，其他機制可提供適合的 緩沖。在一個實施例中，0UT_l提供給確定模塊355。如圖所示，在一個實施例中，其可能包括 來自多個內部診斷機制345中每一個的多個輸出（0UT_1、0UT_2、0UT_3，…0UT_n)，其由多路 復用器440-起復用成單一輸出線OUT,其通過向多路復用器440提供選擇信號SEL_B而能夠 由確定模塊355選擇。
[0化9]內部診斷機制345-A1也包括可選漏電路徑430,其能夠W診斷信號DIAG_1來選擇， 診斷信號DIAG_1包括可選漏電路徑430的可選診斷節(jié)點431上的輸入選擇信號?？蛇x漏電路 徑430通過晶體管T1將發(fā)射器路徑190A與地面禪合。如圖所示，晶體管T1的柵極通過反相器 INV1禪合至發(fā)射器電路305-1的使能輸入EN。在一個實施例中，可選漏電路徑430僅在兩個 選擇機制都被使能時有效。在各種實施例中，當EN為低(未使能）時，第一選擇機制T1被使 能。當DIAG_1被使能(為高)時，第二選擇機制，可選診斷節(jié)點431，被使能?？蛇x漏電路徑430 可按多種方式形成，諸如采用可選電流源或采用在晶體管T1和地面之間串聯(lián)布置的可選弱 下拉(weak pul-down)晶體管。
[0060] 可選漏電路徑430是弱漏電路徑，其中術語"弱"意為該路徑足夠弱使得完全充電 標稱(未短路或開路)發(fā)射器路徑190A能在放電前多次采樣。在一個實施例中，被放電可由 邏輯零表示。選擇相對弱使得由應該能夠獲得的、標稱情形(沒有短路或開路)樣本的數(shù)量 來提供期望粒度。例如，在一個實施例中，可選漏電路徑430可設計成在對完全充電發(fā)射器 路徑190A完全放電之前，提供10個標稱樣本(非常粗的粒度），其由10個納秒間隔來隔開。在 只期望確定發(fā)射器路徑190A中是否存在開路的實施例中，十個樣本可W提供充足的粒度。 在另一個實施例中，可選漏電路徑430可W設計成在對完全充電發(fā)射器路徑190A完全放電 之前，提供100個標稱樣本（比十個樣本更精細的粒度），其由10個納秒間隔來隔開。在期望 確定發(fā)射器路徑190A中是否存在開路、并進一步估計開路位于發(fā)射器路徑中哪個組件位置 的實施例中，一百個樣本可W提供充足的粒度。樣本所表示的是，當漏電路徑被使能時，選 通且測量輸出〇UT_l。^已知的、限定的間隔（例如，每隔10納秒)重復選通和測量輸出，直到 發(fā)射器路徑190A的選通輸出被測量為已完全放電。在一個實施例中，完全放電由邏輯零表 示。每次選通和測量構成樣本。W運種方式，達到完全放電所耗費的時間（放電速率)和樣本 數(shù)量都可W由確定模塊355測量。
[0061] 在一個實施例中，信號DIAG_1由確定模塊355或處理系統(tǒng)110A的某個其他部分提 供。在一個實施例中，信號DIAG_1可同時提供給多個內部診斷機制。在一個其他實施例中， 診斷輸入提供給信號分離器并且作為特定診斷信號路由到多個內部診斷機制中的任何一 個。運通過響應選擇信號將DIAG信號分離至所選內部診斷機制來完成。在各種實施例中，運 樣的信號分離允許只有少數(shù)信號線被利用，W便處理系統(tǒng)110A將輸入選擇信號引導至大量 內部診斷機制的相應可選漏電路徑上。
[0062] 檢測中斷 確定模塊355可W基于在發(fā)射器路徑已由發(fā)射器電路305充電后發(fā)生的時間段期間其 放電速率的度量來確定沿發(fā)射器路徑是否存在中斷。運是因為對較大電容而言放電速率較 長，而對較小電容放電速率較短，W及因為電容負載的量直接與發(fā)射器路徑長度相關。例 如，發(fā)射器電路305-1在第一時間段內對發(fā)射器路徑190A完全充電，而在第二時間段內被禁 能。一個實施例中，在第一個時間段內，發(fā)送使能信號至內部診斷機制345-A1。在第二個時 間段內，利用內部診斷機制345-A1和確定模塊355測量發(fā)射器路徑190A的放電速率。通過將 發(fā)射器路徑190A的放電速率與預定的發(fā)射器路徑190A的放電速率闊值或數(shù)值范圍進行比 較，確定模塊355可W確定發(fā)射器路徑190A是否存在開路，因為當發(fā)射器路徑中存在開路 時，放電速率會比標稱放電速率闊值更短，并且開路離發(fā)射器電路305越近，其相對于標稱 放電速率闊值漸進地更短。當開路更接近發(fā)射器電路305-1，放電速率將變得更短，因為開 路會導致發(fā)射器路徑比正常更短，從而其電容性負載（響應被驅動）會比標稱發(fā)射器路徑 190A的電容性負載漸進地更小。
[0063] 在一些實施例中，與測得放電速率相比較的、預定的放電速率闊值(或數(shù)值范圍） 可從經(jīng)驗數(shù)據(jù)確定，其在相似的、標稱(無短路或開路)發(fā)射器路徑上測得，或者可W是對相 似的、標稱發(fā)射器路徑的建模數(shù)據(jù)。同樣，另外的預定闊值/范圍，其與特定組件中開路的位 置或發(fā)射器路徑上的位置相關聯(lián)，可W相似地從經(jīng)驗或建模數(shù)據(jù)確定。在制造場景中，運類 預定闊值或范圍可W設立一次，而在生產(chǎn)流水線中測試許多組件（例如，上百、上千或上百 萬)時利用。
[0064] 檢測歐姆禪合 確定模塊355也可使用內部診斷機制345-A1和/或相似的內部診斷機制345,其與不同 于發(fā)射器路徑190A的其他發(fā)射器路徑禪合，來確定發(fā)射器路徑之間或發(fā)射器路徑與輸入裝 置的參考電壓之間是否存在短路。
[0065] 在一個實施例中，類似于中斷測試完成的場合(如上所述)和電容性負載高于而非 低于預期的場合（例如，放電速率比基于標稱發(fā)射器路徑的建?；蚪?jīng)驗數(shù)據(jù)而預期的更 長），確定模塊355可W確定所測試發(fā)射器路徑的部分是否歐姆地禪合(例如，某些程度地短 路)于輸入裝置的接收器電極路徑190-B。在一個實施例中，電路經(jīng)包括接收器電極，諸如接 收器電極170-1和/或與處理系統(tǒng)110A的接收器電路禪合的任何元件，諸如跡線和對應的連 接?？蒞做出該確定因為可W用運個短路來創(chuàng)建更長的路徑，其可W承受由長于標稱的放 電速率指示的、高于標稱的電容性負載。
[0066] 在一個實施例中，當?shù)谝话l(fā)射器路徑190A由發(fā)射器電路305驅動而其他發(fā)射器路 徑由發(fā)射器電路305保持在高阻抗，確定模塊355可W測量第二內部診斷機制的輸出，其禪 合于第二發(fā)射器路徑，W確定所驅動信號的任一個是否逸出至第二發(fā)射器路徑。如果有逸 出，則確定模塊355可W確定第一發(fā)射器路徑按某些方式歐姆地禪合(例如，短路)于第二發(fā) 射器路徑。類似的度量可從第Ξ或其他發(fā)射器路徑的診斷機制的輸出獲得，來確定運些其 他發(fā)射器路徑中任何一個是否短路于第一發(fā)射器路徑。在進一步的實施例中，可W采樣第 一內部診斷機審ij(例如，圖4中的345-Α1)的輸出，其與第一發(fā)射器路徑（例如，發(fā)射器路徑 190A)禪合，W確定在第一發(fā)射器路徑中是否存在短路。該程序包括在一時間段期間，W該 路徑的發(fā)射器電路(例如，發(fā)射器電路305-0驅動第一發(fā)射器路徑至高值。如果在驅動發(fā)生 時，在第一內部診斷機制的輸出測量到比所驅動值更小的某值，則確定模塊355確定該發(fā)射 器路徑短路至地或其他發(fā)射器路徑。
[0067] 在另一個實施例中，要確定第一發(fā)射器路徑190A是否歐姆地禪合(例如，某些程度 地短路)于相鄰的(第二)發(fā)射器路徑，第二發(fā)射器路徑可W由發(fā)射器電路305W相對于被驅 動到第一發(fā)射器路徑上的信號的相反信號來驅動。如果在第一內部診斷機制345-A1的輸出 0UT_1或禪合于第二發(fā)射器路徑的第二內部診斷機制的輸出（例如，0UT_2 )測出零值，確定 模塊355確定第一和第二發(fā)射器路徑歐姆地禪合(短路）。該技術可相似地實現(xiàn)于第一發(fā)射 器路徑190A和第Ξ發(fā)射器路徑之間，其中第Ξ發(fā)射器路徑W與被驅動到第一發(fā)射器路徑上 的信號相反的信號來驅動，并且在第一內部診斷機制345-A1的輸出0UT_1或禪合于第Ξ發(fā) 射器路徑的第Ξ內部診斷機制的輸出（例如，0UT_3 )測出零輸出值。例如，發(fā)射器路徑190A 可W是在中間的發(fā)射器路徑，其中第二發(fā)射器路徑在一邊與其相鄰而第Ξ發(fā)射器路徑在另 一邊與其相鄰。在其他實施例中，用于檢測第一發(fā)射器路徑190A與第二發(fā)射器路徑之間短 路的技術，可W在第一發(fā)射器路徑190A與輸入裝置中每個另外發(fā)射器路徑之間循環(huán)使用。 可W在輸入裝置中每一可能成對的兩個發(fā)射器路徑之間執(zhí)行相似的測試。
[0068] 在又一個實施例中，要確定第一發(fā)射器路徑190A是否歐姆地禪合(例如，某些程度 地短路)于參考電勢，發(fā)射器信號由發(fā)射器電路305-1傳送到發(fā)射器路徑190A上。當傳送發(fā) 射器信號時，其他發(fā)射器路徑維持于高阻抗而確定模塊355選擇或使能第一內部診斷機制 345-A1的輸出，使得其可W測量在輸出0UT_1的結果信號。根據(jù)在內部診斷機制345-A1的輸 出的運個所采樣結果信號，確定模塊355確定第一發(fā)射器路徑是否歐姆地禪合于輸入裝置 的參考電勢(例如，地面或其中某內部電壓）。例如，在一個實施例中，如果測得的結果信號 為低(例如，邏輯零），可W確定發(fā)射器路徑對地歐姆禪合，而如果測得的結果信號比預期高 (例如，邏輯一），可W確定發(fā)射器路徑歐姆地禪合于高于地面電勢的參考電壓。在另一個實 施例中，如果測得的結果信號比預期更低，可W確定發(fā)射器路徑對地歐姆禪合，而如果測得 的結果信號比預期更高，可W確定發(fā)射器路徑歐姆地禪合于高于地面電勢的參考電壓。
[0069] 輸入裝置發(fā)射器路徑錯誤診斷的示例方法 圖5A、5B和5C示出依照實施例的、輸入裝置發(fā)射器路徑錯誤診斷的示例方法的流程圖。 出于圖示的目的，在描述流程圖500時，會參考圖3中處理系統(tǒng)110A的組件和圖4中的發(fā)射器 電路305-1及內部診斷電路345-A1的組件。在一些實施例中，不是所有在流程圖500中描述 的步驟都會實現(xiàn)。在一些實施例中，可能會實現(xiàn)那些所描述之外的其他步驟。一些實施例 中，流程圖500中描述的步驟可能W不同于圖示和/或描述的順序實現(xiàn)。
[0070] 在流程圖500的510,在一個實施例中，該方法在第一時間段內W輸入裝置中多個 發(fā)射器路徑的第一發(fā)射器路徑進行傳送。將領會，發(fā)射器路徑各自配置用于電容性感測，因 此每個發(fā)射器路徑包括發(fā)射器電極，諸如圖1B中的發(fā)射器電極160-1。參考圖4,一個實施例 中，如果發(fā)射器路徑190A被認為是第一發(fā)射器路徑，運包括通過TX OUT傳送至發(fā)射器路徑 190A上的發(fā)射器電路305-1。
[0071] 在流程圖500的520,在一個實施例中，處理系統(tǒng)中的內部診斷機制的可選漏電路 徑在第二時間段內被使能。第二時間段獨立于第一時間段且跟隨其后。進一步參考圖4,在 一個實施例中，在第二時間段內禁用EN，由此在第二時間段內開啟發(fā)射器T1。在第二時間段 內，處理系統(tǒng)110A則采用DIAG_1的形式向節(jié)點431提供使能，W使能可選漏電路徑430。
[0072] 在流程圖500的530,在一個實施例中，可確定第一發(fā)射器路徑中是否存在中斷 (即，開路）。例如，確定模塊355基于所測量的第一發(fā)射器路徑的放電速率做出運種確定。該 放電速率在第二時間段內通過輸入裝置中處理系統(tǒng)的內部診斷機制(例如，345-A1)的可選 漏電路徑來獲得。
[0073] 在流程圖500的540,在一個實施例中，該方法進一步包括在第Ξ時間段內W第一 發(fā)射器路徑傳送第一發(fā)射器信號。該第Ξ時間段可W與第一時間段相同或可W比第二時間 段更晚。發(fā)射器信號可W是諸如方形波、梯形波或其他波形的信號，其由發(fā)射器電路305中 的發(fā)射器電路(例如，發(fā)射器電路305-1)?第一發(fā)射器路徑(例如，發(fā)射器路徑190)來傳送。
[0074] 在流程圖500的550,在步驟540傳送第一發(fā)射器信號時，在一個實施例中，該方法 也確定第一發(fā)射器路徑是否歐姆地禪合于多個發(fā)射器路徑中的第二發(fā)射器路徑。例如，在 一個實施例中，確定模塊355基于在禪合于第二發(fā)射器路徑的、第二內部診斷機制的輸出所 測得的第一結果信號來做出運種確定。在W第一發(fā)射器路徑傳送第一發(fā)射器信號時，第二 結果信號通過第二內部診斷機制的輸出來獲得。將領會，第二內部診斷機制，在一個實施例 中，是和第一內部診斷機制345-A1的電路完全一致的電路，除了其與第二發(fā)射器路徑禪合。 0UT_2,如圖4所示，是來自運樣的第二內部診斷機制的輸出的示例。
[0075] 在流程圖500的560,在一個實施例中，該方法進一步包括確定第一發(fā)射器路徑是 否歐姆地禪合于多個發(fā)射器路徑中的第Ξ發(fā)射器路徑。類似于步驟550,在一個實施例中， 確定模塊355基于在禪合于第Ξ發(fā)射器路徑的、第Ξ內部診斷機制的輸出所接收到的第二 結果信號做出運種確定。在W第一發(fā)射器路徑傳送第一發(fā)射器信號時，第二結果信號通過 第Ξ內部診斷機制的輸出來獲得。將領會，第Ξ內部診斷機制，在一個實施例中，是和第一 內部診斷機制345-A1的電路完全一致的電路，除了其與第Ξ發(fā)射器路徑禪合。0UT_3，如圖4 所示，是來自運樣的第Ξ內部診斷機制的輸出的示例。第二發(fā)射器信號可W與第一發(fā)射器 信號相同或不同，并且可W是方波、梯形波，或某些其他波形。
[0076] 在流程圖500的570,在一個實施例中，在510到530中描述的方法進一步包括確定 第一發(fā)射器路徑是否歐姆地禪合于電容性感測裝置的接收器路徑。確定模塊355,在一個實 施例中，基于第一發(fā)射器路徑的電容性負載的度量與預定的電容性負載闊值的比較，做出 運種確定。預定的電容性負載闊值可W從經(jīng)驗或建模數(shù)據(jù)獲得，但是用于第一發(fā)射器路徑 的標稱(既不短路也不開路)版本。電容性負載闊值可W表示為放電速率或通過內部診斷機 制的可選漏電路徑來對第一發(fā)射器路徑進行放電所需的時間。如果實際測得的電容性負載 比預定闊值大預定差數(shù)(例如，作為一個非限制的示例，10%或更多），則確定模塊355確定第 一發(fā)射器路徑短路至接收器路徑。
[0077] 在流程圖500的580,在一個實施例中，在510到530中描述的方法進一步包括基于 第一發(fā)射器路徑的電容的度量與預定的發(fā)射器路徑電容闊值的比較，確定是否存在中斷。 電容的度量通過可選漏電路徑獲得。例如，其被使能并且輸出W規(guī)律的間隔被重復選通(采 樣），w通過測量放電速率(直至測量到發(fā)射器路徑完全放電或到達邏輯零所用的時間）來 間接確定電容的度量。
[0078] 部分3:傳感器電極路徑錯誤診斷 示例內部診斷機制 圖6A示出依照實施例的、與傳感器電極路徑190-2禪合的內部診斷機制345-B1的第二 種類型的示例。在一個實施例中，內部診斷機制345-B1布置在與處理系統(tǒng)110A相同的娃片 上，因此消除了對帶有測試電路的外部測試工具的需求。在各種實施例中，由于只需要少數(shù) 組件來實現(xiàn)內部診斷機制345-B1，運對于整體ASIC或其他集成電路而言是極小的附加。如 圖6A所示，提供了內建自測試(BIST)輸入BIST 0N，W使能放大器620和630,其各自與晶體 管640和650的柵極禪合。處理系統(tǒng)110A采用一個或多個信號位的形式提供BIST ON。在使用 單個位的實施例中，其作為使能信號可能由邏輯610緩沖并且與放大器620和630都禪合。在 多于一個的復數(shù)位用于BIST ON的實施例中，邏輯610可W解碼輸入，W向放大器620和630 的一個或多個提供不同電平的使能信號，由此控制晶體管640和650中其一或兩者開啟了多 少。在一個實施例中，放大器620具有禪合于地面的低電壓軌和禪合于VDDTX的高電壓軌。在 一些實施例中，VDDTX可等于典型地由處理系統(tǒng)110A在電容性感測期間傳送到發(fā)射器電極 上的最高電壓。在一個實施例中，放大器630有禪合于地面的低電壓軌和禪合于VDDH的高電 壓軌。一些實施例中，V孤Η可等于用于處理系統(tǒng)110A的最高電壓。如圖所示，晶體管640的源 極與VDDTX禪合，并且晶體管640的漏極與晶體管650的源極禪合。晶體管650的漏極與施密 特觸發(fā)器660的輸入及開關670的一側禪合。開關670的另一側與傳感器電極路徑190(例如， 圖示的190-2)禪合。施密特觸發(fā)器660的輸出BIST OUT是內部診斷機制345-B1的輸出，并且 提供給處理系統(tǒng)110A(在一些實施例中，例如，其與確定模塊355禪合)使用。應領會，當被使 能時，晶體管對640和650可充當電流源和/或將所連接傳感器電極路徑190(例如，190-2，在 開關670閉合時)禪合至由V孤TX供給的所選電壓電平的上拉。
[0079] 圖6A也示出感測模塊301可禪合至多個傳感器電極路徑190中的傳感器電極路徑 190-1。感測模塊301(例如，發(fā)射器電路305)可W選擇性地與任何傳感器電極路徑190禪合， 并且用于驅動信號到與其禪合的傳感器電極路徑190上。另外，一個或多個其他內部診斷機 審IJ345-B可W選擇性地與傳感器電極路徑190禪合或去禪合。例如，內部診斷機制345-B2可 W選擇性地與傳感器電極路徑190-3禪合或去禪合，并且內部診斷機制345-Bn可W選擇性 地與傳感器電極路徑190-m禪合或去禪合。
[0080] 圖6B示出依照各種實施例的、與傳感器電極路徑190-2禪合的內部診斷機制345- B1的第二種類型W及接地導電板680的使用。圖6B中，內部診斷機制345-B0圖示為與傳感器 電極路徑190-1禪合。接地導電板680與傳感器電極路徑190的每個禪合。正如W下將進一步 描述，在開路測試期間，接地導電板680可W跨一個或多個傳感器電極路徑190在外部電禪 合，來促進針對開路情況的測試。
[0081] 圖6A和6B中示出的電路可W用于測試電容性傳感器或電容性輸入裝置的一個或 多個傳感器電極路徑190W獲知開路和/或短路。如圖1C和1D所示，傳感器電極路徑190可包 括:處理系統(tǒng)上的引腳/連接;處理系統(tǒng)上的引腳/連接和禪合于該引腳/連接的路由跡線； 處理系統(tǒng)上的引腳/連接、禪合于該處理系統(tǒng)上的引腳/連接的路由跡線、和用于將跡線禪 合于傳感器電極的禪合(例如，引腳或其他連接）;和/或處理系統(tǒng)上的引腳/連接、禪合于該 處理系統(tǒng)上的引腳/連接的路由跡線、用于將跡線禪合于傳感器電極的禪合(例如，引腳或 其他連接）、w及傳感器電極。
[0082] 檢測歐姆禪合(短路） 在一些實施例中，內部診斷機制345-B可W用于實現(xiàn)短路測試。例如，參考圖6A，可W完 成短路測試W確定一個或多個傳感器電極路徑190是否短接在一起。在一個實施例中，要確 定一個或多個傳感器電極路徑190是否短接在一起，獨立的內部診斷機制345-B被選擇性地 禪合至每個未被測試的傳感器電極路徑。對每個未被測試的傳感器電極路徑使能上拉(在 圖6A中示出為晶體管640和650)。為每個傳感器電極路徑設置電阻值。電阻值是可選的，取 決于由BIST上拉通過用于特定內部診斷機制345B的BIST ON信號設置的電壓值。通過在不 同的電壓電平下進行測試，可選的電阻范圍允許短路在不同電阻值上被測出。例如，在低電 壓可能沒有短路，在中等電壓可能仍然沒有短路，但是在高電壓可能會有短路(低、中和高 均相對于系統(tǒng)水平電壓）。在一些實施例中，出于先進失效分析的目的，被測的電阻可能增 大和/或在各種電阻水平被測試。也就是說，處于更高電阻水平的短路對一些應用和/或客 戶來說可能不是所關屯、的。因此，如果短路發(fā)生所處的電阻水平可被表征，一些本未通過在 僅一個電阻水平(例如，高電阻水平）下進行的測試的組件，可W在其他電阻水平通過并且 被視為對使用是可接受的。未測試的所有傳感器電極路徑190上的施密特觸發(fā)器柵極660被 使能，并且感測模塊301配置成驅動低電壓信號到要測試的傳感器電極路徑190(例如，190- 1)上。在一些實施例中，低電壓信號可W是帶有運樣電壓值的任何信號，該電壓值低于可用 于驅動到傳感器電極路徑上的最高電壓值。也就是說，最高電壓值可W是，在被驅動用于電 容性感測時、應用于傳感器電極的發(fā)射器信號的高電壓值。如果任何傳感器電極路徑190 (例如，190-2到190-m)被短接到要測試的傳感器電極路徑190 (例如，190-1 )，該被短接的傳 感器電極路徑190的輸出BIST OUT將產(chǎn)生'1'。在一些實施例中，短路可W定義為在0到大約 50000歐姆之間的電阻性（即，歐姆)禪合。然而，在一些實施例中，電阻性禪合可能比50000 歐姆更高。短路可能在沿傳感器電極路徑190的任何點發(fā)生。對于一個沒有短路的良好連 接，輸出BIST OUT將產(chǎn)生' 0 '。通過改變哪些通道具有被使能的BIST上拉W及哪些被驅動至 低信號，可W測試不同的通道。
[0083] 在一個實施例中，施密特觸發(fā)器660配置成基于電極路徑的所測試電阻W及施密 特觸發(fā)器660的電源電壓和由電流源提供的電流，輸出邏輯低信號和邏輯高信號。通過改變 電源電壓和/或所提供的電流，所測試電阻可W被改變。例如，為增大所測試電阻的值，電源 電壓可W被增大和/或所提供電流可能被減小。進一步，為減小所測試電阻，電源電壓可能 被減小和/或所提供電流可能被增大。運是因為所測試電阻是基于觸發(fā)器電壓除W所提供 電流，其中施密特觸發(fā)器600的觸發(fā)器電壓是電源電壓的一部分。
[0084] 檢測中斷(開路） 在一些實施例中，內部診斷機制345-B可W用于實現(xiàn)開路測試。例如，參考圖6B，可W完 成開路測試W確定一個或多個傳感器電極路徑190是否存在開路。圖6B中所示的電路包括 上拉電路(例如，晶體管640和650)，其將可選擇性禪合的傳感器電極路徑190禪合到電壓信 號W及施密特觸發(fā)器柵極660。在開路測試期間，上拉WBIST ON使能，并且設置電壓值W定 義待測的電阻值。進一步，施密特觸發(fā)器柵極上的BIST ON被使能。接地導電板680禪合至待 測試傳感器電極路徑的每個;其可W是一個傳感器電極路徑或多個傳感器電極路徑。在開 路測試期間，BIST OUT值' Γ對處理系統(tǒng)11OA代表對應的傳感器電極路徑190中某處存在開 路，并且值'0'對處理系統(tǒng)110A代表對應的傳感器電極路徑190中沒有開路存在。
[0085] 傳感器電極路徑錯誤診斷的示例方法 圖74、78、7(：、70、76和7。示出依照各種實施例的、傳感器電極路徑錯誤診斷的示例方法 的流程圖。出于圖示的目的，在流程圖700的描述期間，會參考圖14、18、1(：、24、28和3中的組 件，W及圖6A和/或6B中的電路。在一些實施例中，并非在流程圖700中描述的所有步驟都會 實現(xiàn)。在一些實施例中，可能會實現(xiàn)所描述那些之外的其他步驟。一些實施例中，流程圖700 中描述的步驟可能W不同于圖示和/或描述的順序實現(xiàn)。
[0086] 現(xiàn)在參考圖7A，在流程圖700的710,一個實施例中，電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng) W第一信號驅動第一傳感器電極路徑。參考圖6A，在一些實施例中，其包括處理系統(tǒng)110A的 感測模塊301，其W第一信號驅動傳感器電極路徑190(例如，圖示的190-1)。參考圖1C和1D， 在一些實施例中，第一傳感器電極路徑190-1包括W下一個或多個:處理系統(tǒng)110A的引腳、 傳感器電極(例如，160或170)、W及在傳感器電極與引腳之間的禪合跡線195。
[0087] 在流程圖700的720,在一個實施例中，在W第一信號驅動第一傳感器電極路徑時， 與第二傳感器電極路徑禪合的第一內部診斷機制被用來獲得測試信號輸出。第一內部診斷 機制包括與第二傳感器電極路徑禪合的可選電流源，并且該可選電流源在測試信號輸出的 獲得期間被使能。第一內部診斷機制被布置作為電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)的部分。參 考圖6A，在一些實施例中，其可包括與傳感器電極路徑190-2禪合的內部診斷機制345-B1。 進一步參考圖6A，晶體管640和650包括可選電流源，其可W基于BIST ON信號和將使能/控 制信號路由至放大器620和630的邏輯610,來被選擇和調節(jié)。晶體管640和650在來自內部診 斷機制345-B1的BIST OUT信號的測試或獲得期間被使能。參考圖1C和1D，第二傳感器電極 路徑190-2,在一些實施例中，包括W下一個或多個:處理系統(tǒng)110A的引腳、傳感器電極(例 如，160或170)、W及在傳感器電極與引腳之間的禪合跡線195。
[0088] 在流程圖700的730,在一個實施例中，電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)基于測試信 號輸出，確定第一和第二傳感器電極路徑是否歐姆地禪合在一起。在一個實施例中，其包括 處理系統(tǒng)110A或其中的組件，諸如確定模塊355,其接收來自內部診斷機制％5-B1的BIST OUT信號，并且在BIST OUT是' Γ的情況下確定在傳感器電極路徑190-1和傳感器電極路徑 190-2之間存在歐姆禪合；W及在BIST OUT是'0'的情況下(確定)在傳感器電極路徑190-1 和傳感器電極路徑190-2之間不存在歐姆禪合。
[0089] 現(xiàn)在參考圖7B，在流程圖700的740,在一個實施例中，如710到730中描述的方法進 一步包括與第Ξ傳感器電極路徑禪合的第二內部診斷機制，其用來在W第一信號驅動第一 傳感器電極路徑時獲得第二測試信號輸出。第二內部診斷機制包括與第Ξ傳感器電極路徑 禪合的第二可選電流源，并且該第二可選電流源在第二測試信號輸出的獲得期間被使能。 第二內部診斷機制被布置作為電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)的部分。參考圖6A，在一些實 施例中，其可包括與傳感器電極路徑190-3禪合的內部診斷機制345-B2。進一步參考圖6A， 處于內部診斷機制345-B2內、與640和650等同的晶體管包括可選電流源，其可W基于BIST ON信號和將使能/控制信號路由至與620和630等同的放大器的、與邏輯610等同的邏輯，來 被選擇和調節(jié)。與640和650等同的晶體管在來自內部診斷機制345-B2的BIST OUT信號的測 試和獲得期間被使能。參考圖1C和1D，第Ξ傳感器電極路徑190-3，在一些實施例中，包括W 下一個或多個:處理系統(tǒng)IlOA的引腳、傳感器電極(例如，160或170)、W及在傳感器電極與 引腳之間的禪合跡線195。
[0090] 在流程圖700的745,在一個實施例中，如740中描述的方法進一步包括，由電容性 感測輸入裝置處理系統(tǒng)，基于第二測試信號輸出，確定第一和第Ξ傳感器電極是否歐姆地 禪合在一起。在一個實施例中，其包括處理系統(tǒng)110A或其中的組件，諸如確定模塊355,其接 收來自內部診斷機制345-B2的BIST OUT信號，并且在BIST OUT是'1'的情況下確定在傳感 器電極路徑190-1和傳感器電極路徑190-3之間存在歐姆禪合；W及在BIST OUT是'0'的情 況下(確定)在傳感器電極路徑190-1和傳感器電極路徑190-3之間不存在歐姆禪合。
[0091] 現(xiàn)在參考圖7C，在流程圖700的750,在一個實施例中，如710到730中描述的方法進 一步包括與第四傳感器電極路徑禪合的第Ξ內部診斷機制，其用來在W第一信號驅動第一 傳感器電極路徑時獲得第Ξ測試信號輸出。第Ξ內部診斷機制包括與第四傳感器電極路徑 禪合的第Ξ可選電流源，并且該第Ξ可選電流源在第Ξ測試信號輸出的獲得期間被使能。 第Ξ內部診斷機制被布置作為電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)的部分。參考圖6A，在一些實 施例中，其可包括與傳感器電極路徑190-m禪合的內部診斷機制345-化。進一步參考圖6A， 處于內部診斷機制345-化內、與640和650等同的晶體管包括可選電流源，其可W基于BIST ON信號和將使能/控制信號路由至與620和630等同的放大器的、與邏輯610等同的邏輯，來 被選擇和調節(jié)。與640和650等同的晶體管在來自內部診斷機制345-化的BIST OUT信號的測 試和獲得期間被使能。參考圖1C和1D，第四傳感器電極路徑190-m，在一些實施例中，包括W 下一個或多個:處理系統(tǒng)110A的引腳、傳感器電極(例如，160或170)、W及在傳感器電極與 引腳之間的禪合跡線195。
[0092] 在流程圖700的755,在一個實施例中，如750中描述的方法進一步包括電容性感測 輸入裝置處理系統(tǒng)，基于第Ξ測試信號輸出確定第一和第四傳感器電極是否歐姆地禪合在 一起。在一個實施例中，其包括處理系統(tǒng)110A或其中的組件，諸如確定模塊355,其接收來自 內部診斷機制345-化的BIST OUT信號，并且在BIST OUT是'1'的情況下確定在傳感器電極 路徑190-1和傳感器電極路徑190-m之間存在歐姆禪合；W及在BIST OUT是'0'的情況下（確 定)在傳感器電極路徑190-1和傳感器電極路徑190-m之間不存在歐姆禪合。
[0093] 現(xiàn)在參考圖7D，在流程圖700的760,在一個實施例中，如710到730中描述的方法進 一步包括在第一內部診斷機制內應用施密特觸發(fā)器來提供輸出信號。參考圖6A，施密特觸 發(fā)器柵極660提供BIST OUT用于由處理系統(tǒng)110A使用。
[0094] 現(xiàn)在參考圖7E，在流程圖700的770,在一個實施例中，如710到730中描述的方法進 一步包括，從多個不同的正電平中，選擇當電流源被使能時由該電流源供給的電流電平，使 得錯誤檢測W多個不同水平的歐姆禪合中所選一個來實現(xiàn)。參考圖6A，施密特觸發(fā)器柵極 BIST ON可W是兩個或多個位的信息，其可由邏輯610解碼并用于控制由放大器620和630應 用多少電壓于晶體管640和650的柵極上，由此提供電流的多個可選正電平（高于零），其中 電流由晶體管640和650通過開關670至所禪合的傳感器電極路徑來供給。
[00M] 現(xiàn)在參考圖7F，在流程圖700的780,在一個實施例中，如710到730中描述的方法進 一步包括由第一內部診斷機制，在選擇性地將上拉電壓禪合至第二傳感器電極路徑而接地 導電對象(諸如接地導電板680)還與第二傳感器電極路徑禪合時，獲得第二測試輸出信號。 參考圖6B，在一些實施例中，其可W包括在獨立的時間利用內部診斷機制345-B1，來診斷在 傳感器電極路徑190-2中是否存在開路情況。例如，圖6B中示出的電路包括上拉電路(例如， 晶體管640和650)，其將選擇性禪合的傳感器電極路徑190(例如，傳感器電極路徑190-2)禪 合至電壓信號W及至施密特觸發(fā)器柵極660上。
[0096] 在流程圖700的785,在一個實施例中，如780中描述的方法進一步包括由電容性感 測輸入裝置處理系統(tǒng)，基于第二測試輸出信號的值，確定第二電極路徑中是否存在開路。在 開路測試期間，上拉WBIST ON來使能，并且電壓值基于由邏輯610解碼且提供給放大器620 和630的BIST ON信號來設置。電壓電平定義了測試開路的電阻值。
[0097] 通常，選擇越高的電壓電平，W其測試開路的、傳感器電極路徑的電阻值越低。在 開路測試期間，施密特觸發(fā)器柵極660上的BIST OUT由所選電壓電平來使能。接地導電板 680禪合到待測的傳感器電極路徑的每個，在此示例中，至少禪合到傳感器電極路徑190-2。 在開路測試期間，當確定模塊355從施密特觸發(fā)器660接收到BIST OUT值' Γ，其確定在傳感 器電極路徑190-2的某處存在開路。在開路測試期間，當確定模塊355從SchmUt觸發(fā)器660 接收到BIST OUT值'0'，其確定傳感器電極路徑190-2中不存在開路。施密特觸發(fā)器660配置 成，基于電極路徑的被測電阻W及施密特觸發(fā)器的電源電壓和由電流源提供的電流，輸出 邏輯低信號和邏輯高信號。通過改變電源電壓和/或所提供電流，所測試電阻可W被改變。
[0098] 因此，提出本文闡述的實施例和示例W便最好地解釋本發(fā)明和其特定應用的各種 所選實施例，從而使得本領域技術人員能夠實現(xiàn)并使用本發(fā)明的實施例。但是，本領域技術 人員將認識到，前述描述和示例僅為了例示和示例的目的而提出。所闡述的描述并不意在 是窮舉性的或將本發(fā)明的實施例限定到所公開的精確形式。
【主權項】
1. 一種用于電容性感測輸入裝置的處理系統(tǒng)，所述處理系統(tǒng)包括： 配置成與多個傳感器電極路徑的第一傳感器電極路徑耦合的感測模塊，其中所述感測 模塊配置成以第一信號驅動所述第一傳感器電極路徑； 第一內部診斷機制，其配置成與第二傳感器電極路徑耦合，且配置成在所述感測模塊 以所述第一信號驅動所述第一傳感器電極路徑時獲得測試信號輸出，其中所述第一內部診 斷機制包括可選電流源，其配置成與所述第二傳感器電極路徑耦合，并且其中所述可選電 流源在所述測試信號輸出的獲得期間被使能； 確定模塊，其配置成基于所述測試信號輸出，來確定所述第一和第二傳感器電極路徑 是否歐姆地耦合在一起； 所述第一內部診斷還配置成在選擇性地將上拉電壓耦合至所述第二傳感器電極路徑 而接地導電對象還與所述第二傳感器電極路徑耦合時，獲得第二測試信號輸出；以及 所述確定模塊還配置成基于所述第二測試信號輸出的值確定在所述第二電極路徑中 是否存在開路。2. 如權利要求1所述的處理系統(tǒng)，進一步包括： 第二內部診斷機制，其配置成與第三傳感器電極路徑耦合，并且配置成在所述感測模 塊以所述第一信號驅動所述第一傳感器電極路徑時獲得第二測試信號輸出，其中所述第二 內部診斷機制包括第二可選電流源，其配置成與所述第三傳感器電極路徑耦合，并且其中 所述第二可選電流源在所述第二測試信號輸出的獲得期間被使能；以及 其中所述確定模塊進一步配置成基于所述第二測試信號輸出，來確定所述第一和第三 傳感器電極路徑是否歐姆地耦合在一起。3. 如權利要求2所述的處理系統(tǒng)，進一步包括： 第三內部診斷機制，其配置成與第四傳感器電極路徑耦合，并且配置成在所述感測模 塊以所述第一信號驅動所述第一傳感器電極路徑時獲得第三測試信號輸出，其中所述第三 內部診斷機制包括第三可選電流源，其配置成與所述第四傳感器電極路徑耦合，并且其中 所述第三可選電流源在所述第三測試信號輸出的獲得期間被使能；以及 其中所述確定模塊進一步配置成基于所述第三測試信號輸出，來確定所述第一和第四 傳感器電極路徑是否歐姆地耦合在一起。4. 如權利要求1所述的處理系統(tǒng)，其中所述第一內部診斷機制進一步包括配置成從所 述第一內部診斷機制提供輸出信號的施密特觸發(fā)器。5. 如權利要求1所述的處理系統(tǒng)，其中所述可選電流源包括可選可變電流源，其中當所 述可選可變電流源被使能時電流的正電平也是可選的，使得可以完成測試來辨別不同水平 的歐姆耦合。6. 如權利要求1所述的處理系統(tǒng)，其中所述第一傳感器電極路徑包括所述處理系統(tǒng)的 引腳、傳感器電極、以及耦合在所述傳感器電極與所述引腳之間的跡線的至少一個。7. -種電容性感測輸入裝置，包括： 包括多個傳感器電極的傳感器電極圖案；以及 處理系統(tǒng)，與所述多個傳感器電極耦合并且配置用于以所述多個傳感器電極執(zhí)行電容 性感測，所述處理系統(tǒng)進一步配置成： 以第一信號驅動第一傳感器電極路徑，其中所述第一傳感器電極路徑包括所述多個傳 感器電極的第一傳感器電極； 采用第一內部診斷機制與第二傳感器電極路徑耦合，在以所述第一信號驅動所述第一 傳感器電極路徑時獲得測試信號輸出，其中所述第一內部診斷機制包括可選可變電流源， 其中當所述可選可變電流源被使能時電流的正電平也是可選的，使得可以完成測試來辨別 不同水平的歐姆耦合，其中所述可選可變電流源與所述第二傳感器電極路徑耦合，其中所 述可選可變電流源在所述測試信號輸出的獲得期間被使能，并且其中所述第二傳感器電極 路徑包括所述多個傳感器電極的第二傳感器電極；以及 基于所述測試信號輸出，確定所述第一和第二傳感器電極路徑是否歐姆地耦合在一 起。8. 如權利要求7所述的電容性感測輸入裝置，進一步包括柔性電路，其配置用于在所述 處理系統(tǒng)與所述多個傳感器電極之間耦合信號。9. 如權利要求8所述的電容性感測輸入裝置，其中所述第一傳感器電極路徑包括所述 處理系統(tǒng)的引腳、所述第一傳感器電極、以及布置于所述柔性電路上且耦合在所述第一傳 感器電極與所述引腳之間的跡線的至少一個。10. 如權利要求7所述的電容性感測輸入裝置，其中所述處理系統(tǒng)進一步配置成： 采用第二內部診斷機制與第三傳感器電極路徑耦合，在以所述第一信號驅動所述第一 傳感器電極路徑時獲得第二測試信號輸出，其中所述第二內部診斷機制包括與所述第三傳 感器電極路徑耦合的第二可選可變電流源，其中所述第二可選可變電流源在所述第二測試 信號輸出的獲得期間被使能，并且其中所述第三傳感器電極路徑包括所述多個傳感器電極 的第三傳感器電極；以及 基于所述第二測試信號輸出，確定所述第一和第三傳感器電極路徑是否歐姆地耦合在 一起。11. 如權利要求10所述的電容性感測輸入裝置，其中所述處理系統(tǒng)進一步配置成： 采用第三內部診斷機制與第四傳感器電極路徑耦合，在以所述第一信號驅動所述第一 傳感器電極路徑時獲得第三測試信號輸出，其中所述第三內部診斷機制包括與所述第四傳 感器電極路徑耦合的第三可選可變電流源，其中所述第三可選可變電流源在所述第三測試 信號輸出的獲得期間被使能，并且其中所述第四傳感器電極路徑包括所述多個傳感器電極 的第四傳感器電極；以及 基于所述第三測試信號輸出，確定所述第一和第四傳感器電極路徑是否歐姆地耦合在 一起。12. 如權利要求7所述的電容性感測輸入裝置，其中所述第一內部診斷機制進一步包括 從所述第一內部診斷機制提供輸出信號的施密特觸發(fā)器。13. -種傳感器電極路徑錯誤診斷的方法，包括： 采用電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)，以第一信號驅動第一傳感器電極路徑； 采用第一內部診斷機制與第二傳感器電極路徑耦合，在以所述第一信號驅動所述第一 傳感器電極路徑時獲得測試信號輸出，其中所述第一內部診斷機制包括與所述第二傳感器 電極路徑耦合的可選電流源，其中所述可選電流源在所述測試信號輸出的獲得期間被使 能，并且其中所述第一內部診斷機制布置作為所述電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)的部分； 使用在所述第一內部診斷機制內的施密特觸發(fā)器來提供所述第一內部診斷機制的輸 出信號；以及 由所述電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)，基于所述輸出信號，確定所述第一和第二傳感 器電極路徑是否歐姆地耦合在一起。14. 如權利要求13所述的方法，進一步包括： 采用第二內部診斷機制與第三傳感器電極路徑耦合，在以所述第一信號驅動所述第一 傳感器電極路徑時獲得第二測試信號輸出，其中所述第二內部診斷機制包括與所述第三傳 感器電極路徑耦合的第二可選電流源，其中所述第二可選電流源在所述第二測試信號輸出 的獲得期間被使能，并且其中所述第二內部診斷機制布置作為所述電容性感測輸入裝置處 理系統(tǒng)的部分；以及 由所述電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)，基于所述第二測試信號輸出，確定所述第一和 第三傳感器電極路徑是否歐姆地耦合在一起。15. 如權利要求13所述的方法，進一步包括： 由所述第一內部診斷機制，在選擇性地將上拉電壓耦合至所述第二傳感器電極路徑而 接地導電對象還與所述第二傳感器電極路徑耦合時，獲得第二測試信號輸出；以及 由所述電容性感測輸入裝置處理系統(tǒng)，基于所述第二測試信號輸出的值，確定所述第 二電極路徑中是否存在開路。
【文檔編號】G06F3/041GK106066748SQ201610249209
【公開日】2016年11月2日
【申請日】2016年4月20日 公開號201610249209.0, CN 106066748 A, CN 106066748A, CN 201610249209, CN-A-106066748, CN106066748 A, CN106066748A, CN201610249209, CN201610249209.0
【發(fā)明人】J.紹塞多, J.M.維納思, W.方
【申請人】辛納普蒂克斯公司