一種電子元件樣本標(biāo)注方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及自動(dòng)光學(xué)檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種電子元件樣本標(biāo)注方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]自動(dòng)光學(xué)檢測(Α0Ι ,Automated Optical Inspect1n)為工業(yè)自動(dòng)化有效的檢測方法，使用機(jī)器視覺作為檢測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，大量應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業(yè)制程上。自動(dòng)光學(xué)檢測是工業(yè)制程中常見的代表性手法，利用光學(xué)方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來檢出異物或圖案異常等瑕疵。
[0003]對電子元件樣本進(jìn)行識別和標(biāo)注對自動(dòng)光學(xué)檢測系統(tǒng)來說越來越重要，識別并標(biāo)注出的電子元件樣本，不但可以用來作為訓(xùn)練模型，提高(有極性)電子元件的極性識別效果，也可以用來檢測電子元件的漏件情況(電子元件的漏件是一種二分類識別情況)。
[0004]目前，現(xiàn)有技術(shù)中最常見的電子元件樣本標(biāo)注方法是通過全人工識別標(biāo)注方法，即人工遍歷所有待識別的電子元件樣本，并對每個(gè)電子元件樣本進(jìn)行識別，進(jìn)而標(biāo)注標(biāo)簽。這種全人工的標(biāo)注方法速度慢、效率低，及其耗時(shí)耗力。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實(shí)施例提出一種電子元件樣本標(biāo)注方法及裝置，能夠提高電子元件樣本的標(biāo)注效率。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電子元件樣本標(biāo)注方法，包括:
[0007]獲取待標(biāo)注的N個(gè)電子元件樣本的圖像;其中，N2I;
[0008]將每個(gè)電子元件樣本的圖像與模板圖像進(jìn)行匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的匹配度值；
[0009]根據(jù)所述匹配度值對所述N個(gè)電子元件樣本進(jìn)行排序，并從排序后的所述N個(gè)電子元件樣本中識別并標(biāo)注出所需的電子元件樣本。
[0010]進(jìn)一步地，所述將每個(gè)電子元件樣本的圖像與模板圖像進(jìn)行匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的匹配度值，具體包括:
[0011]將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的第一匹配值；
[0012]計(jì)算最小的M個(gè)第一匹配值的平均值;其中，M2I;
[0013]判斷所述平均值是否小于預(yù)設(shè)的閾值；
[0014]若是，則將所述每個(gè)電子元件樣本的第一匹配值作為其匹配度值；
[0015]若否，則將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行二次匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的匹配度值。
[0016]進(jìn)一步地，所述將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的第一匹配值，具體包括:
[0017]采用模板匹配算法，將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行匹配，計(jì)算獲得所述每個(gè)電子元件樣本的第一匹配值。
[0018]進(jìn)一步地，所述將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行二次匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的匹配度值，具體包括:
[0019]采用紋理信息匹配算法，將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行二次匹配，計(jì)算獲得所述每個(gè)電子元件樣本的第二匹配值；
[0020]計(jì)算所述每個(gè)電子元件樣本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，并將計(jì)算獲得的平均值作為所述電子元件樣本的匹配度值。
[0021 ]進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述匹配度值對所述N個(gè)電子元件樣本進(jìn)行排序，并從排序后的所述N個(gè)電子元件樣本中識別并標(biāo)注出所需的電子元件樣本，具體包括:
[0022]根據(jù)所述匹配度值對所述N個(gè)電子元件樣本進(jìn)行升序排列，并按照排列順序?qū)個(gè)電子兀件樣本劃分為P組;P 2 I ；
[0023 ]分別對每組電子元件樣本進(jìn)行識別，并對識別出的所需的電子元件樣本進(jìn)行標(biāo)注。
[0024]相應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種電子元件樣本標(biāo)注裝置，包括:
[0025]樣本圖像獲取模塊，用于獲取待識別的N個(gè)電子元件樣本的圖像;其中，N2I;
[0026]匹配模塊，用于將每個(gè)電子元件樣本的圖像與模板圖像進(jìn)行匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的匹配度值；以及，
[0027]識別標(biāo)注模塊，用于根據(jù)所述匹配度值對所述N個(gè)電子元件樣本進(jìn)行排序，并從排序后的所述N個(gè)電子元件樣本中識別并標(biāo)注出所需的電子元件樣本。
[0028]進(jìn)一步地，所述匹配模塊具體包括:
[0029]第一匹配單元，用于將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的第一匹配值；
[0030]計(jì)算單元，用于計(jì)算最小的M個(gè)第一匹配值的平均值;其中，M2I;
[0031]判斷單元，用于判斷所述平均值是否小于預(yù)設(shè)的閾值；
[0032]匹配度值獲取單元，用于在所述判斷單元判定為是時(shí)，將所述每個(gè)電子元件樣本的第一匹配值作為其匹配度值；以及，
[0033]第二匹配單元，用于在所述判斷單元判定為否時(shí)，將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行二次匹配，獲得所述每個(gè)電子元件樣本的匹配度值。
[0034]進(jìn)一步地，所述第一匹配單元具體用于采用模板匹配算法，將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行匹配，計(jì)算獲得所述每個(gè)電子元件樣本的第一匹配值。
[0035]進(jìn)一步地，所述第二匹配度單元具體包括:
[0036]匹配值計(jì)算子單元，用于采用紋理信息匹配算法，將所述每個(gè)電子元件樣本的圖像與所述模板圖像進(jìn)行二次匹配，計(jì)算獲得所述每個(gè)電子元件樣本的第二匹配值;以及，
[0037]匹配度值獲取子單元，用于計(jì)算所述每個(gè)電子元件樣本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，并將計(jì)算獲得的平均值作為所述電子元件樣本的匹配度值。
[0038]進(jìn)一步地，所述識別標(biāo)注模塊具體包括:
[0039]排序單元，用于根據(jù)所述匹配度值對所述N個(gè)電子元件樣本進(jìn)行升序排列，并按照排列順序?qū)個(gè)電子元件樣本劃分為P組；以及，
[0040]識別標(biāo)注單元，用于分別對每組電子元件樣本進(jìn)行識別，并對識別出的所需的電子元件樣本進(jìn)行標(biāo)注。
[0041]實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，具有如下有益效果:
[0042]本發(fā)明實(shí)施例提供的電子元件樣本標(biāo)注方法及裝置，能夠?qū)⒚總€(gè)電子元件樣本的圖像與模板圖像進(jìn)行匹配，并根據(jù)匹配后每個(gè)電子元件樣本的匹配度信息對所有電子元件樣本進(jìn)行排序，從而從排序后的電子元件樣本中快速標(biāo)注出所需的電子元件樣本，提高電子元件樣本的標(biāo)注效率。
[0043]而且，在對每個(gè)電子元件樣本的圖像進(jìn)行匹配時(shí)，先進(jìn)行模板匹配，在模板匹配的結(jié)果未達(dá)到預(yù)期效果時(shí)，再進(jìn)行紋理信息匹配，以提高匹配度的準(zhǔn)確性，進(jìn)而提高排序的準(zhǔn)確性，從而提高電子元件樣本的標(biāo)注效率。
【附圖說明】
[0044]圖1是本發(fā)明提供的電子元件樣本標(biāo)注方法的一個(gè)實(shí)施例的流程示意圖；
[0045]圖2是本發(fā)明提供的電子元件樣本標(biāo)注方法中步驟S2的一個(gè)實(shí)施例的流程示意圖；
[0046]圖3是本發(fā)明提供的電子元件樣本標(biāo)注裝置的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0047]圖4是本發(fā)明提供的電子元件樣本標(biāo)注裝置中匹配模塊的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0048]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0049]參