一種KCl泥漿體系下Gamma曲線的校正方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及石油鉆井技術(shù)中Gamma曲線的校正方法技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一 種在KC1泥衆(zhòng)體系下Gamma曲線的校正方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)代地質(zhì)導(dǎo)向工具的核心技術(shù)是Y離子的探測技術(shù)及電阻率的測量技術(shù)。其中 Y離子的探測主要依靠的是Ga_a探管。Ga_a探管可以測量并記錄地層中Y離子的數(shù) 量，所形成的Ga_a曲線圖能協(xié)助地質(zhì)師分析計算地層垂深，為確定目標(biāo)地層提供可靠的 現(xiàn)場技術(shù)數(shù)據(jù)。
[0003] KC1泥漿體系中的鉀元素是6&_&探管檢測的主要同位素之一，KC1的含量直接影 響到井深的Ga_a值，對Ga_a曲線有較大影響。
[0004] 目前，國內(nèi)外針對KC1泥漿體系下Gamma曲線的校正方法主要有兩種：
[0005] (1)經(jīng)驗圖表法：根據(jù)井眼尺寸和泥漿密度的不同，利用Gamma探管在KCL泥漿中 的系數(shù)校正圖表查詢校正系數(shù)，進(jìn)行校正。這種方法在現(xiàn)場使用便捷，但需要大量的地質(zhì)信 息數(shù)據(jù)作為參考依據(jù)，在未知地質(zhì)信息的環(huán)境下難以運用；
[0006] (2)實驗計算法：在改變泥漿體系前后，分別對泥漿體系的Ga_a值進(jìn)行測量、記 錄，計算差值（即泥漿附加值），輸入到相應(yīng)軟件中進(jìn)行校正。這種方法能夠準(zhǔn)確校正Gamma 曲線，但是在現(xiàn)場缺乏實施的可行性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種在沒有相關(guān)地質(zhì)數(shù)據(jù)參考，校正圖表 空白情況下的一種在KC1泥漿體系下Ga_a曲線的校正方法。
[0008] 為此，本發(fā)明的技術(shù)方案如下：
[0009] 一種在KC1泥漿體系下Gamma曲線的校正方法，包括如下步驟：（1)核實、記錄加 入KC1泥漿的時間表；（2)對部分井段進(jìn)行加入KC1泥漿前后的Ga_aAP^測定；（3)從 Gamma探管中下載GammaAPI數(shù)據(jù)和⑷處理memory數(shù)據(jù)，得到最終校正曲線。
[0010] 具體來說，該在KC1泥漿體系下Gamma曲線的校正方法，包括以下步驟：
[0011] ⑴記錄含有KC1泥漿加入井內(nèi)的準(zhǔn)確時間和不同時間加入的KC1泥漿中KC1的 含量，并形成表格；
[0012] (2)對部分井段分別進(jìn)行加入KC1泥漿前和加入KC1泥漿前后Ga_aAPI值的測定；
[0013] 優(yōu)選地，所述GammaAPJ；t的測定距離為5~10m，即進(jìn)行GammaAPI值測定時使選取 同一井深下的5~10m進(jìn)行加入KC1泥衆(zhòng)前后GammaAPI值的測定。
[0014] 所述測定方式則根據(jù)于甲方監(jiān)督單位的作業(yè)方式進(jìn)行協(xié)調(diào)選擇：
[0015] (i)直接測定法：即與甲方監(jiān)督單位和地質(zhì)師協(xié)商，直接起鉆到指定位置，開始緩 慢開泵并下放鉆具進(jìn)行GammaAPI值測定，優(yōu)選地，所述下放鉆具的下放速度保持在0. 3~ L5m/min〇
[0016] (ii)短起下開泵劃測定法：當(dāng)不能直接進(jìn)行Gamma值測定時，也可以采取短起下 開泵劃眼復(fù)測，即在短起下到井下套管處，對選定井段進(jìn)行慢劃眼，對選定深度的井段的 GammaAPI值進(jìn)行測定，優(yōu)選地，所述慢劃眼的劃眼速度控制在0. 3~1. 5m/min。
[0017] (3)起鉆，從鉆具內(nèi)的無線隨鉆測量儀（MWD)的Gamma探管中下載本次下鉆期間 的GammaAPI數(shù)據(jù)，其中，所述Gamma探管位于無線隨鉆測量儀（MWD)中，Gamma探管位于距離MWD短節(jié)母扣端以上的2. 5m處。
[0018] (4)對收集到的GammaAPI數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到最終校正曲線：
[0019] (i)將加入KC1泥漿前和加入KC1泥漿后的兩組GammaAPI值導(dǎo)入無線隨鉆儀器測 量軟件中，將兩組Ga_aAPI值數(shù)據(jù)分別進(jìn)行順序排列，得到兩組依次處于相同井測量深度和 井垂直深度的Ga_aAPI值數(shù)據(jù)，導(dǎo)出兩組Ga_a_值數(shù)據(jù)；
[0020] (ii)根據(jù)公式①：環(huán)境系數(shù)比=GammaAPI1/GammaAPI2,對經(jīng)步驟⑴處理得到的 兩組Ga_a值數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到一組環(huán)境系數(shù)比，其中，Ga_aAPI1為加入KC1泥漿前的 GammaAP^|||J定值，GammaAPI2為加入KC1泥衆(zhòng)后的Gamma41>1測定值；
[0021] (iii)根據(jù)公式②將經(jīng)步驟（ii)得到的一組環(huán)境系數(shù)比值取平均值，所得平均值 的倒數(shù)即為校正系數(shù)，
【主權(quán)項】
1. 一種KCl泥漿體系下Gamma曲線的校正方法，其特征在于，包括W下步驟；（1)核實、 記錄加入KC1泥漿的時間表；（2)對部分井段進(jìn)行加入KC1泥漿前后的GammaApi值測定；(3) 從Gamma探管中下載GammaApi數(shù)據(jù)和（4)處理memcxry數(shù)據(jù)，得到最終校正曲線。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的KC1泥漿體系下Gamma曲線的校正方法，其特征在于，包括如 下具體步驟： (1) 記錄含有KC1泥漿加入井內(nèi)的準(zhǔn)確時間和不同時間加入的KC1泥漿中KC1的含量， 并形成表格； (2) 對部分井段分別進(jìn)行加入KC1泥漿前和加入KC1泥漿前后GammaApi值的測定； (3) 起鉆，并從鉆具無線隨鉆測量儀的Gamma探管中下載本次下鉆期間的GammaApi數(shù) 據(jù)； (4) 對收集到的GammaApi數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到最終校正曲線： (i)將加入KC1泥漿前和加入KC1泥漿后的兩組GammaApi值導(dǎo)入無線隨鉆儀器測量軟 件中，將兩組GammaApi值數(shù)據(jù)分別進(jìn)行順序排列，得到兩組依次處于相同井測量深度和井垂 直深度的GammaAp準(zhǔn)數(shù)據(jù)，導(dǎo)出兩組GammaAPI值數(shù)據(jù)； m)根據(jù)公式①；環(huán)境系數(shù)比=GammaApn/GammaApu，對經(jīng)步驟（i)處理得到的兩組Gamma值數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到一組環(huán)境系數(shù)比，其中，GammaApii為加入KC1泥漿前的GammaAPI 測定值，GammaApu為加入KCl泥漿后的GammaAPI測定值； (iii) 根據(jù)公式②將經(jīng)步驟（ii)得到的一組環(huán)境系數(shù)比值取平均值，所得平均值的倒 數(shù)即為校正系數(shù)， 所述公式⑨
其中，Gamma巧經(jīng)步驟扣）中得到的一 組環(huán)境系數(shù)比值，n為該組環(huán)境系數(shù)比值的個數(shù)； (iv) 根據(jù)公式⑨環(huán)境補償系數(shù)A=校正系數(shù)X原環(huán)境系數(shù)，經(jīng)步驟（iii)得到的校 正系數(shù)與原環(huán)境系數(shù)的乘機即為環(huán)境補償系數(shù)A，其中，校正系數(shù)為環(huán)境系數(shù)比平均值的 倒數(shù)，原環(huán)境系數(shù)則為根據(jù)井的尺寸估算的經(jīng)驗值； (V)將校正系數(shù)輸入到無線隨鉆儀器曲線圖繪制軟件中，將所述校正系數(shù)分別乘W每 一個加入KC1泥漿前測得GammaApii值，得到一組新的GammaAPI3值，將所述新的一組GammaAPI3 值進(jìn)行繪圖，得到的曲線即為最終校正曲線。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的KC1泥漿體系下Gamma曲線的校正方法，其特征在于，所述步 驟（2)中對部分井段分別進(jìn)行加入KC1泥漿前和加入KC1泥漿前后GammaApi值的測定中， GammaApi值的測定距離為相同井深下的5~10m。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的KC1泥漿體系下Gamma曲線的校正方法，其特征在于，所述步 驟（2)中對部分井段分別進(jìn)行加入KC1泥漿前和加入KC1泥漿前后GammaApi值的測定中， 所述測定方法為直接測定法或短起下開累劃測定法。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的KC1泥漿體系下Gamma曲線的校正方法，其特征在于，所述步 驟（2)中對部分井段分別進(jìn)行加入KC1泥漿前和加入KC1泥漿前后GammaApi值的測定中， 所述直接測定法中對指定位置的鉆具的下放速度為0. 3~1. 5m/min，所述短起下開累劃測 定法中的對選定井段慢劃眼時的劃眼速度為0. 3~1. 5m/min。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于石油鉆井技術(shù)領(lǐng)域中的KCl泥漿體系下地質(zhì)導(dǎo)向工具中Gamma曲線的矯正方法，該方法包括如下步驟如下：(1)核實、記錄加入KCl泥漿的時間表；(2)對部分井段進(jìn)行加入KCl泥漿前后的GammaAPI值測定；(3)從Gamma探管中下載GammaAPI數(shù)據(jù)和(4)處理memory數(shù)據(jù)，得到最終校正曲線；本發(fā)明的該KCl泥漿體系下地質(zhì)導(dǎo)向工具中Gamma曲線的矯正方法能夠解決沒有相關(guān)地質(zhì)參考數(shù)據(jù)，矯正圖表的情況下，精確計算地質(zhì)參數(shù)Gamma值的問題，代替?zhèn)鹘y(tǒng)的實驗計算的方法，在現(xiàn)場實現(xiàn)Gamma曲線的校正。
【IPC分類】G06F17-50
【公開號】CN104850717
【申請?zhí)枴緾N201510287480
【發(fā)明人】宋曉健, 董晨曦, 李寶鵬, 李猛, 楊國光
【申請人】中國石油集團渤海鉆探工程有限公司
【公開日】2015年8月19日
【申請日】2015年5月29日