本發(fā)明涉及電子電路故障識(shí)別，尤其涉及一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、電子電路是指由電子器件和有關(guān)無(wú)線電元件組成的電路。包括放大、振蕩、整流、檢波、調(diào)制、頻率變換、波形變換等電路，以及各種控制電路。廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中，按照所處理信號(hào)形式的不同，通?？蓪㈦娮与娐贩譃槟M電路和數(shù)字電路兩大類。

2、在模擬電路中，各個(gè)器件：電容、電阻、電感、電源開(kāi)關(guān)等均有機(jī)會(huì)發(fā)生性能和參數(shù)的退化。由于各種器件在模擬電路中的角色不同，各種退化對(duì)于設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)的影響不同。如果電路的退化狀態(tài)及程度可以及時(shí)被評(píng)估，生產(chǎn)單位可以及時(shí)采取措施，例如：更換元器件、啟動(dòng)備用設(shè)備、增加或減少生產(chǎn)計(jì)劃等。

3、經(jīng)檢索，中國(guó)專利申請(qǐng)?zhí)枮?02411018131.2的專利，公開(kāi)了一種電芯的故障檢測(cè)方法，包括：步驟s1：采集鐵塔基站蓄電池系統(tǒng)中的電芯參數(shù)數(shù)據(jù)，并進(jìn)行預(yù)處理，根據(jù)預(yù)處理后的電芯參數(shù)數(shù)據(jù)，使用廣義主成分分析方法提取電芯狀態(tài)特征量；步驟s2：設(shè)置直流內(nèi)阻計(jì)算周期，電池管理系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前時(shí)間，若達(dá)到設(shè)定的直流內(nèi)阻計(jì)算周期，則自動(dòng)觸發(fā)電芯檢測(cè)流程，否則，繼續(xù)等待直至下一個(gè)周期；步驟s3：在檢測(cè)流程啟動(dòng)后，電池管理系統(tǒng)通過(guò)sci接口向dc/dc模塊發(fā)送充電指令，開(kāi)始對(duì)電池進(jìn)行充電，并監(jiān)控電池充電狀態(tài)，若檢測(cè)到電池充滿，則調(diào)整電池輸出電壓為當(dāng)前母排電壓水平，并進(jìn)行短時(shí)放電測(cè)試。

4、上述專利中的電芯的故障檢測(cè)方法存在以下不足：該系統(tǒng)僅針對(duì)電芯，可以較為便捷的檢測(cè)電芯故障種類；但是在模擬電路中，還包括電容、電阻、電感、電源開(kāi)關(guān)等器件，在實(shí)際使用過(guò)程中，模擬電路的各種電子器件均會(huì)出現(xiàn)老化等情況，而任何一個(gè)電子器件出現(xiàn)故障都會(huì)導(dǎo)致整體模擬電路出現(xiàn)問(wèn)題，因此需要對(duì)整體模擬電路進(jìn)行故障檢測(cè)、識(shí)別，以保證整體電路的持續(xù)使用。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的是解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn)，而提出的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)。

2、為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案：

3、一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，包括：

4、智能模擬模塊；所述智能模擬模塊包括電路圖單元、實(shí)物參數(shù)模擬單元、電子電路運(yùn)行單元和電路運(yùn)行支撐數(shù)據(jù)庫(kù)；所述電路圖單元用于輸入、輸出電路圖；所述實(shí)物參數(shù)模擬單元將電路圖單元輸入的電路圖轉(zhuǎn)化實(shí)物模擬電路；所述電子電路運(yùn)行單元依據(jù)電路圖單元和實(shí)物參數(shù)模擬單元，對(duì)實(shí)物模擬電路進(jìn)行運(yùn)行；所述電路運(yùn)行支撐數(shù)據(jù)庫(kù)包括電路運(yùn)行規(guī)則資料、電子元器件運(yùn)行規(guī)則資料；

5、參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)；所述參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)包括電子元件數(shù)據(jù)庫(kù)、電路元件數(shù)據(jù)庫(kù)和集成電路模塊數(shù)據(jù)庫(kù)；所述電子元件數(shù)據(jù)庫(kù)、電路元件數(shù)據(jù)庫(kù)和集成電路模塊數(shù)據(jù)庫(kù)均包括多個(gè)子數(shù)據(jù)庫(kù)，每個(gè)子數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)部?jī)?chǔ)存一種電子元件的數(shù)據(jù)；

6、智能分析模塊；所述智能分析模塊包括運(yùn)算分析單元和優(yōu)化單元；所述運(yùn)算分析單元對(duì)電子電路圖進(jìn)行初步分析，對(duì)實(shí)物模擬電路的運(yùn)行情況進(jìn)行二次分析，判斷電子電路是否出現(xiàn)故障，是否需要優(yōu)化；

7、統(tǒng)籌模塊；所述統(tǒng)籌模塊控制計(jì)算機(jī)運(yùn)行，為智能模擬模塊、參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)、智能分析模塊提供算力支撐，并為智能分析模塊提供大數(shù)據(jù)支持。

8、優(yōu)選地：所述電路圖單元和實(shí)物參數(shù)模擬單元數(shù)據(jù)互通，所述實(shí)物參數(shù)模擬單元依據(jù)電路圖單元選擇電子電路圖標(biāo)定或需要的電路元件；且所述實(shí)物參數(shù)模擬單元直接選擇電路元件構(gòu)建通路，通過(guò)電路圖單元輸出電子電路圖。

9、進(jìn)一步的：所述智能模擬模塊的實(shí)物參數(shù)模擬單元在運(yùn)行時(shí)，以參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)為數(shù)據(jù)支撐，選擇具體的電子元件、電路元件和集成電路模塊。

10、作為本發(fā)明一種優(yōu)選的：所述電路運(yùn)行規(guī)則資料包括歐姆定律和基爾霍夫定律，以及電路圖構(gòu)建基本規(guī)則；所述電子元器件運(yùn)行規(guī)則資料包括多種電子元件、電路元件和集成電路模塊的運(yùn)行方式和作用，以及各種電子元件、電路元件和集成電路模塊的表達(dá)圖標(biāo)。

11、在前述方案的基礎(chǔ)上：所述電子元件數(shù)據(jù)庫(kù)記為a，其子數(shù)據(jù)庫(kù)則為a1，a2，a3，…，an；電路元件數(shù)據(jù)庫(kù)記為b，其子數(shù)據(jù)庫(kù)則為b1，b2，b3，…，bn；集成電路模塊數(shù)據(jù)庫(kù)記為c，其子數(shù)據(jù)庫(kù)則為c1，c2，c3，…，cn。

12、優(yōu)選地：所述運(yùn)算分析單元對(duì)電子電路圖進(jìn)行初步分析，判斷電子電路圖是否合理；

13、若電子電路圖合理，則啟動(dòng)實(shí)物參數(shù)模擬單元構(gòu)建實(shí)物模擬電路；

14、若電子電路圖不合理，優(yōu)化單元直接對(duì)電子電路圖進(jìn)行優(yōu)化，并通過(guò)統(tǒng)籌模塊輸出優(yōu)化建議。

15、進(jìn)一步的：所述運(yùn)算分析單元對(duì)電子電路圖的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行分析，并判斷是否存在故障；

16、若電子電路無(wú)故障，則判斷電子電路圖是否可以優(yōu)化；

17、若可以優(yōu)化，則優(yōu)化單元給出優(yōu)化建議，并通過(guò)統(tǒng)籌模塊輸出優(yōu)化建議；

18、若不可以優(yōu)化，則通過(guò)統(tǒng)籌模塊輸出最終結(jié)果；

19、若電子電路出現(xiàn)故障，則分析出現(xiàn)故障的位置，判斷故障發(fā)生原因，并給出故障解決辦法，并通過(guò)統(tǒng)籌模塊輸出故障相關(guān)結(jié)果。

20、在前述方案的基礎(chǔ)上：所述智能分析模塊還設(shè)置有元器件數(shù)據(jù)設(shè)置單元，所述數(shù)據(jù)設(shè)置單元調(diào)取電子元器件數(shù)據(jù)包，所述電子元器件的數(shù)據(jù)包根據(jù)元器件實(shí)際運(yùn)行大數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、構(gòu)建，并入對(duì)應(yīng)子數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)部。

21、作為本發(fā)明一種優(yōu)選的：所述元器件數(shù)據(jù)設(shè)置單元通過(guò)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)調(diào)取電子元器件數(shù)據(jù)包，配合實(shí)物模擬電路和電路圖單元構(gòu)建實(shí)物模擬電路，并輸入電路故障特征。

22、優(yōu)選地：所述運(yùn)算分析單元結(jié)合電子元件、電路元件和集成電路模塊的參數(shù)，以及電路故障特征，分析出現(xiàn)故障的位置，判斷故障發(fā)生原因。

23、本發(fā)明的有益效果為：

24、1.該基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，通過(guò)智能模擬單元對(duì)電子電路圖進(jìn)行實(shí)物運(yùn)行模擬，并配合智能分析模塊對(duì)電子電路的合理性進(jìn)行分析，快速判斷電子電路圖是否合理，并判斷電子電路是否存在故障，保證電子電路的安全與穩(wěn)定，降低電子電路圖不合理導(dǎo)致的隱患。

25、2.該基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，通過(guò)運(yùn)算分析單元結(jié)合電子元件、電路元件和集成電路模塊的參數(shù)，以及電路故障特征，分析出現(xiàn)故障的位置，判斷故障發(fā)生原因，可以對(duì)已經(jīng)使用的電子電路進(jìn)行快速診斷，降低電子電路故障診斷的難度，提高電子電路維修的效率。

技術(shù)特征：

1.一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述電路圖單元和實(shí)物參數(shù)模擬單元數(shù)據(jù)互通，所述實(shí)物參數(shù)模擬單元依據(jù)電路圖單元選擇電子電路圖標(biāo)定或需要的電路元件；且所述實(shí)物參數(shù)模擬單元直接選擇電路元件構(gòu)建通路，通過(guò)電路圖單元輸出電子電路圖。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述智能模擬模塊的實(shí)物參數(shù)模擬單元在運(yùn)行時(shí)，以參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)為數(shù)據(jù)支撐，選擇具體的電子元件、電路元件和集成電路模塊。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述電路運(yùn)行規(guī)則資料包括歐姆定律和基爾霍夫定律，以及電路圖構(gòu)建基本規(guī)則；所述電子元器件運(yùn)行規(guī)則資料包括多種電子元件、電路元件和集成電路模塊的運(yùn)行方式和作用，以及各種電子元件、電路元件和集成電路模塊的表達(dá)圖標(biāo)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述電子元件數(shù)據(jù)庫(kù)記為a，其子數(shù)據(jù)庫(kù)則為a1，a2，a3，…，an；電路元件數(shù)據(jù)庫(kù)記為b，其子數(shù)據(jù)庫(kù)則為b1，b2，b3，…，bn；集成電路模塊數(shù)據(jù)庫(kù)記為c，其子數(shù)據(jù)庫(kù)則為c1，c2，c3，…，cn。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述運(yùn)算分析單元對(duì)電子電路圖進(jìn)行初步分析，判斷電子電路圖是否合理；

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述運(yùn)算分析單元對(duì)電子電路圖的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行分析，并判斷是否存在故障；

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述智能分析模塊還設(shè)置有元器件數(shù)據(jù)設(shè)置單元，所述數(shù)據(jù)設(shè)置單元調(diào)取電子元器件數(shù)據(jù)包，所述電子元器件的數(shù)據(jù)包根據(jù)元器件實(shí)際運(yùn)行大數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、構(gòu)建，并入對(duì)應(yīng)子數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)部。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述元器件數(shù)據(jù)設(shè)置單元通過(guò)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)調(diào)取電子元器件數(shù)據(jù)包，配合實(shí)物模擬電路和電路圖單元構(gòu)建實(shí)物模擬電路，并輸入電路故障特征。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于：所述運(yùn)算分析單元結(jié)合電子元件、電路元件和集成電路模塊的參數(shù)，以及電路故障特征，分析出現(xiàn)故障的位置，判斷故障發(fā)生原因。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于智能算法的電子電路故障識(shí)別優(yōu)化系統(tǒng)，涉及電子電路故障識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域；具體包括：智能模擬模塊；所述智能模擬模塊包括電路圖單元、實(shí)物參數(shù)模擬單元、電子電路運(yùn)行單元和電路運(yùn)行支撐數(shù)據(jù)庫(kù)；所述電路圖單元用于輸入、輸出電路圖；所述實(shí)物參數(shù)模擬單元將電路圖單元輸入的電路圖轉(zhuǎn)化實(shí)物模擬電路；所述電子電路運(yùn)行單元依據(jù)電路圖單元和實(shí)物參數(shù)模擬單元。本發(fā)明通過(guò)智能模擬單元對(duì)電子電路圖進(jìn)行實(shí)物運(yùn)行模擬，并配合智能分析模塊對(duì)電子電路的合理性進(jìn)行分析，快速判斷電子電路圖是否合理，并判斷電子電路是否存在故障，保證電子電路的安全與穩(wěn)定，降低電子電路圖不合理導(dǎo)致的隱患。

技術(shù)研發(fā)人員：岳勝,楊峰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：邯鄲市東武仕水庫(kù)管理處
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9