本公開涉及電子設(shè)備，尤其涉及一種故障參數(shù)預(yù)測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、相關(guān)技術(shù)中，運(yùn)用電子設(shè)備屏幕碎裂的產(chǎn)品故障反饋比例(fault?feedbackratio，ffr)來衡量電子設(shè)備出現(xiàn)屏幕碎裂的概率。在對(duì)電子設(shè)備出現(xiàn)屏幕碎裂的概率進(jìn)行預(yù)測(cè)時(shí)，可以參考電子設(shè)備的歷史數(shù)據(jù)。依靠業(yè)務(wù)經(jīng)驗(yàn)，從歷史數(shù)據(jù)中識(shí)別出引起電子設(shè)備屏幕碎裂的關(guān)鍵影響因子，同時(shí)為每個(gè)關(guān)鍵影響因子賦予權(quán)重，并通過簡(jiǎn)單的公式來預(yù)估屏幕蓋板碎裂的概率。但是，經(jīng)過試驗(yàn)檢驗(yàn)，該種預(yù)測(cè)方式得到的預(yù)測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確率很低，且可信度也很低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為克服相關(guān)技術(shù)中存在的問題，本公開提供一種故障參數(shù)預(yù)測(cè)方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。

2、根據(jù)本公開實(shí)施例的第一方面，提供一種故障參數(shù)預(yù)測(cè)方法，包括：

3、獲取多個(gè)不同的第一設(shè)備的歷史故障參數(shù)和第一影響參數(shù)；其中，所述歷史故障參數(shù)至少用于描述所述第一設(shè)備出現(xiàn)屏幕碎裂的概率；

4、根據(jù)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定第二影響參數(shù)；所述第二影響參數(shù)包括：引起所述第一設(shè)備的屏幕碎裂的關(guān)鍵影響參數(shù)；

5、基于所述第一設(shè)備的所述第二影響參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建故障預(yù)測(cè)模型；

6、獲取第二設(shè)備的第二影響參數(shù)，利用所述故障預(yù)測(cè)模型和所述第二設(shè)備的第二影響參數(shù)，預(yù)測(cè)所述第二設(shè)備的故障參數(shù)。

7、在一些實(shí)施例中，所述根據(jù)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定第二影響參數(shù)，包括：

8、對(duì)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)進(jìn)行相關(guān)性分析，基于相關(guān)性分析結(jié)果，從多個(gè)所述第一影響參數(shù)中確定出所述第二影響參數(shù)。

9、在一些實(shí)施例中，所述對(duì)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)進(jìn)行相關(guān)性分析，包括：

10、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定各個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的第一信息；所述第一信息用于描述所述第一影響參數(shù)的變化趨勢(shì)與所述歷史故障參數(shù)的變化趨勢(shì)之間的關(guān)聯(lián)性；

11、基于所述多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定多個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的第二信息；所述第二信息用于描述多個(gè)所述第一影響參數(shù)共同包含所述歷史故障參數(shù)的信息量；

12、基于所述第一信息和所述第二信息，確定多個(gè)所述第一影響參數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)的建模條件；

13、在滿足所述建模條件時(shí)，對(duì)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)進(jìn)行相關(guān)性分析。

14、在一些實(shí)施例中，所述方法還包括：

15、若不滿足所述建模條件，則重新獲取所述第一設(shè)備的多個(gè)所述第一影響參數(shù)。

16、在一些實(shí)施例中，所述基于多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定各個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的第一信息，包括：

17、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的同一所述第一影響參數(shù)，確定多個(gè)所述第一設(shè)備的第一排序信息；

18、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的歷史故障參數(shù)，確定多個(gè)所述第一設(shè)備的第二排序信息；

19、根據(jù)多個(gè)所述第一影響參數(shù)中每一個(gè)所述第一影響參數(shù)對(duì)應(yīng)的所述第一排序信息和所述第二排序信息之間的相關(guān)性，分別確定每一個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障信息之間的所述第一信息。

20、在一些實(shí)施例中，所述基于所述多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定多個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的第二信息，包括：

21、對(duì)多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)進(jìn)行回歸分析，得到回歸模型；

22、基于所述回歸模型對(duì)應(yīng)的r平方值，確定多個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的所述第二信息。

23、在一些實(shí)施例中，所述基于所述第一設(shè)備的所述第二影響參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建故障預(yù)測(cè)模型，包括：

24、基于第一目標(biāo)設(shè)備的所述第二影響參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建初始預(yù)測(cè)模型；所述第一目標(biāo)設(shè)備為多個(gè)所述第一設(shè)備中的任一設(shè)備；

25、利用多個(gè)第二目標(biāo)設(shè)備的第二影響參數(shù)和所述初始預(yù)測(cè)模型，分別得到多個(gè)所述第二目標(biāo)設(shè)備的預(yù)測(cè)故障參數(shù)；其中，所述第二目標(biāo)設(shè)備為多個(gè)所述第一設(shè)備中除所述第一目標(biāo)設(shè)備外的任一設(shè)備；

26、基于多個(gè)所述第二目標(biāo)設(shè)備的預(yù)測(cè)故障參數(shù)和所述第二目標(biāo)設(shè)備的歷史故障參數(shù)，確定所述初始預(yù)測(cè)模型的準(zhǔn)確率；

27、在所述準(zhǔn)確率達(dá)到預(yù)設(shè)準(zhǔn)確率的情況下，將所述初始預(yù)測(cè)模型確定為所述故障預(yù)測(cè)模型。

28、在一些實(shí)施例中，所述第二影響參數(shù)包括：第一類參數(shù)和第二類參數(shù)；其中，所述第一類參數(shù)用于描述電子設(shè)備的屏幕結(jié)構(gòu)；所述第二類參數(shù)用于描述電子設(shè)備的屏幕單體強(qiáng)度；

29、所述基于所述第一設(shè)備的所述第二影響參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建故障預(yù)測(cè)模型，包括：

30、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一類參數(shù)、所述第二類參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建第一預(yù)測(cè)模型；所述第一預(yù)測(cè)模型用于對(duì)處于設(shè)計(jì)階段的第二設(shè)備進(jìn)行故障參數(shù)預(yù)測(cè)。

31、在一些實(shí)施例中，所述方法還包括：

32、若處于設(shè)計(jì)階段的所述第二設(shè)備的故障參數(shù)大于預(yù)設(shè)的故障閾值時(shí)，調(diào)整所述第二設(shè)備的所述第一類參數(shù)和所述第二類參數(shù)。

33、在一些實(shí)施例中，所述第二影響參數(shù)，包括：第一類參數(shù)、第二類參數(shù)和第三類參數(shù)；其中，所述第三類參數(shù)用于描述電子設(shè)備的整體可靠性；

34、所述基于所述第一設(shè)備的所述第二影響參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建故障預(yù)測(cè)模型，包括：

35、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一類參數(shù)、所述第二類參數(shù)、所述第三類參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建第二預(yù)測(cè)模型；所述第二預(yù)測(cè)模型用于對(duì)處于生產(chǎn)測(cè)試階段的第二設(shè)備進(jìn)行故障參數(shù)預(yù)測(cè)。

36、在一些實(shí)施例中，所述方法還包括：

37、若處于生產(chǎn)測(cè)試階段的所述第二設(shè)備的故障參數(shù)大于預(yù)設(shè)的故障閾值時(shí)，調(diào)整所述第二設(shè)備的所述第三類參數(shù)。

38、根據(jù)本公開實(shí)施例的第二方面，提供一種故障參數(shù)預(yù)測(cè)裝置，包括：

39、第一獲取模塊，配置為獲取多個(gè)不同的第一設(shè)備的歷史故障參數(shù)和第一影響參數(shù)；其中，所述歷史故障參數(shù)至少用于描述所述第一設(shè)備出現(xiàn)屏幕碎裂的概率；

40、第一確定模塊，配置為根據(jù)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定第二影響參數(shù)；所述第二影響參數(shù)包括：引起所述第一設(shè)備的屏幕碎裂的關(guān)鍵影響參數(shù)；

41、構(gòu)建模塊，配置為基于所述第一設(shè)備的所述第二影響參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建故障預(yù)測(cè)模型；

42、預(yù)測(cè)模塊，配置為獲取第二設(shè)備的第二影響參數(shù)，利用所述故障預(yù)測(cè)模型和所述第二設(shè)備的第二影響參數(shù)，預(yù)測(cè)所述第二設(shè)備的故障參數(shù)。

43、在一些實(shí)施例中，所述第一確定模塊，配置為：

44、對(duì)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)進(jìn)行相關(guān)性分析，基于相關(guān)性分析結(jié)果，從多個(gè)所述第一影響參數(shù)中確定出所述第二影響參數(shù)。

45、在一些實(shí)施例中，所述第一確定模塊，配置為：

46、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定各個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的第一信息；所述第一信息用于描述所述第一影響參數(shù)的變化趨勢(shì)與所述歷史故障參數(shù)的變化趨勢(shì)之間的關(guān)聯(lián)性；

47、基于所述多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)，確定多個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的第二信息；所述第二信息用于描述多個(gè)所述第一影響參數(shù)共同包含所述歷史故障參數(shù)的信息量；

48、基于所述第一信息和所述第二信息，確定多個(gè)所述第一影響參數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)的建模條件；

49、在滿足所述建模條件時(shí)，對(duì)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)進(jìn)行相關(guān)性分析。

50、在一些實(shí)施例中，所述裝置還包括：

51、第二獲取模塊，配置為若不滿足所述建模條件，則重新獲取所述第一設(shè)備的多個(gè)所述第一影響參數(shù)。

52、在一些實(shí)施例中，所述第一確定模塊，配置為：

53、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的同一所述第一影響參數(shù)，確定多個(gè)所述第一設(shè)備的第一排序信息；

54、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的歷史故障參數(shù)，確定多個(gè)所述第一設(shè)備的第二排序信息；

55、根據(jù)多個(gè)所述第一影響參數(shù)中每一個(gè)所述第一影響參數(shù)對(duì)應(yīng)的所述第一排序信息和所述第二排序信息之間的相關(guān)性，分別確定每一個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障信息之間的所述第一信息。

56、在一些實(shí)施例中，所述第一確定模塊，配置為：

57、對(duì)多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)進(jìn)行回歸分析，得到回歸模型；

58、基于所述回歸模型對(duì)應(yīng)的r平方值，確定多個(gè)所述第一影響參數(shù)與所述歷史故障參數(shù)之間的所述第二信息。

59、在一些實(shí)施例中，所述構(gòu)建模塊，配置為：

60、基于第一目標(biāo)設(shè)備的所述第二影響參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建初始預(yù)測(cè)模型；所述第一目標(biāo)設(shè)備為多個(gè)所述第一設(shè)備中的任一設(shè)備；

61、利用多個(gè)第二目標(biāo)設(shè)備的第二影響參數(shù)和所述初始預(yù)測(cè)模型，分別得到多個(gè)所述第二目標(biāo)設(shè)備的預(yù)測(cè)故障參數(shù)；其中，所述第二目標(biāo)設(shè)備為多個(gè)所述第一設(shè)備中除所述第一目標(biāo)設(shè)備外的任一設(shè)備；

62、基于多個(gè)所述第二目標(biāo)設(shè)備的預(yù)測(cè)故障參數(shù)和所述第二目標(biāo)設(shè)備的歷史故障參數(shù)，確定所述初始預(yù)測(cè)模型的準(zhǔn)確率；

63、在所述準(zhǔn)確率達(dá)到預(yù)設(shè)準(zhǔn)確率的情況下，將所述初始預(yù)測(cè)模型確定為所述故障預(yù)測(cè)模型。

64、在一些實(shí)施例中，所述第二影響參數(shù)包括：第一類參數(shù)和第二類參數(shù)；其中，所述第一類參數(shù)用于描述電子設(shè)備的屏幕結(jié)構(gòu)；所述第二類參數(shù)用于描述電子設(shè)備的屏幕單體強(qiáng)度；

65、所述構(gòu)建模塊，配置為：

66、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一類參數(shù)、所述第二類參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建第一預(yù)測(cè)模型；所述第一預(yù)測(cè)模型用于對(duì)處于設(shè)計(jì)階段的第二設(shè)備進(jìn)行故障參數(shù)預(yù)測(cè)。

67、在一些實(shí)施例中，所述裝置還包括：

68、第一調(diào)整模塊，配置為若處于設(shè)計(jì)階段的所述第二設(shè)備的故障參數(shù)大于預(yù)設(shè)的故障閾值時(shí)，調(diào)整所述第二設(shè)備的所述第一類參數(shù)和所述第二類參數(shù)。

69、在一些實(shí)施例中，所述第二影響參數(shù)，包括：第一類參數(shù)、第二類參數(shù)和第三類參數(shù)；其中，所述第三類參數(shù)用于描述電子設(shè)備的整體可靠性；

70、所述構(gòu)建模塊，配置為：

71、基于多個(gè)所述第一設(shè)備的所述第一類參數(shù)、所述第二類參數(shù)、所述第三類參數(shù)和所述歷史故障參數(shù)，構(gòu)建第二預(yù)測(cè)模型；所述第二預(yù)測(cè)模型用于對(duì)處于生產(chǎn)測(cè)試階段的第二設(shè)備進(jìn)行故障參數(shù)預(yù)測(cè)。

72、在一些實(shí)施例中，所述裝置還包括：

73、第二調(diào)整模塊，配置為若處于生產(chǎn)測(cè)試階段的所述第二設(shè)備的故障參數(shù)大于預(yù)設(shè)的故障閾值時(shí)，調(diào)整所述第二設(shè)備的所述第三類參數(shù)。

74、根據(jù)本公開實(shí)施例的第三方面，提供一種故障參數(shù)預(yù)測(cè)裝置，包括：

75、處理器；

76、配置為存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；

77、其中，所述處理器配置為：執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述第一方面中任一種故障參數(shù)預(yù)測(cè)方法中的步驟。

78、根據(jù)本公開實(shí)施例的第四方面，提供一種非臨時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，當(dāng)所述存儲(chǔ)介質(zhì)中的指令由故障參數(shù)預(yù)測(cè)裝置的處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述裝置能夠執(zhí)行上述第一方面中任一種故障參數(shù)預(yù)測(cè)方法中的步驟。

79、本公開的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：

80、本公開實(shí)施例中，根據(jù)第一影響參數(shù)與歷史故障參數(shù)來確定第二影響參數(shù)，并基于第二影響參數(shù)和歷史故障參數(shù)構(gòu)建故障預(yù)測(cè)模型，可以利用故障預(yù)測(cè)模型來對(duì)第二設(shè)備的故障參數(shù)進(jìn)行預(yù)測(cè)。這樣，基于第一影響參數(shù)與歷史故障參數(shù)確定出的第二影響參數(shù)來構(gòu)建故障預(yù)測(cè)模型，可以提高故障預(yù)測(cè)模型的準(zhǔn)確率，進(jìn)而提高預(yù)測(cè)屏幕碎裂概率的準(zhǔn)確率，增加預(yù)測(cè)結(jié)果的可信度，更加有效地進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)識(shí)別。

81、應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。