技術特征：

技術總結
本發(fā)明適用于胚胎電子細胞陣列技術領域，提供了一種總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數(shù)目選擇方法。該方法包括：分析總線胚胎電子細胞陣列的結構和工作特點，采用多態(tài)系統(tǒng)理論，建立總線胚胎電子細胞陣列的可靠性分析模型；以MOS管消耗數(shù)目為硬件資源消耗的衡量指標，建立總線胚胎電子細胞陣列的硬件資源消耗模型；針對電路的設計要求，利用所述可靠性分析模型和所述硬件資源消耗模型對陣列設計進行評估，確定總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞的數(shù)目。上述方法能夠合理地選擇陣列功能模塊內電子細胞的數(shù)目與空閑電子細胞數(shù)目，兼顧陣列的可靠性和硬件資源消耗。

技術研發(fā)人員：蔡金燕;孟亞峰;王濤;韓春輝;李丹陽;孟繁卿
受保護的技術使用者：中國人民解放軍軍械工程學院
技術研發(fā)日：2017.03.09
技術公布日：2017.07.14