本公開(kāi)一般涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸控顯示裝置及其驅(qū)動(dòng)方法。

背景技術(shù)：

觸控顯示裝置可以通過(guò)觸控電極來(lái)檢測(cè)手指在觸控顯示裝置的顯示屏平面內(nèi)的坐標(biāo)位置，并根據(jù)該坐標(biāo)位置來(lái)進(jìn)行相應(yīng)的顯示。

然而，顯示技術(shù)的發(fā)展以及人機(jī)交互界面交互操作的多樣性對(duì)觸控顯示裝置提出了更高的要求。例如，在檢測(cè)手指在顯示屏平面的坐標(biāo)位置之外，還需要對(duì)手指垂直按壓顯示屏的壓力大小進(jìn)行檢測(cè)，從而根據(jù)壓力大小的不同來(lái)進(jìn)行相應(yīng)的顯示。

現(xiàn)有技術(shù)中，通常通過(guò)在已有的觸控顯示裝置上添加額外的電極層來(lái)實(shí)現(xiàn)外界壓力值的檢測(cè)。然而，增加的電極層將導(dǎo)致制作工藝步驟的增加，使得產(chǎn)品良率可能下降。此外，增加的電極層還會(huì)導(dǎo)致觸控顯示裝置的厚度增大，不符合觸控顯示裝置的輕薄化發(fā)展趨勢(shì)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷或不足，期望提供一種觸控顯示裝置及其驅(qū)動(dòng)方法，以期解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種觸控顯示裝置，包括觸控電極陣列、壓力檢測(cè)參考電極以及集成電路；觸控電極陣列包括多個(gè)陣列排布的觸控電極；觸控電極用于在觸摸檢測(cè)期間提供觸摸檢測(cè)信號(hào)并采集觸摸感應(yīng)信號(hào)；觸控電極陣列中的至少一部分觸控電極在壓力檢測(cè)期間復(fù)用為壓力檢測(cè)電極，壓力檢測(cè)電極用于在壓力檢測(cè)期間提供壓力檢測(cè)信號(hào)并采集壓力感應(yīng)信號(hào)；壓力檢測(cè)參考電極用于在壓力檢測(cè)期間提供壓力參考信號(hào)；集成電路用于基于觸控電極采集的觸摸感應(yīng)信號(hào)和壓力檢測(cè)電極采集的壓力感應(yīng)信號(hào)生成壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)。

第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了一種觸控顯示裝置的驅(qū)動(dòng)方法，包括：在觸摸檢測(cè)期間，集成電路向觸控電極提供觸摸檢測(cè)信號(hào)；在壓力檢測(cè)期間，集成電路向壓力檢測(cè)電極提供壓力檢測(cè)信號(hào)；在顯示期間，集成電路向觸控電極提供公共電壓信號(hào)；其中，集成電路基于觸控電極采集的觸摸感應(yīng)信號(hào)和壓力檢測(cè)電極采集的壓力感應(yīng)信號(hào)生成壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)。

按照本申請(qǐng)實(shí)施例的方案，通過(guò)將至少一部分的觸控電極在壓力檢測(cè)期間復(fù)用為壓力檢測(cè)電極，使得這部分觸控電極既可以用于檢測(cè)觸摸位置又可以用于檢測(cè)外界壓力大小，從而簡(jiǎn)化了本申請(qǐng)的觸控顯示裝置的制程，提高了制作良率并且降低了觸控顯示裝置的厚度，順應(yīng)觸控顯示裝置的輕薄化發(fā)展趨勢(shì)。

此外，本申請(qǐng)的方案中，在生成壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)時(shí)，可以去除手指觸摸引起的觸摸感應(yīng)信號(hào)對(duì)壓力感應(yīng)信號(hào)的干擾，進(jìn)而使得本申請(qǐng)的方案檢測(cè)出的外界壓力值更加準(zhǔn)確。

附圖說(shuō)明

通過(guò)閱讀參照以下附圖所作的對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述，本申請(qǐng)的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯：

圖1示出了本申請(qǐng)一個(gè)實(shí)施例的觸控顯示裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖2A～圖2C示意性地示出了本申請(qǐng)的觸控顯示裝置的壓力檢測(cè)原理示意圖；

圖3示意性地示出了本申請(qǐng)的觸控顯示裝置的觸控電極、壓力檢測(cè)電極和壓力檢測(cè)參考電極上施加的電信號(hào)的時(shí)序圖；

圖4示出了本申請(qǐng)一個(gè)實(shí)施例的觸控顯示裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖5示出了本申請(qǐng)另一個(gè)實(shí)施例的觸控顯示裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖6示出了一種采用本申請(qǐng)?zhí)峁┑挠|控顯示裝置的觸控顯示終端的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；

圖7示出了本申請(qǐng)一個(gè)實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法的示意性流程圖；

圖8示出了本申請(qǐng)另一實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法中，各驅(qū)動(dòng)信號(hào)的的示意性時(shí)序圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。可以理解的是，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋相關(guān)發(fā)明，而非對(duì)該發(fā)明的限定。另外還需要說(shuō)明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與發(fā)明相關(guān)的部分。

需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本申請(qǐng)。

參見(jiàn)圖1所示，為本申請(qǐng)一個(gè)實(shí)施例的觸控顯示裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖。

本實(shí)施例的觸控顯示裝置包括觸控電極陣列、壓力檢測(cè)參考電極110以及集成電路120。

其中，觸控電極陣列包括多個(gè)陣列排布的觸控電極130。觸控電極130用于在觸摸檢測(cè)期間提供觸摸檢測(cè)信號(hào)并采集觸摸感應(yīng)信號(hào)。觸控電極陣列中的至少一部分觸控電極在壓力檢測(cè)期間復(fù)用為壓力檢測(cè)電極，壓力檢測(cè)電極用于在壓力檢測(cè)期間提供壓力檢測(cè)信號(hào)并采集壓力感應(yīng)信號(hào)。例如，圖1中，附圖標(biāo)記140所指示的為可復(fù)用為壓力檢測(cè)電極的觸控電極，類似地，與附圖標(biāo)記140所指示的觸控電極具有相同填充的觸控電極，也可以復(fù)用為壓力檢測(cè)電極。

壓力檢測(cè)參考電極110用于在壓力檢測(cè)期間提供壓力參考信號(hào)。

集成電路120用于基于觸控電極130采集的觸摸感應(yīng)信號(hào)和壓力檢測(cè)電極140采集的壓力感應(yīng)信號(hào)生成壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)。

本實(shí)施例的觸控顯示裝置，由于觸控電極陣列中的至少一部分觸控電極在壓力檢測(cè)期間復(fù)用為壓力檢測(cè)電極，使得集成電路120可以接收壓力檢測(cè)電極在壓力檢測(cè)期間采集到的壓力感應(yīng)信號(hào)。

此外，本實(shí)施例中，集成電路120在確定壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)時(shí)，不僅考慮了壓力檢測(cè)電極140采集的壓力感應(yīng)信號(hào)，還考慮了觸控電極130采集的觸摸感應(yīng)信號(hào)，從而可以通過(guò)觸摸感應(yīng)信號(hào)確定由于手指等觸摸觸控顯示裝置對(duì)壓力感應(yīng)信號(hào)產(chǎn)生的影響，使得最終得到的壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)僅僅與外界壓力值的大小相關(guān)，進(jìn)而可以使集成電路120根據(jù)壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)確定出的外界壓力值更接近真實(shí)的壓力值。

本實(shí)施例的觸控顯示裝置中，各壓力檢測(cè)電極140向壓力檢測(cè)參考電極110的正投影與壓力檢測(cè)參考電極110至少部分地重疊。這樣一來(lái)，各壓力檢測(cè)電極140與壓力檢測(cè)參考電極110之間可以形成用于檢測(cè)外界壓力大小的壓力檢測(cè)電容，且壓力檢測(cè)電極140與壓力檢測(cè)參考電極110可分別作為壓力檢測(cè)電容的兩個(gè)極板。當(dāng)本實(shí)施例的觸控顯示裝置受到外界壓力作用時(shí)，壓力檢測(cè)電容的兩個(gè)極板之間的間距將發(fā)生改變，相應(yīng)地，壓力檢測(cè)電容的電容量也將發(fā)生改變。由于壓力檢測(cè)電容的二極板的間距與外界壓力大小相關(guān)，進(jìn)而，壓力檢測(cè)電容的電容量變化量也與外界壓力大小相關(guān)，集成電路120可以采集壓力檢測(cè)電容的電容量變化量作為壓力感應(yīng)信號(hào)，從而確定外界壓力值的大小。

在本實(shí)施例的一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，如圖2所示，可以僅將觸控電極陣列中的一部分觸控電極復(fù)用為壓力檢測(cè)電極。在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，由于只有一部分觸控電極復(fù)用為壓力檢測(cè)電極，在壓力檢測(cè)期間，僅有一部分觸控電極(即復(fù)用為壓力檢測(cè)電極的觸控電極)提供壓力檢測(cè)信號(hào)并采集壓力感應(yīng)信號(hào)，也即是說(shuō)，在壓力檢測(cè)期間，僅有一部分觸控電極(即復(fù)用為壓力檢測(cè)電極的觸控電極)工作，可以使得觸控顯示裝置具有較低的功耗。在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式的一些應(yīng)用場(chǎng)景中，可以將復(fù)用為壓力檢測(cè)電極的觸控電極采用較為均勻分布的方式排布在觸控電極陣列中，從而使得無(wú)論外界壓力施加在觸控顯示裝置的何位置，均可以有至少一個(gè)與該施力位置較為接近的壓力檢測(cè)電極來(lái)采集壓力感應(yīng)信號(hào)，使得集成電路可以通過(guò)該壓力檢測(cè)電極采集的壓力感應(yīng)信號(hào)來(lái)確定出外界壓力值的大小。此外，由于施力位置與壓力檢測(cè)電極的位置較為接近，可以使得壓力檢測(cè)電極采集的壓力感應(yīng)信號(hào)更加真實(shí)地反映外界壓力值的大小，進(jìn)而提升集成電路確定出的外界壓力值具有較高的準(zhǔn)確度。

在本實(shí)施例的另一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，觸控電極陣列中的各觸控電極均復(fù)用為壓力檢測(cè)電極。在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，全部的觸控電極均在壓力檢測(cè)期間復(fù)用為壓力檢測(cè)電極，從而使得壓力檢測(cè)電極采集到的壓力感應(yīng)信號(hào)可以更加精確地反映實(shí)際的外界壓力值的大小，進(jìn)一步提升集成電路確定出的外界壓力值的準(zhǔn)確度。

下面將結(jié)合圖2A～圖2C來(lái)示意性地闡述本實(shí)施例的觸控顯示裝置進(jìn)行壓力檢測(cè)的原理。

首先，請(qǐng)參見(jiàn)圖2A所示，當(dāng)手指不與觸控顯示裝置接觸時(shí)，壓力檢測(cè)參考電極210與壓力檢測(cè)電極240之間可形成一電容C₀。

接著，請(qǐng)參見(jiàn)圖2B所示，當(dāng)手指與觸控顯示裝置接觸時(shí)，由于壓力檢測(cè)參考電極210與壓力檢測(cè)電極240之間的相對(duì)位置未發(fā)生改變，因而210與壓力檢測(cè)電極240之間的電容仍然保持為C₀。另一方面，由于手指觸摸到了觸控顯示裝置，觸控電極與手指之間將形成一耦合電容C_touch。此時(shí)，集成電路接收到的感應(yīng)信號(hào)為C₀+C_touch。

接著，請(qǐng)繼續(xù)參見(jiàn)圖2C所示，當(dāng)手指按壓觸控顯示裝置時(shí)，壓力檢測(cè)參考電極210與壓力檢測(cè)電極240之間的相對(duì)位置發(fā)生改變，因而210與壓力檢測(cè)電極240之間的電容由C₀變化為C₀+△C_force。同時(shí)，由于手指觸摸到了觸控顯示裝置，觸控電極與手指之間形成的耦合電容仍為C_touch。此時(shí)，集成電路接收到的感應(yīng)信號(hào)為C₀+C_touch+△C_force。

通過(guò)上述的對(duì)圖2A～圖2C的描述可以看出，本實(shí)施例的觸控顯示裝置中，集成電路可以通過(guò)在三個(gè)不同的時(shí)間段分別采集與C₀對(duì)應(yīng)的感應(yīng)信號(hào)、與C₀+C_touch對(duì)應(yīng)的感應(yīng)信號(hào)以及與C₀+C_touch+△C_force對(duì)應(yīng)的感應(yīng)信號(hào)，便可以得到△C_force的數(shù)值，進(jìn)而確定出外界壓力的具體數(shù)值。

下面，將結(jié)合圖3來(lái)進(jìn)一步闡述本申請(qǐng)的觸控顯示裝置的進(jìn)行壓力檢測(cè)的原理。圖3示意性地示出了本申請(qǐng)的觸控顯示裝置的觸控電極、壓力檢測(cè)電極和壓力檢測(cè)參考電極上施加的電信號(hào)的時(shí)序圖。

如圖3所示，一個(gè)幀周期可以包括觸摸檢測(cè)期間T1、壓力檢測(cè)期間T2和顯示期間T3。在一個(gè)幀周期中的壓力檢測(cè)期間T2可進(jìn)一步包括第一壓力檢測(cè)子期間T21和第二壓力檢測(cè)子期間T22。

在第一壓力檢測(cè)子期間T21，集成電路向壓力檢測(cè)電極FX提供壓力檢測(cè)信號(hào)并向壓力檢測(cè)參考電極FR提供壓力檢測(cè)參考信號(hào)。在這里，壓力檢測(cè)信號(hào)和壓力檢測(cè)參考信號(hào)可以是相位相同但幅值不同的信號(hào)，或者，壓力檢測(cè)信號(hào)和壓力檢測(cè)參考信號(hào)可以是幅值和相位均相同的信號(hào)。結(jié)合圖2B可以看出，在第一壓力檢測(cè)子期間T21中，壓力檢測(cè)電極240施加壓力檢測(cè)信號(hào)且壓力檢測(cè)參考電極210施加壓力檢測(cè)參考信號(hào)，由于壓力檢測(cè)信號(hào)和壓力檢測(cè)參考信號(hào)的相位相同，因而，壓力檢測(cè)信號(hào)和壓力檢測(cè)參考信號(hào)在第一壓力檢測(cè)子期間的任意時(shí)間點(diǎn)的電位差恒定，使得壓力檢測(cè)電極240和壓力檢測(cè)參考電極210之間形成的檢測(cè)電容在第一壓力檢測(cè)子期間內(nèi)恒定不變。進(jìn)而，集成電路采集到的感應(yīng)信號(hào)對(duì)應(yīng)于圖2B中的電容C₀+C_touch。

接著，在第二壓力檢測(cè)子期間T22，集成電路向壓力檢測(cè)電極FX提供壓力檢測(cè)信號(hào)并向壓力檢測(cè)參考電極FR提供參考電位信號(hào)。結(jié)合圖2C可以看出，在第二壓力檢測(cè)子期間T22，由于壓力檢測(cè)電極240和壓力檢測(cè)參考電極210上施加不同的信號(hào)，二者形成電容的兩個(gè)極板，該電容的容量為C₀+△C_force。此外，由于手指接觸觸控顯示裝置，手指與觸控電極之間將形成電容C_touch。因而，在第二壓力檢測(cè)子期間T22集成電路采集到的感應(yīng)信號(hào)對(duì)應(yīng)于圖2C中的電容C₀+△C_force+C_touch。

從以上對(duì)第一壓力檢測(cè)子期間T21和第二壓力檢測(cè)子期間T22的描述中可以看出，集成電路通過(guò)向壓力檢測(cè)電極和壓力檢測(cè)參考電極施加相應(yīng)的信號(hào)，可以得到對(duì)應(yīng)于C₀+C_touch的感應(yīng)信號(hào)以及對(duì)應(yīng)于C₀+△C_force+C_touch的感應(yīng)信號(hào)。不難看出，集成電路可以僅通過(guò)簡(jiǎn)單的運(yùn)算，即可得到由外界壓力引起的電容變化量△C_force，并基于該電容變化量△C_force確定出準(zhǔn)確的外界壓力值。

請(qǐng)繼續(xù)參見(jiàn)圖3所示，幀周期還可包括觸摸檢測(cè)期間T1。在觸摸檢測(cè)期間T1，集成電路向觸控電極TP提供觸摸檢測(cè)信號(hào)。在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，在觸摸檢測(cè)期間T1，集成電路可以同時(shí)向壓力檢測(cè)參考電極FR施加觸摸檢測(cè)信號(hào)，從而避免觸控電極TP和壓力檢測(cè)參考電極FR之間形成耦合電容，進(jìn)而使得觸摸檢測(cè)更加準(zhǔn)確。

此外，幀周期還包括顯示期間T3。觸控電極在顯示期間還可復(fù)用為公共電極。在顯示期間T3，集成電路還可以向各觸控電極提供公共電壓信號(hào)。

通過(guò)上述描述可以看出，通過(guò)分別向觸控顯示裝置的壓力檢測(cè)電極、壓力檢測(cè)參考電極以及觸控電極施加適當(dāng)?shù)男盘?hào)，可以實(shí)現(xiàn)觸摸檢測(cè)、壓力檢測(cè)以及顯示。

參見(jiàn)圖4所示，為本申請(qǐng)的觸控顯示裝置的一個(gè)實(shí)施例的示意性結(jié)構(gòu)圖。

本實(shí)施例的觸控顯示裝置可以包括如上所述的觸控顯示裝置。

具體地，如圖4所示，觸控顯示裝置包括陣列基板410、與陣列基板410相對(duì)設(shè)置的彩膜基板420以及背光單元430。

觸控電極411形成于陣列基板上410。而壓力檢測(cè)參考電極421可形成于彩膜基板420上。且至少一部分觸控電極411可復(fù)用為壓力檢測(cè)電極。

在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，如圖4所示，本實(shí)施例的觸控顯示裝置中的壓力檢測(cè)參考電極421可以為網(wǎng)狀電極。采用網(wǎng)狀電極用作壓力檢測(cè)參考電極，可以避免壓力檢測(cè)參考電極對(duì)形成在陣列基板410上的觸控電極411產(chǎn)生的屏蔽，不影響觸控電極411對(duì)手指觸摸的檢測(cè)。

此外，本實(shí)施例的觸控顯示裝置還可以包括用于貼合陣列基板和彩膜基板的光學(xué)透明膠(圖中未示出)。

壓力檢測(cè)參考電極421可形成于彩膜基板的第一表面，第一表面為彩膜基板靠近陣列基板的表面。

光學(xué)透明膠與壓力檢測(cè)參考電極421相接觸。光學(xué)透明膠內(nèi)可以形成有導(dǎo)電金屬球。這樣一來(lái)，壓力檢測(cè)參考電極421可以通過(guò)導(dǎo)電金屬球?qū)崿F(xiàn)與集成電路412電連接，使得集成電路412可以向壓力檢測(cè)參考電極421。

參見(jiàn)圖5所示，為本申請(qǐng)另一個(gè)實(shí)施例的觸控顯示裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖。

與圖4所示的實(shí)施例類似，本實(shí)施例的觸控顯示裝置同樣包括陣列基板510、與陣列基板510相對(duì)設(shè)置的彩膜基板520以及背光單元530。

觸控電極511形成于陣列基板上510，且至少一部分觸控電極511可復(fù)用為壓力檢測(cè)電極。

與圖4所示的實(shí)施例不同的是，本實(shí)施例中，壓力檢測(cè)參考電極531形成于背光單元530上。

背光單元530除了壓力檢測(cè)參考電極531之外，還可以包括其它的膜層，例如，背光鐵框(圖中未示出)、導(dǎo)光板532和多個(gè)疊置的光學(xué)膜片(圖中未示出)等。

本實(shí)施例中，通過(guò)將壓力檢測(cè)參考電極531設(shè)置在背光單元530中，既可以避免壓力檢測(cè)參考電極531對(duì)觸控顯示裝置的顯示效果產(chǎn)生不良影響，又可以避免壓力檢測(cè)參考電極531對(duì)觸控顯示裝置中的其它導(dǎo)電膜層產(chǎn)生干擾。

在其他實(shí)施例中，還可以將背光鐵框復(fù)用為壓力檢測(cè)參考電極，并不以此為限，背光單元中的任意整面的導(dǎo)電膜層均可作為壓力檢測(cè)參考電極。

圖6示出了一種采用本申請(qǐng)?zhí)峁┑挠|控顯示裝置的觸控顯示終端的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖，觸控顯示終端600為一手機(jī)，采用如前所述的觸控顯示裝置。此外，觸控顯示終端還可以為筆記本電腦、平板電腦、智能穿戴設(shè)備等顯示終端，并不以此為限。

參見(jiàn)圖7所示，為本申請(qǐng)的控顯示裝置的驅(qū)動(dòng)方法的一個(gè)實(shí)施例的示意性流程圖。本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法可用于驅(qū)動(dòng)如上所述的觸控顯示裝置。

具體而言，本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法包括：

步驟710，在觸摸檢測(cè)期間，集成電路向觸控電極提供觸摸檢測(cè)信號(hào)。

步驟720，在壓力檢測(cè)期間，集成電路向壓力檢測(cè)電極提供壓力檢測(cè)信號(hào)。

步驟730，在顯示期間，集成電路向觸控電極提供公共電壓信號(hào)。

其中，集成電路基于觸控電極采集的觸摸感應(yīng)信號(hào)和壓力檢測(cè)電極采集的壓力感應(yīng)信號(hào)生成壓力檢測(cè)數(shù)據(jù)。

在這里，需要說(shuō)明的是，圖7中，各步驟的編號(hào)僅用于表示本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法所包含的步驟，并不用于限定各步驟之間的先后順序關(guān)系。

本實(shí)施例的方法，例如可以應(yīng)用如圖3所示的時(shí)序來(lái)向各電極施加相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)。

在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，一個(gè)幀周期中的壓力檢測(cè)期間可以包括第一壓力檢測(cè)子期間和第二壓力檢測(cè)子期間。

在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，步驟720可以進(jìn)一步包括：

步驟721，在第一壓力檢測(cè)子期間，集成電路向壓力檢測(cè)電極提供壓力檢測(cè)信號(hào)并向壓力檢測(cè)參考電極提供壓力檢測(cè)參考信號(hào)。

步驟722，在第二壓力檢測(cè)子期間，集成電路向壓力檢測(cè)電極提供壓力檢測(cè)信號(hào)并向壓力檢測(cè)參考電極提供參考電位信號(hào)。

在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，壓力檢測(cè)信號(hào)和壓力檢測(cè)參考信號(hào)為相位相同的信號(hào)。

在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，在第一壓力檢測(cè)子期間，集成電路可以采集到與圖2B中的C₀+C_touch對(duì)應(yīng)的感應(yīng)信號(hào)量，而在第二壓力檢測(cè)子期間，集成電路可以采集到與圖2C中的C₀+△C_force+C_touch對(duì)應(yīng)的感應(yīng)信號(hào)量。

在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式的一些應(yīng)用場(chǎng)景中，壓力檢測(cè)參考信號(hào)與壓力檢測(cè)信號(hào)可以為幅值、相位均相同的信號(hào)。這樣一來(lái)，集成電路可以在第一壓力檢測(cè)子期間中采用相同的信號(hào)來(lái)同時(shí)驅(qū)動(dòng)壓力檢測(cè)電極和壓力檢測(cè)參考電極，減少集成電路所需生成的信號(hào)的數(shù)量，降低集成電路的功耗。

此外，本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法中，集成電路在第二壓力檢測(cè)子期間向壓力檢測(cè)參考電極提供的參考電位信號(hào)可以為固定電壓信號(hào)。例如，固定電壓信號(hào)可以為地電壓信號(hào)或公共電壓信號(hào)。當(dāng)參考電位信號(hào)為地電壓信號(hào)或者公共電壓信號(hào)時(shí)，可以減少集成電路需要生成的信號(hào)的數(shù)量，減輕集成電路的工作負(fù)擔(dān)，從而提高應(yīng)用本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法的觸控顯示裝置的穩(wěn)定性。

此外，在本實(shí)施例的一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，壓力檢測(cè)信號(hào)和觸摸檢測(cè)信號(hào)可以具有相同的波形。在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，可以進(jìn)一步減少集成電路需要生成的信號(hào)的數(shù)量，減輕集成電路的工作負(fù)擔(dān)，從而提高應(yīng)用本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法的觸控顯示裝置的穩(wěn)定性。

在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)方法中，還可以應(yīng)用圖8所示的時(shí)序來(lái)向各電極施加相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)。例如，如圖8所示，在同一個(gè)幀周期中，第一壓力檢測(cè)子期間T21和第二壓力檢測(cè)子期間T22在時(shí)間上可以不相鄰。

例如，在一個(gè)幀周期中，顯示期間可以包括多個(gè)顯示子期間(如圖8中的T31、T32和T33所示)，在各個(gè)顯示子期間，可以向觸控顯示裝置中的至少一部分觸控電極施加公共電壓信號(hào)以實(shí)現(xiàn)與這部分觸控電極相對(duì)應(yīng)的顯示區(qū)域的畫面的顯示。此外，在一個(gè)幀周期中，可以先執(zhí)行第一壓力檢測(cè)子期間T21，隨后執(zhí)行顯示期間中的某一個(gè)或某幾個(gè)顯示子期間接著再執(zhí)行第二壓力檢測(cè)子期間T22。這樣一來(lái)，可以避免壓力檢測(cè)期間，復(fù)用為壓力檢測(cè)電極的觸控電極由于接收集成電路發(fā)送的用于檢測(cè)外界壓力的壓力檢測(cè)信號(hào)而非用于顯示的公共電壓信號(hào)而影響觸控顯示裝置的顯示效果。例如，如圖8所示，可以將第一壓力檢測(cè)子期間T21設(shè)置至一個(gè)幀周期的前半周期(如圖8中1^st half frame所示的時(shí)間段)，而將第二壓力檢測(cè)子期間T22設(shè)置至一個(gè)幀周期的后半周期(如圖8中2^nd half frame所示的時(shí)間段)。這樣一來(lái)，在一個(gè)幀周期中，各顯示子期間可以較為均勻地分布，使得采用圖8所示的時(shí)序進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的觸控顯示裝置具有更佳的顯示效果。此外，觸摸檢測(cè)期間T1可以設(shè)置至幀周期中的任意時(shí)間段。

在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中，第一壓力檢測(cè)子期間還可以復(fù)用為觸摸檢測(cè)期間。這樣一來(lái)，可以使得一個(gè)幀周期中，顯示期間所占的時(shí)間相應(yīng)地更多，顯示效果更好。

本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，本申請(qǐng)中所涉及的發(fā)明范圍，并不限于上述技術(shù)特征的特定組合而成的技術(shù)方案，同時(shí)也應(yīng)涵蓋在不脫離所述發(fā)明構(gòu)思的情況下，由上述技術(shù)特征或其等同特征進(jìn)行任意組合而形成的其它技術(shù)方案。例如上述特征與本申請(qǐng)中公開(kāi)的(但不限于)具有類似功能的技術(shù)特征進(jìn)行互相替換而形成的技術(shù)方案。