基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法
【專利摘要】本發(fā)明提出一種基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法，它采用了兩個射頻識別芯片A芯片和B芯片，在A芯片中的EPC區(qū)任取a位字符，在B芯片的EPC區(qū)任取8-a位字符組成8位字符的密碼，并將該密碼存入加密區(qū)，將A芯片的TID存入到B芯片的用戶區(qū)，將B芯片的TID存入到A芯片的用戶區(qū)，作為校驗依據(jù)，校驗時，讀取B芯片的TID并與存儲在A芯片中的B芯片的TID做比較，而且讀取A芯片的TID并與存儲在B芯片中的A芯片的TID作比較，如果有一個不相同，則校驗失敗，不進(jìn)入輸入密碼的步驟，如果兩個都相同，則可以輸入密碼。采用這種方法加密等級非常高，理論上密碼是不會被破解。
【專利說明】基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法
【技術(shù)領(lǐng)域】:
[0001]本發(fā)明涉及一種應(yīng)用在銀行、票據(jù)等安全認(rèn)證等級較高的領(lǐng)域中的基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法。
【背景技術(shù)】:
[0002]目前在RFID(射頻識別技術(shù))應(yīng)用領(lǐng)域中，一般是采用單芯片電子標(biāo)簽，如一般的射頻識別卡，但是在一些對安全認(rèn)證等級要求苛刻的行業(yè)(如銀行、票據(jù)等領(lǐng)域)，在使用現(xiàn)有的單芯片電子作為防偽或者唯一憑證的時候，行業(yè)應(yīng)用者就會對RFID的安全性提出疑問，因為單芯片電子標(biāo)簽在理論上密碼是可以被破解的。本發(fā)明人為解決上述問題，開發(fā)出一款雙芯片電子標(biāo)簽，這種電子標(biāo)簽是一張射頻識別卡內(nèi)含有兩個RFID芯片，因此，目前急需一種基于次雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法。

【發(fā)明內(nèi)容】
:
[0003]為解決上述的技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種加密等級非常高，理論上密碼是不會被破解的基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案是，提供一種基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法，它采用了兩個射頻識別芯片A芯片和B芯片，所述加密校驗方法包括以下步驟:
[0005]1、在A芯片中的EPC區(qū)任取a位字符，在B芯片的EPC區(qū)任取8_a位字符組成8位字符的密碼，并將該密碼存入加密區(qū)，所述EPC為產(chǎn)品電子編碼；
[0006]2、將A芯片的TID存入到B芯片的用戶區(qū)，將B芯片的TID存入到A芯片的用戶區(qū)，作為校驗依據(jù)，其中TID為芯片的芯片身份標(biāo)識；
[0007]3、校驗時，讀取B芯片的TID并與存儲在A芯片中的B芯片的TID做比較，而且讀取A芯片的TID并與存儲在B芯片中的A芯片的TID作比較，如果有一個不相同，則校驗失敗，不進(jìn)入輸入密碼的步驟，如果兩個都相同，則可以輸入密碼。
[0008]采用上述方法后，本發(fā)明具有以下顯著優(yōu)點和有益效果:
[0009]該方法基于具備雙芯片的電子標(biāo)簽產(chǎn)品，這種安全等級要求苛刻的RFID產(chǎn)品采用RFID超高頻芯片，這種芯片的物理擦寫次數(shù)是10萬次，這種芯片的存儲區(qū)一般包括TID區(qū)、EPC區(qū)以及用戶區(qū)，其中TID區(qū)用于存放芯片的TID編碼，這個區(qū)為只讀，EPC區(qū)用于存放芯片的產(chǎn)品電子編碼，用戶區(qū)是用來供用戶使用，RFID超高頻芯片的TID是全球唯一編碼，RFID超高頻芯片加密位數(shù)為8位，即加密區(qū)中有8位字符，而采用這種雙芯片加密方法之后，由于每個芯片的EPC都有96位，因此兩個芯片就具有192位，而加密區(qū)的密碼是由這192位中選8位組成，因此每個加密區(qū)破解理論上需要32的64次方，而這種芯片的擦寫次數(shù)為2的16次方，故在破解過程中芯片區(qū)已經(jīng)損壞。
[0010]并且，在輸入密碼之前，還要進(jìn)行產(chǎn)品校驗，即檢測與A芯片配對的是否是B芯片，此校驗通過TID碼進(jìn)行校驗，如果校驗不合格，則無法進(jìn)入輸入密碼的步驟，因此也無法通過更換芯片來對密碼進(jìn)行破解，因此在理論上采用本加密校驗方法之后的雙芯片電子標(biāo)簽在理論上無法破解,能到達(dá)極高的加密需求。
【具體實施方式】:
[0011]下面結(jié)合具體實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0012]本發(fā)明提供一種基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法，它采用了兩個射頻識別芯片A芯片和B芯片，所述加密校驗方法包括以下步驟:
[0013]1、在A芯片中的EPC區(qū)任取m位字符，在B芯片的EPC區(qū)任取8_m位字符組成8位字符的密碼，并將該密碼存入加密區(qū)，所述EPC為產(chǎn)品電子編碼；
[0014]2、將A芯片的TID存入到B芯片的用戶區(qū)，將B芯片的TID存入到A芯片的用戶區(qū)，作為校驗依據(jù)，其中TID為芯片的芯片身份標(biāo)識；
[0015]3、輸入密碼之前先進(jìn)行校驗，校驗時，讀取B芯片的TID并與存儲在A芯片中的B芯片的TID做比較，而且讀取A芯片的TID并與存儲在B芯片中的A芯片的TID作比較，如果有一個不相同，則校驗失敗，不進(jìn)入輸入密碼的步驟，如果兩個都相同，則可以輸入密碼；
[0016]其中，8≥m≥O。
[0017]下面舉例說明:
[0018]例如，A芯片中的EPC區(qū)有96位，B芯片中的EPC區(qū)也有96位，在A芯片中選擇其中三位，例如1、4、8位作為密碼的前3位，那么在B芯片中選擇4、5、6、7、8作為后5位。那么密碼就為A芯片的1、4、8位加上B芯片的、4、5、6、7、8位共8位。將這8位作為密碼存入加密區(qū)。當(dāng)然，具體選擇A芯片還是B芯片中的幾位以及是哪幾位這種密碼制訂規(guī)則是由密碼設(shè)定方設(shè)置的。
[0019]在輸入密碼之前需要先進(jìn)行校驗，其校驗方法就是根據(jù)A芯片和B芯片中存儲的對應(yīng)芯片的TID碼，TID碼為每個芯片全球所唯一的編碼。這樣就只能是A芯片與B芯片配對時才可以盡心輸入密碼的操作。因為EPC區(qū)為快速存儲區(qū)，有可能破解者會采用C芯片復(fù)制B芯片中的EPC區(qū)，偽造B芯片來進(jìn)行破解，采用本發(fā)明所述的加密校驗方法之后，會先進(jìn)行校驗，C芯片的TID區(qū)是只讀而不可更改的，因此如果是將B芯片替換成C芯片，那么由于C芯片中的TID與A芯片中存儲的TID不相同，因此校驗不通過，則不進(jìn)入輸入密碼的步驟，那么就無法通過更換芯片的方法來對密碼進(jìn)行破解。
【權(quán)利要求】
1.一種基于雙芯片電子標(biāo)簽的加密校驗方法，其特征在于:它采用了兩個射頻識別芯片A芯片和B芯片，所述加密校驗方法包括以下步驟: I )、在A芯片中的EPC區(qū)任取m位字符，在B芯片的EPC區(qū)任取8_m位字符組成8位字符的密碼，并將該密碼存入加密區(qū)，所述EPC為產(chǎn)品電子編碼； 2)、將A芯片的TID存入到B芯片的用戶區(qū)，將B芯片的TID存入到A芯片的用戶區(qū)，作為校驗依據(jù)，其中TID為芯片的芯片身份標(biāo)識； 3)、輸入密碼之前先進(jìn)行校驗，校驗時，讀取B芯片的TID并與存儲在A芯片中的B芯片的TID做比較，而且讀取A芯片的TID并與存儲在B芯片中的A芯片的TID作比較，如果有一個不相同，則校驗失敗，不進(jìn)入輸入密碼的步驟，如果兩個都相同，則進(jìn)入輸入密碼的步驟； 其中，8≥m≥O。
【文檔編號】G06K19/073GK103745253SQ201310717833
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年12月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月23日
【發(fā)明者】司海濤, 高博 申請人:寧波立芯射頻股份有限公司