針對硬核mcu的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，包括：測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊；測試軟件包括主程序和中斷服務(wù)程序；主程序采用隨機(jī)的方式對相關(guān)中斷寄存器進(jìn)行賦值，并將中斷寄存器配置，中斷處理信息，軟件準(zhǔn)備好信號傳遞給所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊；中斷服務(wù)程序記錄中斷標(biāo)號與中斷順序；仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，采用隨機(jī)方式產(chǎn)生中斷置位信息，直接對仿真驗(yàn)證系統(tǒng)中的各中斷標(biāo)志位進(jìn)行設(shè)置；測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊配合獲取中斷處理信息，在一定流程控制下協(xié)同完成對中斷控制器的仿真驗(yàn)證。本發(fā)明還公開了一種針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證方法。本發(fā)明能提高驗(yàn)證效率和覆蓋率，且具有很強(qiáng)的可復(fù)用性。
【專利說明】針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及SOC (芯片上系統(tǒng))的功能驗(yàn)證領(lǐng)域，特別是涉及一種針對硬核MCU(Micro Control Unit微控制單元)的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)。本發(fā)明還涉及一種針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證方法。
【背景技術(shù)】
[0002]中斷系統(tǒng)是MCU的重要組成部分，實(shí)時控制、故障自動處理、與外圍設(shè)備間的數(shù)據(jù)傳送一般都會采用中斷系統(tǒng)。一次完整的中斷過程包括，中斷源產(chǎn)生，中斷源向MCU提出中斷請求，MCU暫?，F(xiàn)行程序而轉(zhuǎn)為響應(yīng)中斷請求，處理中斷源對應(yīng)的中斷服務(wù)程序，中斷返回。MCU中往往包含多個中斷源，通常由中斷控制器負(fù)責(zé)根據(jù)中斷標(biāo)志和寄存器進(jìn)行判斷，告知MCU內(nèi)核此時應(yīng)當(dāng)處理哪一個中斷。中斷控制器功能的正確與否，直接關(guān)系著MCU能否正確處理中斷。因此，對中斷控制器的詳細(xì)驗(yàn)證是必不可少的。
[0003]當(dāng)前的MCU設(shè)計經(jīng)常采用購買的內(nèi)核與自主設(shè)計的外設(shè)進(jìn)行組裝，而內(nèi)核可能為硬核或者加密核，這時將無法單獨(dú)提取中斷控制器模塊進(jìn)行驗(yàn)證。如果只通過人工手動撰寫系統(tǒng)級驗(yàn)證測試?yán)瑫档万?yàn)證效率，且很難覆蓋到大量可能發(fā)生的中斷源觸發(fā)情況，因而難以確保中斷控制器模塊的功能是否正確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，能夠基于隨機(jī)的方式針對硬核MCU的中斷控制器進(jìn)行仿真驗(yàn)證，提高驗(yàn)證效率和覆蓋率；為此，本發(fā)明還要提供一種針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證方法。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)包括:測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊；
[0006]所述測試軟件包括主程序和中斷服務(wù)程序；所述主程序采用隨機(jī)的方式對相關(guān)中斷寄存器進(jìn)行賦值，并將中斷寄存器配置，中斷處理信息，軟件準(zhǔn)備好信號傳遞給所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊；所述中斷服務(wù)程序記錄中斷標(biāo)號與中斷順序；
[0007]所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，采用隨機(jī)方式產(chǎn)生中斷置位信息，直接對仿真驗(yàn)證系統(tǒng)中的各中斷標(biāo)志位進(jìn)行設(shè)置；
[0008]所述測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊配合獲取中斷處理信息，在一定流程控制下協(xié)同完成對中斷控制器的仿真驗(yàn)證。
[0009]本發(fā)明的針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證方法，包括如下步驟:
[0010]步驟一、測試軟件開始運(yùn)行后，首先進(jìn)行各相關(guān)中斷寄存器的設(shè)置，在隨機(jī)設(shè)置好各中斷寄存器的值后，向特定RAM地址寫入設(shè)置的中斷寄存器值，該中斷寄存器設(shè)置信息將由仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊的監(jiān)視模塊收集；
[0011]步驟二、所述監(jiān)視模塊將發(fā)送軟件準(zhǔn)備好信號給仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊的中斷產(chǎn)生器模塊，由中斷產(chǎn)生器模塊產(chǎn)生隨機(jī)置位信息，對中斷標(biāo)志進(jìn)行置位，并將置位信息傳遞給仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊的記分板模塊；
[0012]根據(jù)不同的中斷寄存器設(shè)置和中斷標(biāo)志位置位，若觸發(fā)了中斷，則相應(yīng)的中斷服務(wù)子程序?qū)⒈粓?zhí)行；通過在中斷服務(wù)子程序里預(yù)先寫入適當(dāng)?shù)臉?biāo)志位，由測試軟件記錄下中斷的觸發(fā)和執(zhí)行順序；所有被觸發(fā)的中斷服務(wù)子程序執(zhí)行結(jié)束之后，由測試軟件發(fā)送結(jié)束標(biāo)志告知仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，由監(jiān)視模塊來獲取之前由測試軟件收集的相關(guān)中斷信息，并送入記分板模塊；若中斷未觸發(fā)，則直接由測試軟件發(fā)送結(jié)束信號，將中斷未執(zhí)行的信息傳遞給監(jiān)視模塊，然后由監(jiān)視模塊送入記分板模塊；
[0013]步驟三、記分板模塊將通過中斷寄存器設(shè)置信息和中斷標(biāo)志位置位信息收集覆蓋率，并計算出正常情況下中斷的觸發(fā)以及執(zhí)行順序，將其與經(jīng)仿真得到的真實(shí)中斷產(chǎn)生情況進(jìn)行對比，得出判斷結(jié)果，結(jié)束一個隨機(jī)測試?yán)姆抡妗?br> [0014]本發(fā)明針對硬核MCU的中斷控制器難以進(jìn)行全面驗(yàn)證的困難，提取整個MCU中與中斷相關(guān)的電路部分(包括MCU內(nèi)核，外圍中斷控制器，ROM程序存儲器模型，RAM存儲器模型，ROM總線控制器等)，運(yùn)用測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊協(xié)同隨機(jī)的方式對中斷控制器進(jìn)行驗(yàn)證。隨機(jī)性的引入將大大提升仿真驗(yàn)證中對不同中斷發(fā)生處理情況的覆蓋率，且這樣的仿真驗(yàn)證具有很強(qiáng)的可復(fù)用性，適用于大部分硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證，能極大提高驗(yàn)證效率和覆蓋率，增強(qiáng)設(shè)計的信心。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]下面結(jié)合附圖與【具體實(shí)施方式】對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明:
[0016]圖1是所述針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)架構(gòu)圖；
[0017]圖2是圖1所示仿真驗(yàn)證系統(tǒng)的驗(yàn)證流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]在硬核MCU的實(shí)際應(yīng)用中，中斷的產(chǎn)生情況是紛繁多樣的，人工撰寫中斷測試?yán)ǔH能針對特殊應(yīng)用對中斷寄存器進(jìn)行配置，進(jìn)而在一定條件下觸發(fā)中斷，這會導(dǎo)致仿真驗(yàn)證上大量可能狀況的遺漏。本發(fā)明采用隨機(jī)方式對中斷控制器進(jìn)行仿真驗(yàn)證，可減少人工撰寫測試?yán)墓ぷ髁?，高效的提升仿真?yàn)證的覆蓋范圍，因此是十分有必要的。
[0019]所述隨機(jī)包括軟測試件中對各相關(guān)中斷寄存器的隨機(jī)設(shè)置；硬核MCU中斷標(biāo)志位的隨機(jī)設(shè)置。
[0020]參見圖1所示，在一實(shí)施例中，所述針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，包括:DUT (Design Under Test:待測設(shè)計)模塊(圖1中虛線框內(nèi)所包括的部分)，測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊。
[0021]為驗(yàn)證硬核MCU的中斷控制器，DUT模塊需要包括整個MCU中與中斷相關(guān)的電路設(shè)計部分，在本實(shí)施例中包括=MCU內(nèi)核及MCU內(nèi)核自帶的中斷控制器(即圖1中的內(nèi)部中斷控制器，該“內(nèi)部中斷控制器”就是要進(jìn)行仿真驗(yàn)證的中斷控制器)、外圍中斷控制器、ROM總線控制器和ROM程序存儲器模型、RAM存儲器模型(R0M/RAM都只是行為級模型)；其中，ROM程序存儲器模型用于存儲仿真驗(yàn)證所需的測試軟件，MCU內(nèi)核通過ROM總線控制器訪問所述測試軟件，RAM存儲器模型用于存放所述測試軟件中使用的變量。
[0022]所述測試軟件包括主程序和中斷服務(wù)程序。[0023]所述主程序采用隨機(jī)的方式對相關(guān)中斷寄存器進(jìn)行賦值(或稱設(shè)置)，并將中斷寄存器配置，中斷處理信息，軟件準(zhǔn)備好信號傳遞給所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，等待所有服務(wù)程序執(zhí)行結(jié)束，發(fā)送中斷處理信息，發(fā)送測試軟件處理結(jié)束信號。
[0024]所述中斷服務(wù)程序包括η個中斷服務(wù)子程序，每個中斷服務(wù)子程序包括中斷標(biāo)號記錄，中斷順序記錄等。
[0025]所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊包括中斷產(chǎn)生器模塊，監(jiān)視模塊和記分板模塊；可以采用System Verilog語言來搭建開發(fā)。
[0026]所述中斷產(chǎn)生器模塊，通過隨機(jī)方式產(chǎn)生中斷置位信息，直接在環(huán)境代碼中對系統(tǒng)中的各中斷標(biāo)志位進(jìn)行設(shè)置(可使用System Verilog語言中的force語句),其中，中斷標(biāo)志位信息可分為兩組，一組直接輸入MCU內(nèi)核自帶的中斷控制器(即圖1中的中斷標(biāo)志位組2);另一組通過外圍中斷控制器處理，再將處理結(jié)果輸入到MCU的內(nèi)部中斷控制器中(SP圖1中的中斷標(biāo)志位組1)，最終觸發(fā)在測試軟件中已由寄存器配置使能的中斷。該中斷產(chǎn)生器模塊將把各次隨機(jī)產(chǎn)生的隨機(jī)數(shù)值，即對應(yīng)的隨機(jī)中斷標(biāo)志位設(shè)置信息送入所述記分板模塊；所述記分板模塊將記錄下各次隨機(jī)的中斷標(biāo)志位設(shè)置信息信息。
[0027]所述監(jiān)視模塊，用于抓取由主程序中特定指令定義的內(nèi)核行為，如向某一特定RAM地址寫數(shù)據(jù)的動作，而寫入的數(shù)值可以作為所述測試軟件的主程序中隨機(jī)產(chǎn)生的各中斷寄存器的配置數(shù)值，也是中斷服務(wù)程序內(nèi)當(dāng)前執(zhí)行的中斷標(biāo)號，兩者皆可通過向不同RAM地址寫數(shù)據(jù)的動作來區(qū)分。由此，該監(jiān)視模塊可以獲取所述測試軟件向驗(yàn)證環(huán)境模塊傳遞的中斷信息，這些中斷信息最終將一并送入所述記分板模塊。所述中斷信息包括各中斷寄存器的配置信息以及中斷的產(chǎn)生和執(zhí)行順序等。
[0028]所述記分板模塊，對中斷產(chǎn)生器模塊產(chǎn)生的隨機(jī)中斷標(biāo)志位設(shè)置信息和獲取的中斷信息進(jìn)行處理，以實(shí)現(xiàn)中斷驗(yàn)證的結(jié)果判斷和覆蓋率收集。為實(shí)現(xiàn)該目的，所述記分板模塊包括:
[0029]覆蓋率收集模塊，通過各相關(guān)中斷寄存器設(shè)置信息和中斷標(biāo)志置位信息收集覆蓋率。
[0030]標(biāo)準(zhǔn)值推算模塊，在不同的中斷寄存器設(shè)置(主要包括優(yōu)先級和使能)和中斷標(biāo)志位設(shè)置下，計算標(biāo)準(zhǔn)的中斷產(chǎn)生數(shù)據(jù)，即正常情況下中斷的觸發(fā)以及執(zhí)行順序。
[0031 ] 檢查模塊，將經(jīng)仿真得到的真實(shí)中斷產(chǎn)生數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)的中斷產(chǎn)生數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，得出判斷結(jié)果，即單個測試?yán)姆抡骝?yàn)證結(jié)果，結(jié)束一個隨機(jī)測試?yán)姆抡骝?yàn)證。
[0032]所述推算模塊和檢查模塊從本質(zhì)上來說都是有窮的組合邏輯形式，通過撰寫處理任務(wù)(task)或函數(shù)(fucntion)可以實(shí)現(xiàn)；而覆蓋率收集模塊則可以直接通過由中斷產(chǎn)生器模塊和監(jiān)視模塊送入的數(shù)據(jù)拼接成一串0，I序列來進(jìn)行表征。對于每一個待驗(yàn)證的硬核MCU的中斷控制器，這個序列都將會是定長的，假定為n，此時將會有2n種可能情況，故只需要將已經(jīng)覆蓋到的情況數(shù)除以2n即可得到測試的覆蓋率。由此可以看出覆蓋率的計算也是十分簡便可行的。
[0033]結(jié)合圖2所示，所述針對硬核MCU的中斷控制器的驗(yàn)證系統(tǒng)的整個仿真驗(yàn)證過程將按如下流程進(jìn)行:
[0034]所述測試軟件開始運(yùn)行后，首先進(jìn)行各相關(guān)中斷寄存器的設(shè)置，一般情況下，包括使能寄存器，優(yōu)先級寄存器等。在隨機(jī)設(shè)置好各中斷寄存器的值后，向特定RAM地址寫入設(shè)置的中斷寄存器值，該中斷寄存器設(shè)置信息將由監(jiān)視模塊收集。
[0035]之后，監(jiān)視模塊將發(fā)送軟件準(zhǔn)備好(ready )信號給中斷產(chǎn)生器模塊，由中斷產(chǎn)生器模塊產(chǎn)生隨機(jī)置位信息，對中斷標(biāo)志進(jìn)行置位，并將置位信息傳遞給所述記分板模塊。根據(jù)不同的中斷寄存器設(shè)置和中斷標(biāo)志位置位，可能觸發(fā)中斷，如隨機(jī)產(chǎn)生的使能寄存器置位且相應(yīng)的中斷標(biāo)志位也置位；但也可能不觸發(fā)中斷，如隨機(jī)產(chǎn)生的使能寄存器或中斷標(biāo)志位均未置位。若觸發(fā)了中斷，則相應(yīng)的中斷服務(wù)子程序?qū)⒈粓?zhí)行；通過在中斷服務(wù)子程序里預(yù)先寫入適當(dāng)?shù)臉?biāo)志位，由測試軟件記錄下中斷的觸發(fā)和執(zhí)行順序情況；所有被觸發(fā)的中斷服務(wù)子程序執(zhí)行結(jié)束之后，由測試軟件發(fā)送結(jié)束標(biāo)志告知仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，由監(jiān)視模塊來獲取之前由測試軟件收集的相關(guān)中斷信息，并送入記分板模塊；若中斷未觸發(fā)，則直接由測試軟件發(fā)送結(jié)束信號，將中斷未執(zhí)行的信息傳遞給監(jiān)視模塊，然后由監(jiān)視模塊送入記分板模塊。
[0036]最后，記分板模塊將通過中斷寄存器設(shè)置信息和中斷標(biāo)志位置位信息收集覆蓋率，并計算出正常情況下中斷的觸發(fā)以及執(zhí)行順序，將其與經(jīng)仿真得到的真實(shí)中斷產(chǎn)生情況進(jìn)行對比，得出判斷結(jié)果，結(jié)束一個隨機(jī)測試?yán)姆抡?。通過在記分板模塊強(qiáng)制(可使用force語句)MCU內(nèi)核的PC (程序計數(shù)器)值至初始值，可以不斷的進(jìn)行該隨機(jī)測試，直至覆蓋率達(dá)到可接受的水平。
[0037]所有硬核MCU產(chǎn)品幾乎都會包含中斷控制器，因而對中斷控制器的全面仿真驗(yàn)證在仿真驗(yàn)證環(huán)節(jié)是不可或缺的。由上面所述也可以看出，所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊的搭建和測試軟件的編程都具有良好的可復(fù)用性，可以適用于大部分的硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證。
[0038]以上通過具體實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的描述說明，但這些并非構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在不脫離本發(fā)明原理的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員還可以做出許多改進(jìn)和變形，這些均視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，包括:測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊； 所述測試軟件包括主程序和中斷服務(wù)程序；所述主程序采用隨機(jī)的方式對相關(guān)中斷寄存器進(jìn)行賦值，并將中斷寄存器配置，中斷處理信息，軟件準(zhǔn)備好信號傳遞給所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊；所述中斷服務(wù)程序記錄中斷標(biāo)號與中斷順序； 所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，采用隨機(jī)方式產(chǎn)生中斷置位信息，直接對仿真驗(yàn)證系統(tǒng)中的各中斷標(biāo)志位進(jìn)行設(shè)置； 所述測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊配合獲取中斷處理信息，在一定流程控制下協(xié)同完成對中斷控制器的仿真驗(yàn)證。
2.如權(quán)利要求1所述的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于:待測設(shè)計DUT模塊，包括:MCU內(nèi)核及MCU內(nèi)核自帶的中斷控制器、外圍中斷控制器、ROM總線控制器、ROM程序存儲器模型和RAM存儲器模型；其中，ROM程序存儲器模型用于存儲仿真驗(yàn)證所需的所述測試軟件，MCU內(nèi)核通過ROM總線控制器訪問所述測試軟件，RAM存儲器模型用于存放所述測試軟件中使用的變量。
3.如權(quán)利要求1所述的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于:所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊采用System Verilog語言來搭建開發(fā)。
4.如權(quán)利要求1-3任一所述的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，包括: 中斷產(chǎn)生器模塊，通過隨機(jī)方式產(chǎn)生中斷置位信息，直接在環(huán)境代碼中對系統(tǒng)中的各中斷標(biāo)志位進(jìn)行設(shè)置；其中，中斷標(biāo)志位信息分為兩組，一組直接輸入MCU內(nèi)核自帶的中斷控制器，另一組通過外圍中斷控制器處理，再將處理結(jié)果送入MCU內(nèi)核自帶的中斷控制器中，最終將觸發(fā)在所述測試軟件中已由寄存器配置使能的中斷；該中斷產(chǎn)生器模塊將各次隨機(jī)產(chǎn)生的隨機(jī)數(shù)值，即對應(yīng)的隨機(jī)中斷標(biāo)志位設(shè)置信息送入記分板模塊；所述記分板模塊將記錄下各次隨機(jī)的中斷標(biāo)志位設(shè)置信息； 監(jiān)視模塊，用于抓取由主程序中特定指令定義的內(nèi)核行為，獲取所述測試軟件向驗(yàn)證環(huán)境模塊傳遞的中斷信息，并將其送入所述記分板模塊； 所述記分板模塊，對中斷產(chǎn)生器模塊產(chǎn)生的隨機(jī)中斷標(biāo)志位設(shè)置信息和獲取的中斷信息進(jìn)行處理，以實(shí)現(xiàn)中斷驗(yàn)證的結(jié)果判斷和覆蓋率收集。
5.如權(quán)利要求4所述的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于:所述監(jiān)視模塊抓取由主程序中特定指令定義的內(nèi)核行為，是指向某一特定RAM地址寫數(shù)據(jù)的動作，而寫入的數(shù)值既可以作為所述主程序中隨機(jī)產(chǎn)生的各中斷寄存器的配置數(shù)值，也可以是中斷標(biāo)號和執(zhí)行順序信息，兩者皆可通過向不同RAM地址寫數(shù)據(jù)的動作來區(qū)分。
6.如權(quán)利要求4所述的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于:所述中斷信息包括:各中斷寄存器的配置信息以及中斷的產(chǎn)生和執(zhí)行順序。
7.如權(quán)利要求4所述的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述記分板模塊，包括: 覆蓋率收集模塊，通過各相關(guān)中斷寄存器設(shè)置信息和中斷標(biāo)志置位信息收集覆蓋率； 標(biāo)準(zhǔn)值推算模塊，在不同的中斷寄存器設(shè)置和中斷標(biāo)志位設(shè)置下，計算標(biāo)準(zhǔn)的中斷產(chǎn)生數(shù)據(jù)，即正常情況下中斷的觸發(fā)以及執(zhí)行順序； 檢查模塊，將經(jīng)仿真得到的真實(shí)中斷產(chǎn)生數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)的中斷產(chǎn)生數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，得出判斷結(jié)果，即單個測試?yán)姆抡骝?yàn)證結(jié)果，結(jié)束一個隨機(jī)測試?yán)姆抡骝?yàn)證。
8.如權(quán)利要求1所述的仿真驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述測試軟件和仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊兩者在一定流程控制下協(xié)同完成對中斷控制器的仿真驗(yàn)證是指，在測試軟件對各相關(guān)中斷寄存器設(shè)置完成后，由測試軟件向仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊發(fā)送軟件準(zhǔn)備好信號，產(chǎn)生對中斷標(biāo)志位的隨機(jī)置位信息，在所有中斷服務(wù)程序執(zhí)行完畢之后，由測試軟件發(fā)送結(jié)束標(biāo)志告知仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，最終給出單個測試?yán)尿?yàn)證結(jié)果。
9.一種針對硬核MCU的中斷控制器的仿真驗(yàn)證方法，其特征在于，包括如下步驟: 步驟一、測試軟件開始運(yùn)行后，首先進(jìn)行各相關(guān)中斷寄存器的設(shè)置，在隨機(jī)設(shè)置好各中斷寄存器的值后，向特定RAM地址寫入設(shè)置的中斷寄存器值，該中斷寄存器設(shè)置信息將由仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊的監(jiān)視模塊收集； 步驟二、所述監(jiān)視模塊將發(fā)送軟件準(zhǔn)備好信號給中斷產(chǎn)生器模塊，由仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊的中斷產(chǎn)生器模塊產(chǎn)生隨機(jī)置位信息，對中斷標(biāo)志進(jìn)行置位，并將置位信息傳遞給仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊的記分板模塊； 根據(jù)不同的中斷寄存器設(shè)置和中斷標(biāo)志位置位，若觸發(fā)了中斷，則相應(yīng)的中斷服務(wù)子程序?qū)⒈粓?zhí)行；通過在中斷服務(wù)子程序里預(yù)先寫入適當(dāng)?shù)臉?biāo)志位，由測試軟件記錄下中斷的觸發(fā)和執(zhí)行順序；所有被觸發(fā)的中斷服務(wù)子程序執(zhí)行結(jié)束之后，由測試軟件發(fā)送結(jié)束標(biāo)志告知仿真驗(yàn)證環(huán)境模塊，由監(jiān)視模塊來獲取之前由測試軟件收集的相關(guān)中斷信息，并送入記分板模塊；若中斷未觸發(fā)，則直接由測試軟件發(fā)送結(jié)束信號，將中斷未執(zhí)行的信息傳遞給監(jiān)視模塊，然后由監(jiān)視模塊送入記分板模塊； 步驟三、記分板模塊將通過中斷寄存器設(shè)置信息和中斷標(biāo)志位置位信息收集覆蓋率，并計算出正常情況下中斷的觸發(fā)以及執(zhí)行順序，將其與經(jīng)仿真得到的真實(shí)中斷產(chǎn)生情況進(jìn)行對比，得出判斷結(jié)果，結(jié)束一個隨機(jī)測試?yán)姆抡妗?br> 10.如權(quán)利要求 9所述的方法，其特征在于:通過在記分板模塊強(qiáng)制MCU內(nèi)核的程序計數(shù)器PC值至初始值，不斷的進(jìn)行該隨機(jī)測試，直至覆蓋率達(dá)到能接受的水平。
【文檔編號】G06F17/50GK103838899SQ201210489046
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2012年11月27日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月27日
【發(fā)明者】唐旸, 楊寧昕, 陳磊 申請人:上海華虹集成電路有限責(zé)任公司