專利名稱：輸入裝置以及其觸控位置檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種輸入裝置，尤其涉及一種具備觸控面板的輸入裝置以及其觸控位置檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
個(gè)人計(jì)算機(jī)、便攜式傳輸設(shè)備、除此之外的信息處理裝置等利用輸入裝置執(zhí)行多種功能。最近，作為這種輸入裝置多使用配備觸控面板的輸入裝置。通常，觸控面板設(shè)置在如同CRT、LCD、TOP、電致發(fā)光(EL，electroluminescence)等顯示裝置的表面，可使用ITO (銦-錫的復(fù)合氧化物)制作。用戶將觸控物(例如，手指或觸控筆)觸控到觸控面板上的特定位置時(shí)，具備所述觸控面板的輸入裝置可根據(jù)觸控位置將多種信息通過(guò)所述顯示裝置表示，且具備所述觸控面板的設(shè)備也可根據(jù)觸控位置運(yùn)行，以執(zhí)行特定功能。

發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問(wèn)題本發(fā)明的目的在于提供一種能夠更加準(zhǔn)確地檢測(cè)出觸控位置的輸入裝置。本發(fā)明的另一目的在于提供一種用于實(shí)現(xiàn)上述目的的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法。技術(shù)方案為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置包括:觸控面板部，根據(jù)觸控物的觸控位置輸出測(cè)量值；觸控位置檢測(cè)部，基于所述測(cè)量值產(chǎn)生原始幀(raw frame)，并以在所述原始幀中具有最大值的單元為基準(zhǔn)產(chǎn)生至少一個(gè)簇，且若存在同時(shí)包含于多個(gè)簇的重復(fù)單元，則執(zhí)行根據(jù)與所述重復(fù)單元相鄰的單元的值，將所述重復(fù)單元的值分割到各個(gè)簇，從而產(chǎn)生所述至少一個(gè)簇的成簇操作，且對(duì)于每個(gè)所述至少一個(gè)簇計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部，當(dāng)存在重復(fù)單元，且所述重復(fù)單元同時(shí)包含于第一簇和第二簇時(shí)，可以根據(jù)相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇，或者可以根據(jù)在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部可通過(guò)計(jì)算每一個(gè)所述至少一個(gè)簇的加權(quán)幾何中心，計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部的第一形態(tài)中，可對(duì)于所述原始幀的具有所述最大值的單元的周邊的每一個(gè)單元，以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減而執(zhí)行所述成簇操作，以使所述周邊的單元中以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)減小的單元與具有所述最大值的單元構(gòu)成同一個(gè)簇。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部的第一形態(tài)中，可從所述原始幀中減去所述簇而計(jì)算出鏈接幀，從所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元，且對(duì)于所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的的所述原始幀的單元的周邊的每一個(gè)單元，以對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減而執(zhí)行所述成簇操作。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部的第二形態(tài)能夠以具有所述最大值的單元為中心執(zhí)行成簇操作，以使以具有所述最大值的單元為中心的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部的第二形態(tài)中，可從所述原始幀中減去所述簇而計(jì)算出鏈接幀，且從所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元，并執(zhí)行所述成簇操作，以使所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元為中心的所述原始幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇，或者以使所述鏈接幀中具有最大值的單元為中心的所述鏈接幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部可執(zhí)行所述成簇操作值至所述鏈接幀的所有單元的值達(dá)到門檻值以下。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部可以對(duì)間距為基準(zhǔn)距離以下的簇進(jìn)行合并，從而構(gòu)成一個(gè)簇。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部在所述簇的大小為基準(zhǔn)大小以上時(shí)，可表示為大觸控。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控面板部可包括:觸控墊部，具備布置在同一個(gè)層上且分別與對(duì)應(yīng)的通道連接的多個(gè)觸控墊；延遲時(shí)間測(cè)量部，通過(guò)所述通道測(cè)量所述多個(gè)觸控墊的電容，并輸出該測(cè)量值。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控面板部的所述觸控墊部的所述多個(gè)觸控墊的每一個(gè)可以在所述一個(gè)層上以矩陣形式相互分開布置。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控面板部的所述延遲時(shí)間測(cè)量部包括:脈沖產(chǎn)生部，用以產(chǎn)生脈沖信號(hào)；多個(gè)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部，分別與所述通道連接，并根據(jù)與所述通道連接的所述觸控墊的電容延遲所述脈沖信號(hào)，并輸出多個(gè)檢測(cè)信號(hào)；基準(zhǔn)信號(hào)產(chǎn)生部，響應(yīng)于所述脈沖信號(hào)輸出基準(zhǔn)信號(hào)；以及延遲時(shí)間計(jì)算部，計(jì)算所述多個(gè)檢測(cè)信號(hào)的每一個(gè)與所述基準(zhǔn)信號(hào)的延遲時(shí)間差，將所述延遲時(shí)間差作為所述測(cè)量值輸出。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控面板部的所述觸控墊部的所述觸控墊根據(jù)所述觸控墊部上的位置具有互不相同的大小，連接所述多個(gè)觸控墊的每一個(gè)與所述對(duì)應(yīng)的通道的連接線可根據(jù)所述觸控墊在所述觸控墊部上的位置具有互不相同的長(zhǎng)度。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置還可以具備預(yù)處理器，該預(yù)處理器接收所述測(cè)量值而清除噪聲，并補(bǔ)償各個(gè)所述觸控墊的大小差及所述連接線的長(zhǎng)度差。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置還可以具備后處理器，該后處理器接收所述觸控位置的坐標(biāo)而清除噪聲，并排序后輸出。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸控位置檢測(cè)部可包括:成簇部，基于所述測(cè)量值產(chǎn)生所述原始幀，并檢測(cè)所述測(cè)量值的最大值，且執(zhí)行成簇操作，以便以在所述原始幀中的具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)產(chǎn)生所述至少一個(gè)簇；以及中心點(diǎn)計(jì)算部，對(duì)于各個(gè)所述簇利用加權(quán)值平均來(lái)計(jì)算各個(gè)所述簇的中心點(diǎn)坐標(biāo)，并將所述中心點(diǎn)坐標(biāo)作為所述觸控位置的坐標(biāo)輸出。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的所述觸碰位置檢測(cè)部的所述中心點(diǎn)計(jì)算部可從構(gòu)成各個(gè)所述簇的單元中減去偏移值之后計(jì)算所述中心點(diǎn)坐標(biāo)。為了達(dá)到上述另一目的，本發(fā)明提供的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法在具備根據(jù)觸控物的觸控位置輸出測(cè)量值的觸控面板部的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法中包括以下步驟:基于所述測(cè)量值產(chǎn)生原始幀；以所述原始幀中具有最大值的單元為基準(zhǔn)產(chǎn)生簇，且若存在同時(shí)包含于多個(gè)簇的重復(fù)單元，則根據(jù)與所述重復(fù)單元相鄰的單元的值，將所述重復(fù)單元的值分別分割至所述多個(gè)簇，以產(chǎn)生所述至少一個(gè)簇；以及對(duì)于所述簇計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。為了達(dá)到上述另一目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法的產(chǎn)生所述簇的步驟中，在存在重復(fù)單元，且所述重復(fù)單元同時(shí)包含于第一簇和第二簇時(shí)，可以根據(jù)相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇，或者可以根據(jù)在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇。為了達(dá)到上述另一目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法的計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)的步驟中，可通過(guò)計(jì)算每一個(gè)所述至少一個(gè)簇的加權(quán)幾何中心，計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。為了達(dá)到上述另一目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法的產(chǎn)生所述簇的步驟的第一形態(tài)可包括以下步驟:對(duì)于所述原始幀的具有所述最大值的單元的周邊的每一個(gè)單元，以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減；以及執(zhí)行成簇操作，以使所述周邊的單元中以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)減小的單元與具有所述最大值的單元構(gòu)成同一個(gè)簇。此時(shí)，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法還可包括以下步驟:從所述原始幀中減去所述簇以計(jì)算鏈接幀；從所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元；對(duì)于所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元的周邊的每一個(gè)單元，以對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減而執(zhí)行成簇操作。為了達(dá)到上述另一目的，在本發(fā)明提供的所述觸控位置檢測(cè)方法的產(chǎn)生所述簇的步驟的第二形態(tài)中，可以以具有所述最大值的單元為中心將預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。此時(shí)，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法，還可包括以下步驟:從所述原始幀中減去所述簇以計(jì)算鏈接幀；從所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元；以及執(zhí)行成簇操作，以使以所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元為中心的所述原始幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇，或者執(zhí)行成簇操作，以使以所述鏈接幀中具有最大值的單元為中心的所述鏈接幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。為了達(dá)到上述另一目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法還可以包括以下步驟:對(duì)間距為基準(zhǔn)距離以下的簇進(jìn)行合并，以構(gòu)成一個(gè)簇。
為了達(dá)到上述另一目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法還可以包括以下步驟:當(dāng)所述簇的大小為基準(zhǔn)大小以上時(shí)，可表示為大觸控。為了達(dá)到上述另一個(gè)目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法的計(jì)算所述坐標(biāo)的步驟中，可對(duì)于所述簇利用加權(quán)值平均來(lái)計(jì)算各個(gè)所述簇的中心點(diǎn)坐標(biāo)，并將所述中心點(diǎn)坐標(biāo)作為所述觸控位置的坐標(biāo)輸出。此時(shí)，計(jì)算所述坐標(biāo)的步驟中，可對(duì)構(gòu)成所述簇的各個(gè)單元減去偏移值之后計(jì)算所述中心點(diǎn)坐標(biāo)。為了達(dá)到上述另一個(gè)目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法的所述觸控面板部可具備在同一個(gè)層上相互分開布置，且分別與對(duì)應(yīng)的通道連接的多個(gè)觸控墊。此時(shí)，所述多個(gè)觸控墊的每一個(gè)根據(jù)在所述觸控墊部上的位置可分別具有互不相同的大小，且連接所述多個(gè)觸控墊的每一個(gè)和所述對(duì)應(yīng)的通道的連接線根據(jù)所述觸控墊在所述觸控墊部上的位置可具有互不相同的長(zhǎng)度。此時(shí)，為達(dá)到上述另一目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法還可以包括如下步驟:接收所述測(cè)量值而清除噪聲，并補(bǔ)償各個(gè)所述觸控墊的大小差及連接每一個(gè)所述觸控墊和所述對(duì)應(yīng)的通道的連接線的長(zhǎng)度差。為了達(dá)到上述另一個(gè)目的，本發(fā)明提供的觸控位置檢測(cè)方法還可以包括如下步驟:在所述觸控位置的坐標(biāo)中清除噪聲，并排序所述觸控位置的坐標(biāo)后輸出。有益效果因此，本發(fā)明提供的輸入裝置及該裝置的觸控位置檢測(cè)方法能夠更加準(zhǔn)確地檢測(cè)觸控位置。


圖1示出本發(fā)明的輸入裝置的實(shí)施例的構(gòu)成。圖2示出圖1所示的本發(fā)明的輸入裝置的觸控面板部的實(shí)施例的構(gòu)成。圖3示出圖2所示的本發(fā)明的輸入裝置的觸控面板部的觸控墊部的實(shí)施例的構(gòu)成。圖4示出圖2所示的本發(fā)明的輸入裝置的觸控面板部的延遲時(shí)間測(cè)量部的實(shí)施例的構(gòu)成。圖5為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法操作流程圖。圖6為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的坐標(biāo)確定方法的操作流程圖。圖7為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第一實(shí)施例的圖。圖8為在本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第一實(shí)施例中，用于說(shuō)明針對(duì)對(duì)角線方向的單元的成簇方法的圖。圖9為在本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法中，用于說(shuō)明分割重復(fù)單元的方法的圖。圖10為繪示在根據(jù)圖7所示的本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第一實(shí)施例而檢測(cè)出的簇中執(zhí)行重復(fù)單元分割操作的單元的圖。圖11為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第二實(shí)施例的圖。圖12為繪示在根據(jù)圖11所示的本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第二實(shí)施例而檢測(cè)出的簇中執(zhí)行重復(fù)單元分割操作的單元的圖。圖13為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第三實(shí)施例的圖。主要符號(hào):10:觸控面板部11:觸控墊部12:延遲時(shí)間測(cè)量部13:脈沖產(chǎn)生部14-1、14-2:檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部15:基準(zhǔn)信號(hào)產(chǎn)生部16:延遲時(shí)間計(jì)算部20:預(yù)處理器30:觸控位置計(jì)算部32:后處理器34:成簇部40:中心點(diǎn)計(jì)算部100:輸入裝置chi ch (η):通道PAll ΡΑ44、ΡΒ11 ΡΒ44:觸控墊p1:脈沖信號(hào)P_V、pP_VC:測(cè)量值pP_V:目標(biāo)測(cè)量值pT_C:最終觸控坐標(biāo)r_pl:基準(zhǔn)信號(hào)s_pll、s_pl2:檢測(cè)信號(hào)T_C:坐標(biāo)值SlOO S270:檢測(cè)方法的各步驟
具體實(shí)施例方式現(xiàn)在詳細(xì)參考本發(fā)明的實(shí)施例，其中例舉了附圖。然而，本發(fā)明將以下述實(shí)施例使所屬領(lǐng)域技術(shù)人員可以很容易理解和修改成不同的類型，并且本發(fā)明的范圍不應(yīng)視為局限于所舉的實(shí)施例。以下，參照附圖來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置以及其觸控位置檢測(cè)方法。圖1示出本發(fā)明的輸入裝置100的實(shí)施例的構(gòu)成，本發(fā)明的輸入裝置100可包括觸控面板部10、預(yù)處理器20、觸控位置計(jì)算部30、后處理器40。觸控位置計(jì)算部30可包括成簇部32及中心點(diǎn)計(jì)算部34。對(duì)于圖1所示的各個(gè)方塊的功能進(jìn)行如下說(shuō)明。
觸控面板部100可以具備多個(gè)觸控墊，并根據(jù)觸控物的觸控位置輸出測(cè)量值P_V。多個(gè)觸控墊分別可具有根據(jù)觸控與否及與觸控物的接觸面積而發(fā)生變化的電容值。此時(shí)，測(cè)量值P_v可以是對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)觸控墊的電容值的值。所述電容值可通過(guò)測(cè)量脈沖信號(hào)的延遲時(shí)間而測(cè)量出來(lái)。預(yù)處理器20對(duì)所述測(cè)量值P_V進(jìn)行預(yù)處理，并輸出目標(biāo)測(cè)量值pP_V。預(yù)處理器20可通過(guò)過(guò)濾所述測(cè)量值P_v或者從所述測(cè)量值中減去門檻值而清除噪聲。而且，預(yù)處理器20還可以進(jìn)行校正操作，以抵消因所述觸控墊的幾何性不一致或者與各個(gè)所述觸控墊連接的連接線的長(zhǎng)度差異等導(dǎo)致的誤差。而且，預(yù)處理器20還可以執(zhí)行用于抵消工藝上的變化或者環(huán)境變化所導(dǎo)致的影響的校正動(dòng)作。觸控位置計(jì)算部30被輸入所述目標(biāo)測(cè)量值pP_V，并以所述目標(biāo)測(cè)量值pP_V中具有最大值的單元為基準(zhǔn)使所述目標(biāo)測(cè)量值pP_V成簇，且計(jì)算針對(duì)各個(gè)簇的坐標(biāo)值T_c并輸出出去。成簇部32檢測(cè)所述目標(biāo)測(cè)量值pP_V中具有最大值的單元，并以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)，將所述目標(biāo)測(cè)量值pP_V分割為至少一個(gè)簇，以輸出被成簇的測(cè)量值PP_VC。成簇部32可以通過(guò)針對(duì)具有所述最大值的單元周邊的各個(gè)單元檢測(cè)出大小變化來(lái)執(zhí)行成簇操作，還能夠以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行成簇操作以使預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元形成一個(gè)簇。對(duì)于成簇操作的具體說(shuō)明將在后面進(jìn)行。中心點(diǎn)計(jì)算部34被輸入所述成簇的測(cè)量值pP_VC，并針對(duì)各個(gè)簇計(jì)算觸控坐標(biāo)T_c并輸出出去。中心點(diǎn)計(jì)算部34針對(duì)各個(gè)簇計(jì)算所述成簇的測(cè)量值pP_VC的加權(quán)平均(weighted average),并將各個(gè)所述簇的幾何中心(geometric center)作為所述觸控坐標(biāo)T_C而輸出。后處理器40接收所述觸控坐標(biāo)T_C并進(jìn)行排序(sorting)或過(guò)濾(filtering),從而輸出最終觸控坐標(biāo)pT_c。圖2示出圖1所示的本發(fā)明的輸入裝置100的觸控面板部10的實(shí)施例的構(gòu)成，可配備觸控墊部11及延遲時(shí)間測(cè)量部12。對(duì)于圖2所示的各個(gè)方塊的功能進(jìn)行如下說(shuō)明。觸控墊部11可具備與多個(gè)通道chi ch (η)分別連接的多個(gè)觸控墊。所述多個(gè)觸控墊分別可具有根據(jù)與觸控物接觸與否及/或者與觸控物的接觸程度(例如，與觸控物的接觸面積)而發(fā)生變化的電容值。延遲時(shí)間測(cè)量部12通過(guò)所述多個(gè)通道chi ch(n)，輸出表示各個(gè)所述觸控墊的電容值的測(cè)量值？_1延遲時(shí)間測(cè)量部12測(cè)量脈沖信號(hào)被各個(gè)所述觸控墊的電容而延遲的時(shí)間，由此將所述延遲時(shí)間作為所述測(cè)量值P_v輸出。圖3示出圖2所示的本發(fā)明的輸入裝置100的觸控面板部10的觸控墊部11的實(shí)施例的構(gòu)成。如圖3所示，觸控墊部11能夠以左右對(duì)稱的形態(tài)形成。如圖3所示，本發(fā)明的輸入裝置100的觸控面板部10的觸控墊部11可形成于同一個(gè)層(layer)之上。觸控墊部11的觸控墊PAll PA44、PBll PB44可以在一個(gè)層上以矩陣方式布置。而且，各個(gè)觸控墊PAll PA44、PBll PB44可以一對(duì)一地與多個(gè)通道chi ch32中的對(duì)應(yīng)的通道連接。而且，各個(gè)觸控墊PAll PA44、PB11 PB44的面積可以根據(jù)觸控墊部11上的觸控墊的位置確定。而且，連接各個(gè)觸控墊PAll PA44、PBll PB44與對(duì)應(yīng)的通道chi ch32的連接線的長(zhǎng)度也可以根據(jù)觸控墊部11上的觸控墊的位置確定。而且，各個(gè)觸控墊PAll PA44、PBll PB44具有根據(jù)與觸控物接觸與否及/或與觸控物的接觸程度(例如，與觸控物的接觸面積)而發(fā)生變化的電容。圖4示出圖2所示的本發(fā)明的輸入裝置100的觸控面板部10的延遲時(shí)間測(cè)量部12的實(shí)施例的構(gòu)成，延遲時(shí)間測(cè)量部12可以具備脈沖產(chǎn)生部13、多個(gè)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部14-1、14-2...、基準(zhǔn)信號(hào)產(chǎn)生部15以及延遲時(shí)間計(jì)算部16。多個(gè)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部14-1、14-2…中的每一個(gè)可以與對(duì)應(yīng)的通道連接。對(duì)圖4所示的各個(gè)方塊的功能進(jìn)行如下說(shuō)明。脈沖產(chǎn)生部13輸出脈沖信號(hào)pi。各個(gè)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部14-1、14_2...根據(jù)與之連接的通道ch1、ch2…和與之連接的觸控墊的電容而延遲所述脈沖信號(hào)PI，并輸出檢測(cè)信號(hào)S_p 11、s_p 12…?；鶞?zhǔn)信號(hào)產(chǎn)生部15響應(yīng)于所述脈沖信號(hào)pi而輸出基準(zhǔn)信號(hào)r_pl?；鶞?zhǔn)信號(hào)產(chǎn)生部15可使所述脈沖信號(hào)pi延遲預(yù)定時(shí)間而輸出所述基準(zhǔn)信號(hào)r_pl。延遲時(shí)間計(jì)算部16可計(jì)算所述基準(zhǔn)信號(hào)r_pl和各個(gè)所述檢測(cè)信號(hào)s_pll、s_pl2的延遲時(shí)間差，作為測(cè)量值P_v輸出計(jì)算出的延遲時(shí)間差。圖4中繪示了多個(gè)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部，且各個(gè)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部與對(duì)應(yīng)的通道連接的情形，但是檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部的數(shù)量可以比通道的數(shù)量少，此時(shí)可以構(gòu)成為配備開關(guān)而使多個(gè)信道依次與檢測(cè)信號(hào) 產(chǎn)生部連接。圖5為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的操作流程圖。參照?qǐng)D5對(duì)本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法進(jìn)行如下說(shuō)明。首先，判斷測(cè)量值P_V中是否存在大于門檻值的值(步驟S100)。在步驟SlOO判斷的結(jié)果，若不存在大于門檻值的測(cè)量值，則不執(zhí)行成簇操作。在步驟SlOO判斷的結(jié)果，若存在大于門檻值的值，則在原始(raw)幀中檢測(cè)最大值(步驟S110)。原始幀表示由從觸控面板部10輸出的測(cè)量值構(gòu)成的幀。例如，觸控面板部10具備如圖3所示的觸控墊部11時(shí),所述原始幀可以是,將對(duì)應(yīng)于各個(gè)觸控墊PAll PA44、PBll PB44的測(cè)量值布置在與各個(gè)觸控墊PAll PA44、PBll PB44的位置對(duì)應(yīng)的位置的以行列方式排列的數(shù)據(jù)。因此，在原始幀中檢測(cè)最大值的意義與在測(cè)量值當(dāng)中檢測(cè)出最大值的意義是相同的。所述原始幀還可以利用對(duì)所述測(cè)量值P_V進(jìn)行預(yù)處理的目標(biāo)測(cè)量值pP_V構(gòu)成。其次，以在原始幀或鏈接幀(link Frame)中具有最大值的單元為基準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行成簇操作(步驟S120)。成簇操作可以通過(guò)以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)增減而執(zhí)行，也可以通過(guò)以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)設(shè)定預(yù)定區(qū)域的方法執(zhí)行。對(duì)于詳細(xì)的成簇動(dòng)作將在后面描述。其次，計(jì)算鏈接幀(步驟S130)。鏈接幀可通過(guò)從原始幀或者前次計(jì)算出的鏈接幀中減去前次計(jì)算的簇而得出。然后，判斷前次計(jì)算出的鏈接幀中是否存在大于門檻值的測(cè)量值(步驟S140)。若在步驟S140判斷的結(jié)果為，在前次計(jì)算的鏈接幀中存在大于門檻值的測(cè)量值，則在前次計(jì)算的鏈接幀中檢測(cè)最大值(步驟S150 )。
然后，反復(fù)步驟S120至步驟S140。在步驟S140判斷的結(jié)果，若在前次計(jì)算的鏈接幀中不存在大于門檻值的測(cè)量值，則結(jié)束成簇操作，輸出成簇的測(cè)量值PP_VC (步驟S160)。成簇的測(cè)量值pP_VC可以由至少一個(gè)簇構(gòu)成。圖6為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的坐標(biāo)確定方法的操作流程圖。參照?qǐng)D6說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的坐標(biāo)確定方法如下。首先，解析成簇的測(cè)量值pP_VC，判斷是否存在簇(步驟S200)。當(dāng)在步驟S200的判斷結(jié)果為不存在簇時(shí)，結(jié)束本方法。當(dāng)在步驟S200的判斷結(jié)果為存在簇時(shí)，判斷簇的數(shù)量是否為多個(gè)(步驟S210)。若在步驟S210的判斷結(jié)果為簇的數(shù)量為一個(gè)，則計(jì)算相關(guān)簇的中心點(diǎn)坐標(biāo)(步驟S240)。中心點(diǎn)的坐標(biāo)可利用加權(quán)平均來(lái)計(jì)算。即，中心點(diǎn)坐標(biāo)可以是簇的加權(quán)幾何中心坐標(biāo)。若在步驟S210的判斷結(jié)果為簇的數(shù)量為多個(gè)，則檢測(cè)是否存在包含于多個(gè)簇中的重復(fù)單元，如果存在重復(fù)單元，則分割此重復(fù)單元(步驟S220)。即，可將重復(fù)單元的測(cè)量值根據(jù)重復(fù)單元周邊的單元的測(cè)量值分割之后包含到各個(gè)簇中。其次，若簇之間的距離為預(yù)定基準(zhǔn)距離以下，則將距離為預(yù)定基準(zhǔn)距離以下的簇合并為一個(gè)簇(步驟S230)。然后，對(duì)各個(gè)簇計(jì)算中心點(diǎn)坐標(biāo)(步驟S240)。然后，判斷簇的大小是否大于基準(zhǔn)大小(步驟S250)。若在S250步驟判斷的結(jié)果為存在大于基準(zhǔn)大小的簇，則表示為大觸控(largetouch)(步驟 S260)。其次，輸出計(jì)算出的中心點(diǎn)坐標(biāo)(步驟S270)。本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法還可以省略圖5及圖6的部分步驟而實(shí)施。例如，可以不分割重復(fù)單元，也可以不合并簇。而且，各個(gè)步驟的順序也可以改變。例如，可以先計(jì)算中心點(diǎn)坐標(biāo)之后合并簇，也可以合并簇之后分割重復(fù)單元。而且，重復(fù)單元分割步驟(步驟S220)可以在成簇步驟中的成簇操作(步驟S120)中執(zhí)行。圖7為用于說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第一實(shí)施例的圖。圖7中，TllO表示原始幀，T120及T140表示簇，T130及T150表示鏈接幀。參照?qǐng)D7說(shuō)明本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法的成簇方法的第一實(shí)施例如下。首先，在原始幀TllO中找出最大值。最大值為第3列第2行的348。其次，以在原始幀TllO中具有最大值的單元(原始幀TllO的第3列第2行)為基準(zhǔn)檢測(cè)垂直、水平方向的單元的增減，將減少的單元與具有所述最大值的單元包含在同一個(gè)簇中。對(duì)于垂直方向來(lái)說(shuō)，直到第I行第2列為止一直減小，并直到第4行第2列一直減小(可以忽略單元的值為O的單元或者單元的值小于門檻值的單元)。因此，原始幀TllO的第I行第2列、第2行第2列、第4行第2列的單元與具有最大值的單元(第3行第2列)構(gòu)成同一個(gè)簇。對(duì)于水平方向來(lái)說(shuō)，直到第3行第I列為止一直減小，并直到第3行第4列一直減小。因此，第3行第I列、第3行第3列、第3行第4列的單元與具有最大值的單元(第3行第2列)構(gòu)成同一個(gè)簇。其次，檢測(cè)對(duì)角線方向的單元的增減，將減小的單元與具有所述最大值的單元包含在同一個(gè)簇中。參照?qǐng)D8，若全部滿足條件Ph>0、PvXK Pd〈Ph+Pv、PcKPc，則可以判斷出對(duì)角線方向的單元減小。圖8中，Pc表示基準(zhǔn)單元，Pv及Ph表示與所述基準(zhǔn)單元Pc包含于同一個(gè)簇且在垂直及水平方向相鄰基準(zhǔn)單元Pc的單元，Pd為在基準(zhǔn)單元Pc的對(duì)角線方向上與基準(zhǔn)單元Pc相鄰的單元,是位于所述Pv及Ph的交點(diǎn)的單元,表示將要判斷是否與具有最大值的單元包含在同一個(gè)簇的目標(biāo)單元。在最初針對(duì)對(duì)角線方向的單元執(zhí)行成簇操作時(shí)，所述基準(zhǔn)單元Pc成為具有所述最大值的單元，之后，所述基準(zhǔn)單元Pc根據(jù)與具有所述最大值的單元包含在同一個(gè)簇的單元中的目標(biāo)單元Pd而確定。在原始幀中，以具有最大值的單元(第3行第2列)為基準(zhǔn)，滿足上述條件的單元為第I行第3列、第2行第3列、第4行第3列以及第2行第4列。據(jù)此，包含具有最大值的單元(第3行第2列)的簇如圖7的T120所示。在T120中用點(diǎn)覆蓋的區(qū)域?yàn)榘哂凶畲笾档膯卧?第3行第2列)的簇。其次，從原始幀TllO中減去第一個(gè)簇T120而計(jì)算出鏈接幀T130。然后，在鏈接幀T130中檢測(cè)最大值。在鏈接幀中具有最大值的單元為第3行第5列。然后，與求出簇T120的方法相同的方法，以原始幀TllO中具有最大值的單元(第3行第5列)為基準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行成簇操作時(shí)，可以求出第二個(gè)簇T140。在T140中用點(diǎn)覆蓋的區(qū)域?yàn)榘哂凶畲笾档膯卧?第3行第5列)的簇。
`
然后，從鏈接幀T130中減去所述第二個(gè)簇T140，并計(jì)算出第二個(gè)鏈接幀T150。由于第二個(gè)鏈接幀T150中不存在超過(guò)門檻值(在此，假設(shè)門檻值為O)的單元，因此中斷成簇操作。圖9為在本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法中，用于說(shuō)明分割重復(fù)單元的方法的圖。圖9中，Pol表示重復(fù)單元，PAc、PAr、PAb、PBu、PBl以及PBc等分別表示與重復(fù)單元Pol相鄰的單元。而且,相鄰單元PAc、PAr、PAb和相鄰單元PBu、PBl以及PBc分別是包含于其它簇的單元。假設(shè)Xa為重復(fù)單元Pol分量中被分割到包含相鄰的單元PAc、PAr, PAb的簇中的值，Xb為重復(fù)單元Pol分量中被分割到包含相鄰的單元PBu、PBl以及PBc的簇中的值，則Xa及Xb可以由如下的數(shù)學(xué)式I確定。數(shù)學(xué)式I
「01411 Xa = -η I3—— 'xPol
LUi 41」 ￥ P Ac + P Ar + P Ab +'P;5u+ PBl + PBc
「01421 YU ____
AD- PAc + PAr.+'EAb+;PBu + FBI +-PBc' 0或者，Xa及Xb還可以簡(jiǎn)單地由如下的數(shù)學(xué)式2確定。數(shù)學(xué)式2
「…⑷P:ftr.+ BAb..^par
L0145」 似—.ρ Ατ+ PAb + PBm + PBl ' 0
權(quán)利要求
1.一種輸入裝置，其特征在于，包括: 觸控面板部，根據(jù)觸控物的觸控位置輸出測(cè)量值；以及 觸控位置檢測(cè)部，基于所述測(cè)量值產(chǎn)生原始幀，并以在所述原始幀中具有最大值的單元為基準(zhǔn)產(chǎn)生至少一個(gè)簇，且若存在同時(shí)包含于多個(gè)簇的重復(fù)單元，則執(zhí)行根據(jù)與所述重復(fù)單元相鄰的單元的值，將所述重復(fù)單元的值分割到各個(gè)簇，從而產(chǎn)生所述至少一個(gè)簇的成簇操作，且對(duì)于每一個(gè)所述至少一個(gè)簇計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 當(dāng)存在重復(fù)單元，且所述重復(fù)單元同時(shí)包含于第一簇和第二簇時(shí)，所述觸控位置檢測(cè)部根據(jù)相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 當(dāng)存在重復(fù)單元，且所述重復(fù)單元同時(shí)包含于第一簇和第二簇時(shí)，所述觸控位置檢測(cè)部根據(jù)在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部通過(guò)計(jì)算每一個(gè)所述至少一個(gè)簇的加權(quán)幾何中心，計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 對(duì)于所述原始幀的具有所述最大值的單元的周邊的每一個(gè)單元，所述觸控位置檢測(cè)部以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減而執(zhí)行所述成簇操作，以使所述周邊的單元中以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)而減小的單元與具有所述最大值的單元構(gòu)成同一個(gè)簇。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部從所述原始幀中減去所述簇而計(jì)算出鏈接幀，并從所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元，且對(duì)于所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元的周邊的每一個(gè)單元，以對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減而執(zhí)行所述成簇操作。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部執(zhí)行所述成簇操作直到所述鏈接幀的所有單元的值在門檻值以下。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部以具有所述最大值的單元為中心執(zhí)行成簇操作，以使預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部從所述原始幀中減去所述簇并計(jì)算出鏈接幀，且從所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元，并以所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元為中心執(zhí)行所述成簇操作，以使所述原始幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的輸入裝置，其特征在于，所述觸控位置檢測(cè)部執(zhí)行所述成簇操作直到所述鏈接幀的所有單元的值在門檻值以下。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部從所述原始幀中減去所述簇以計(jì)算鏈接幀，且在所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元，并以所述鏈接幀中具有最大值的單元為中心執(zhí)行所述成簇操作，以使所述鏈接幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部執(zhí)行所述成簇操作直至所述鏈接幀的所有單元的值在門檻值以下。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部將間距為基準(zhǔn)距離以下的簇合并為構(gòu)成一個(gè)簇。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 當(dāng)所述簇的大小為基準(zhǔn)大小以上時(shí)，所述觸控位置檢測(cè)部表示為大觸控。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控面板部包括: 觸控墊部，具備布置在同一個(gè)層上且分別與對(duì)應(yīng)的通道連接的多個(gè)觸控墊；以及 延遲時(shí)間測(cè)量部，通過(guò)所述通道測(cè)量所述多個(gè)觸控墊的電容，并輸出所述測(cè)量值。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的輸入裝置，其特征在于， 所述多個(gè)觸控墊分別在所述一個(gè)層上以矩陣形式相互分開布置。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的輸入裝置，其特征在于， 所述延遲時(shí)間測(cè)量部包括: 脈沖產(chǎn)生部,產(chǎn)生脈沖信號(hào)； 多個(gè)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部，分別與所述通道連接，并根據(jù)與所述通道連接的所述觸控墊的電容來(lái)延遲所述脈沖信號(hào)，并輸出多個(gè)檢測(cè)信號(hào)； 基準(zhǔn)信號(hào)產(chǎn)生部，響應(yīng)于所述脈沖信號(hào)而輸出基準(zhǔn)信號(hào)；以及延遲時(shí)間計(jì)算部，分別計(jì)算所述多個(gè)檢測(cè)信號(hào)與所述基準(zhǔn)信號(hào)的延遲時(shí)間差，將所述延遲時(shí)間差作為所述測(cè)量值輸出。
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的輸入裝置，其特征在于， 所述多個(gè)觸控墊根據(jù)所述觸控墊部上的位置具有互不相同的大小， 連接所述多個(gè)觸控墊的每一個(gè)與所述對(duì)應(yīng)的通道的連接線根據(jù)所述觸控墊在所述觸控墊部上的位置具有互不相同的長(zhǎng)度。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的輸入裝置，其特征在于， 所述輸入裝置還具備預(yù)處理器，該預(yù)處理器接收所述測(cè)量值而清除噪聲，并補(bǔ)償各個(gè)所述觸控墊的大小差異及所述連接線的長(zhǎng)度差異。
20.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 所述輸入裝置還具備后處理器，該后處理器接收所述觸控位置的坐標(biāo)而清除噪聲，并排序后輸出。
21.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 所述觸控位置檢測(cè)部包括:成簇部，基于所述測(cè)量值產(chǎn)生所述原始幀，并檢測(cè)所述測(cè)量值的最大值，且以在所述原始幀中具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)執(zhí)行成簇操作，以便產(chǎn)生所述至少一個(gè)簇；以及 中心點(diǎn)計(jì)算部，對(duì)于各個(gè)所述簇，利用加權(quán)值平均來(lái)計(jì)算各個(gè)所述簇的中心點(diǎn)坐標(biāo)，并將所述中心點(diǎn)坐標(biāo)作為所述觸控位置的坐標(biāo)輸出。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的輸入裝置，其特征在于， 所述中心點(diǎn)計(jì)算部從構(gòu)成各個(gè)所述簇的單元中減去偏移值之后計(jì)算所述中心點(diǎn)坐標(biāo)。
23.一種觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 在具備根據(jù)觸控物的觸控位置輸出測(cè)量值的觸控面板部的輸入裝置的觸控位置檢測(cè)方法中包括以下步驟: 基于所述測(cè)量值產(chǎn)生原始幀； 以在所述原始幀中具有最大值的單元為基準(zhǔn)產(chǎn)生簇，且若存在同時(shí)包含于多個(gè)簇的重復(fù)單元，則根據(jù)與所述重復(fù)單元相鄰的單元的值，將所述重復(fù)單元的值分別分割至所述多個(gè)簇，從而產(chǎn)生所述至少一個(gè) 簇；以及 對(duì)于所述簇計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 在產(chǎn)生簇的步驟中，當(dāng)存在重復(fù)單元，且所述重復(fù)單元同時(shí)包含于第一簇和第二簇時(shí)，根據(jù)相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇。
25.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 在產(chǎn)生簇的步驟中，當(dāng)存在重復(fù)單元，且所述重復(fù)單元同時(shí)包含于第一簇和第二簇時(shí)，根據(jù)在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第一簇的單元之和與在上下左右相鄰于所述重復(fù)單元的單元中包含于所述第二簇的單元之和的比率，將所述重復(fù)單元分割到所述第一簇和所述第二簇。
26.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 在計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)的步驟中，通過(guò)計(jì)算每一個(gè)所述至少一個(gè)簇的加權(quán)幾何中心，從而計(jì)算出所述觸控位置的坐標(biāo)。
27.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 產(chǎn)生所述簇的步驟包括以下步驟: 對(duì)于具有所述原始幀的所述最大值的單元的周邊的每一個(gè)單元，以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減；以及 執(zhí)行成簇操作，以使所述周邊的單元中以具有所述最大值的單元為基準(zhǔn)而減小的單元與具有所述最大值的單元構(gòu)成同一個(gè)簇。
28.根據(jù)權(quán)利要求27所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，還包括: 從所述原始幀中減去所述簇并計(jì)算出鏈接幀； 在所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元；以及 對(duì)于在所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元的周邊的每一個(gè)單元，在所述原始幀中以對(duì)應(yīng)的原始幀的單元為基準(zhǔn)檢測(cè)出增減而執(zhí)行成簇操作。
29.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，在產(chǎn)生所述簇的步驟中，以具有所述最大值的單元為中心將預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。
30.根據(jù)權(quán)利要求29所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，還包括: 從所述原始幀中減去所述簇而計(jì)算出鏈接幀； 從所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元；以及 以所述鏈接幀中具有最大值的單元所對(duì)應(yīng)的所述原始幀的單元為中心執(zhí)行成簇操作，以使所述原始幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。
31.根據(jù)權(quán)利要求29所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，還包括: 從所述原始幀中減去所述簇并計(jì)算出鏈接幀； 在所述鏈接幀中檢測(cè)出具有最大值的單元；以及 以所述鏈接幀中具有最大值的單元為中心執(zhí)行成簇操作，以使所述鏈接幀的預(yù)定區(qū)域內(nèi)的單元構(gòu)成一個(gè)簇。
32.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，還包括:將間距為基準(zhǔn)距離以下的簇合并為構(gòu)成一個(gè)簇的步驟。
33.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，還包括:當(dāng)所述簇的大小為基準(zhǔn)大小以上時(shí)，表示為大觸控的步驟。
34.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 在計(jì)算所述坐標(biāo)的步驟中，對(duì)于所述簇利用加權(quán)值平均來(lái)計(jì)算各個(gè)所述簇的中心點(diǎn)坐標(biāo)，并將所述中心點(diǎn)坐標(biāo)作為所述觸控位置的坐標(biāo)輸出。
35.根據(jù)權(quán)利要求34所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 在計(jì)算所述坐標(biāo)的步驟中，對(duì)構(gòu)成所述簇的各個(gè)單元減去偏移值之后計(jì)算所述中心點(diǎn)坐標(biāo)。
36.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于， 所述觸控面板部具備在同一個(gè)層上相互分開布置的多個(gè)觸控墊，且多個(gè)觸控墊分別與對(duì)應(yīng)的通道連接， 其中，所述多個(gè)觸控墊的每一個(gè)根據(jù)在所述觸控墊部上的位置分別具有互不相同的大小，且連接所述多個(gè)觸控墊的每一個(gè)和所述對(duì)應(yīng)的通道的連接線根據(jù)所述觸控墊在所述觸控墊部上的位置具有互不相同的長(zhǎng)度。
37.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，還包括: 接收所述測(cè)量值而清除噪聲，并補(bǔ)償各個(gè)所述觸控墊的大小差異及連接每一個(gè)所述觸控墊和所述對(duì)應(yīng)的通道的連接線的長(zhǎng)度差異。
38.根據(jù)權(quán)利要求23所述的觸控位置檢測(cè)方法，其特征在于，還包括: 在所述觸控位置的坐標(biāo)中清除噪聲，并排序所述觸控位置的坐標(biāo)后輸出。
全文摘要
本發(fā)明公開一種輸入裝置以及其觸控位置檢測(cè)方法。此輸入裝置包括觸控面板部以及觸控位置檢測(cè)部。觸控面板部根據(jù)觸控物的觸控位置輸出測(cè)量值。觸控位置檢測(cè)部基于所述測(cè)量值產(chǎn)生原始幀，并以在所述原始幀中具有最大值的單元為基準(zhǔn)產(chǎn)生至少一個(gè)簇，且若存在同時(shí)包含于多個(gè)簇的重復(fù)單元，則執(zhí)行根據(jù)與所述重復(fù)單元相鄰的單元的值，將所述重復(fù)單元的值分割到各個(gè)簇，以產(chǎn)生所述至少一個(gè)簇的成簇操作，且對(duì)于每一個(gè)所述至少一個(gè)簇計(jì)算所述觸控位置的坐標(biāo)。
文檔編號(hào)G06F3/041GK103180804SQ201180050545
公開日2013年6月26日 申請(qǐng)日期2011年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月21日
發(fā)明者張世銀, 吳曉鸰, 鄭哲溶, 申榮昊 申請(qǐng)人:艾勒博科技股份有限公司