專利名稱:一種總線讀寫檢測裝置的制作方法
技術領域:
本申請涉及片上系統(tǒng)領域,特別涉及一種總線讀寫檢測裝置。
背景技術:
隨著芯片技術的高速發(fā)展,片上系統(tǒng)(System on Chip,也叫系統(tǒng)級芯片)被普遍應用于各種領域的芯片中。片上系統(tǒng)是指單個芯片上集成一個完整的系統(tǒng),對所有或部分必要的電子電路進行包分組的技術,具有高效集成性能。系統(tǒng)總線是一個片上系統(tǒng)的一個必不可缺的部分。一條系統(tǒng)總線上,一般會連接著一些主設備(Master)和一些從設備(Slave),主設備指具有可以在總線上發(fā)布命令特征的設備,如CPU,可以主動的要求讀寫某個地址的數(shù)據(jù);從設備只能接收并響應總線上命令的設備,如內(nèi)存控制器,在接收到總線上某些主設備發(fā)起對其的讀操作的時候,在總線上響應并給出返回數(shù)據(jù)。一條高速、高效的系統(tǒng)總線往往是整個系統(tǒng)性能的關鍵所在。但是系統(tǒng)總線對于用戶而言是非常不透明的,編程人員只能通過CPU對總線進行訪問,并不能直接看見總線的行為和時序信息。主設備對某一從設備的地址空間進行了錯誤的訪問,而對后續(xù)訪問造成不利影響的訪問沖突,或是不同的主設備同時對同一從設備的地址空間進行訪問,造成的訪問沖突。在實際應用中,不同的主設備可能會到同一從設備的地址空間進行訪問,造成訪問沖突,并且,即使在只有CPU —個主設備的情況下,也會因為主程序與中斷程序之間對某個地址空間的訪問沖突、多線程中對某個地址空間的訪問沖突等原因,造成一些不可預知的錯誤。
發(fā)明內(nèi)容
本申請要解決的技術問題是提供一種總線讀寫檢測裝置,用以對系統(tǒng)總線上的某一從設備的讀寫行為進行檢測,解決現(xiàn)有技術中因為無法了解總線上的行為和時序信息導致的訪問沖突。為解決上述問題,本申請?zhí)峁┝艘环N總線讀寫檢測裝置,包括:讀寫檢測器和狀態(tài)寄存器;其中:所述讀寫檢測器連接在總線上,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器預設的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址,獲取所述待檢測從設備的讀寫數(shù)據(jù),并將所述讀寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器;所述狀態(tài)寄存器用于分析所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序,依據(jù)所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及所述各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序?qū)λ龃龣z測從設備進行讀寫檢測。上述裝置,優(yōu)選的,還包括:
條件判斷器,用于將所述讀寫檢測器獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述狀態(tài)寄存器,并判斷所述讀寫檢測器獲取的讀寫數(shù)據(jù)是否滿足設定的條件,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序。上述裝置,優(yōu)選的,還包括:計數(shù)器和計數(shù)判斷器;其中:所述計數(shù)器用于將所述讀寫檢測器獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述計數(shù)判斷器,計數(shù)滿足所述檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址的所述讀寫數(shù)據(jù),并輸出計數(shù)值;所述計數(shù)判斷器用于判斷所述計數(shù)值是否滿足設定的數(shù)值,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序,并將所述計數(shù)器獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述狀態(tài)寄存器。上述裝置,優(yōu)選的,所述讀寫檢測器包括:讀檢測器和/或?qū)憴z測器;其中:所述讀檢測器,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器配置的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址及所述總線中的讀時序參數(shù)獲取所述待檢測從設備的讀數(shù)據(jù),并將所述讀數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器;所述寫檢測器,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器配置的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址及所述總線中的寫時序參數(shù)獲取所述待檢測從設備的寫數(shù)據(jù),并將所述寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器。本申請?zhí)峁┑囊环N總線讀寫檢測裝置,以總線的一個從設備的形式與總線連接。所述總線讀寫檢測裝置包括:讀寫檢測器和狀態(tài)寄存器;所述讀寫檢測器連接在總線上,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器預設的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址,獲取所述待檢測從設備的讀寫數(shù)據(jù),并將所述讀寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器;所述狀態(tài)寄存器用于分析所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序,依據(jù)所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及所述各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序?qū)λ龃龣z測從設備進行讀寫檢測。使用本申請?zhí)峁┑囊环N總線讀寫檢測裝置,就能夠了解總線上的行為和時序信息,進而分析得到待檢測從設備的訪問沖突產(chǎn)生的原因,為系統(tǒng)調(diào)試的后續(xù)步驟做好準備。
為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本申請的一種總線讀寫檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本申請的一種總線讀寫檢測裝置的另一種結(jié)構(gòu)示意圖;圖3是本申請的一種總線讀寫檢測裝置的又一種結(jié)構(gòu)示意圖;圖4是本申請的一種總線讀寫檢測裝置的應用場景;圖5是本申請的一種總線讀寫檢測方法實施例1的流程圖;圖6是本申請的一種總線讀寫檢測方法實施例2的流程圖;圖7是本申請的一種總線讀寫檢測方法實施例3的流程圖。
具體實施例方式下面將結(jié)合本申請實施例中的附圖,對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒旧暾堉械膶嵤├绢I域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本申請保護的范圍。本申請的總線讀寫檢測裝置用于片上系統(tǒng)中。參考圖1,示出了本申請一種總線讀寫檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖,該裝置包括:讀寫檢測器101和狀態(tài)寄存器102 ;其中:所述讀寫檢測器101連接在總線上,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器102預設的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址,獲取所述待檢測從設備的讀寫數(shù)據(jù),并將所述讀寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器102 ;所述狀態(tài)寄存器102用于分析所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序,依據(jù)所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及所述各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序?qū)λ龃龣z測從設備進行讀寫檢測。所述讀寫檢測器101包括:讀檢測器1011和/或?qū)憴z測器1012 ;所述讀檢測器1011,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器102配置的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址及所述總線中的讀時序參數(shù)獲取所述待檢測從設備的讀數(shù)據(jù),并將所述讀數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器102 ;所述寫檢測器1012,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器102配置的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址及所述總線中的寫時序參數(shù)獲取所述待檢測從設備的寫數(shù)據(jù),并將所述寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器102。在實際操作中,系統(tǒng)通過配置總線對狀態(tài)寄存器102進行檢測信息預設配置。參考圖2,示出了本申請一種總線讀寫檢測裝置的另一種結(jié)構(gòu)示意圖,本裝置還包括條件判斷器103。本裝置是在圖1的基礎上得到的,條件判斷器103設置于讀寫檢測器101之后,用于將所述讀寫檢測器101獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述狀態(tài)寄存器102,并判斷所述讀寫檢測器101獲取的讀寫數(shù)據(jù)是否滿足設定的條件,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序。參考圖3,示出了本申請一種總線讀寫檢測裝置的又一種結(jié)構(gòu)示意圖,本裝置還包括計數(shù)器104和計數(shù)判斷器105。本裝置是在圖1的基礎上得到的,計數(shù)器104設置于讀寫檢測器101之后,計數(shù)判斷器105設置于計數(shù)器104之后,所述計數(shù)器104用于將所述讀寫檢測器101獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述計數(shù)判斷器105,計數(shù)滿足所述檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址的所述讀寫數(shù)據(jù),并輸出計數(shù)值;所述計數(shù)判斷器105用于判斷所述計數(shù)值是否滿足設定的數(shù)值,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序,并將所述計數(shù)器104獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述狀態(tài)寄存器102。如圖4,本申請的一種總線讀寫檢測裝置的應用場景,本申請?zhí)峁┑囊环N總線讀寫檢測裝置作為總線的一個從設備的形式,連接在總線上。采用作為總線上的從設備進行讀寫檢測,不需要更改總線系統(tǒng)中的主設備和其他從設備。與上述裝置相對應的,本申請實施例中提供了一種總線讀寫檢測方法??偩€系統(tǒng)進行調(diào)試過程中,系統(tǒng)上的主設備對一從設備A的讀寫行為產(chǎn)生了沖突,產(chǎn)生沖突的原因可以簡單描述為:總線上的主設備S訪問了從設備A,但是該主設備S本不應該訪問從設備A,造成的訪問沖突;或是總線上的主設備D未訪問從設備A,但是該主設備D本應該訪問從設備A,造成的訪問沖突;或是有兩個或兩個主設備同時訪問了從設備A,造成的訪問沖突等。此時,重新運行從設備A,同時啟動運行連接在總線上的總線讀寫檢測裝置,檢測總線上的行為和時序信息,進而分析沖突產(chǎn)生的原因。本申請?zhí)峁┑目偩€讀寫檢測裝置可以通過總線接口連接到總線上。如圖5,示出了本申請?zhí)峁┑囊环N總線讀寫檢測方法實施例1的流程圖,本實施例方法與圖1所示的裝置相對應,可以包括以下步驟:步驟SlOl:依據(jù)預設的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址,獲取所述待檢測從設備的讀寫數(shù)據(jù),并將所述讀寫數(shù)據(jù)發(fā)送;依據(jù)預設的檢測信息中的待檢測從設備A與總線的連接地址,獲取待檢測從設備A的讀寫數(shù)據(jù),獲取的方法有:在總線上直接過濾訪問從設備A的讀寫數(shù)據(jù),或是在從設備A處直接獲取訪問其的讀寫數(shù)據(jù),或是獲取總線上的全部讀寫數(shù)據(jù)再從中挑選出符合從設備A與總線的連接地址的讀寫數(shù)據(jù)等多種方法。本方法中,獲取的待檢測從設備A的讀寫數(shù)據(jù)包括:讀數(shù)據(jù)和/或?qū)憯?shù)據(jù)。實際操作中,可根據(jù)實際情況,獲取讀數(shù)據(jù)或是寫數(shù)據(jù)或是讀寫數(shù)據(jù)。步驟S102:分析所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序,依據(jù)所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及所述各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序?qū)λ龃龣z測從設備進行讀寫檢測。等到從設備A運行完成后,分析讀寫數(shù)據(jù)的種類,就能得到訪問從設備A的主設備,分析所述讀寫數(shù)據(jù)中的各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序,就能得到主設備訪問該從設備A的時間點。根據(jù)分析得到的主設備判斷其中是否包括主設備S,是,主設備S訪問從設備A造成的訪問沖突;根據(jù)分析得到的主設備判斷其中是否包括主設備D,是,主設備D沒有訪問從設備A造成的訪問沖突;根據(jù)分析得到的主設備訪問從設備A的時間點,對比是否存在兩個或兩個以上主設備同時訪問了從設備A,存在這種情況,是同時訪問造成的訪問沖突。在實際操作中,分析得到的讀寫數(shù)據(jù),可根據(jù)實際情況只分析是否有某主設備訪問待測從設備造成的訪問沖突,或是分析是否有同時訪問待檢測從設備造成的訪問沖突。參考圖6,示出了本申請一種總線讀寫檢測方法實施例2的流程圖,本實施例方法與圖2所示的裝置相對應,在本申請實施例1的基礎上,步驟SlOl之后,還可以包括:步驟S103:接收所述讀寫數(shù)據(jù),并判斷所述讀寫數(shù)據(jù)是否滿足設定的條件,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序。本實施例是分析是否總線上的主設備S訪問了從設備A,但是該主設備S本不應該訪問從設備A,造成的訪問沖突;或是總線上的主設備D未訪問從設備A,但是該主設備D本應該訪問從設備A,造成的訪問沖突;或是有兩個或兩個主設備同時訪問了從設備A,造成的訪問沖突等。判斷讀寫數(shù)據(jù)的條件可設定為讀寫數(shù)據(jù)中是否有主設備S對從設備A進行訪問的數(shù)據(jù),如果有,則說明是主設備S訪問了從設備A,造成的訪問沖突,發(fā)送中斷信號,啟動中斷程序,停止獲取讀寫數(shù)據(jù);也可設定條件為讀寫數(shù)據(jù)中是否有主設備D對從設備A進行訪問的數(shù)據(jù),如果沒有,則說明是主設備D沒有訪問從設備A,造成的訪問沖突,發(fā)送中斷信號,啟動中斷程序,停止獲取讀寫數(shù)據(jù)。實際操作中,根據(jù)實際情況設定條件,設定的條件不局限于某一主設備的訪問情況,也可為是否對待檢測的從設備進行過訪問。在后續(xù)步驟S102中,根據(jù)分析得到的主設備訪問從設備A的時間點,對比是否存在兩個或兩個以上主設備同時訪問了從設備A,存在這種情況,存在同時訪問造成的訪問沖關。參考圖7,示出了本申請一種總線讀寫檢測方法實施例3的流程圖,本實施例方法與圖3所示的裝置相對應,在本申請實施例1的基礎上,步驟SlOl之后,還可以包括:步驟S201:接收所述讀寫數(shù)據(jù),計數(shù)滿足所述檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址的所述讀寫數(shù)據(jù),并輸出計數(shù)值;步驟S202:判斷所述計數(shù)值是否滿足設定的數(shù)值,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序,并將獲取的所述讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)。在實際操作中,總線系統(tǒng)上產(chǎn)生的中斷出現(xiàn)異常,需要對訪問待檢測從設備的次數(shù)需要進行計數(shù),可采用本實施例的方法了解總線上的行為和時序信息,進而分析得到待檢測從設備的訪問沖突產(chǎn)生的原因。一個具體的應用實例:總線系統(tǒng)中的一個硬件加速單元W,在W完成其處理后會產(chǎn)生一個中斷,其對應的中斷狀態(tài)寄存器是一個清空寄存器,這個寄存器的性質(zhì)是:當產(chǎn)生中斷的時候,寄存器狀態(tài)置I ;當這個中斷狀態(tài)寄存器被讀取時,返回該寄存器的當前值,同時清零寄存器。某一次應用時,發(fā)生這樣一種情況:系統(tǒng)軟件讓W開始工作,一段時間后系統(tǒng)出現(xiàn)中斷。但是在查詢中斷狀態(tài)時,發(fā)現(xiàn)W對應的中斷狀態(tài)寄存器的值為0,因此判斷這次出現(xiàn)的中斷并非W產(chǎn)生的。系統(tǒng)一直再等待W的完成中斷,但是一直沒有等到,也就是說應用出現(xiàn)了異常。這樣的異??赡苡蓛蓚€原因造成,一是單元W的設計出現(xiàn)了異常,在此場景確實沒有產(chǎn)生中斷信號;二是單元W確實已經(jīng)產(chǎn)生了中斷信號,但是由于該中斷狀態(tài)寄存器讀清空的性質(zhì),在產(chǎn)生中斷以后,中斷程序讀取中斷狀態(tài)寄存器之前,該寄存器被一個其他的地方讀過,同時狀態(tài)被清除,導致中斷程序里面讀不到狀態(tài)。這個時候采用本申請?zhí)峁┑目偩€讀寫檢測裝置進行協(xié)助調(diào)試。預設檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址為“讀單元W的中斷狀態(tài)寄存器地址”,設定的數(shù)值是一個比較大的值,如255。啟動裝置后,如常啟動單元W。根據(jù)預設檢測信息中的待檢測“讀單元W的中斷狀態(tài)寄存器地址”獲取符合該地址的讀數(shù)據(jù)并存儲;計數(shù)滿足“讀單元W的中斷狀態(tài)寄存器地址”的讀寫數(shù)據(jù),判斷計數(shù)值是否滿足設定的數(shù)值255,如果滿足,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序,如果不滿足,繼續(xù)運行并計數(shù)。如果產(chǎn)生了中斷,則在讀取W的中斷狀態(tài)寄存器之前,讀取總線讀寫檢測裝置的計數(shù)值,查看該地址被讀過的次數(shù)。如果次數(shù)不為0,則證明總線上的主設備確實對該地址進行過讀訪問,分析存儲的讀數(shù)據(jù)的種類就可查詢出是哪些主設備對該地址進行了讀訪問,在后續(xù)的調(diào)試提供依據(jù);如果次數(shù)為0,則證明此中斷確實不是由W產(chǎn)生,等待遠遠超過W完成所需的理論時間以后,如果仍沒有產(chǎn)生中斷,說明單元W運行有錯誤,則重點排查單元W設計的異常。本說明書中的一個具體的應用實例是對實際操作中遇到的訪問沖突和采用本申請中的方法、裝置分析沖突產(chǎn)生原因進行的詳細描述,與實施例3的方法、裝置對應。本說明書中各個實施例采用遞進的方式描述,每個實施例重點說明的都是與其它實施例的不同之處,各個實施例之間相同或相似部分互相參見即可。對所公開的實施例的上述說明,使本領域?qū)I(yè)技術人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本申請。對這些實施例的多種修改對本領域的專業(yè)技術人員來說將是顯而易見的,本文中所定義的一般原理可以在不脫離本申請的精神或范圍的情況下,在其它實施例中實現(xiàn)。因此,本申請將不會被限制于本文所示的這些實施例,而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍
權(quán)利要求
1.一種總線讀寫檢測裝置,其特征在于,包括: 讀寫檢測器和狀態(tài)寄存器; 其中: 所述讀寫檢測器連接在總線上,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器預設的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址,獲取所述待檢測從設備的讀寫數(shù)據(jù),并將所述讀寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器; 所述狀態(tài)寄存器用于分析所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序,依據(jù)所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及所述各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序?qū)λ龃龣z測從設備進行讀寫檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,還包括: 條件判斷器,用于將所述讀寫檢測器獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述狀態(tài)寄存器,并判斷所述讀寫檢測器獲取的讀寫數(shù)據(jù)是否滿足設定的條件,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,還包括:計數(shù)器和計數(shù)判斷器; 其中: 所述計數(shù)器用于將所述讀寫檢測器獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述計數(shù)判斷器,計數(shù)滿足所述檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址的所述讀寫數(shù)據(jù),并輸出計數(shù)值; 所述計數(shù)判斷器用于判斷所述計數(shù)值是否滿足設定的數(shù)值,是,發(fā)送中斷信號啟動中斷程序,并將所述計數(shù)器獲取的讀寫數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)至所述狀態(tài)寄存器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1 3任一所述的裝置,其特征在于,所述讀寫檢測器包括:讀檢測器和/或?qū)憴z測器; 其中: 所述讀檢測器,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器配置的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址及所述總線中的讀時序參數(shù)獲取所述待檢測從設備的讀數(shù)據(jù),并將所述讀數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器; 所述寫檢測器,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器配置的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址及所述總線中的寫時序參數(shù)獲取所述待檢測從設備的寫數(shù)據(jù),并將所述寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器。
全文摘要
本申請?zhí)峁┝艘环N總線讀寫檢測裝置,以總線的一個從設備的形式與總線連接。所述總線讀寫檢測裝置包括讀寫檢測器和狀態(tài)寄存器;所述讀寫檢測器連接在總線上,用于依據(jù)所述狀態(tài)寄存器預設的檢測信息中的待檢測從設備與所述總線的連接地址,獲取所述待檢測從設備的讀寫數(shù)據(jù),并將所述讀寫數(shù)據(jù)發(fā)送至所述狀態(tài)寄存器;所述狀態(tài)寄存器用于分析所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序,依據(jù)所述讀寫數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)種類及所述各個種類數(shù)據(jù)的發(fā)生時序?qū)λ龃龣z測從設備進行讀寫檢測。使用本申請?zhí)峁┑囊环N總線讀寫檢測裝置,能夠了解總線上的行為和時序信息,進而分析得到待檢測從設備的訪問沖突產(chǎn)生的原因,為系統(tǒng)調(diào)試的后續(xù)步驟做好準備。
文檔編號G06F11/267GK103186447SQ201110447889
公開日2013年7月3日 申請日期2011年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月27日
發(fā)明者陳智德, 胡勝發(fā) 申請人:安凱(廣州)微電子技術有限公司