專利名稱：測試負載卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種負載卡，特別涉及一種用于測試的負載卡。
背景技術(shù)：
眾所周知，電腦等電子裝置在出廠時都要進行測試，其中的重要測試就是主板的 測試，主板包括多種類型的PCI (Peripheral Component Interconnect,外圍元件連接)插 槽，例如PCI，PCIE(PCI Express，高速PCI)，PCIX (并連的PCI總線的更新版本)等，在對該 些插槽進行測試時，由于不同的插槽形狀不一樣，且工作電壓以及負載的電阻要求不一樣， 在對相應(yīng)插槽進行測試時，通常需要具有相應(yīng)阻值的負載電阻以及工作在相應(yīng)電壓的負載 卡進行測試。在負載卡較多時，對相應(yīng)的插槽進行測試，往往要花費不少時間尋找相應(yīng)的負 載卡，且負載卡較多時，容易丟失，對測試造成了諸多不便。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種測試負載卡，可適用于多種不同類型的PCI插槽。
一種測試負載卡，用于測試主板上的多種類型的PCI插槽，每一 PCI插槽具有至少 兩個工作電壓，該測試負載卡包括若干金手指片、若干電壓端以及若干負載及電壓選擇電 路。該若干金手指片用于分別與不同的PCI插槽匹配連接。每一電壓端與至少一個金手指 片的電源引腳連接，當測試負載卡通過相應(yīng)的金手指片與對應(yīng)的PCI插槽連接時，相應(yīng)的 電壓端從該PCI插槽獲得該PCI插槽的當前工作電壓。每一負載及電壓選擇電路對應(yīng)包括 了對相應(yīng)的工作電壓下一 PCI插槽進行測試所需的負載電阻；每一負載及電壓選擇電路與 一電壓端連接，用于響應(yīng)用戶的操作處于工作或不工作狀態(tài)，從而選擇測試負載卡的輸入 電壓以及負載電阻，使得該測試負載卡的負載電阻以及輸入電壓分別為對一工作電壓下的 某一 PCI插槽進行測試所需的負載電阻以及該工作電壓。
本發(fā)明的測試負載卡，可根據(jù)待測PCI插槽的類型以及工作電壓選擇對應(yīng)的負載 電阻，從而滿足多個不同類型的PCI插槽的測試需求。


圖1為本發(fā)明第一實施方式中測試負載卡的外觀示意圖。
圖2為本發(fā)明第一實施方式中測試負載卡的功能模塊圖。
圖3為本發(fā)明第一實施方式中測試負載卡中的一負載及電壓選擇電路的電路圖。
主要元件符號說明測試負載卡I金手指片F(xiàn)1~F4電壓端Vccl~Vcc4負載及電壓選擇電路10切換開關(guān)K路徑開關(guān)Ml、M2第一負載電阻Rl第二負載電阻R2連接端101 106控制端201，301第一導通端202，302第二導通端203，303溫度感應(yīng)器TS如下具體實施方式
將結(jié)合上述附圖進一步說明本發(fā)明。
具體實施方式
請參閱圖1，為一測試負載卡I的外觀示意圖，該測試負載卡I包括多個金手指片 Ff F4，在本實施方式中，該測試負載卡I為矩形，該金手指片為四個，分別位于矩形的測試 負載卡I的四個邊上。該四個金手指片F(xiàn)f F4分別與主板上不同的PCI插槽相匹配，當需要 對主板上的PCI插槽進行測試的，將該測試負載卡I通過相應(yīng)的金手指片與相應(yīng)的PCI插 槽連接即可。在本實施方式中，該四個金手指片F(xiàn)f F4分別為與PCIE x8插槽(8位的PCIE 插槽)、PCIE xl6插槽(16位的PCIE插槽)、PCI插槽以及PCIX插槽對應(yīng)的金手指片。
請一并參閱圖2及圖3，圖2為測試負載卡I的內(nèi)部模塊圖，其中，該測試負載卡I 還包括若干電壓端Vccf Vcc4、若干負載及電壓選擇電路10。
由于不同類型PCI插槽所需的測試負載電阻不同，且各個類型的PCI插槽一般具 有兩個工作電壓，在對該兩個工作電壓下的PCI插槽進行測試時，測試負載電阻要求也不 同。在本實施方式中，由于PCIE X8插槽與PCIE X16插槽為類似插槽，其所需的測試負載電 阻以及工作電壓相同，PCI插槽以及PCIX插槽也為類似插槽，所需的測試負載電阻及工作 電壓也相同。例如PCIEx8以及PCIExl6類型插槽具有12V以及3. 3V的電壓。PCI和PCIX 則有5V和3. 3V的電壓。因此，該電壓端Vccf Vcc4分別對應(yīng)了該四個插槽所具有的工作 電壓，本實施方式中，該電壓端VccfVcc4分別對應(yīng)了 3. 3V、12V、3. 3V和5V。該若干負載及 電壓選擇電路10對應(yīng)了在相應(yīng)的工作電壓下該些PCI插槽測試所需的負載電阻。例如，與 電壓端Vccl連接的負載及電壓選擇電路10包括了 PCIEx8以及PCIExl6在3. 3V下測試所 需的負載電阻，與電壓端Vcc2連接的負載及電壓選擇電路10包括了 PCIEx8以及PCIExl6 在12V下測試所需的負載電阻；與電壓端Vcc3連接的負載及電壓選擇電路10包括了 PCI 以及PCIX在3. 3V下測試所需的負載電阻，與電壓端Vcc4連接的負載及電壓選擇電路10 包括了 PCI以及PCIX在5V下測試所需的負載電阻。
該電壓端Vccf Vcc4分別與金手指片F(xiàn)f F4中的至少一個的電源引腳(圖中未示) 連接，當測試負載卡I通過相應(yīng)的金手指片與對應(yīng)的插槽連接時，電壓端Vccl"Vcc4中的至 少一個從對應(yīng)的插槽獲得電壓。例如，電壓端Vccl與PCIEx8以及PCIExl6插槽對應(yīng)的金 手指片的3. 3V電源引腳相連，電壓端Vcc2與PCIEx8以及PCIExl6插槽對應(yīng)的金手指片的 12V電源引腳相連，電壓端Vcc3與PCI以及PCIX插槽對應(yīng)的金手指片的3. 3V電源引腳相 連，電壓端Vcc4與PCI以及PCIX插槽對應(yīng)的金手指片的5V電源引腳相連。從而，當測試 負載卡I與PCIEx8插槽連接時，該電壓端Vccl以及電壓端Vcc2分別與PCIEx8的3. 3V電 源引腳以及12V電源引腳相連，等等。
該若干負載及電壓選擇電路10與電壓端VCCfVCC4分別連接，用于響應(yīng)用戶的操 作處于工作或不工作狀態(tài)，從而選擇測試負載卡I的輸入電壓以及負載電阻，使得該測試負載卡I的負載電阻以及輸入電壓分別為對一工作電壓下的某一 PCI插槽進行測試所需的 負載電阻以及該工作電壓。
其中，每一負載及電壓選擇電路10的結(jié)構(gòu)均相同，僅負載的電阻值不同，因此，下 面僅介紹其中一個負載及電壓選擇電路10的電路結(jié)構(gòu)。如圖3所示，為其中一個負載及電 壓選擇電路10的電路圖。
該負載及電壓選擇電路10包括切換開關(guān)K、路徑開關(guān)Ml、M2、第一負載電阻R1、第二 負載電阻R2。該切換開關(guān)K具有六個連接端101 106，該路徑開關(guān)Ml具有控制端201、第一 導通端202以及第二導通端203，該路徑開關(guān)M2具有控制端301、第一導通端302以及第二導通 端303。切換開關(guān)K的連接端101、103與電壓端Vcc連接，連接端102與路徑開關(guān)Ml的控制端 201連接，連接端104與路徑開關(guān)M2的控制端301連接，連接端105、106懸空。該第一負載電阻 Rl連接于電源端Vcc與路徑開關(guān)Ml的第一導通端202之間，該第二負載電阻R2連接于電源端 Vcc與路徑開關(guān)M2的第一導通端302之間，該路徑開關(guān)Ml、M2的第二導通端均接地。
在本實施方式中，該負載及電壓選擇電路10包括第一負載電阻R1、第二負載電阻 R2可用于同一插槽在同一工作電壓下匹配兩個功率負載的測試，顯然，該負載及電壓選擇 電路10可僅包括一個負載電阻或包括三個、四個負載電阻等。
其中，該路徑開關(guān)Ml以及M2為高電平導通開關(guān)，在本實施方式中為NMOS管，該控 制端201、301對應(yīng)NMOS管的柵極，第一導通端202、302對應(yīng)NMOS管的源極，第二導通端 203、303對應(yīng)NMOS管的漏極。在其他實施方式中，該路徑開關(guān)Ml以及M2為NPN三極管。
該切換開關(guān)K為一多路導通開關(guān)，用于導通連接端101與102的連接或連接端103 與104的連接，或連接端105與106的連接。當該切換開關(guān)K連接該連接端101與102時， 路徑開關(guān)Ml的控制端201通過該切換開關(guān)K與電源端Vcc連接而獲得一高電平，從而路徑 開關(guān)Ml導通，電源端Vcc以及第一負載電阻Rl所在的電流支路導通，從而第一負載電阻Rl 流過相應(yīng)的電流。當該切換開關(guān)K連接該連接端103與104時，路徑開關(guān)M2的控制端301 通過該切換開關(guān)K與電源端Vcc連接而獲得一高電平，從而路徑開關(guān)M2導通，電源端Vcc 以及第二負載電阻R2所在的電流支路導通，從而第二負載電阻R2流過相應(yīng)的電流。
其中，在不同的負載及電壓選擇電路10中，第一負載電阻Rl的阻值各不相同，第 二負載電阻R2的阻值也各不相同。如前所述，不同的負載及電壓選擇電路10中的第一負 載電阻R1、第二負載電阻R2對應(yīng)的為相應(yīng)工作電壓下的PCI插槽所需的測試負載電阻。通 過切換開關(guān)K的切換，可選擇。
從而，根據(jù)所需測試的插槽類型以及該插槽的工作電壓，通過對相應(yīng)的負載及電 壓選擇電路10中的切換開關(guān)K進行控制，控制該些負載及電壓選擇電路10中的負載電阻 所在的電流支路導通或不導通，使得對應(yīng)插槽以及對應(yīng)電壓的被負載及電壓選擇電路10 被選通處于工作狀態(tài)，而將其他負載及電壓選擇電路10關(guān)閉處于不工作狀態(tài)，例如，當需 要測試的為12V工作電壓下的PCIExS插槽，則相應(yīng)的控制該與電壓端Vccl連接的負載及 電壓選擇電路10中的切換開關(guān)K，使得該切換開關(guān)K中的連接端101與連接端102連接或 是的連接端103與連接端104連接，使得該負載及電壓選擇電路其中一個負載電阻所在電 流支路導通；同時控制其他負載及電壓選擇電路10中的切換開關(guān)K的連接端105與連接端 106連接，從而使得其他負載及電壓選擇電路10不工作。然后，通過溫度感應(yīng)器TS偵測流 過電流的相應(yīng)負載電阻的溫度，根據(jù)該溫度參數(shù)即可測試該插槽的良好程度。
權(quán)利要求
1.一種測試負載卡，用于測試主板上的多種類型的PCI插槽，每一 PCI插槽具有至少兩個工作電壓，該測試負載卡包括若干金手指片，用于分別與不同的PCI插槽匹配連接；若干電壓端，每一電壓端與至少一個金手指片的電源引腳連接，當測試負載卡通過相應(yīng)的金手指片與對應(yīng)的PCI插槽連接時，相應(yīng)的電壓端從該PCI插槽獲得該PCI插槽的當前工作電壓；若干負載及電壓選擇電路，每一負載及電壓選擇電路對應(yīng)包括了對相應(yīng)的工作電壓下一 PCI插槽進行測試所需的負載電阻；每一負載及電壓選擇電路與一電壓端連接，用于響應(yīng)用戶的操作處于工作或不工作狀態(tài)，從而選擇測試負載卡的輸入電壓以及負載電阻，使得該測試負載卡的負載電阻以及輸入電壓分別為對一工作電壓下的某一 PCI插槽進行測試所需的負載電阻以及該工作電壓。
2.如權(quán)利要求1所述的測試負載卡，其特征在于，每一負載及電壓選擇電路包括第一路徑開關(guān)以及第二路徑開關(guān)，分別包括控制端、第一導通端以及第二導通端；切換開關(guān)，包括第一、第二、第三、第四、第五以及第六連接端，該第一、第三連接端與相應(yīng)的電壓端連接，第二連接端與第一路徑開關(guān)的控制端連接，第四連接端與第二路徑開關(guān)的控制端連接，第五及第六連接端懸空；第一負載電阻，連接于該第一路徑開關(guān)的第一導通端以及相應(yīng)的電壓端之間；第二負載電阻，連接于第二路徑開關(guān)的第一導通端以及相應(yīng)的電壓端之間；一溫度感應(yīng)器連接于該第一負載電阻以及第二負載電阻之間，用于感測該第一負載電阻以及第二負載電阻的溫度；該第一路徑開關(guān)以及第二路徑開關(guān)的第二導通端接地。
3.如權(quán)利要求2所述的測試負載卡，其特征在于，該切換開關(guān)為一多路導通開關(guān)，用于選擇性的導通第一、第二連接端的連接或第三、第四連接端的連接或第五、第六連接端的連接，該第一路徑開關(guān)以及第二路徑開關(guān)均為高電平導通開關(guān)；當該切換開關(guān)連接該第一連接端與第二連接端時，第一路徑開關(guān)的控制端通過該切換開關(guān)與電源端連接而獲得一高電平，從而第一路徑開關(guān)導通，電源端以及第一負載電阻所在的電流支路導通，從而第一負載電阻流過相應(yīng)的電流，該溫度感應(yīng)器感測到的第一負載電阻的溫度即反映了對應(yīng)插槽的良好程度；當該切換開關(guān)連接該第三連接端與第四連接端時，第二路徑開關(guān)的控制端通過該切換開關(guān)與電源端連接而獲得一高電平，從而第二路徑開關(guān)導通，電源端以及第二負載電阻所在的電流支路導通，從而第二負載電阻流過相應(yīng)的電流，該溫度感應(yīng)器感測到的第二負載電阻的溫度即反映了對應(yīng)插槽的良好程度。
4.如權(quán)利要求2所述的測試負載卡，其特征在于，不同的負載及電壓選擇電路包括的第一負載電阻的阻值各不相同，第二負載電阻的阻值也各不相同。
5.如權(quán)利要求2所述的測試負載卡，其特征在于，該些負載及電壓選擇電路中的切換開關(guān)響應(yīng)用戶的操作而導通第一、第二連接端的連接或第三、第四連接端的連接或第五、第六連接端的連接，使得與該插槽以及工作電壓對應(yīng)的負載及電壓選擇電路中的某一負載電阻所在支路被選通，而其他負載及電壓選擇電路處于不工作狀態(tài)，通過溫度感應(yīng)器偵測流過電流的相應(yīng)負載電阻的溫度，該溫度參數(shù)即反映了待測試的該插槽的良好程度。
6.如權(quán)利要求1所述的測試負載卡,其特征在于,該主板上的若干待測試PCI插槽分別為PCIE x8插槽、PCIE xl6插槽、PCI插槽以及PCIX插槽，該金手指片分別為與PCIE x8 插槽、PCIE xl6插槽、PCI插槽以及PCIX插槽對應(yīng)的金手指片。
7.如權(quán)利要求6所述的測試負載卡，其特征在于，PCIEx8以及PCIExl6類型插槽具有 12V以及3. 3V的工作電壓，PCI和PCIX具有5V和3. 3V的工作電壓，該若干電壓端的個數(shù)為四個，分別對應(yīng)了該四個插槽所具有的工作電壓，該若干負載及電壓選擇電路也為四個， 該些負載及電壓選擇電路分別包括了 PCIExS以及PCIEX16在3. 3V工作電壓下測試所需的負載電阻、PCIEx8以及PCIExl6在12V工作電壓下測試所需的負載電阻、PCI以及PCIX在·3.3V工作電壓下測試所需的負載電阻、以及PCI以及PCIX在5V工作電壓下測試所需的負載電阻。
全文摘要
一種測試負載卡，包括若干金手指片、若干電壓端以及若干負載及電壓選擇電路。該若干金手指片用于分別與不同的PCI插槽匹配連接。每一電壓端與至少一個金手指片的電源引腳連接，當測試負載卡通過相應(yīng)的金手指片與對應(yīng)的PCI插槽連接時，相應(yīng)的電壓端從該PCI插槽獲得該PCI插槽的當前工作電壓。每一負載及電壓選擇電路包括了不同的負載電阻；每一負載及電壓選擇電路響應(yīng)用戶的操作處于工作或不工作狀態(tài)，從而使得該測試負載卡的負載電阻為對一工作電壓下的某一PCI插槽進行測試所需的負載電阻。本發(fā)明的測試負載卡，可根據(jù)待測PCI插槽的類型以及工作電壓選擇對應(yīng)的負載電阻，滿足不同類型的PCI插槽的測試需求。
文檔編號G06F11/26GK103064773SQ20111032563
公開日2013年4月24日 申請日期2011年10月24日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月24日
發(fā)明者魏釗科, 田波, 吳澤云 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司