專利名稱：輸入裝置以及其裝置的觸控位置偵測方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種輸入裝置，尤其涉及一種在包含觸控面板的輸入裝置中能夠更精確地偵測觸控位置的輸入裝置以及其觸控位置偵測方法。
背景技術：
個人計算機、便攜式傳輸裝置以及其它信息處理器等使用輸入裝置以執(zhí)行各種功能。當前，作為輸入裝置，廣泛使用具有觸控面板的輸入裝置。大致而言,觸控面板是安裝于諸如陰極射線管(cathode ray tube, CRT)、液晶顯不器(liquid crystal display, LCD)、電衆(zhòng)顯不面板(plasma display panel, PDP)、電致發(fā)光(electroluminescence，EL)等的顯示裝置的表面上，并以偵測據(jù)以接觸的觸控位置的裝置。觸控面板可由氧化銦錫(indium tin oxide, ITO)膜形成?？山M構(gòu)此種具有觸控面板的輸入裝置以使得使用者可藉由接觸對象(例如，手指、手寫筆等)來觸碰該觸控面板上的特定位置，并在屏幕上顯示各種信息或使具備所述輸入裝置的設備執(zhí)行輸入裝置的各種功能。然而，為了使輸入裝置小型化或在具有輸入裝置的設備中執(zhí)行更多各種功能，可減小接觸材料的接觸區(qū)(諸如，圖符(icons))。因此，在此狀況下，應以更高精確度來測量該接觸材料的觸控位置。

發(fā)明內(nèi)容
技術問題為了解決上述問題及/或其它問題，本發(fā)明提供一種能夠更精確地偵測觸控位置的輸入裝置。本發(fā)明的另一目的在于，提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)上述目的的輸入裝置的觸控位置偵測方法。技術方案本發(fā)明的上述及/或其它態(tài)樣可藉由提供一種輸入裝置來達成，所述輸入裝置包含觸控面板，其經(jīng)組態(tài)以視觸控位置而產(chǎn)生多個不同測量值且輸出所述多個測量值；叢集(clustering)部分，其經(jīng)組態(tài)以接收所述測量值，且輸出包含來自所述多個測量值的至少一叢集的使用臨限值而叢集的測量值；以及中心點計算部分，其經(jīng)組態(tài)以接收所述叢集的測量值，且使用加權平均來計算每一叢集的坐標以輸出所述坐標。在所述輸入裝置中，所述叢集可由所述測量值當中的大于所述臨限值的測量值構(gòu)成。另外，所述叢集部分可接收所述測量值以偵測所述測量值的相對最大值的數(shù)目， 且輸出所述叢集的測量值，所述叢集的測量值包含與所述測量值中的所述相對最大值的所述數(shù)目相同的數(shù)目的叢集。另外,所述觸控面板可包含觸控圖案部分,所述觸控圖案部分包含多個觸控圖案；以及測量部分，其經(jīng)組態(tài)以將輸入信號輸出至所述多個觸控圖案當中的至少一觸控圖案，且接收經(jīng)由所述多個觸控圖案當中的至少一觸控圖案而產(chǎn)生的輸出信號以計算所述多個測量值。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第一例示性實施例，所述觸控圖案部分可包含安置于第一方向上的多個第一觸控圖案；以及安置于第二方向上的多個第二觸控圖案，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述多個第一觸控圖案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多個第一觸控墊；以及經(jīng)組態(tài)以連接所述多個第一觸控墊的多個第一連接墊， 且所述多個第二觸控圖案中的每一者可包含安置于所述第一方向上的多個第二觸控墊； 以及經(jīng)組態(tài)以連接所述多個第二觸控墊的多個第二連接墊。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第一例示性實施例，所述測量部分可將第一參考脈沖施加至所述第一觸控圖案中的每一者以作為所述輸入信號，接收經(jīng)由所述第一觸控圖案而產(chǎn)生的第一延遲脈沖以作為所述輸出信號，并測量所述第一延遲脈沖與所述第一參考脈沖之間的延遲時間差以計算第一測量值；且可將第二參考脈沖施加至所述第二觸控圖案以作為所述輸入信號，接收經(jīng)由所述第二觸控圖案而產(chǎn)生的第二延遲脈沖以作為所述輸出信號，測量所述第二延遲脈沖與所述第二參考脈沖的間的延遲時間差以計算第二測量值，并輸出所述第一測量值及所述第二測量值以作為所述測量值。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第一例示性實施例，所述叢集部分可輸出叢集的第一測量值及叢集的第二測量值以作為所述叢集的測量值，所述叢集的第一測量值包含具有所述第一測量值當中的大于第一臨限值的值的至少一第一叢集，所述叢集的第二測量值包含具有所述第二測量值當中的大于第二臨限值的值的至少一第二叢集。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第一例示性實施例，所述中心點計算部分可使用關于所述第一叢集中的每一者的加權平均而計算所述第一方向上的坐標，使用關于所述第二叢集中的每一者的加權平均而計算所述第二方向上的坐標，且組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標以計算每一叢集的坐標并輸出每一叢集的坐標。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第二例示性實施例，所述觸控圖案部分可包含多個第一觸控圖案，其在第一方向上延伸、在所述第一方向上的一側(cè)處連接至所述測量部分且安置于第二方向上；以及多個第二觸控圖案，其在所述第一方向上延伸、在所述第一方向上的另一側(cè)處連接至所述測量部分且安置于所述第二方向上。此處，所述第一觸控圖案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的所述另一側(cè)而減小的接觸區(qū)；且所述第二觸控圖案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的所述一側(cè)而減小的接觸區(qū)。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第二例示性實施例，所述測量部分可將第一參考脈沖施加至關于所述第一觸控圖案的所述第一方向上的所述一側(cè)以作為所述輸入信號，接收自所述第一方向上的所述一側(cè)所產(chǎn)生的第一延遲脈沖以作為所述輸出信號，并測量所述第一參考脈沖與所述第一延遲脈沖之間的延遲時間差以計算第一測量值；且將第二參考脈沖施加至關于所述第二觸控圖案的所述第一方向上的所述另一側(cè)以作為所述輸入信號，接收自所述第一方向上的所述另一側(cè)所產(chǎn)生的第二延遲脈沖以作為所述輸出信號，測量所述第二參考脈沖與所述第二延遲脈沖之間的延遲時間差以計算第二測量值，并輸出所述第一測量值及所述第二測量值以作為所述測量值。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第二例示性實施例，所述叢集部分可接收所述第一測量值以使用第一臨限值來計算所述第一方向上的叢集的第一測量值，接收所述第二測量值以使用所述第一臨限值來計算所述第一方向上的叢集的第二測量值，計算藉由所述第一測量值及所述第二測量值當中的關于安置于第二方向上的對應位置處的所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的所述第一測量值與所述第二測量值相加而得到的在所述第二方向上的測量值，接收所述第二方向上的所述測量值以使用第二臨限值來計算所述第二方向上的叢集的測量值，且輸出所述第一方向上的所述叢集的第一測量值、所述第一方向上的所述叢集的第二測量值及所述第二方向上的所述叢集的測量值以作為所述叢集的測量值。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第二例示性實施例，所述中心點計算部分可使用所述第一方向上的所述叢集的第一測量值及所述第一方向上的所述叢集的第二測量值當中的對應值的加權平均來計算所述叢集的在所述第一方向上的坐標，且使用所述第二方向上的所述叢集的測量值的加權平均來計算所述叢集的在所述第二方向上的坐標。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第三例示性實施例，所述觸控圖案部分可包含安置于第一方向上的多個第一觸控圖案；以及安置于第二方向上的多個第二觸控圖案，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述多個第一觸控圖案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多個第一觸控墊；以及經(jīng)組態(tài)以連接所述多個第一觸控墊的多個第一連接墊， 且所述多個第二觸控圖案中的每一者可包含在所述第一方向上延伸的第一棒；以及多個第二棒，所述多個第二棒連接至所述第一棒、在所述第二方向上延伸且安置于所述第一觸控墊的在所述第一方向上的側(cè)面處。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第三例示性實施例，所述測量部分可將所述輸入信號施加至所述第二觸控圖案，接收自所述第一觸控圖案所產(chǎn)生的所述輸出信號以測量所述第一觸控圖案與所述第二觸控圖案之間的第二電容，且輸出所測量的所述電容以作為所述
測量值。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第三例示性實施例，所述叢集部分可自參考值中減去所述測量值，且接著輸出所述叢集的測量值，所述叢集的測量值包含具有所述減去的后所得值當中的大于所述臨限值的值的至少一叢集。根據(jù)本發(fā)明的所述輸入裝置的第三例示性實施例，所述中心點計算部分可關于所述叢集而使用所述叢集的測量值當中的在所述第一方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第一方向上的坐標，使用所述叢集的測量值當中的在所述第二方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第二方向上的坐標，且組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標以計算每一叢集的坐標并輸出每一叢集的坐標。另外，所述輸入裝置可進一步包含預處理部分，其經(jīng)組態(tài)以接收所述測量值以移除噪聲并輸出標準化的測量值，或接收所述測量值以執(zhí)行一種校正操作并輸出標準化的測量值，且所述叢集部分可接收所述標準化的測量值以輸出所述叢集的測量值。本發(fā)明的另一態(tài)樣可藉由提供一種輸入裝置的觸控位置偵測方法來達成，所述輸入裝置包含觸控面板，所述觸控面板經(jīng)組態(tài)以視觸控位置而產(chǎn)生具有不同值的多個測量值且輸出所述多個測量值，所述方法包含叢集步驟，所述叢集步驟接收所述測量值，且輸出包含來自所述多個測量值的至少一叢集的使用臨限值而叢集的測量值；以及中心點計算步驟，所述中心點計算步驟接收所述叢集的測量值，且使用加權平均來計算每一叢集的坐標并輸出每一叢集的坐標。在根據(jù)本發(fā)明的所述觸控位置偵測方法中，所述叢集可由所述測量值當中的大于所述臨限值的所述測量值構(gòu)成。根據(jù)本發(fā)明的所述方法，所述叢集步驟可包含接收所述測量值以偵測所述測量值的相對最大值的數(shù)目，以及輸出所述叢集的測量值，所述叢集的測量值包含與所述測量值中的所述相對最大值的所述數(shù)目相同的數(shù)目的叢集。根據(jù)所述方法的第一例示性實施例，所述觸控面板可包含安置于第一方向上的多個第一觸控圖案，以及安置于第二方向上的多個第二觸控圖案，所述第二方向垂直于所述第一方向。此處，所述多個第一觸控圖案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多個第一觸控墊，以及經(jīng)組態(tài)以連接所述多個第一觸控墊的多個第一連接墊；且所述多個第二觸控圖案中的每一者可包含安置于所述第一方向上的多個第二觸控墊；以及經(jīng)組態(tài)以連接所述多個第二觸控墊的多個第二連接墊。所述觸控位置偵測方法可進一步包含測量步驟，所述測量步驟將參考脈沖施加至所述第一觸控圖案，測量經(jīng)由所述第一觸控圖案而產(chǎn)生的延遲脈沖與所述參考脈沖之間的延遲時間差以計算第一測量值，將所述參考脈沖施加至所述第二觸控圖案，測量經(jīng)由所述第二觸控圖案而產(chǎn)生的延遲脈沖與所述參考脈沖的間的延遲時間差以計算第二測量值，且輸出所述第一測量值及所述第二測量值以作為所述測量值。根據(jù)所述方法的第一例示性實施例，所述叢集步驟可包含輸出叢集的第一測量值及叢集的第二測量值以作為所述叢集的測量值，所述叢集的第一測量值包含具有所述第一測量值當中的大于第一臨限值的值的至少一第一叢集，所述叢集的第二測量值包含具有所述第二測量值當中的大于第二臨限值的值的至少一第二叢集。根據(jù)所述方法的第一例示性實施例，所述中心點計算步驟可包含使用關于所述第一叢集的加權平均來計算所述第一方向上的坐標，使用關于所述第二叢集的加權平均來計算所述第二方向上的坐標，以及組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標以輸出每一叢集的坐標。根據(jù)所述方法的第二例示性實施例，所述觸控面板可包含在第一方向上延伸且安置于第二方向上的多個第一觸控圖案；以及在所述第一方向上延伸且安置于所述第二方向上的多個第二觸控圖案。此處，所述第一觸控圖案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的一側(cè)而減小的接觸區(qū)，且所述第二觸控圖案中的每一者可具有朝向所述第一方向上的另一側(cè)而減小的接觸區(qū)。所述觸控位置偵測方法可進一步包含測量步驟，所述測量步驟將參考脈沖施加至關于所述第一觸控圖案的所述第一方向上的所述一側(cè)，測量所述參考脈沖與自所述第一方向上的一側(cè)所產(chǎn)生的延遲脈沖之間的延遲時間差以計算第一測量值，將參考脈沖施加至關于所述第二觸控圖案的所述第一方向上的所述另一側(cè)，測量所述參考脈沖與自所述第一方向上的所述另一側(cè)所產(chǎn)生的延遲脈沖的間的延遲時間差以計算第二測量值，且輸出所述第一測量值及所述第二測量值以作為所述測量值。根據(jù)所述方法的第二例示性實施例，所述叢集步驟可包含接收所述第一測量值以計算第一方向上的叢集的第一測量值，接收所述第二測量值以使用所述第一臨限值來計算所述第一方向上的叢集的第二測量值，計算藉由所述第一測量值及所述第二測量值當中的關于安置于第二方向上的對應位置處的所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的所述第一測量值與所述第二測量值相加而得到的在所述第二方向上的測量值，接收所述第二方向上的所述測量值以使用第二臨限值來計算所述第二方向上的叢集的測量值，以及輸出所述第一方向上的所述叢集的第一測量值、所述第一方向上的所述叢集的第二測量值及所述第二方向上的所述叢集的測量值以作為所述叢集的測量值。根據(jù)所述方法的第二例示性實施例，所述中心點計算步驟可包含使用所述第一方向上的所述叢集的第一測量值及所述第一方向上的所述叢集的第二測量值當中的對應值的加權平均來計算所述叢集的在所述第一方向上的坐標，以及使用所述第二方向上的所述叢集的測量值的加權平均來計算所述叢集的在所述第二方向上的坐標。根據(jù)所述方法的第三例示性實施例，所述觸控面板可包含安置于第一方向上的多個第一觸控圖案，以及安置于第二方向上的多個第二觸控圖案，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述多個第一觸控圖案中的每一者可包含安置于所述第二方向上的多個第一觸控墊，以及連接所述多個第一觸控墊的多個第一連接墊；且所述多個第二觸控圖案中的每一者可包含在所述第一方向上延伸的第一棒；以及多個第二棒，所述多個第二棒連接至所述第一棒、在所述第二方向上延伸且安置于所述第一觸控墊中的每一者的在所述第一方向上的側(cè)面處。所述觸控位置偵測方法可包含將輸入信號施加至所述第二觸控圖案，接收自所述第一觸控圖案所產(chǎn)生的輸出信號以測量所述第一觸控圖案與所述第二觸控圖案之間的電容，以及輸出所測量的所述電容以作為所述測量值。根據(jù)所述方法的第三例示性實施例，所述叢集步驟可包含自參考值中減去所述測量值，且接著輸出所述叢集的測量值，所述叢集的測量值包含由所述減去的后所得值當中的大于所述臨限值的值構(gòu)成的至少一叢集。根據(jù)所述方法的第三例示性實施例，所述中心點計算步驟可包含關于所述叢集而使用所述叢集的測量值當中的在所述第一方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第一方向上的坐標，使用所述叢集的測量值當中的在所述第二方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第二方向上的坐標，以及組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標以計算每一叢集的坐標并輸出每一叢集的坐標。有利效果根據(jù)本發(fā)明，一種輸入裝置及其觸控位置偵測方法有可能甚至在提供小數(shù)目的觸控圖案時亦精確地偵測一觸控位置。根據(jù)結(jié)合附圖的例示性實施例的以下描述，本發(fā)明的上述及其它態(tài)樣及優(yōu)點將變得顯而易見且更容易了解。


圖I為根據(jù)本發(fā)明的例示性實施例的輸入裝置的方塊圖。圖2為圖I中所繪示的輸入裝置的觸控面板的實施例的方塊圖。圖3繪示圖2中所繪示的輸入裝置的觸控面板的觸控圖案部分的實施例的構(gòu)成。圖4繪示圖2中所繪示的輸入裝置的觸控面板的觸控圖案部分的另一實施例的構(gòu)成。圖5繪示圖2中所繪示的輸入裝置的觸控面板的觸控圖案部分的再一實施例的構(gòu)成。圖6至圖8為用于解釋當觸控圖案部分具有圖5中所繪示的再一實施例的構(gòu)成時的叢集部分的操作的視圖。
圖9為用于解釋根據(jù)本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置偵測方法的流程圖。主要符號說明100 :觸控面板T_01、Τ_02 :觸控位置
具體實施例方式以下參考本發(fā)明的附圖，說明本發(fā)明的輸入裝置以及該裝置的觸控位置偵測方法。圖I為根據(jù)本發(fā)明的例示性實施例的輸入裝置的方塊圖。根據(jù)本發(fā)明的輸入裝置可包含觸控面板100、預處理部分210、叢集(cluster)部分220、重影圖案(ghost pattern) 移除部分230以及中心點計算部分240。在下文中，將詳細地描述圖I中所繪示的模塊的功能。觸控面板100可包含多個觸控圖案，并根據(jù)接觸對象的觸控位置而輸出多個不同測量值p_v。測量值P_V可以是視接觸對象的觸控位置而變化的延遲時間。預處理部分210接收所述測量值P_V來移除噪聲等，且執(zhí)行用于抵消由工程或環(huán)境中的變化引起的效應的校正操作，并輸出標準化的測量值nP_V。預處理部分210可使用濾波器或設定臨限值等來移除噪聲等。另外，預處理部分210可執(zhí)行噪聲移除及校正操作中的任一個。叢集部分220接收標準化的測量值nP_V并執(zhí)行叢集操作，從而輸出包含至少一叢集的被叢集的測量值nP_VC。所述叢集(cluster)是指對應于接觸對象的觸控位置的測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)的集合。舉例而言，叢集部分220可使用預定臨限值來執(zhí)行叢集操作。在此狀況下，所述叢集可由測量值P_V(或標準化的測量值nP_V)當中的大于所述臨限值的測量值構(gòu)成。亦即，可將小于該預定臨限值的標準化的測量值nP_V的值轉(zhuǎn)換成“O”而輸出出去，以使得執(zhí)行叢集操作。另外，叢集部分220可偵測標準化的測量值nP_ V中的極大值并以判定叢集的數(shù)目，且視叢集的所判定數(shù)目而執(zhí)行叢集操作。當藉由特定方法將標準化的測量值nP_Va分到預定區(qū)段(或給定集合)時，極大值是指所述區(qū)段(或所述集合)中的局部最大值。另外，叢集的數(shù)目對應于觸控位置的數(shù)目。重影圖案移除部分230接收叢集的測量值nP_VC并以移除重影圖案。舉例而言， 重影圖案移除部分230可接收叢集的測量值nP_VC，且將這些測量值相互進行比較來移除重影圖案，或在順序輸入所述測量值時藉由使用任何先前輸入的測量值來移除重影圖案。中心點計算部分240使用移除了重影圖案的測量值nP_VCG并使用加權平均來計算每一叢集的坐標T_p，并輸出每一叢集的坐標Τ_Ρ。每一叢集的坐標Τ_Ρ是指接觸對象的觸控位置的中心點。下文將詳細地描述叢集部分220及中心點計算部分240的操作。另外，本發(fā)明的輸入裝置可省略預處理部分210及/或重影圖案移除部分230。亦即，本發(fā)明的輸入裝置僅在需要的情況時，包含(必要時)預處理部分210及/或重影圖案移除部分230。當不具備重影圖案移除部分230時，中心點計算部分240使用被叢集的測量值nP_VC來計算觸控位置的中心點。圖2為圖I中所繪示的輸入裝置的觸控面板100的實施例的方塊圖。觸控面板100可包含觸控圖案部分110及測量部分120。下文將描述圖2中所繪示的模塊的功能。觸控圖案部分110可包含多個觸控圖案，且產(chǎn)生視觸控位置而變化的輸出信號。 所述輸出信號可為視觸控位置而具有不同延遲時間的延遲脈沖P_d。亦即，觸控圖案部分 110可包含輸出視接觸對象是否觸碰或接觸對象觸碰的位置而具備不同延遲時間的延遲脈沖的多個觸控圖案。舉例而言，構(gòu)成觸控圖案部分110的多個觸控圖案可各自接收參考脈 WP_r，且視接觸對象是否觸碰或接觸對象觸碰的位置而產(chǎn)生具有不同延遲時間的延遲脈沖 P_d。測量部分120輸出輸入信號，且接收經(jīng)由觸控圖案部分110而產(chǎn)生的輸出信號而輸出多個測量值？_乂。所述輸入信號可為參考脈沖P_r，且所述輸出信號可為延遲脈沖P_d。 亦即，測量部分120可輸出參考脈沖P_r，且計算經(jīng)由觸控圖案部分110而產(chǎn)生的延遲脈沖 P_d與所述參考脈沖P_r之間的延遲時間差，并輸出對應于所述延遲時間差的測量值P_V。 舉例而言，測量部分120可將參考脈沖P_r依次(或同時)施加至所述觸控圖案部分110 的多個觸控圖案，并依次(或同時)接收經(jīng)由所述觸控圖案部分110的多個觸控圖案分別產(chǎn)生的所述延遲脈沖P_d，且分別計算針對所述多個觸控圖案中的延遲時間差，并輸出所述測量值P_V。雖然圖2說明使用視觸碰的存在及其接觸位置而延遲脈沖的延遲時間變化(亦即，將參考脈沖與延遲脈沖之間的延遲時間差作為測量值輸出出去)的實例，但觸碰的存在及其位置可藉由各種方法來偵測。舉例而言，將一定的電流依次(或同時)分別施加至所述觸控圖案部分110的多個觸控圖案，并測量電壓的變化(例如，電壓達到預定臨限電壓的時間，或在經(jīng)過特定時間之后的電壓的大小)，從而輸出所述測量值。另外，可藉由以下操作來輸出該測量值依次(或同時)將具有預定脈沖寬度的脈沖信號分別施加至所述觸控圖案部分110的多個觸控圖案，且判定是否測量到脈沖信號(例如，是否測量到具有大于預定臨限電壓的所述脈沖信號)而輸出所述測量值。圖3繪示圖2中所繪示的輸入裝置的觸控面板100的觸控圖案部分110的第一實施例的構(gòu)成。觸控圖案部分Iio可包含安置于第一方向上的多個第一觸控圖案XO至X5，以及安置于垂直于所述第一方向的第二方向上的多個第二觸控圖案y0至ylO。在圖3中，符號T_01及Τ_02分別表示由接觸對象所觸碰的部分。藉由斜線畫有陰影的第一觸控圖案XO至χ5與藉由點而畫有陰影的第二觸控圖案 y0至ylO在其相交的部分被絕緣。舉例而言，第一觸控圖案χΟ至x5可形成于ITO膜的前表面上，且第二觸控圖案y0至ylO可形成于ITO膜的后表面上，或者第一觸控圖案x0至x5 與第二觸控圖案y0至ylO可安置于ITO膜的一個表面上，且使得第一觸控圖案x0至x5與第二觸控圖案y0至ylO在其相交的部分不以電氣連接，又或者第一觸控圖案x0至x5與第二觸控圖案y0至ylO可分別形成于不同ITO膜上等。如上文所描述，可藉由各種方法來形成第一觸控圖案與第二觸控圖案。經(jīng)由第一觸控圖案x0至x5以產(chǎn)生視接觸對象的觸碰與否或其觸控位置而具有不同延遲時間的延遲脈沖P_d，且與第一觸控圖案XO至X5相似地，經(jīng)由第二觸控圖案y0至 ylO以產(chǎn)生視接觸對象的觸碰與否或其觸控位置而具有不同延遲時間的延遲脈沖P_d。舉例而言，測量部分120可順序地(同時地)將參考脈沖P_r分別施加至第一觸控圖案xO至x5及第二觸控圖案y0至ylO的一側(cè)，且順序地(或同時地)接收自第一觸控圖案xO至x5及第二觸控圖案y0至ylO的另一側(cè)所產(chǎn)生的延遲脈沖P_d，并計算各測量值 P_V,從而輸出各測量值P_V。測量部分120可將參考脈沖P_r分別施加至第一觸控圖案xO 至x5及第二觸控圖案y0至ylO的一側(cè)，且接收自第一觸控圖案xO至x5及第二觸控圖案 y0至ylO的所述一側(cè)所產(chǎn)生的延遲脈沖P_d。另外，如圖3中所繪示，第一觸控圖案xO至x5可分別包含安置于第二方向(例如， y軸方向)上的多個第一觸控墊PD1，以及分別連接所述多個第一觸控墊PDl的多個第一連接墊CP1。另外，第二觸控圖案y0至ylO可分別包含安置于第一方向(例如，χ軸方向)上的多個第二觸控墊PD2，以及分別連接所述多個第二觸控墊PD2的多個第二連接墊CP2。另外，雖然圖3說明分別具有菱形(diamond)形狀的第一觸控墊PDl及第二觸控墊PD2，但第一觸控墊PDl及第二觸控墊PD2可分別具有圓形或其他多邊形形狀。亦即，第一觸控墊PDl及第二觸控墊PD2也可以是均勻地形成于特定區(qū)域處的具有特定形狀的墊。接著，下文將描述本發(fā)明的叢集部分220及中心點計算部分240在觸控圖案部分 110具有與圖3中所繪示的形狀相同的形狀時的操作。如圖3中所繪示，當接觸對象觸碰時經(jīng)分別由第一觸控圖案xO至x5產(chǎn)生的測量值P_v(或標準化的測量值nP_V)，亦即延遲脈沖的延遲時間可將表示成如下。各個符號dxO 至dx5表示分別經(jīng)由第一觸控圖案xO至x5而產(chǎn)生的第一測量值(或標準化的第一測量值)。(dxO, dxl, dx2, dx3, dx4, dx5)= (0,6,137,84,9,4)另外，分別由第二觸控圖案y0至ylO而產(chǎn)生的測量值P_V (或標準化的測量值nP_ V)，亦即延遲脈沖的延遲時間可將表示為如下。各個符號dyO至dylO表示分別經(jīng)由第二觸控圖案y0至ylO而產(chǎn)生的第二測量值(或標準化的第二測量值)。(dyO, dyl, dy2, dy3, dy4, dy5, dy6, dy7, dy8, dy9, dylO)= (1,4,45,25,2,2,13,52,58,15,4)亦即，測量部分120(或預處理部分210)將第一測量值及第二測量值(或標準化的第一測量值及第二測量值)輸出為所述測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)。叢集部分220接收所述測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)，并以如下方法進行叢集操作。假定將在第一方向(例如，χ軸)及第二方向(例如，y軸)上的每一臨限值設定為20，則被叢集的測量值nP_VC將表示成如下。符號nP_VCx表示使用第一測量值所產(chǎn)生的被叢集的第一測量值，且符號nP_VCy表示使用第二測量值所產(chǎn)生的被叢集的第二測量值。nP_VCx = (0,0,137,84,0,0)nP_VCy = (0，0，45，25，0，0，0，52，58，0，0)自被叢集的第一測量值nP_VCx中可發(fā)現(xiàn)極大值的數(shù)目為1 (亦即，137)，并可判定在第一方向上的叢集的數(shù)目為1。并且，自叢集的第二測量值nP_VCy中可發(fā)現(xiàn)極大值的數(shù)目為2 (亦即，45及58)，并可判定在第二方向上的叢集的數(shù)目為2。因此，可自所述二維測量值判定叢集的總數(shù)目為2。當將臨限值設定為較大值時，叢集的大小減小，從而限制了中心點的坐標的準確度，且當將臨限值設定為較小值時，叢集的大小增加，此使得中心點的計算較易受噪聲影響。因此，可藉由實驗方法或其他合適方法來設定臨限值。另外，可在制造該輸入裝置的過程或由使用者來設定臨限值。舉例而言，可將臨限值設定成，使叢集之間的距離為接觸對象 (例如，手指)所觸碰的大小的兩倍左右。如上文所描述，由叢集部分220將測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)叢集成預定數(shù)目的叢集。叢集的數(shù)量由叢集部分220來確定。接著，中心點計算部分240接收所述被叢集的測量值nP_VC且使用加權平均來計算每一叢集的坐標(亦即，觸控位置的中心點)。亦即，將每一叢集的測量值nP_VC乘以加權值并將加權的測量值加總，且將加總的加權的測量值除以加總的被叢集的測量值nP_VC， 從而計算每一叢集的坐標。首先，關于觸控位置T_01的叢集的第一方向(例如，χ軸)的坐標Τ_Ρ(χ)及第二方向(例如，y軸)的坐標T_P(y)將被計算成如下。T_P(x) = (137*2+84*3)/(137+84) = 2. 38T_P (y) = (45*2+25*3)/(45+25) = 2. 36因此，中心點計算部分240將針對觸控位置T_01的叢集的坐標(亦即，所計算的中心點之坐標(2. 38，2. 36))作為觸控位置Τ_01的坐標而輸出出去。接著，關于觸控位置Τ_02的叢集的第一方向(例如，χ軸)的坐標Τ_Ρ(χ)及第二方向(例如，y軸)的坐標T_P(y)將被計算如下。T_P(x) = (137*2+84*3)/(137+84) = 2. 38T_P (y) = (52*7+58*8)/(52+58) = 7. 53因此，中心點計算部分240將針對觸控位置T_02的叢集的坐標(亦即，所計算的中心點之坐標(2. 38，7. 53))作為觸控位置Τ_02的坐標而輸出出去。圖4繪示圖2中所繪示的輸入裝置的觸控面板100的觸控圖案部分110的另一實施例的構(gòu)成。觸控圖案部分Iio可包含沿著第二方向(例如，y軸方向)布置的多個第一觸控圖案P0_1至P5_l，以及沿著第二方向布置的多個第二觸控圖案P0_2至P5_2。另外，多個第一觸控圖案P0_1至P5_l在第一方向(例如，χ軸方向)上的一側(cè)可分別連接至測量部分120，且多個第二觸控圖案P0_2至P5_2在第一方向上的另一側(cè)可分別連接至測量部分120。另外，如圖4中所繪示，多個第一觸控圖案P0_1至P5_l可分別形成在所述第一方向上自所述一側(cè)朝向所述另一側(cè)時逐漸變窄的接觸區(qū)，且多個第二觸控圖案 P0_2至P5_2可、成在所述第一方向上自所述另一側(cè)朝向所述一側(cè)時逐漸變窄的接觸區(qū)。雖然圖4說明分別具有齒狀形狀的多個第一觸控圖案P0_1至P5_l及多個第二觸控圖案P0_2 至P5_2，但是多個第一觸控圖案P0_1至P5_l及多個第二觸控圖案P0_2至P5_2可具有諸如等邊三角形、直角三角形等各種形狀。當觸控圖案部分110具有與圖4中所繪示的形狀相同的形狀時，測量部分120依次(或同時)將參考脈沖P_r分別輸出到多個第一觸控圖案P0_1至P5_l的第一方向上的一側(cè)處的第一通道CH0_1至CH5_1以及多個第二觸控圖案P0_2至P5_2的第一方向上的另一側(cè)處的第二通道CH0_2至CH5_2，且順序地(或同時地)接收自所述第一通道CH0_1至 CH5_1及所述第二通道CH0_2至CH5_2產(chǎn)生的延遲脈沖P_d，并測量參考脈沖P_r與延遲脈沖P_d之間的延遲時間差，從而輸出各測量值P_V。
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如圖4中所繪示，當接觸對象觸碰兩個位置T_01、Τ_02時，所述測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)將被測量為如下。符號dll至d51表示對應于自第一通道010_1至 CH5_1產(chǎn)生的延遲脈沖P_d的延遲時間的第一測量值，且符號dl2至d52表示對應于自第二通道CH0_2至CH5_2產(chǎn)生的延遲脈沖P_d的延遲時間的第二測量值。(dll, d21, d31, d41, d51)= (5,35,15,51,23,4) = nP_VxO(dl2, d22, d32, d42, d52)= (2,22,7,56,24,3) = nP_Vxl所述測量值變成在第一方向上的第一測量值nP_VxO以及在第一方向上的第二測量值 nP_Vxl。另外，叢集部分220使用所述測量值以計算在第二方向上的測量值nP_Vy。亦即，叢集部分220將分別通過安置于第二方向上的相同位置處的觸控圖案(P0_1，P0_2)、 (P0_1, P0_2), (P0_1, P0_2), (P0_1, P0_2)及(P0_1，P0_2)而產(chǎn)生的測量值相加，并計算在第二方向上的測量值nP_Vy。在第二方向上的測量值nP_Vy將被表示如下。nP_Vy = (7,57,22,107,47,7)當將在第二方向上的臨限值設定為40時，被叢集的第二方向上的測量值nP_VCy 將被表示為如下。nP_VCy = (0,57,0,107,47,0)因此，被叢集的第一方向上的第一測量值nP_VCxO以及被叢集的第一方向上的第二測量值nP_VCxl將被表示成如下。nP_VCxO = (0，35，0，51，23，0)nP_VCxl = (0，22，0，56，24，0)應僅藉由nP_VCy而在第二方向上進行叢集操作?？勺员粎布牡诙较虻臏y量值中發(fā)現(xiàn)極大值的數(shù)目為2 (亦即，57及107)，且因此可判定叢集的數(shù)目為2。中心點計算部分240接收所述被叢集的第一方向上的第一測量值nP_VCxO、被叢集的第一方向上的第二測量值nP_VCxl以及被叢集的第二方向上的測量值nP_VCy，并計算針對每個觸控位置T_01及Τ_02的叢集的坐標，亦即計算每個觸控位置Τ_01及Τ_02的中心點的坐標。使用中心點計算部分240來計算各個觸控位置的中心點的方法類似于在圖3 說明的方法。首先，將計算針對觸控位置Τ_01的叢集在第一方向上的坐標。035*0+22*1) / (35+22) = 0. 39將計算針對觸控位置Τ_01的叢集在第二方向上的坐標。(57*1)/57 = 1因此，中心點計算部分240將針對觸控位置Τ_01的叢集的坐標(亦即，所計算的中心點的坐標(0. 39，1))作為觸控位置Τ_01的坐標而輸出出去。接著，將計算針對觸控位置Τ_02的叢集在第一方向上的坐標。((51+23) *0+(56+24) *1)/( (51+23)+ (56+24)) = 0. 52將計算針對觸控位置T_02的叢集在第二方向上的坐標。(107*3+47*4)/(107+47) = 3. 31
因此，中心點計算部分240將針對觸控位置T_02的叢集的坐標(亦即，所計算的中心點的坐標(0. 52，3. 31))作為觸控位置Τ_02的坐標而輸出出去。雖然實施例說明經(jīng)由叢集操作而計算在第二方向(例如，y軸方向)上的坐標， 但當觸控圖案部分Iio具有與圖4中所繪示的構(gòu)成相同的構(gòu)成時，可藉由判定接觸對象觸碰哪個觸控圖案而計算第二方向上的坐標。因此，當觸控圖案部分110具有與圖4中所繪示的構(gòu)成相同的構(gòu)成時，經(jīng)由叢集操作可僅計算第一方向(例如，χ軸方向)上的坐標。舉例而言，在觸控位置T_01的狀況下(接觸對象僅觸碰安置于相同列上的觸控圖案Pl_l及 Pl_2)，經(jīng)由叢集操作可僅計算χ軸方向上的坐標。圖5繪示圖2中所繪示的輸入裝置的觸控面板100的觸控圖案部分110的另一實施例的構(gòu)成。觸控圖案部分Iio可包含沿著第一方向布置的多個第一觸控圖案XO至Χ6，以及沿著第二方向布置的多個第二觸控圖案y0至y4。如圖5中所繪示，第一觸控圖案xO至x6可分別包含沿著第二方向(例如，y軸方向)布置的多個觸控墊，以及分別連接所述多個觸控墊的多個連接墊。另外，第二觸控圖案 y0至y4可分別包含沿著第一方向(例如，χ軸方向)延伸的多個棒，以及連接至在第一方向上延伸的棒、在第二方向上延伸且分別安置于各個所述第一觸控圖案xO至x6的多個觸控墊的第一方向上的側(cè)面處的多個棒。另外，類似于圖3，第一觸控圖案xO至x6與第二觸控圖案y0至y4可形成為相互絕緣。當形成如圖5中所繪示的觸控圖案110時，測量部分120將信號順序地施加至第二觸控圖案y0至y4，且接收分別自第一觸控圖案xO至x6所輸出的信號，并測量各個觸控圖案之間的電容。藉由使用接觸對象以阻斷邊緣場(fringe field)來減小該接觸對象所觸碰的多個觸控圖案的間的電容的大小。因此，當形成如圖5中所繪示的觸控圖案部分110 時，測量部分120可測量輸入信號(亦即，耦合信號)，并計算觸控圖案之間的電容。用于測量耦合信號而計算電容的電路能夠以各種方式來構(gòu)成。因為特定電路已經(jīng)周知，所以將省略對特定電路的詳細描述。圖6繪示當形成如圖5中所繪示的觸控圖案部分110且接觸對象接觸如圖5中所繪示的兩個位置τ_01及Τ_02時的測量值P_v(或標準化的測量值nP_V)。在下文中，出于描述的便利起見，將使用測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)來描述，而非使用所測量的電容的大小。圖7及圖8為當該觸控圖案部分110具有與圖5中所繪示的構(gòu)成相同的構(gòu)成時， 用于解釋叢集部分220的操作的視圖。當該觸控圖案部分110具有與圖5中所繪示的形狀相同的形狀時，叢集部分220自預定參考值中減去圖6中所繪示的每一測量值，且接著將叢集的測量值nP_VC予以輸出，所述叢集的測量值nP_VC包含由經(jīng)減法運算的測量值當中的大于預定臨限值的值構(gòu)成的至少一個叢集。此處，所述預定參考值可為與當接觸對象未觸碰該觸控圖案部分110時的測量值相同的值。圖7繪示在自參考值(例如，10)中減去圖6中所繪示的測量值P_V(或標準化的測量值nP_V)的情況下的值。圖8繪示當在第一方向及第二方向上的臨限值為2時，使用圖7中所繪示的測量值P_v(或標準化的測量值nP_V)執(zhí)行叢集的結(jié)果。
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中心點計算部分240使用所述圖8中所繪示的叢集的測量值nP_VC來計算對應于各個觸控位置τ_01及Τ_02的每一叢集的坐標，亦即計算各個觸控位置Τ_01及Τ_02的中心點的坐標。計算每一叢集的坐標的方法類似于圖3中的描述。亦即，針對每一叢集，中心點計算部分240使用構(gòu)成每一叢集的被叢集的測量值nP_VC當中的在第一方向上的測量值的加權平均來計算第一方向上的坐標，使用構(gòu)成每一叢集的被叢集的測量值nP_VC當中的在第二方向上的測量值的加權平均來計算第二方向上的坐標，且組合所述第一方向與所述第二方向上的坐標來計算針對所述每一叢集的坐標并輸出各坐標。亦即，計算針對觸控位置T_01的叢集在第一方向上的坐標如下。(10*1+10*2)/(10+10) =1.5計算針對觸控位置Τ_01的叢集在第二方向上的坐標如下。(10*1)/10=1因此，中心點計算部分240將(1.5，1)作為針對觸控位置Τ_01的叢集的坐標輸出出去，即輸出為觸控位置Τ_01的坐標。接著，計算針對觸控位置Τ_02的叢集在第一方向上的坐標如下。((3+8) *4+ (3+8) *5) / ((3+8) + (3+8)) = 4. 5計算針對觸控位置Τ_02的叢集在第二方向上的坐標如下。
((3+3) (8+8) *3) / ((3+3) + (8+8)) = 2. 64因此，中心點計算部分240將(4. 5，2. 64)作為針對觸控位置Τ_02的叢集的坐標而輸出出去，即輸出為觸控位置Τ_02的坐標。觸控圖案部分110可變更圖3、圖4及圖5中所繪示的實施例來進行使用。舉例而言，在圖3中所繪示的觸控圖案部分110的狀況下，安置于各個第一觸控圖案χΟ至χ5及第二觸控圖案y0至ylO的兩端處的第一觸控墊PDl及第二觸控墊PD2可具有三角形形狀 (所述三角形形狀是將菱形形狀(或者，其他特定形狀)對半切割而成)。另外，各個第一觸控墊PDl及第二觸控墊PD2可具有互不相同面積或形狀。另外，在圖4中所繪示的觸控圖案部分110的狀況下，各個第一觸控圖案P0_1至P5_l與第二觸控圖案P0_2至？5_2可在其兩端處連接至彼此。如上文所描述，當觸控圖案部分110被變形而使用時，當添加在觸控墊上制造透明窗(或透鏡)凸面的過程以使得觸控墊的表面之間的間隙變得不規(guī)則時，或當觸控墊與在觸控墊下方的顯示裝置的表面之間的間隙因于制造過程中的組裝分布而不均勻時，或其類似情況下，若難以直接使用測量值P_v (或標準化的測量值nP_V)來準確地計算觸控位置的中心點時，可藉由以下操作來計算觸控位置的中心點自所述測量值P_V(或標準化的測量值nP_V)加上偏移值或自測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)減去偏移值，或使用測量值P_V(或標準化的測量值nP_V)乘以專門的加權值的值。注意，加法或減法與臨限值的適應性改變類似，但乘以專門的加權值可起到校正非線性(諸如，由凸透明窗引起的厚度差及由感測端子與觸控位置之間的距離引起的電阻差)的另一功能。圖9為用于解釋根據(jù)本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置偵測方法的流程圖。在下文中，將參看圖9來描述根據(jù)本發(fā)明的輸入裝置的觸控位置偵測方法。首先，判定是否存在大于臨限值的測量值P_V(或標準化的測量值nP_V)(步驟 S300)。在步驟S300中，若判定不存在大于臨限值的測量值，則結(jié)束本方法。
接著，使用測量值P_V (或標準化的測量值nP_V)來判定叢集的數(shù)目(步驟S310)。 舉例而言，可根據(jù)測量值P_v (或標準化的測量值nP_V)來偵測極大值，且可將極大值的數(shù)目判定為叢集的數(shù)目。接著，使用臨限值來執(zhí)行叢集(步驟S320)。如上文所描述，可藉由用“0”取代小于臨限值的測量值的方法來執(zhí)行叢集。被叢集的結(jié)果，被叢集的測量值nP_VC具有至少一叢集。接著，判定是否存在重影圖案(步驟S330)。舉例而言，在觸控圖案部分110具有與圖3中所繪示的構(gòu)成相同的構(gòu)成的狀況下，當在自第一觸控圖案xO至x5產(chǎn)生的測量值中存在第一方向上的至少兩個觸控位置且在自第二觸控圖案y0至ylO產(chǎn)生的測量值中存在第二方向上的至少兩個觸控位置時，可判定存在重影圖案。當步驟S330中的判定的結(jié)果為存在重影圖案時，移除重影圖案且判定實際的觸控位置(步驟S340)。舉例而言，在觸控圖案部分110具有與圖3中所繪示的構(gòu)成相同的構(gòu)成的狀況下，相互比較自第一觸控圖案xO至x5產(chǎn)生的至少兩個觸控位置的測量值且相互比較自第二觸控圖案y0至ylO產(chǎn)生的至少兩個觸控位置的測量值來可移除重影圖案且判定實際的觸控位置。接著，接收叢集的測量值nP_VC以使用加權平均來計算每一叢集的坐標(步驟 S350)。亦即，針對每一叢集(亦即，每一觸控位置)，計算使用加權平均而計算的每一叢集的坐標，且將其輸出為所述觸控位置的坐標。雖然實施例說明了計算該接觸部分的中心點(例如，使用加權平均的中心點)，且將中心點輸出為觸控位置的坐標的狀況，但還可將在所計算的中心點處考慮到根據(jù)接觸對象的偏移的坐標輸出為觸控位置的坐標。舉例而言，當接觸對象為手指而進行識別時，可獲得根據(jù)手指的觸控值(例如，測量值P_v(或標準化的測量值nP_V))的輪廓線(contour line)，并獲得手指的模板(template)的大小，且可將在所計算的中心點的坐標上加上相關的偏移的坐標輸出為觸控位置的坐標。上述描述涉及本發(fā)明的例示性實施例，上述描述意欲為說明性的，且不應將其解釋為限制本發(fā)明?？扇菀椎貙⒈景l(fā)明的教示應用于其它類型的裝置及設備。對于熟習此項技術者而言，在本發(fā)明的范疇及精神內(nèi)的許多替代、修改及變化將是顯而易見的。
權利要求
1.一種輸入裝置，其包括觸控面板，視觸控位置而產(chǎn)生多個互不相同的測量值且輸出所述多個測量值；叢集部分，接收所述測量值，且使用臨限值而自所述多個測量值中輸出包含至少一個叢集的被叢集的測量值；以及中心點計算部分，接收所述被叢集的測量值，且使用加權平均來計算分別針對所述叢集的坐標并輸出出去。
2.如權利要求I所述的輸入裝置，其特征在于，所述叢集由所述測量值當中的大于所述臨限值的所述測量值構(gòu)成。
3.如權利要求I所述的輸入裝置，其特征在于，所述叢集部分接收所述測量值，并偵測所述測量值中的具有極大值的數(shù)量，且從所述測量值中輸出包含與所述極大值的數(shù)目相同的數(shù)目的叢集的被叢集的測量值。
4.如權利要求I所述的輸入裝置，其特征在于，所述觸控面板包括觸控圖案部分，包含多個觸控圖案；以及測量部分，將輸入信號輸出至所述多個觸控圖案當中的至少一觸控圖案，并接收經(jīng)由所述多個觸控圖案當中的至少一觸控圖案產(chǎn)生的輸出信號，并計算所述多個測量值。
5.如權利要求4所述的輸入裝置，其特征在于，所述觸控圖案部分包括沿著第一方向布置的多個第一觸控圖案；以及沿著第二方向布置的多個第二觸控圖案，所述第二方向垂直于所述第一方向。
6.如權利要求5所述的輸入裝置，其特征在于，所述多個第一觸控圖案中分別包括沿著所述第二方向布置的多個第一觸控墊；以及分別連接所述多個第一觸控墊的多個第一連接墊。
7.如權利要求6所述的輸入裝置，其特征在于，所述多個第二觸控圖案中分別包括沿著所述第一方向布置的多個第二觸控墊；以及分別連接所述多個第二觸控墊的多個第二連接墊。
8.如權利要求7所述的輸入裝置，其特征在于，所述測量部分將第一參考脈沖作為所述輸入信號分別施加至所述第一觸控圖案中，作為所述輸出信號接收經(jīng)由各個所述第一觸控圖案而產(chǎn)生的第一延遲脈沖，并測量所述第一延遲脈沖與所述第一參考脈沖之間的延遲時間差，并計算第一測量值，且將第二參考脈沖作為所述輸入信號分別施加至所述第二觸控圖案，作為所述輸出信號接收經(jīng)由各個所述第二觸控圖案而產(chǎn)生的第二延遲脈沖，分別測量所述第二延遲脈沖與所述第二參考脈沖之間的延遲時間差，并計算第二測量值，并將所述第一測量值及所述第二測量值作為所述測量值而輸出出去。
9.如權利要求8所述的輸入裝置，其特征在于，所述叢集部分輸出所述第一測量值中包含具備大于第一臨限值的值的至少一個第一叢集的被叢集的第一測量值及所述第二測量值中包含具備大于第二臨限值的值的至少一個第二叢集的被叢集的第二測量值，用以作為所述被叢集的測量值。
10.如權利要求9所述的輸入裝置，其特征在于，所述中心點計算部分使用針對每個所述第一叢集中的加權平均而計算第一方向上的坐標，使用針對每個所述第二叢集中的加權平均而計算第二方向上的坐標，且組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標，并計算每一叢集的坐標而輸出每一叢集的坐標。
11.如權利要求4所述的輸入裝置，其特征在于，所述觸控圖案部分包括沿著第二方向布置的多個第一觸控圖案，沿著第一方向延伸，且在所述第一方向上的一側(cè)處連接至所述測量部分；以及沿著第二方向布置的多個第二觸控圖案，沿著所述第一方向延伸、在所述第一方向上的另一側(cè)處連接至所述測量部分，其中，所述多個第一觸控圖案分別具有朝向所述第一方向上的所述另一側(cè)時變窄的接觸區(qū)，所述多個第二觸控圖案分別具有朝向所述第一方向上的所述一側(cè)時變窄的接觸區(qū)。
12.如權利要求11所述的輸入裝置，其特征在于，所述測量部分將第一參考脈沖作為所述輸入信號施加至針對各個所述第一觸控圖案的所述第一方向上的所述一側(cè)，接收自所述第一方向上的所述一側(cè)所產(chǎn)生的第一延遲脈沖用以作為所述輸出信號，并測量所述第一參考脈沖與所述第一延遲脈沖之間的延遲時間差，從而計算第一測量值，所述測量部分將第二參考脈沖作為所述輸入信號施加至針對各個所述第二觸控圖案的所述第一方向上的所述另一側(cè)，接收自所述第一方向上的所述另一側(cè)所產(chǎn)生的第二延遲脈沖以作為所述輸出信號，測量所述第二參考脈沖與所述第二延遲脈沖之間的延遲時間差并計算第二測量值，并且作為所述測量值輸出所述第一測量值及所述第二測量值。
13.如權利要求12所述的輸入裝置，其特征在于，所述叢集部分為，接收所述第一測量值，并使用第一臨限值來計算所述第一方向上的被叢集的第一測量值，還接收所述第二測量值，并使用所述第一臨限值來計算所述第一方向上的被叢集的第二測量值，計算藉由所述第一測量值及所述第二測量值當中的針對安置于第二方向上的對應位置處的所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的所述第一測量值與所述第二測量值相加而得到的在所述第二方向上的測量值，接收所述第二方向上的所述測量值并使用第二臨限值來計算所述第二方向上的叢集的測量值，且輸出第一方向上的所述被叢集的第一測量值、第一方向上的所述被叢集的第二測量值及第二方向上的所述被叢集的測量值以作為所述被叢集的測量值。
14.如權利要求13所述的輸入裝置，其特征在于，所述中心點計算部分使用所述第一方向上的所述叢集的第一測量值及所述第一方向上的所述叢集的第二測量值當中的對應值的加權平均來計算所述被叢集的在所述第一方向上的坐標，且使用所述第二方向上的所述被叢集的測量值的加權平均來計算所述被叢集的在所述第二方向上的坐標。
15.如權利要求6所述的輸入裝置，其特征在于，所述多個第二觸控圖案中分別包括 沿著所述第一方向延伸的第一棒；以及沿著所述第二方向延伸的多個第二棒，連接至所述第一棒，且分別安置于所述第一觸控墊的所述第一方向上的側(cè)面處。
16.如權利要求15所述的輸入裝置，其特征在于，所述測量部分將所述輸入信號施加至各個所述第二觸控圖案中，接收自所述第一觸控圖案分別產(chǎn)生的所述輸出信號，并測量每個所述第一觸控圖案與每個所述第二觸控圖案之間的電容，且輸出所測量的所述電容以作為所述測量值。
17.如權利要求16所述的輸入裝置，其特征在于，所述叢集部分自參考值中減去所述測量值，且接著輸出所述被叢集的測量值，其中所述被叢集的測量值包含由所述減去之后結(jié)果值當中的大于所述臨限值的值構(gòu)成的至少一個所述叢集。
18.如權利要求17所述的輸入裝置，其特征在于，所述中心點計算部分關于所述叢集中的每一者都使用所述叢集的測量值當中的在所述第一方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第一方向上的坐標，使用所述叢集的測量值當中的在所述第二方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第二方向上的坐標，且組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標以計算每一叢集的坐標并輸出每一叢集的坐標。
19.如權利要求I所述的輸入裝置，其特征在于，所述輸入裝置還包括預處理部分， 其中，所述預處理部分接收所述測量值，移除噪聲，并輸出標準化的測量值，而且，所述叢集部分接收所述標準化的測量值，并輸出所述被叢集的測量值。
20.如權利要求I所述的輸入裝置，其特征在于，所述輸入裝置還包括預處理部分， 其中，所述預處理部分接收所述測量值，執(zhí)行校正操作，并輸出標準化的測量值，而且，所述叢集部分接收所述標準化的測量值，并輸出所述叢集的測量值。
21.一種觸控位置偵測方法，針對包含視觸控位置而產(chǎn)生不同值的多個測量值且輸出所述多個測量值的觸控面板的輸入裝置，其特征在于，所述方法包括如下幾個步驟叢集步驟，所述叢集步驟接收所述測量值，且輸出包含來自所述多個測量值的至少一叢集的使用臨限值而叢集的測量值；以及中心點計算步驟，所述中心點計算步驟接收所述叢集的測量值，且使用加權平均來計算針對每個所述叢集的坐標并輸出每一叢集的坐標。
22.如權利要求21所述的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述叢集由所述測量值當中的大于所述臨限值的所述測量值構(gòu)成。
23.如權利要求21所述的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述叢集步驟包括接收所述測量值，并偵測所述測量值的極大值的數(shù)目，從所述測量值中輸出包含與所述測量值中的所述極大值的數(shù)目相同的數(shù)目的叢集的所述被叢集的測量值。
24.如權利要求21所述的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述觸控面板包括安置于第一方向上的多個第一觸控圖案，以及安置于第二方向上的多個第二觸控圖案，所述第二方向垂直于所述第一方向，其中，所述第一觸控圖案中分別包括安置于所述第二方向上的多個第一觸控墊，以及連接所述多個第一觸控墊的多個第一連接墊，并且，所述第二觸控圖案分別包括安置于所述第一方向上的多個第二觸控墊；以及連接所述多個第二觸控墊的多個第二連接墊，而且，所述觸控位置偵測方法進一步包括測量步驟，所述測量步驟將參考脈沖分別施加至所述第一觸控圖案，測量經(jīng)由所述第一觸控圖案分別產(chǎn)生的延遲脈沖與所述參考脈沖之間的延遲時間差并計算第一測量值，將所述參考脈沖分別施加至所述第二觸控圖案，測量經(jīng)由所述第二觸控圖案分別產(chǎn)生的各個延遲脈沖與所述參考脈沖之間的延遲時間差，并計算第二測量值，且輸出所述第一測量值及所述第二測量值以作為所述測量值。
25.如權利要求24所述的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述叢集步驟包括輸出被叢集的第一測量值及被叢集的第二測量值以作為所述叢集的測量值，所述被叢集的第一測量值包含具有所述第一測量值當中的大于第一臨限值的值的至少一第一叢集，所述被叢集的第二測量值包含具有所述第二測量值當中的大于第二臨限值的值的至少一第二叢集。
26.如權利要求25所述的輸入裝置的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述中心點計算步驟包括使用針對所述第一叢集中的每一者的加權平均而計算所述第一方向上的坐標， 使用針對所述第二叢集中的每一者的加權平均而計算所述第二方向上的坐標，并組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標以輸出每一叢集的坐標。
27.如權利要求21所述的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述觸控面板包括在第一方向上延伸且安置于第二方向上的多個第一觸控圖案；以及在所述第一方向上延伸且安置于所述第二方向上的多個第二觸控圖案，其中，所述第一觸控圖案中的每一者具有朝向所述第一方向上的一側(cè)而變窄的接觸區(qū)，且所述第二觸控圖案中的每一者具有朝向所述第一方向上的另一側(cè)而變窄的接觸區(qū)，并且，所述觸控位置偵測方法進一步包括測量步驟，在所述測量步驟中，將參考脈沖施加至針對所述第一觸控圖案中的每一者的所述第一方向上的所述一側(cè)，測量所述參考脈沖與自所述第一方向上的所述一側(cè)所產(chǎn)生的延遲脈沖之間的延遲時間差，并計算第一測量值，將參考脈沖施加至針對所述第二觸控圖案中的每一者的所述第一方向上的所述另一側(cè)，測量所述參考脈沖與自所述第一方向上的所述另一側(cè)所產(chǎn)生的延遲脈沖之間的延遲時間差以計算第二測量值，且輸出所述第一測量值及所述第二測量值以作為所述測量值。
28.如權利要求27所述的觸控位置偵測方法，其特征在于，在所述叢集步驟中，接收所述第一測量值，并使用第一臨限值來計算第一方向上的被叢集的第一測量值，接收所述第二測量值并使用所述第一臨限值來計算所述第一方向上的叢集的第二測量值，計算藉由所述第一測量值及所述第二測量值當中的針對安置于第二方向上的對應位置處的所述第一觸控圖案及所述第二觸控圖案的所述第一測量值與所述第二測量值相加而得到的在所述第二方向上的測量值，接收所述第二方向上的測量值并使用第二臨限值來計算所述第二方向上的被叢集的測量值，輸出所述第一方向上的所述被叢集的第一測量值、所述第一方向上的所述叢集的第二測量值及所述第二方向上的所述叢集的測量值以作為所述叢集的測量值。
29.如權利要求28所述的觸控位置偵測方法，其特點在于，所述中心點計算步驟包括使用所述第一方向上的所述叢集的第一測量值及所述第一方向上的所述叢集的第二測量值當中的對應值的加權平均來計算所述叢集的在所述第一方向上的坐標，以及使用所述第二方向上的所述叢集的測量值的加權平均來計算所述叢集的在所述第二方向上的坐標。
30.如權利要求21所述的觸控位置偵測方法，其特點在于，所述觸控面板包括安置于第一方向上的多個第一觸控圖案，以及安置于第二方向上的多個第二觸控圖案，所述第二方向垂直于所述第一方向，其中所述多個第一觸控圖案中的每一者包括安置于所述第二方向上的多個第一觸控墊，以及連接所述多個第一觸控墊的多個第一連接墊，且所述多個第二觸控圖案中的每一者包括所述第一方向上延伸的第一棒，以及多個第二棒，所述多個第二棒連接至所述第一棒、在所述第二方向上延伸且安置于所述第一觸控墊中的每一者的在所述第一方向上的側(cè)面處，且所述觸控位置偵測方法包括將輸入信號施加至所述第二觸控圖案中的每一者，接收自所述第一觸控圖案產(chǎn)生的輸出信號以測量所述第一觸控圖案與所述第二觸控圖案的間的電容，以及輸出所測量的所述電容以作為所述測量值。
31.如權利要求30所述的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述叢集步驟包括自參考值中減去所述測量值，且接著輸出所述叢集的測量值，所述叢集的測量值包含由所述減去的后所得值當中的大于所述臨限值的值構(gòu)成的至少一叢集。
32.如權利要求31所述的輸入裝置的觸控位置偵測方法，其特征在于，所述中心點計算步驟包括關于所述叢集而使用所述叢集的測量值當中的在所述第一方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第一方向上的坐標，使用所述叢集的測量值當中的在所述第二方向上的所述測量值的加權平均來計算所述第二方向上的坐標，并組合所述第一方向與所述第二方向上的所述坐標以計算每一叢集的坐標并輸出每一叢集的坐標。
全文摘要
提供一種輸入裝置以及其觸控位置偵測方法。所述輸入裝置包含觸控面板，所述觸控面板經(jīng)組態(tài)以視觸控位置而產(chǎn)生多個不同測量值且輸出多個所述測量值；叢集部分，其經(jīng)組態(tài)以接收所述測量值，且輸出包含來自多個所述測量值的至少一叢集的使用臨限值而叢集的測量值；以及中心點計算部分，其經(jīng)組態(tài)以接收所述叢集的測量值，且使用加權平均來計算每一叢集的坐標以輸出所述坐標。
文檔編號G06F3/041GK102597927SQ201080049224
公開日2012年7月18日 申請日期2010年10月14日 優(yōu)先權日2009年10月28日
發(fā)明者吳曉鸰, 張世銀, 李芳遠, 鄭哲溶 申請人:艾勒博科技股份有限公司