專利名稱：光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸控技術(shù)，特別是涉及于一種可應(yīng)用于多點(diǎn)觸控操作的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)及其偵測(cè)指示物的位置的方法。
背景技術(shù)：
圖1為說明公知技術(shù)的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100的示意圖。光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100用來偵測(cè)指示物(pointing object) 102的位置。光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100包括一感測(cè)區(qū)域116、一反射鏡 104、一影像感測(cè)裝置110，以及一處理電路112。在感測(cè)區(qū)域116的側(cè)邊設(shè)置有反光組件 106與108。反光組件106與108皆用來將光線反射至感測(cè)區(qū)域116。反射鏡104用來產(chǎn)生感測(cè)區(qū)域116的鏡像(mirrorimage)。反射鏡104可利用一平面反射鏡實(shí)現(xiàn)，且反射鏡104 的鏡面118朝向感測(cè)區(qū)域116。影像感測(cè)裝置110設(shè)置于感測(cè)區(qū)域116的一個(gè)角落。影像感測(cè)裝置110的感測(cè)范圍涵蓋感測(cè)區(qū)域116。處理電路112依據(jù)影像感測(cè)裝置110所擷取的影像，計(jì)算指示物102的位置，以產(chǎn)生一輸出坐標(biāo)Sxyo圖2為說明光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100的工作原理的示意圖。在圖2中，反射鏡104以上的部分表示反射鏡104所產(chǎn)生的鏡像，106A表示反光組件106的鏡像，108A表示反光組件 108的鏡像，IlOA表示影像感測(cè)裝置110的鏡像，116A表示感測(cè)區(qū)域116的鏡像，102A表示指示物102的鏡像。由圖2可看出，影像感測(cè)裝置110沿著光徑204感測(cè)到指示物102，且沿著光徑206感測(cè)到反射鏡104中的指示物102A。圖3為圖2的影像感測(cè)裝置110所擷取的影像的示意圖。在圖3中，300表示影像感測(cè)裝置110所擷取的影像。由于影像感測(cè)裝置 110設(shè)置于反射鏡的左側(cè)，且暗紋306相較于暗紋304更靠近影像300的左側(cè)邊緣，因此處理電路112可判斷暗紋304為指示物102所造成的暗紋，且暗紋306為指示物的鏡像102A 所造成的暗紋。如此一來，處理電路112根據(jù)指示物的鏡像102所造成的暗紋304與指示物的鏡像102A所造成的暗紋306，即可計(jì)算出指示物102的位置，其計(jì)算方式請(qǐng)參考臺(tái)灣專利申請(qǐng)案第097U6033號(hào)。此外，302表示借由反光組件106、108與反射鏡104反射光線， 而在影像上形成亮度較亮的亮區(qū)。借由亮區(qū)302與暗紋(304及306)的亮度對(duì)比，可輔助處理電路112更正確地得到暗紋304及306位置，以更正確地計(jì)算出指示物102的位置。然而，當(dāng)光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100應(yīng)用于多點(diǎn)觸控時(shí)，處理電路112無法判斷影像感測(cè)裝置110所擷取的影像中的各暗紋為指示物所造成的暗紋，或是指示物的鏡像所造成的暗紋。舉例而言，圖4為說明當(dāng)光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100偵測(cè)兩指示物102與103的第一種情況的示意圖。圖5為說明當(dāng)光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100偵測(cè)兩指示物102與103的第二種情況的示意圖。 圖6(a)為說明圖4的影像感測(cè)裝置110所擷取的影像400的示意圖。圖6 (b)為說明圖5 的影像感測(cè)裝置110所擷取的影像500的示意圖。由圖6(a)與圖6(b)可看出，圖4的影像感測(cè)裝置110所擷取的影像400與圖5的影像感測(cè)裝置110所擷取的影像500類似，因此處理電路112無法判斷兩指示物102與103的位置屬于第一種情況或是第二種情況，也就是說，處理電路112無法判斷暗紋404、406、504與506為指示物所造成的暗紋，或是指示物的鏡像所造成的暗紋，如此造成處理電路112無法正確地計(jì)算出指示物102與103的位置。換句話說，當(dāng)光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)100應(yīng)用于多點(diǎn)觸控時(shí)，處理電路112無法正確地計(jì)算出指示物的位置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)。該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)包括感測(cè)區(qū)域、反射鏡、第一影像感測(cè)裝置、第二影像感測(cè)裝置，以及處理電路。該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊。該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作。該反射鏡產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像。該第一影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第一組實(shí)像，以及包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第一組虛像。該第二影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第二組實(shí)像，以及包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第二組虛像。該處理電路根據(jù)該第一影像傳感器所擷取的該第一組實(shí)像與該第二影像傳感器所擷取的該第二組實(shí)像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組實(shí)像候選坐標(biāo)。該處理電路根據(jù)該第一影像傳感器所擷取的該第一組虛像與該第二影像傳感器所擷取的該第二組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組虛像候選坐標(biāo)，該處理電路根據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)以及該組虛像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。如此， 利用本發(fā)明所提供的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，可執(zhí)行多點(diǎn)觸控的操作。本發(fā)明還提供一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)。該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)包括感測(cè)區(qū)域、鏡面導(dǎo)光組件、 發(fā)光組件、第一影像感測(cè)裝置、第二影像感測(cè)裝置，以及處理電路。該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊。該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作。該鏡面導(dǎo)光組件包括面對(duì)該感測(cè)區(qū)域的出光面、與該出光面相對(duì)的鏡面，以及入光面。當(dāng)該入光面接收光線時(shí)，該出光面向該感測(cè)區(qū)域發(fā)光。該鏡面產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像。該發(fā)光組件于發(fā)光時(shí)段內(nèi)發(fā)光至該鏡面導(dǎo)光組件的該入光面。該第一影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取包括至少部分該些指示物的第一組實(shí)像，以及于不發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取該第一組實(shí)像與包括該鏡面中至少部分該些指示物的第一組虛像。該第二影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取包括至少部分該些指示物的第二組實(shí)像，以及于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取該第二組實(shí)像與包括該鏡面中至少部分該些指示物的第二組虛像。該處理電路根據(jù)該第一影像傳感器所擷取的該第一組實(shí)像與該第二影像傳感器所擷取的該第二組實(shí)像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組實(shí)像候選坐標(biāo)。該處理電路根據(jù)該第一影像傳感器所擷取的該第一組虛像與該第二影像傳感器所擷取的該第二組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組虛像候選坐標(biāo)。該處理電路根據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)以及該組虛像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。如此，利用本發(fā)明所提供的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，可執(zhí)行多點(diǎn)觸控的操作。本發(fā)明還提供一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)。該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)包括感測(cè)區(qū)域、反射鏡、第一影像感測(cè)裝置、第二影像感測(cè)裝置，以及處理電路。該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊。該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作。該反射鏡產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像。該發(fā)光組件于發(fā)光時(shí)段內(nèi)發(fā)光至該反射鏡。該第一影像感測(cè)裝置擷取包括該感測(cè)區(qū)域中至少部分該些指示物與該反射鏡中至少部分該些指示物的第一影像。該第二影像感測(cè)裝置擷取包括該感測(cè)區(qū)域中至少部分該些指示物與該反射鏡中至少部分該些指示物的第二影像。該處理電路根據(jù)該第一影像傳感器所擷取的該第一影像與該第一影像傳感器的位置，產(chǎn)生第一組遮斷直線。該處理電路根據(jù)該第二影像傳感器所擷取的該第二影像與該第二影像傳感器的位置，產(chǎn)生第二組遮斷直線。該處理電路根據(jù)該第一組遮斷直線與該第二組遮斷直線，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組候選坐標(biāo)。該處理電路根據(jù)該組候選坐標(biāo)與該反射鏡的位置，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。如此，利用本發(fā)明所提供的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，可執(zhí)行多點(diǎn)觸控的操作。本發(fā)明還提供一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)。該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)包括感測(cè)區(qū)域、反射鏡、第一影像感測(cè)裝置、第二影像感測(cè)裝置，以及處理電路。該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊。該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作。該反射鏡產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像。該第一影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第一組實(shí)像，以及包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第一組虛像。該第二影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第二組實(shí)像，以及包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第二組虛像。該處理電路根據(jù)該第一影像感測(cè)裝置所擷取的該第一組實(shí)像與該第一組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組第一候選坐標(biāo)，以及根據(jù)該第二影像感測(cè)裝置所擷取的該第二組實(shí)像與該第二組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組第二候選坐標(biāo)。該處理電路比對(duì)該組第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。


圖1為說明公知技術(shù)的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的示意圖。圖2說明公知技術(shù)的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)偵測(cè)指示物的示意圖。圖3為圖2中光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的影像感測(cè)裝置所擷取的影像的示意圖。圖4、圖5、圖6(a)與圖6(b)為說明公知技術(shù)的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)偵測(cè)多個(gè)指示物的示意圖。圖7為說明本發(fā)明的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的一實(shí)施例的示意圖。圖8(a)與圖8(b)為圖7中光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的影像感測(cè)裝置所擷取的影像的示意圖。圖9(a)與圖9(b)為說明處理電路判斷影像感測(cè)裝置所擷取的影像中的各暗紋為實(shí)像或虛像的示意圖。圖10與圖11為說明處理電路計(jì)算指示物的位置的工作原理的示意圖。圖12為說明影像感測(cè)裝置擷取到僅包括部分指示物的實(shí)像的示意圖。圖13為說明光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的反射鏡以鏡面導(dǎo)光組件實(shí)施，以輔助處理電路判斷影像感測(cè)裝置所擷取的影像中的各暗紋為實(shí)像或虛像的示意圖。圖14、圖15與圖16分別為說明鏡面導(dǎo)光組件的三種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)圖。圖17為說明根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例，處理電路計(jì)算指示物的位置的工作原理的示意圖。圖18與圖19為說明根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例，處理電路計(jì)算指示物的位置的工作原理的示意圖。圖20與圖21為說明根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施例，處理電路計(jì)算指示物的位置的工作原理的示意圖。圖22為說明光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)還包括一紅外光發(fā)光模塊的示意圖。其中，附圖標(biāo)記說明如下100、600光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)
116、610感測(cè)區(qū)域104,620反射鏡106、108反射組件118反射鏡的鏡面110,630,640影像感測(cè)裝置300、400、500、730、740 影像302亮區(qū)304,306,402,404,406,暗紋408、502、504、506、508、731a、732a、731、732、741、742、741A、742A204、206、631、632、631a、光徑632a、641、642、641a、642a650、112處理電路660發(fā)光組件670發(fā)光模塊1400、1500、1600鏡面導(dǎo)光組件1411.1511.1611出光面1412、1512、1612鏡面導(dǎo)光組件的鏡面1413、1513、1613入光面610a,620a,630a,640a,鏡像01a、02a、102a、106a、108a、116Α>110Α>103Αdvloci虛像距離cl11-cl14候選直線ml731、ml731a、ml732、鏡像直線ml732a> ml741 > ml74ia >ml742、ml742a0^0^102,103指示物rl731、rl732、rl731a、rl732a、 遮斷直線rl741、rl742、rl741a、rl742a、VL731a> vl732a> vl741a、vl742a、l731、l732、l73ia、l732a> l741 > l742 > l74ia> l742arloc1-rloc12、候選坐標(biāo)vl0crvl0c3>l0c31-l0c34、loc41-loc44Sxy輸出坐標(biāo)
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參考圖7。圖7為說明根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的一實(shí)施例的示意圖。光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600包括一感測(cè)區(qū)域610、一反射鏡620、影像感測(cè)裝置630與640，以及一處理電路650。感測(cè)區(qū)域610可具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊，以界定其區(qū)域范圍。為了方便說明，在本實(shí)施例中假設(shè)感測(cè)區(qū)域610具有四個(gè)側(cè)邊，且感測(cè)區(qū)域610為矩形。感測(cè)區(qū)域610用來提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物(舉例而言，如圖7中的指示物OpO2)進(jìn)行操作。反射鏡620設(shè)置于感測(cè)區(qū)域 610的側(cè)邊。反射鏡620用來產(chǎn)生感測(cè)區(qū)域610的鏡像。在圖7中，610A表示感測(cè)區(qū)域610 的鏡像，630A與640A分別表示影像感測(cè)裝置630與640的鏡像，且01A、02A分別表示指示物 O1, O2的鏡像。以下將說明光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600的工作原理。影像感測(cè)裝置630與640感測(cè)反射鏡620所產(chǎn)生的鏡像與感測(cè)區(qū)域610，以產(chǎn)生影像。如圖7所示，影像感測(cè)裝置630可沿著光徑631A感測(cè)到指示物O1的鏡像Oia、沿著光徑 632A感測(cè)到指示物&的鏡像02A、沿著光徑631感測(cè)到指示物O1,以及沿著光徑632感測(cè)到指示物02。此時(shí)，影像感測(cè)裝置630所擷取的影像730如圖8 (a)所示。在影像730中，731A 為影像感測(cè)裝置630沿著光徑631A感測(cè)到指示物O1的鏡像Oia所產(chǎn)生的暗紋，也就是說， 暗紋731A為影像感測(cè)裝置630因感測(cè)指示物O1的鏡像Oia所擷取的虛像；732A為影像感測(cè)裝置630沿著光徑632A感測(cè)到指示物&的鏡像O2a所產(chǎn)生的暗紋，也就是說，暗紋732A為影像感測(cè)裝置630因感測(cè)指示物&的鏡像O2a所擷取的虛像；731為影像感測(cè)裝置630沿著光徑631感測(cè)到指示物O1所產(chǎn)生的暗紋，也就是說，暗紋731為影像感測(cè)裝置630因感測(cè)指示物O1所擷取的實(shí)像。732為影像感測(cè)裝置630沿著光徑632感測(cè)到指示物仏所產(chǎn)生的暗紋，也就是說，暗紋732為影像感測(cè)裝置630因感測(cè)指示物&所擷取的實(shí)像。換句話說，影像感測(cè)裝置630可擷取指示物0” O2的一組實(shí)像(在本實(shí)施例中即為暗紋731與732)，以及反射鏡620中的指示物01A、02A的一組虛像(在本實(shí)施例中即為暗紋731A與732A)。同理，影像感測(cè)裝置640可分別沿著光徑641、642、641A與642A感測(cè)到指示物O1、指示物02、 指示物O1的鏡像01A，以及指示物A的鏡像02A。影像感測(cè)裝置640所擷取的影像740如圖 8(b)所示。在影像740中，暗紋741為影像感測(cè)裝置640因感測(cè)指示物O1所擷取的實(shí)像； 暗紋742為影像感測(cè)裝置640因感測(cè)指示物&所擷取的實(shí)像；暗紋741A為影像感測(cè)裝置 640因感測(cè)指示物O1的鏡像Oia所擷取的虛像；暗紋732A為影像感測(cè)裝置640因感測(cè)指示物A的鏡像O2a所擷取的虛像。換句話說，影像感測(cè)裝置640也可擷取指示物O1W2的一組實(shí)像(在本實(shí)施例中即為實(shí)像暗紋741與742)，以及包括反射鏡620中的指示物01A、02A的一組虛像(在本實(shí)施例中即為暗紋74IA與742A)。處理電路650先判斷影像730與740中的各暗紋為實(shí)像或是虛像，再根據(jù)影像感測(cè)裝置630所擷取的實(shí)像與影像感測(cè)裝置640所擷取的實(shí)像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1W2的一組實(shí)像候選坐標(biāo)RL0C，以及根據(jù)影像感測(cè)裝置630所擷取的虛像與影像感測(cè)裝置640所擷取的虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1W2的一組虛像候選坐標(biāo)VL0C。最后，處理電路650根據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC以及虛像候選坐標(biāo)VL0C，可產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1W2的一組輸出坐標(biāo)SXY。 以下將利用圖9(a)、圖9(b)與圖10更進(jìn)一步地說明處理電路650的工作原理。圖9 (a)與圖9 (b)為說明處理電路650判斷影像730與740中的各暗紋為實(shí)像或是虛像的工作原理的示意圖。為了讓處理電路650能判斷影像730與740中的各暗紋為實(shí)像或是虛像，當(dāng)指示物O1與A進(jìn)入感測(cè)區(qū)域610中時(shí)，影像感測(cè)裝置630與640分別會(huì)擷取多張影像730與740。在圖9(a)與圖9(b)中，以影像感測(cè)裝置630所擷取的多張影像 730為例，當(dāng)指示物O1與&剛進(jìn)入感測(cè)區(qū)域610中時(shí)，指示物O1與&尚未于反射鏡620中成像，因此此時(shí)在影像感測(cè)裝置630所擷取影像730中，僅有包括指示物Op O2的實(shí)像(暗紋731與732)。經(jīng)過一段時(shí)間后，指示物O1與&于反射鏡620中成像，此時(shí)在影像感測(cè)裝置630所擷取影像730中，同時(shí)具有指示物O1W2的實(shí)像(暗紋731與732)，以及包括反射鏡620中的指示物01A、02A的虛像(暗紋731A與732A)。也就是說，在影像感測(cè)裝置630所擷取的影像中，會(huì)先出現(xiàn)實(shí)像，然后再出現(xiàn)虛像。因此，處理電路650可借由比較影像感測(cè)裝置630所擷取影像730的成像順序，以判斷影像傳感器630所擷取影像730的部分指示物影像(暗紋731與732)為實(shí)像，且判斷其它指示物影像(暗紋731A與732A)為虛像。同理，處理電路650也可借由比較影像感測(cè)裝置640所擷取影像740的成像順序，以判斷影像傳感器640所擷取影像740的部分指示物影像(暗紋741與742)為實(shí)像，且判斷其它指示物影像(暗紋741A與742A)為虛像。 在圖10中，處理電路650依據(jù)實(shí)像(暗紋731與暗紋732)于影像730中的位置與影像感測(cè)裝置630的位置，可產(chǎn)生一第一組實(shí)像遮斷直線RLra與RL732，并依據(jù)實(shí)像(暗紋741與暗紋742)于影像740中的位置與影像感測(cè)裝置640的位置，產(chǎn)生第二組實(shí)像遮斷直線RL741與RL742。由于指示物Ο” O2位于第一組實(shí)像遮斷直線(RL731及RLra2)上，且指示物O1W2也位于第二組實(shí)像遮斷直線(RL741及RL742)上，因此處理電路650可再依據(jù)第一組實(shí)像遮斷直線(RL731及RL732)與第二組實(shí)像遮斷直線(RL741及RL742)的交點(diǎn)，產(chǎn)生關(guān)于指示物O1W2的實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOC4。此外，處理電路650也依據(jù)虛像(暗紋73IA與暗紋 732A)于影像730中的位置與影像感測(cè)裝置630的位置，產(chǎn)生第一組虛像遮斷直線VL73ia與 VL732a,并依據(jù)虛像(暗紋741A與暗紋742A)于影像740中的位置與影像感測(cè)裝置640的位置，產(chǎn)生第二組虛像遮斷直線VL74ia與VL742A。同理，由于反射鏡620中的指示物01A、O2a位于第一組虛像遮斷直線(VL73ia及VL732a)上，且反射鏡620中的指示物01A、02A也位于第二組虛像遮斷直線(VL74ia及VL742a)上，因此處理電路650可依據(jù)第一組虛像遮斷直線(VL73ia 及VL732a)與第二組虛像遮斷直線(VL74ia及VL742a)的交點(diǎn)，產(chǎn)生關(guān)于指示物OpO2 (更明確地說，關(guān)于反射鏡620中的指示物01A、02A)的虛像候選坐標(biāo)VLOCfVLOQ。由于感測(cè)區(qū)域610 中的指示物O1W2的位置與指示物的鏡像01A、02A的位置，相對(duì)于反射鏡620具有對(duì)稱關(guān)系， 因此處理電路650可借由偵測(cè)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOC4與虛像候選坐標(biāo)VLOC1-VLOC3，相對(duì)于反射鏡620是否有對(duì)稱關(guān)系，以判斷出指示物(V O2的位置。舉例而言，處理電路650 可先偵測(cè)虛像候選坐標(biāo)VLOC1與各實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOC4相對(duì)于反射鏡620是否有對(duì)稱關(guān)系。此時(shí)，如圖11所示，處理電路650計(jì)算虛像候選坐標(biāo)VLOC1與反射鏡620之間的虛像距離Dvura，且處理電路650依據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOC4與虛像候選坐標(biāo)VLOC1,產(chǎn)生候選直線CL11-CL1415當(dāng)候選直線CLix的長(zhǎng)度實(shí)質(zhì)上為虛像距離Dvuki的兩倍，且候選直線CLix垂直于反射鏡620時(shí)，處理電路650可判斷對(duì)應(yīng)的實(shí)像候選坐標(biāo)RLOCx與虛像候選坐標(biāo)VLOC1相對(duì)于反射鏡620有對(duì)稱關(guān)系。在候選直線CL11-CL14之中，由于候選直線CL11 的長(zhǎng)度實(shí)質(zhì)上為虛像距離Dv_的兩倍，且候選直線CL11垂直于反射鏡620，因此處理電路 650可判斷實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1與虛像候選坐標(biāo)VLOC1相對(duì)于反射鏡620有對(duì)稱關(guān)系。此時(shí)處理電路650判斷有指示物位于實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1,如此，處理電路650依據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1,產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于一指示物Oi1)的輸出坐標(biāo)Sxyi，并記錄至該組輸出坐標(biāo)Sxy之中。接著，處理電路650也可根據(jù)上述所說明的方式偵測(cè)虛像候選坐標(biāo)VLOC2與各實(shí)像候選坐標(biāo) RLOC1-RLOC4相對(duì)于反射鏡620是否有對(duì)稱關(guān)系，由于虛像候選坐標(biāo)VLOC2與各實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOC4相對(duì)于反射鏡620皆沒有對(duì)稱關(guān)系，因此處理電路650可判斷沒有指示物的鏡像位于虛像候選坐標(biāo)VLOC2之上。最后，處理電路650偵測(cè)虛像候選坐標(biāo)VLOC3與各實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOC4相對(duì)于反射鏡620是否有對(duì)稱關(guān)系，由于虛像候選坐標(biāo)VLOC3與實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC4相對(duì)于反射鏡620有對(duì)稱關(guān)系，因此處理電路650可判斷有指示物位于實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC4,如此，處理電路650依據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC4,產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于一指示物(O2) 的輸出坐標(biāo)Sxy2，并記錄至該組輸出坐標(biāo)Sxy之中。因此，由上述說明可知，處理電路650根據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC以及虛像候選坐標(biāo)VL0C，可產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1W2的輸出坐標(biāo)SXY。此外，值得注意的是，在上述說明中，影像感測(cè)裝置630與640皆可擷取包括全部指示物O1W2的實(shí)像，與包括反射鏡620中全部指示物01A、02A的虛像。然而，當(dāng)指示物O1與 O2相對(duì)于影像感測(cè)裝置630正好位于同一光徑上時(shí)，影像感測(cè)裝置630僅可擷取到部分指示物OpO2的實(shí)像(如圖12所示)，換句話說，隨著指示物OpO2的位置的不同，影像感測(cè)裝置630所擷取到的實(shí)像可能只有包括部分指示物(如只有包括指示物O1)，或是影像感測(cè)裝置630所擷取到的虛像只有包括反射鏡620中部分指示物。同理，隨著指示物O1W2的位置的不同，影像感測(cè)裝置640所擷取到的實(shí)像也可能只有包括部分指示物，或是影像感測(cè)裝置640所擷取到的虛像只有包括反射鏡620中部分指示物。然而，無論影像感測(cè)裝置630 與640是否可擷取到包括全部指示物Op &的實(shí)像，以及包括反射鏡620中全部指示物Op O2的虛像，處理電路650皆可利用上述說明的方法，正確地計(jì)算出對(duì)應(yīng)于指示物Op &的輸出坐標(biāo)^iY。另外，在上述說明中，處理電路650借由比較影像感測(cè)裝置所擷取影像的成像順序，以判斷影像傳感器所擷取影像的部分指示物影像為實(shí)像，且判斷其它指示物影像為虛像。本發(fā)明提供另一種方法讓處理電路650可判斷影像傳感器所擷取影像的部分指示物影像為實(shí)像或虛像，其工作原理說明如下。請(qǐng)參考圖13、圖14、圖15與圖16。在圖13中，為了讓處理電路650可判斷影像傳感器所擷取影像的部分指示物影像為實(shí)像或虛像，光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600的反射鏡620是以鏡面導(dǎo)光組件實(shí)施。圖14、圖15與圖16為本發(fā)明所提供的鏡面導(dǎo)光組件的三種實(shí)施例的示意圖。在圖14中，鏡面導(dǎo)光組件1400具有出光面1411、與出光面1411相對(duì)的鏡面1412， 以及入光面1413。鏡面1412，舉例而言，可借由將鏡面反光材料層涂布于一表面以形成。 入光面1411用來接收光線。當(dāng)入光面1411接收光線時(shí)，鏡面1412反射光線，使光線由出光面1411射出。當(dāng)入光面1411未接收光線時(shí)，鏡面1412可提供如同反射鏡620的鏡面功能，產(chǎn)生感測(cè)區(qū)域610的鏡像。在圖14所示的實(shí)施例中，鏡面導(dǎo)光組件1400為一半圓柱體。鏡面導(dǎo)光組件1400的出光面1411為一連接于鏡面1412的曲面，鏡面1412為一平面。 此外，鏡面導(dǎo)光組件1400的形狀并不以上述半圓柱體為限，其可為其它合適的形狀的實(shí)心或空心柱體，而鏡面1412可視需求而設(shè)計(jì)成曲面。圖15為本發(fā)明另一實(shí)施例的鏡面導(dǎo)光組件1500的結(jié)構(gòu)示意圖。鏡面導(dǎo)光組件1500具有出光面1511、與出光面1511相對(duì)的鏡面1512，以及入光面1513。鏡面導(dǎo)光組件1500與上述的鏡面導(dǎo)光組件1400的功能相似， 差別處在于形狀。鏡面導(dǎo)光組件1500呈中空狀。圖16為本發(fā)明另一實(shí)施例的鏡面導(dǎo)光組件1600的結(jié)構(gòu)示意圖。鏡面導(dǎo)光組件1500具有出光面1611、與出光面1611相對(duì)的鏡面1612，以及入光面1613。鏡面導(dǎo)光組件1600與上述的鏡面導(dǎo)光組件1500類似，差別處在于入光面1513與出光面1511為一透光層的兩個(gè)表面。在圖13中，光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600的反射鏡620是假設(shè)以鏡面導(dǎo)光組件1600實(shí)施來作舉例說明。光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600還包括一發(fā)光組件660。發(fā)光組件660于發(fā)光時(shí)段T111內(nèi)發(fā)光至鏡面導(dǎo)光組件1600的入光面1613，于不發(fā)光時(shí)段Tnui內(nèi)則不會(huì)發(fā)光至鏡面導(dǎo)光組件1600 的入光面1613。于發(fā)光時(shí)段Tui內(nèi)，鏡面導(dǎo)光組件1600的入光面1613接收光線。此時(shí)，鏡面1412反射光線，使出光面1611向感測(cè)區(qū)域610發(fā)光。影像感測(cè)裝置630只感測(cè)到出光面1611所發(fā)出的光線，而無法感測(cè)到鏡面1612所產(chǎn)生的鏡像。如此，影像感測(cè)裝置630所擷取到的影像730如圖9(a)所示，僅有包括指示物O1W2的實(shí)像(暗紋731與732)。于不發(fā)光時(shí)段Tnui內(nèi)，鏡面導(dǎo)光組件1600的入光面1613未接收光線。此時(shí)，影像感測(cè)裝置630 可感測(cè)到鏡面1612所產(chǎn)生的鏡像。因此此時(shí)影像感測(cè)裝置630所擷取到的影像730如圖 9(b)的所示，同時(shí)具有指示物Op O2的實(shí)像(暗紋731與732)，以及包括鏡面1612中的指示物01A、02A的虛像(暗紋731A與732A)。如此一來，處理電路650可借由比較影像感測(cè)裝置630于發(fā)光時(shí)段T111與不發(fā)光時(shí)段Tnui內(nèi)所擷取的影像730，以判斷影像傳感器630于不發(fā)光時(shí)段Tnui內(nèi)所擷取的影像730的部分指示物影像(暗紋731與732)為實(shí)像，且判斷其它指示物影像(暗紋731A與732A)為虛像。同理，處理電路650也可借由比較影像感測(cè)裝置640于發(fā)光時(shí)段T111與不發(fā)光時(shí)段Tnui內(nèi)所擷取的影像740，以判斷影像傳感器640于不發(fā)光時(shí)段Tnui內(nèi)所擷取的影像740的部分指示物影像(暗紋741與742)為實(shí)像，且判斷其它指示物影像(暗紋741A與742A)為虛像。綜上所述，在本實(shí)施例中，當(dāng)復(fù)數(shù)個(gè)指示物位于感測(cè)區(qū)域時(shí)，影像感測(cè)裝置630擷取包括全部或部分指示物的一組實(shí)像，以及包括反射鏡620中包括全部或部分指示物的一組虛像。影像感測(cè)裝置640也擷取包括全部或部分指示物的一組實(shí)像，以及包括反射鏡620 中包括全部或部分指示物的一組虛像。處理電路650先判斷影像感測(cè)裝置630所擷取的影像與影像感測(cè)裝置640所擷取的影像中的各暗紋為實(shí)像或是虛像，再根據(jù)影像感測(cè)裝置 630所擷取的實(shí)像與影像感測(cè)裝置640所擷取的實(shí)像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該復(fù)數(shù)個(gè)指示物的一組實(shí)像候選坐標(biāo)RL0C，以及根據(jù)影像感測(cè)裝置630所擷取的虛像與影像感測(cè)裝置640所擷取的虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該復(fù)數(shù)個(gè)指示物的一組虛像候選坐標(biāo)VL0C。最后，處理電路650根據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC以及虛像候選坐標(biāo)VL0C，計(jì)算出該復(fù)數(shù)個(gè)指示物的位置，以產(chǎn)生一組輸出坐標(biāo)SXY。因此，相較于公知技術(shù)，在本實(shí)施例中，即使有復(fù)數(shù)個(gè)指示物位于感測(cè)區(qū)域，處理電路650也可正確地計(jì)算出該復(fù)數(shù)個(gè)指示物的位置，也就是說，利用光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600，可執(zhí)行多點(diǎn)觸控的操作。此外，除了上述所說明的處理電路650計(jì)算指示物的位置的方法，本發(fā)明提供一第二實(shí)施例，其工作原理說明如下。假設(shè)影像感測(cè)裝置630所擷取的影像730與影像感測(cè)裝置640所擷取的影像740 如圖8(a)與圖8(b)所示。此時(shí)，如圖17所示，處理電路650根據(jù)影像感測(cè)裝置630所擷取的影像730(中各暗紋的位置)與影像感測(cè)裝置630的位置，可產(chǎn)生第一組遮斷直線 (L731 > L732 > L73ia與L732a)，且處理電路650根據(jù)影像感測(cè)裝置640所擷取影像740 (中各暗紋的位置)與影像感測(cè)裝置640的位置，可產(chǎn)生第二組遮斷直線(L741、L742 , L74ia與L742a)。 處理電路650根據(jù)第一組遮斷直線(L731、L732 > L73ia與L732a)與第二組遮斷直線(L741、L742,L74ia與L742a)的交點(diǎn)，可產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1W2的一組候選坐標(biāo)LOC(包括RLOC1-RLOCi2與 VLOCi-VLOC3)。處理電路650可更進(jìn)一步地根據(jù)反射鏡620的位置與候選坐標(biāo)L0C，以產(chǎn)生一組實(shí)像候選坐標(biāo)與一組虛像候選坐標(biāo)。更明確地說，處理電路650根據(jù)反射鏡620的位置，以將候選坐標(biāo)LOC區(qū)分成位于感測(cè)區(qū)域610中的一組實(shí)像候選坐標(biāo)(RLOC1-RLOCi2)，以及位于反射鏡620所產(chǎn)生的鏡像中的一組虛像候選坐標(biāo)(VLOCi-VLOC》。此時(shí)實(shí)像候選坐標(biāo)(RLOCi-RLOCi2)為指示物OpO2可能的位置，且虛像候選坐標(biāo)(VLOCi-VLOC3)為反射鏡620 中的指示物01A、02A可能的位置。由于感測(cè)區(qū)域610中的指示物Op &的位置與反射鏡620 中的指示物01A、02A的位置，相對(duì)于反射鏡620有對(duì)稱關(guān)系，因此處理電路650可借由偵測(cè)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOCi2與虛像候選坐標(biāo)VLOCi-VLOC3,相對(duì)于反射鏡620是否有對(duì)稱關(guān)系， 以判斷出指示物O1^2真正的位置。舉例而言，處理電路650依序偵測(cè)虛像候選坐標(biāo)VLOCp VLOC2,VLOC3與各實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOCi2相對(duì)于反射鏡620是否有對(duì)稱關(guān)系。由于虛像候選坐標(biāo)VLOC1與實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1相對(duì)于反射鏡620有對(duì)稱關(guān)系，因此處理電路650可判斷有指示物位于實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1，如此，處理電路650依據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于一指示物(O1)的輸出坐標(biāo)Sxyi，并記錄至該組輸出坐標(biāo)Sxy之中。虛像候選坐標(biāo)VLOC2 與各實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1-RLOCi2相對(duì)于反射鏡620皆沒有對(duì)稱關(guān)系，因此處理電路650可判斷沒有指示物的鏡像位于虛像候選坐標(biāo)VLOC2之上。虛像候選坐標(biāo)VLOC3與實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC4相對(duì)于反射鏡620有對(duì)稱關(guān)系，因此處理電路650可判斷有指示物位于實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC4,如此，處理電路650依據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC4,產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于一指示物(O2)的輸出坐標(biāo)Sxy2，并記錄至該組輸出坐標(biāo)Sxy之中。因此，由上述說明可知，根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例，即使處理電路650沒有判斷在影像730與影像740中的各暗紋為實(shí)像或是虛像，處理電路650仍可根據(jù)反射鏡620的位置與候選坐標(biāo)L0C，計(jì)算出指示物Op O2的位置，并產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O” &的輸出坐標(biāo)Sxyo 根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的基本精神，本發(fā)明可更進(jìn)一步地提供處理電路650計(jì)算指示物的位置的方法的一第三實(shí)施例。請(qǐng)參考圖18與第16圖。在圖18中，處理電路650 根據(jù)影像感測(cè)裝置630所擷取的影像730與影像感測(cè)裝置630的位置，產(chǎn)生第一組遮斷直線(L731、L732、L731A與L732a)，且處理電路650根據(jù)影像感測(cè)裝置640所擷取影像740與影像感測(cè)裝置640的位置，產(chǎn)生第二組遮斷直線仏741丄742丄7414與、2》。處理電路650根據(jù)第一組遮斷直線(L731、L732、L731A% L732a)與第二組遮斷直線仏741丄742丄7414與L742a)的交點(diǎn)，產(chǎn)生位于感測(cè)區(qū)域610內(nèi)對(duì)應(yīng)于指示物O1W2的實(shí)像候選坐標(biāo)(RLOC1-RLOC12),此時(shí)實(shí)像候選坐標(biāo) (RLOC1-RLOCi2)為指示物OpO2可能的位置。在圖19中，處理電路650根據(jù)于反射鏡620中的影像感測(cè)裝置630A的位置與第一組遮斷直線(L731、L732、L731A與L732a)，可產(chǎn)生相對(duì)于反射鏡 620與第一組遮斷直線仏731、1^2、1^314與L732a)對(duì)稱的一第一組鏡像直線(ML731、ML732、ML73ia 與ML732a)。由圖18與圖19可看出，鏡像直線ML731與遮斷直線L73ia對(duì)稱；鏡像直線ML732與遮斷直線L732a對(duì)稱；鏡像直線ML73ia與遮斷直線L731對(duì)稱；且鏡像直線ML732a與遮斷直線Lra2 對(duì)稱。同理，處理電路650根據(jù)于反射鏡620中的影像感測(cè)裝置640A的位置與第二組遮斷直線(L741、L742、L74ia與L742a)，也可產(chǎn)生相對(duì)于反射鏡620與第二組遮斷直線(L741、L742、L74ia 與L742a)對(duì)稱的一第二組鏡像直線(MLmi、MLm2、ML74ia與MLm2a)。由圖18與圖19可看出，鏡像直線ML741與遮斷直線L74ia對(duì)稱；鏡像直線ML742與遮斷直線L742a對(duì)稱；鏡像直線MmiA與遮斷直線L741對(duì)稱；且鏡像直線ML742a與遮斷直線L742對(duì)稱。處理電路650根據(jù)第一組鏡像直線(1^731、1^732、1^7314與 ML732a)與第二組鏡像直線(ML741、ML742、ML74ia 與 ML742a),可于感測(cè)區(qū)域610內(nèi)產(chǎn)生一組虛像候選坐標(biāo)VLOC1-VLOC3。由圖17與圖19可看出，圖19中處理電路 650所產(chǎn)生的虛像候選坐標(biāo)VLOC1-VLOC3與圖17的虛像候選坐標(biāo)VLOC1-VLOC3相對(duì)于反射鏡620具有對(duì)稱關(guān)系。由于圖17的虛像候選坐標(biāo)(VLOC1-VLOC3)為反射鏡620中的指示物 01A、02A可能的位置，因此圖19中處理電路650所產(chǎn)生的虛像候選坐標(biāo)VLOC1-VLOC3為指示物OrO2可能的位置。如此，處理電路650可比較圖18的實(shí)像候選坐標(biāo)(RLOC1-Rloci2)與圖19的虛像候選坐標(biāo)VLOC1-VLOC3,以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1W2的輸出坐標(biāo)^。舉例而言， 處理電路650計(jì)算虛像候選坐標(biāo)VLOC1與各實(shí)像候選坐標(biāo)(RLOCi-RLOCi2)之間的候選距離 Du-D1 12。當(dāng)候選距離D1 x小于一誤差距離De_時(shí)，處理電路650判斷虛像候選坐標(biāo)VLOC1 與實(shí)像候選坐標(biāo)RLOCx所表示的位置相同，此時(shí)表示有指示物位于實(shí)像候選坐標(biāo)RLOCx (或虛像候選坐標(biāo)VLOC1)，因此處理電路650可根據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)RLOCx與虛像候選坐標(biāo)VLOC1 產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于一指示物(O1)的輸出坐標(biāo)Sm，并記錄到輸出坐標(biāo)Sxy之中。由于圖18的實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC1與圖19的虛像候選坐標(biāo)VLOC1所表示的位置相同，且圖18的實(shí)像候選坐標(biāo) RLOC4與圖19的虛像候選坐標(biāo)VLOC3所表示的位置相同，因此處理電路650根據(jù)圖18的實(shí)像候選坐標(biāo)RLOCp圖19的虛像候選坐標(biāo)VLOC1、圖18的實(shí)像候選坐標(biāo)RLOC4與圖19的虛像候選坐標(biāo)VLOC3,可產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物Op O2的輸出坐標(biāo)SXY。請(qǐng)參考圖20與圖21。圖20與圖21為說明本發(fā)明的處理電路650計(jì)算指示物的位置的方法的第四實(shí)施例的示意圖。在本實(shí)施例中，處理電路650先根據(jù)前述的方法判斷影像730與740中的各暗紋為實(shí)像或是虛像。接著，處理電路650根據(jù)影像感測(cè)裝置630 所擷取的實(shí)像與虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1與A的一組第一候選坐標(biāo)，以及根據(jù)影像感測(cè)裝置640所擷取的實(shí)像與虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1與&的一組第二候選坐標(biāo)。處理電路 650比對(duì)該組第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物O1與&的輸出坐標(biāo) Sxyo以下將更進(jìn)一步地說明其工作原理。在圖20中，處理電路650根據(jù)影像感測(cè)裝置630所擷取的實(shí)像與影像感測(cè)裝置 630的位置，產(chǎn)生實(shí)像遮斷直線RL731、RL732，并根據(jù)影像感測(cè)裝置630所擷取的虛像與影像感測(cè)裝置630的位置，產(chǎn)生虛像遮斷直線VL731A、VL732A。接著，處理電路650可根據(jù)虛像遮斷直線VL731A、VL732a與影像感測(cè)裝置630于反射鏡620中的鏡像630A的位置，產(chǎn)生與虛像遮斷直線VL731A、VL732A相對(duì)于反射鏡620為對(duì)稱的鏡像直線ML731、MLra2。處理電路650根據(jù)實(shí)像遮斷直線RL731、RL732與鏡像直線ML731、ML732的交點(diǎn)，可產(chǎn)生第一候選坐標(biāo)LOC31-LOC34，其中第一候選坐標(biāo)LOC31-LOC34即為指示物Op O2可能的位置。在圖21中，處理電路650根據(jù)影像感測(cè)裝置640所擷取的實(shí)像與影像感測(cè)裝置 640的位置，產(chǎn)生實(shí)像遮斷直線RL741、RL742，并根據(jù)影像感測(cè)裝置640所擷取的虛像與影像感測(cè)裝置640的位置，產(chǎn)生虛像遮斷直線VL741A、VL742A。接著，處理電路650可根據(jù)虛像遮斷直線VL741A、VL742a與影像感測(cè)裝置640于反射鏡620中的鏡像640A的位置，產(chǎn)生與虛像遮斷直線VL741A、VL742A相對(duì)于反射鏡620為對(duì)稱的鏡像直線ML741、ML742。處理電路650根據(jù)實(shí)像遮斷直線RL741、RL742與鏡像直線ML741、ML742的交點(diǎn)，可產(chǎn)生第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44，其中第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44即為指示物Op O2可能的位置。處理電路650根據(jù)第一候選坐標(biāo)LOC31-LOC34與第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44的交集所包括的坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物Op O2的輸出坐標(biāo)Sxyo舉例而言，由圖20與圖21可看出，第一候選坐標(biāo)LOC31-LOC34中的坐標(biāo)LOC31以及LOC34分別與第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44中的 LOC41以及LOC44相同，因此第一候選坐標(biāo)LOC31-LOC34與第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44的交集所包括的坐標(biāo)為L(zhǎng)0C31、L0C34、L0C41、L0C44。坐標(biāo)為L(zhǎng)OC31 (LOC41)即為指示物O1的位置，且坐標(biāo)為L(zhǎng)OC34 (LOC44)即為指示物&的位置。因此，處理電路650可根據(jù)第一候選坐標(biāo)LOC31-LOCm 與第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44的交集所包括的坐標(biāo)(L0C31、L0C34、LOC41、LOC44)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物 O1 O2的輸出坐標(biāo)Sxy。另外，處理電路650也可計(jì)算第一候選坐標(biāo)LOC31-LOC34與第二候選坐標(biāo) LOC41-LOC44之間的候選距離，并根據(jù)候選距離的大小，判斷第一候選坐標(biāo)LOC31-LOCm與第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44中重復(fù)出現(xiàn)的坐標(biāo)，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物Op O2的輸出坐標(biāo)^。更進(jìn)一步地說，處理電路650計(jì)算第一候選坐標(biāo)LOC31與各第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44之間的候選距離D11-D1P當(dāng)候選距離D1 x小于誤差距離De_時(shí)，處理電路650判斷第一候選坐標(biāo)LOC31與第二候選坐標(biāo)LOC4x(在本實(shí)施例中為L(zhǎng)OC41)所表示的位置相同，此時(shí)表示有指示物位于第一候選坐標(biāo)LOC31 (或第二候選坐標(biāo)LOC41)，因此處理電路650可根據(jù)第一候選坐標(biāo)LOQ1與第二候選坐標(biāo)LOC41產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于一指示物(O1)的輸出坐標(biāo)Sm，并記錄到輸出坐標(biāo)、之中。舉例而言，處理電路650取第一候選坐標(biāo)LOC31與第二候選坐標(biāo)LOC41之間的中點(diǎn)作為輸出坐標(biāo)Sm。同理，處理電路650計(jì)算第一候選坐標(biāo)LOCm與各第二候選坐標(biāo) LOC41-LOC44之間的候選距離D4」-D4 4。由于第一候選坐標(biāo)LOC34與第二候選坐標(biāo)LOC44之間的候選距離D4 4小于誤差距離De_k，因此表示有指示物位于第一候選坐標(biāo)LOC34 (或第二候選坐標(biāo)LOC44)。如此，處理電路650可根據(jù)第一候選坐標(biāo)LOC34與第二候選坐標(biāo)LOC44產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物(O2)的輸出坐標(biāo)Sxy2，并記錄到輸出坐標(biāo)、之中。因此，由上述說明可知，處理電路650根據(jù)第一候選坐標(biāo)LOC31-LOC34與第二候選坐標(biāo)LOC41-LOC44，可產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物01 02的輸出坐標(biāo)Sxy。此外，請(qǐng)參考圖22，本發(fā)明所提供的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600還可包括發(fā)光模塊670，發(fā)光模塊670朝向感測(cè)區(qū)域610發(fā)出紅外光。此時(shí)，影像感測(cè)裝置630與影像感測(cè)裝置640 皆為紅外光感測(cè)裝置，影像感測(cè)裝置630與影像感測(cè)裝置640接收紅外光以擷取包括于感測(cè)區(qū)域610內(nèi)的指示物的實(shí)像，以及包括反射鏡620中的指示物的影像。如此一來，可減少背景光對(duì)光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)600所造成的影響，而使處理電路650可更正確地判斷影像感測(cè)裝置630與影像感測(cè)裝置640所擷取的影像中各暗紋的位置，因此，處理電路650可更正確地計(jì)算指示物的位置。綜上所述，本發(fā)明提供一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)包括感測(cè)區(qū)域、反射鏡、第一影像感測(cè)裝置、第二影像感測(cè)裝置與處理電路。感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作。反射鏡產(chǎn)生感測(cè)區(qū)域的鏡像。第一與第二影像感測(cè)裝置分別擷取包括全部或部分指示物以及包括反射鏡中的全部或部分指示物的影像。本發(fā)明提供三種實(shí)施例，以讓處理電路可根據(jù)第一與第二影像感測(cè)裝置所擷取的影像，以產(chǎn)生候選坐標(biāo)，并利用指示物與其對(duì)應(yīng)的鏡像相對(duì)于反射鏡具有對(duì)稱關(guān)系，以從候選坐標(biāo)之中，得到該復(fù)數(shù)個(gè)指示物的位置。如此一來，利用本發(fā)明所提供的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，可執(zhí)行多點(diǎn)觸控的操作。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，包括感測(cè)區(qū)域、第一影像感測(cè)裝置及第二影像感測(cè)裝置，該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊，且該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作，該第一影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，第二影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的特征在于還包括反射鏡，產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像；其中，該第一影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第一組實(shí)像與包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第一組虛像，且該第二影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第二組實(shí)像與包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第二組虛像；以及處理電路，根據(jù)該第一影像感測(cè)裝置所擷取的該第一組實(shí)像與該第二影像感測(cè)裝置所擷取的該第二組實(shí)像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組實(shí)像候選坐標(biāo)，以及根據(jù)該第一影像感測(cè)裝置所擷取的該第一組虛像與該第二影像感測(cè)裝置所擷取的該第二組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組虛像候選坐標(biāo)，該處理電路根據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)以及該組虛像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路根據(jù)該些指示物在該第一影像感測(cè)裝置所擷取影像的成像順序與該些指示物在該第二影像感測(cè)裝置所擷取影像的成像順序，判斷該第一影像感測(cè)裝置所擷取影像的部分指示物影像為該第一組實(shí)像以及其它指示物影像為該第一組虛像，且判斷該第二影像感測(cè)裝置所擷取影像的部分指示物影像為該第二組實(shí)像以及其它指示物影像為該第二組虛像。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路依據(jù)該第一影像感測(cè)裝置的位置與該第一組實(shí)像，產(chǎn)生第一組實(shí)像遮斷直線，并依據(jù)該第二影像感測(cè)裝置的位置與該第二組實(shí)像，產(chǎn)生第二組實(shí)像遮斷直線；其中，該處理電路依據(jù)該第一影像感測(cè)裝置的位置與該第一組虛像，產(chǎn)生第一組虛像遮斷直線，并依據(jù)該第二影像感測(cè)裝置的位置與該第二組虛像，該第二組虛像遮斷直線；其中，該處理電路依據(jù)該第一組實(shí)像遮斷直線與該第二組實(shí)像遮斷直線的交點(diǎn)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的該組實(shí)像候選坐標(biāo)，并依據(jù)該第一組虛像遮斷直線與該第二組虛像遮斷直線的交點(diǎn)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的該組虛像候選坐標(biāo)。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路偵測(cè)該組實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)相對(duì)于該反射鏡是否有對(duì)稱關(guān)系；其中，當(dāng)該處理電路判斷該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的一個(gè)實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)中的一個(gè)虛像候選坐標(biāo)相對(duì)于該反射鏡有對(duì)稱關(guān)系時(shí)，該處理電路依據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的該實(shí)像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物中的一個(gè)指示物的輸出坐標(biāo)，以記錄至該組輸出坐標(biāo)。
5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于還包括發(fā)光模塊，朝向該感測(cè)區(qū)域發(fā)光；其中，該發(fā)光模塊所發(fā)出的光為紅外光，且該第一影像感測(cè)裝置與該第二影像感測(cè)裝置皆為紅外光感測(cè)裝置。
6.一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，包括感測(cè)區(qū)域、第一影像感測(cè)裝置及第二影像感測(cè)裝置，該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊，且該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作，該第一影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，第二影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的特征在于還包括鏡面導(dǎo)光組件，包括面對(duì)該感測(cè)區(qū)域的出光面、與該出光面相對(duì)的鏡面以及入光面，該鏡面產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像，當(dāng)該入光面接收光線時(shí)，該出光面向該感測(cè)區(qū)域發(fā)光；發(fā)光組件，于發(fā)光時(shí)段內(nèi)發(fā)光至該鏡面導(dǎo)光組件的該入光面；其中，該第一影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取包括至少部分該些指示物的第一組實(shí)像，以及于不發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取該第一組實(shí)像與包括該鏡面中至少部分該些指示物的第一組虛像；其中，該第二影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取包括至少部分該些指示物的第二組實(shí)像，以及于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取該第二組實(shí)像與包括該鏡面中至少部分該些指示物的第二組虛像；以及處理電路，根據(jù)該第一影像感測(cè)裝置所擷取的該第一組實(shí)像與該第二影像感測(cè)裝置所擷取的該第二組實(shí)像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組實(shí)像候選坐標(biāo)，以及根據(jù)該第一影像感測(cè)裝置所擷取的該第一組虛像與該第二影像感測(cè)裝置所擷取的該第二組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組虛像候選坐標(biāo)，該處理電路根據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)以及該組虛像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。
7.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路比較該第一影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的該第一組實(shí)像與該第一影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像，以從該第一影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像中，得到該第一組虛像；其中，該處理電路比較該第二影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的該第二組實(shí)像與該第二影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像，以從該第二影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像中，得到該第二組虛像。
8.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路依據(jù)該第一影像感測(cè)裝置的位置與該第一組實(shí)像，產(chǎn)生第一組實(shí)像遮斷直線，并依據(jù)該第二影像感測(cè)裝置的位置與該第二組實(shí)像，產(chǎn)生第二組實(shí)像遮斷直線；其中，該處理電路依據(jù)該第一影像感測(cè)裝置的位置與該第一組虛像，產(chǎn)生第一組虛像遮斷直線，并依據(jù)該第二影像感測(cè)裝置的位置與該第二組虛像，產(chǎn)生第二組虛像遮斷直線.一入 ，其中，該處理電路依據(jù)該第一組實(shí)像遮斷直線與該第二組實(shí)像遮斷直線的交點(diǎn)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的該組實(shí)像候選坐標(biāo)，并依據(jù)該第一組虛像遮斷直線與該第二組虛像遮斷直線的交點(diǎn)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的該組虛像候選坐標(biāo)。
9.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路偵測(cè)該組實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)相對(duì)于該鏡面是否有對(duì)稱關(guān)系；其中，當(dāng)該處理電路判斷該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的一個(gè)實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)中的一個(gè)虛像候選坐標(biāo)相對(duì)于該鏡面有對(duì)稱關(guān)系時(shí)，該處理電路依據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的該實(shí)像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物中的一個(gè)指示物的輸出坐標(biāo)，以記錄至該組輸出坐標(biāo)。
10.如權(quán)利要求8所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于還包括發(fā)光模塊，朝向該感測(cè)區(qū)域發(fā)光；其中，該發(fā)光模塊與該發(fā)光組件所發(fā)出的光皆為紅外光，且該第一影像感測(cè)裝置與該第二影像感測(cè)裝置皆為紅外光感測(cè)裝置。
11.一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，包括感測(cè)區(qū)域、第一影像感測(cè)裝置及第二影像感測(cè)裝置，該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊，且該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作，該第一影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，第二影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的特征在于還包括反射鏡，產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像；其中，該第一影像感測(cè)裝置擷取包括該感測(cè)區(qū)域中至少部分該些指示物與該反射鏡中至少部分該些指示物的第一影像；其中，該第二影像感測(cè)裝置，擷取包括該感測(cè)區(qū)域中至少部分該些指示物與該反射鏡中至少部份該些指示物的第二影像；以及處理電路，根據(jù)該第一影像感測(cè)裝置所擷取的該第一影像與該第一影像感測(cè)裝置的位置，產(chǎn)生第一組遮斷直線，以及根據(jù)該第二影像感測(cè)裝置所擷取的該第二影像與該第二影像感測(cè)裝置的位置，產(chǎn)生第二組遮斷直線，該處理電路根據(jù)該第一組遮斷直線與該第二組遮斷直線，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組候選坐標(biāo)，并根據(jù)該組候選坐標(biāo)與該反射鏡的位置，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。
12.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路依據(jù)對(duì)應(yīng)于該些指示物的該組候選坐標(biāo)與該反射鏡的位置，產(chǎn)生位于該感測(cè)區(qū)域中的一組實(shí)像候選坐標(biāo)，以及位于該反射鏡的鏡像中的一組虛像候選坐標(biāo)。
13.如權(quán)利要求12所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路偵測(cè)該組實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)相對(duì)于該反射鏡是否有對(duì)稱關(guān)系；其中，當(dāng)該處理電路判斷該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的一個(gè)實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)中的一個(gè)虛像候選坐標(biāo)相對(duì)于該反射鏡有對(duì)稱關(guān)系時(shí)，該處理電路依據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的該實(shí)像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物中的一個(gè)指示物的輸出坐標(biāo)，以記錄至該組輸出坐標(biāo)。
14.如權(quán)利要求13所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路計(jì)算該組虛像候選坐標(biāo)中的該虛像候選坐標(biāo)與該反射鏡的之間的虛像距離，且依據(jù)該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的該實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)中的該虛像候選坐標(biāo)，產(chǎn)生候選直線；其中，當(dāng)該候選直線的長(zhǎng)度實(shí)質(zhì)上為該虛像距離的兩倍，且該候選直線垂直于該反射鏡時(shí)，該處理電路判斷該組實(shí)像候選坐標(biāo)中的該實(shí)像候選坐標(biāo)與該組虛像候選坐標(biāo)中的該虛像候選坐標(biāo)相對(duì)于該反射鏡有對(duì)稱關(guān)系。
15.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路根據(jù)該第一組遮斷直線與該第一影像感測(cè)裝置于該反射鏡的鏡像中的位置，產(chǎn)生第一組鏡像直線，且根據(jù)該第二組遮斷直線與該第二影像感測(cè)裝置于該反射鏡的鏡像中的位置，產(chǎn)生第二組鏡像直線.一入 ，其中，該處理電路根據(jù)該第一組遮斷直線與該第二組遮斷直線，產(chǎn)生位于該感測(cè)區(qū)域內(nèi)的一組第一候選坐標(biāo)，且根據(jù)該第一組鏡像直線與該第二組鏡像直線，產(chǎn)生位于該感測(cè)區(qū)域內(nèi)的一組第二候選坐標(biāo)；其中，該處理電路根據(jù)該組第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的該組輸出坐標(biāo)。
16.如權(quán)利要求15所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路計(jì)算該組第一候選坐標(biāo)中的一個(gè)第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)中的一個(gè)第二候選坐標(biāo)之間的候選距 1 ；其中，當(dāng)該候選距離小于誤差距離時(shí)，該處理電路根據(jù)該組第一候選坐標(biāo)中的該第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)中的該第二候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物中的一個(gè)指示物的輸出坐標(biāo)，以記錄至該組輸出坐標(biāo)。
17.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于還包括發(fā)光模塊，朝向該感測(cè)區(qū)域發(fā)光；其中，該發(fā)光模塊所發(fā)出的光為紅外光，且該第一影像感測(cè)裝置與該第二影像感測(cè)裝置皆為紅外光感測(cè)裝置。
18.一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，包括感測(cè)區(qū)域、第一影像感測(cè)裝置及第二影像感測(cè)裝置，該感測(cè)區(qū)域具有復(fù)數(shù)個(gè)側(cè)邊，且該感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作，該第一影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，第二影像感測(cè)裝置感測(cè)光線以擷取影像，該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)的特征在于還包括反射鏡，產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像；其中，該第一影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第一組實(shí)像與包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第一組虛像；其中，該第二影像感測(cè)裝置擷取包括至少部分該些指示物的第二組實(shí)像與包括該反射鏡中至少部分該些指示物的第二組虛像；以及處理電路，根據(jù)該第一影像感測(cè)裝置所擷取的該第一組實(shí)像與該第一組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組第一候選坐標(biāo)，以及根據(jù)該第二影像感測(cè)裝置所擷取的該第二組實(shí)像與該第二組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組第二候選坐標(biāo)，該處理電路比對(duì)該組第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的一組輸出坐標(biāo)。
19.如權(quán)利要求18所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路根據(jù)該些指示物在該第一影像感測(cè)裝置所擷取影像的成像順序與該些指示物在該第二影像感測(cè)裝置所擷取影像的成像順序，判斷該第一影像感測(cè)裝置所擷取影像的部分指示物影像為該第一組實(shí)像以及其它指示物影像為該第一組虛像，且判斷該第二影像感測(cè)裝置所擷取影像的部分指示物影像為該第二組實(shí)像以及其它指示物影像為該第二組虛像。
20.如權(quán)利要求18所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該反射鏡為鏡面導(dǎo)光組件，該鏡面導(dǎo)光組件包括面對(duì)該感測(cè)區(qū)域的出光面、與該出光面相對(duì)的鏡面，以及入光面，該鏡面產(chǎn)生該感測(cè)區(qū)域的鏡像，當(dāng)該入光面接收光線時(shí)，該出光面向該感測(cè)區(qū)域發(fā)光；其中，該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)還包括發(fā)光組件，于發(fā)光時(shí)段內(nèi)發(fā)光至該鏡面導(dǎo)光組件的該入光面；其中，該第一影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取包括至少部分該些指示物的該第一組實(shí)像，以及于不發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取該第一組實(shí)像與包括該鏡面中至少部分該些指示物的該第一組虛像；其中，該第二影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取包括至少部分該些指示物的該第二組實(shí)像，以及于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)擷取該第二組實(shí)像與包括該鏡面中至少部分該些指示物的該第二組虛像；其中，該處理電路比較該第一影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的該第一組實(shí)像與該第一影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像，以從該第一影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像中，得到該第一組虛像；其中，該處理電路比較該第二影像感測(cè)裝置于該發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的該第二組實(shí)像與該第二影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像，以從該第二影像感測(cè)裝置于該不發(fā)光時(shí)段內(nèi)所擷取的影像中，得到該第二組虛像。
21.如權(quán)利要求18所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路根據(jù)該第一組實(shí)像與該第一影像感測(cè)裝置的位置，產(chǎn)生第一組實(shí)像遮斷直線，且該處理電路根據(jù)該第一組虛像與該第一影像感測(cè)裝置的位置，產(chǎn)生第一組虛像遮斷直線；其中，該處理電路根據(jù)該第一組虛像遮斷直線與該第一影像感測(cè)裝置于該反射鏡的鏡像中的位置，產(chǎn)生與該第一組虛像遮斷直線相對(duì)于該反射鏡為對(duì)稱的第一組鏡像直線；其中，該處理電路根據(jù)該第一組實(shí)像遮斷直線與該第一組鏡像直線，產(chǎn)生該組第一候選坐標(biāo)；其中，該處理電路根據(jù)該第二組實(shí)像與該第二影像感測(cè)裝置的位置，產(chǎn)生第二組實(shí)像遮斷直線，且該處理電路根據(jù)該第二組虛像與該第二影像感測(cè)裝置的位置，產(chǎn)生第二組虛像遮斷直線；其中，該處理電路根據(jù)該第二組虛像遮斷直線與該第二影像感測(cè)裝置于該反射鏡的鏡像中的位置，產(chǎn)生與該第二組虛像遮斷直線相對(duì)于該反射鏡為對(duì)稱的第二組鏡像直線；其中，該處理電路根據(jù)該第二組實(shí)像遮斷直線與該第二組鏡像直線，產(chǎn)生該組第二候選坐標(biāo)。
22.如權(quán)利要求21所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路根據(jù)該組第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)的交集所包括的坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物的該組輸出坐標(biāo)。
23.如權(quán)利要求21所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理電路計(jì)算該組第一候選坐標(biāo)中的一個(gè)第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)中的一個(gè)第二候選坐標(biāo)之間的候選距 1 ；其中，當(dāng)該候選距離小于誤差距離時(shí)，該處理電路根據(jù)該組第一候選坐標(biāo)中的該第一候選坐標(biāo)與該組第二候選坐標(biāo)中的該第二候選坐標(biāo)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于該些指示物中的一個(gè)指示物的輸出坐標(biāo)，以記錄至該組輸出坐標(biāo)。
24.如權(quán)利要求18所述的光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)，其特征在于還包括發(fā)光模塊，朝向該感測(cè)區(qū)域發(fā)光；其中，該發(fā)光模塊所發(fā)出的光為紅外光，且該第一影像感測(cè)裝置與該第二影像感測(cè)裝置皆為紅外光感測(cè)裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)。該光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)包括感測(cè)區(qū)域、反射鏡、第一影像感測(cè)裝置、第二影像感測(cè)裝置與處理電路。感測(cè)區(qū)域提供給復(fù)數(shù)個(gè)指示物進(jìn)行操作。反射鏡產(chǎn)生感測(cè)區(qū)域的鏡像。第一與第二影像感測(cè)裝置分別擷取包括全部或部分指示物的第一組與第二組實(shí)像，并分別擷取包括反射鏡中的全部或部分指示物的第一組與第二組虛像。處理電路根據(jù)第一組與第二組實(shí)像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物的實(shí)像候選坐標(biāo)，并根據(jù)第一組與第二組虛像，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于指示物的虛像候選坐標(biāo)。如此，處理電路根據(jù)實(shí)像候選坐標(biāo)以及虛像候選坐標(biāo)，可計(jì)算出復(fù)數(shù)個(gè)指示物的位置，以執(zhí)行多點(diǎn)觸控的操作。
文檔編號(hào)G06F3/042GK102467296SQ20101053144
公開日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2010年11月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月2日
發(fā)明者林卓毅, 林志新, 蘇宗敏, 陳信嘉 申請(qǐng)人:原相科技股份有限公司