專利名稱：存儲卡熱插拔故障的檢測方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及數(shù)碼存儲卡領域，具體而言，涉及一種存儲卡熱插 拔古丈障的4全測方法及裝置。
背景技術：
手機、數(shù)碼相機等數(shù)碼設備在人們生活中日益普及，為了實現(xiàn) 對存儲空間進行擴充或移動的需要，數(shù)碼設備越來越多地使用了外
4妻存儲卡，包括SD卡(Secure Digital Memory Card,安全數(shù)碼卡)、 T卡、MMC卡(Multi Media Card,多々某體卡)等。
很多數(shù)碼設備都具有存儲卡熱插拔功能，存儲卡熱插拔若出現(xiàn) 故障，將會嚴重影響用戶的正常使用。統(tǒng)計表明用戶投訴的所有手 機故障中，存儲卡的相應故障增長最快，具體包括存儲卡插拔無反 應、存4諸卡插入初始化異常、熱插拔導致手一幾死一幾、存儲卡熱插拔 損壞等。
相關技術中提供了 一種存儲卡熱插拔故障的檢測方法，該方法 利用人工插拔存儲卡來檢測熱插拔故障，需要檢測人員進行反復的 手動插拔操作。
現(xiàn)有技術中存儲卡熱插拔故障的檢測方法容易造成卡槽疲勞損 壞，且需配備大量才企測人員，由于檢測成本4交高，故難以進4亍大批量檢測，從而造成對存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率較低，檢測精度 較差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種存儲卡熱插拔故障的沖全測方法，能夠解決 相關技術中存儲卡熱插拔故障的才企測方法容易造成卡槽疲勞損壞， 且需配備大量檢測人員，由于檢測成本較高，故難以進行大批量檢
測，從而造成對存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率4交低，4企測精度4交差 的問題。
在本發(fā)明的實施例中，提供了一種存儲卡熱插拔故障的檢測方 法，包4舌以下步驟每隔預定時間連通或切斷存〗諸卡的電源以才莫擬 熱插拔；對每次模擬熱插拔，判斷是否發(fā)生熱插拔故障；根據(jù)判斷 結(jié)果得到熱插拔故障的4企測結(jié)果。
優(yōu)選地，在上述才企測方法中，4艮據(jù)判斷結(jié)果得到熱插拔故障的 檢測結(jié)果具體包括若未發(fā)生熱插拔故障，記錄本次一莫擬熱插拔所 產(chǎn)生的單次檢測信息；比較模擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù)閾值的大?。?根據(jù)比較結(jié)果和單次檢測信息得到熱插拔故障的檢測結(jié)果。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，根據(jù)比較結(jié)果和單次檢測信息得 到熱插拔故障的檢測結(jié)果具體包括若模擬熱插拔總次數(shù)小于次數(shù) 閾值，根據(jù)本次模擬熱插拔及之前多次模擬熱插拔所產(chǎn)生的多個單 次檢測信息得到檢測結(jié)果；設置模擬熱插拔總次數(shù)加一，重新開始 計時，等待下一次模擬熱插拔。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，根據(jù)比較結(jié)果和單次檢測信息得 到熱插拔故障的4企測結(jié)果具體包括若模擬熱插拔總次數(shù)大于等于 次數(shù)閾值，根據(jù)本次模擬熱插拔及之前多次才莫擬熱插拔所產(chǎn)生的多 個單次檢測信息得到檢測結(jié)果；結(jié)束模擬熱插拔操作。優(yōu)選地，在上述檢測方法中，根據(jù)判斷結(jié)果得到熱插拔故障的
檢測結(jié)果具體包括若發(fā)生熱插拔故障，記錄本次才莫擬熱插拔所產(chǎn) 生的單次檢測信息；根據(jù)本次模擬熱插拔及之前多次才莫擬熱插拔所 產(chǎn)生的多個單次檢測信息得到檢測結(jié)果；結(jié)束才莫擬熱插拔操作。
優(yōu)選地，在上述4企測方法中，i己錄本次才莫擬熱插拔所產(chǎn)生的單 次檢測信息具體包括將本次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息保 存到非易失性存儲器。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，每隔預定時間連通或切斷存儲卡 的電源具體包括i殳置晶體管開關每隔預定時間開通或關斷，電源 通過晶體管開關向存儲卡供電。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，每隔預定時間打開或關閉存儲卡 的電源以模擬熱插拔之前還包括啟動熱插拔故障4企測；設置次數(shù) 閾值與預定時間，將熱插拔總次數(shù)清零，啟動定時器開始計時
在本發(fā)明的實施例中，還提供了 一種存4諸卡熱插拔故障的4企測 裝置，包括模擬模塊，用于每隔預定時間連通或切斷存儲卡的電 源以模擬熱插拔；判斷才莫塊，用于對每次模擬熱插拔，判斷是否發(fā) 生熱插拔故障；；險測才莫塊，用于才艮據(jù)判斷結(jié)果得到熱插拔故障的枱r 測結(jié)果。
優(yōu)選地，在上述4企測裝置中，沖企測才莫塊具體包括存4諸單元， 用于保存每次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息；比較單元，用于
比較模擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù)閾值的大小。
優(yōu)選地，在上述^^企測裝置中，存儲單元為非易失性存儲器。優(yōu)選地，在上述4企測裝置中，還包括晶體管開關，用于控制存 儲卡的電源每隔預定時間連通或切斷，晶體管開關被i殳置為每隔預 定時間開通或關斷，電源通過晶體管開關向存儲卡供電。
優(yōu)選地，在上述4企測裝置中，包括啟動才莫塊，用于啟動熱插 拔故障檢測；設置才莫塊，用于設置次數(shù)閾值與預定時間，將熱插拔 總次^:清零，啟動定時器開始計時。
上述實施例通過連通或切斷存j渚卡的電源來才莫擬存〗渚卡的熱插 拔以完成熱插拔故障檢測，進而降低了檢測成本，有利于大批量沖企 測的進行，從而提高了存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率和檢測精度， 所以克服了相關技術中存儲卡熱插拔故障的檢測方法容易造成卡槽 疲勞損壞，且需配備大量沖企測人員，由于才企測成本較高，故難以進 行大批量檢測，從而造成對存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率較低，檢 測精度較差的問題。


此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申 請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并 不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中
圖1示出了才艮據(jù)本發(fā)明第一實施例的檢測方法的流程圖2示出了根據(jù)本發(fā)明第二實施例的存儲卡供電示意圖3示出了才艮據(jù)本發(fā)明第三實施例的才全測初始化的流程圖4示出了才艮據(jù)本發(fā)明第四實施例的^r測方法的流程圖5示出了根據(jù)本發(fā)明第五實施例的檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式
下面將參考附圖并結(jié)合實施例，來詳細i兌明本發(fā)明。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明第一實施例的檢測方法的流程圖，該方
法包4舌以下步艱釔
步驟SlOl，每隔預定時間連通或切斷存儲卡的電源以模擬熱插
拔；
步驟S102，對每次一莫擬熱插拔，判斷是否發(fā)生熱插拔故障；
步駛艮S103， 4艮據(jù)判斷結(jié)果得到熱插拔古允障的才全測結(jié)果。
本實施例首先每隔預定時間連通或切斷存儲卡的電源以模擬熱 插拔，對每次模擬熱插拔，判斷是否發(fā)生熱插拔故障，然后根據(jù)判 斷結(jié)果得到熱插拔故障的檢測結(jié)果，其中，當連通存儲卡電源時， 數(shù)據(jù)設備首先檢測到存儲卡插入，然后加載存儲卡設備；當切斷存 儲卡電源時，數(shù)據(jù)設備首先檢測到存儲卡拔出，然后卸載存儲卡設 備。由于本實施例通過連通或切斷存儲卡的電源來模擬存儲卡的熱 插拔以完成熱插拔故障檢測，進而降低了檢測成本，有利于大批量 檢測的進行，從而提高了存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率和檢測精度， 所以克服了相關技術中存儲卡熱插拔故障的檢測方法容易造成卡槽 疲勞損壞，且需配備大量檢測人員，由于檢測成本較高，故難以進 行大批量檢測，從而造成對存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率較低，檢 測精度較差的問題。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，步驟S103具體包括若未發(fā)生 熱插拔故障，記錄本次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息；比較模 擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù)閾值的大??；根據(jù)比較結(jié)果和單次檢測信息 得到熱插拔故障的4企測結(jié)果。本實施例的熱插拔才莫擬中未發(fā)生熱插拔故障，則i己錄本次才莫擬 熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息，然后比較模擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù) 閾值的大小，最后根據(jù)比較結(jié)果和單次檢測信息得到熱插拔故障的 檢測結(jié)果。這樣做，使得每次模擬熱插拔的檢測信息被保留下來， 為存儲卡熱插拔故障的檢測與分析提供了依據(jù)。
優(yōu)選地，在上述4企測方法中，才艮據(jù)比4交結(jié)果和單次;險測信息得 到熱插拔故障的檢測結(jié)果具體包括若模擬熱插拔總次數(shù)d、于次數(shù) 閾值，根據(jù)本次模擬熱插拔及之前多次模擬熱插拔所產(chǎn)生的多個單 次檢測信息得到檢測結(jié)果；設置模擬熱插拔總次數(shù)加一，重新開始 計時，等待下一次^t擬熱插拔。
本實施例中本次才莫擬熱插拔未發(fā)生熱插拔故障，且熱插拔總次 數(shù)小于次數(shù)閾值，則根據(jù)本次模擬熱插拔及之前多次模擬熱插拔所 產(chǎn)生的多個單次檢測信息得到檢測結(jié)果，并設置模擬熱插拔總次數(shù) 加一，重新開始計時，等待下一次模擬熱插拔。這樣做，使得當本 次熱插拔未發(fā)生熱插拔故障且已進行的模擬熱插拔次數(shù)不太多時， 令才莫擬熱插拔總次lt加一，并重新開始計時，等待下一次一莫擬熱插 拔，即繼續(xù)執(zhí)行模擬熱插拔的循環(huán)，有利于復現(xiàn)存儲卡的熱插拔故 障，提高檢測精度。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，根據(jù)比較結(jié)果和單次檢測信息得 到熱插拔故障的檢測結(jié)果具體包括若模擬熱插拔總次數(shù)大于等于 次數(shù)閾值，根據(jù)本次模擬熱插拔及之前多次模擬熱插拔所產(chǎn)生的多 個單次檢測信息得到檢測結(jié)果；結(jié)束模擬熱插拔操作。
本實施例中本次模擬熱插拔未發(fā)生熱插拔故障，且熱插拔總次 數(shù)大于等于次數(shù)閾值，則根據(jù)本次模擬熱插拔及之前多次模擬熱插 拔所產(chǎn)生的多個單次檢測信息得到檢測結(jié)果，并結(jié)束才莫擬熱插拔操 作，等4寺用戶揭:耳又4企測結(jié)果。雖然本次熱插拔未發(fā)生熱插拔故障，但是已進行的模擬熱插拔次數(shù)過多，可認為已經(jīng)取得了足夠多的檢 測信息，故退出模擬熱插拔的循環(huán)，在保證檢測精度的前提下，節(jié) 約了存儲卡熱插拔故障才企測的時間成本。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，步驟S103具體包括若發(fā)生熱 插拔故障，記錄本次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息；根據(jù)本次 模擬熱插拔及之前多次才莫擬熱插拔所產(chǎn)生的多個單次;險測信息得到 檢測結(jié)果；結(jié)束模擬熱插拔操作。
本實施例中本次模擬熱插拔發(fā)生熱插拔故障，首先記錄本次模 擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息，然后綜合之前的多個單次檢測信 息得到檢測結(jié)果，最后結(jié)束^^莫擬熱插拔操作，等待用戶提取檢測結(jié) 果。本次模擬熱插拔發(fā)生熱插拔故障，即熱插拔故障得以復現(xiàn)，此 時得到的檢測結(jié)果中記錄了熱插拔故障的檢測信息，對該檢測結(jié)果 進行分析可實現(xiàn)對熱插拔故障的定位，從而更好地解決造成熱插拔 故障的原因，從根本上解決存儲卡熱插拔故障的問題。
優(yōu)選地，在上述一企測方法中，記錄本次才莫擬熱插拔所產(chǎn)生的單 次檢測信息具體包括將本次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息保 存到非易失性存儲器。
本實施例采用非易失性存儲器保存本次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單 次檢測信息，非易失性存儲器比如Flash存儲器(閃存)。這樣做， 使得模擬熱插拔產(chǎn)生的檢測信息得到安全、完善的保護，避免了由 于使用普通存儲器而造成的檢測信息丟失的問題。
優(yōu)選地，在上述檢測方法中，步驟S101具體包括設置晶體 管開關每隔預定時間開通或關斷，電源通過晶體管開關向存儲卡供 電。本實施例在電源與存4諸卡之間i殳置了 一個晶體管開關，并通過 設置晶體管開關每隔預定時間開通或關斷，來控制存儲卡電源的連 通或關斷。i殳置晶體管開關的石更件實現(xiàn)簡單，不Y義避免了手動反復 插拔存儲卡，實現(xiàn)了對存儲卡熱插拔的模擬，而且由于晶體管開關 的開關速度較高，故提高了對存儲卡熱插拔的模擬頻率，進而提高 了熱插拔故障的復現(xiàn)率和^全測效率。
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明第二實施例的存儲卡供電示意圖，本實 施例中采用基帶芯片的GPIO (General Purpose Input Output,通用
輸入/llr出)口對晶體管開關實施控制。參見圖2，電源將電源信號
202發(fā)送到晶體管開關，基帶芯片的GPIO 口將基帶芯片內(nèi)部產(chǎn)生 控制晶體管開關開通和關斷的GPIO控制信號201發(fā)送到晶體管開 關，晶體管開關輸出電源信號203發(fā)送到存儲卡，即當GPIO控制 信號201為開通信號時，晶體管開關開通，電源與存儲卡之間的電 連接連通，電源通過電源信號202和晶體管開關輸出電源信號203 向存儲卡供電；當GPIO控制信號201為關斷信號時，晶體管開關 關斷，電源與存4諸卡之間的電連4秦;波切斷，電源信號202在晶體管 開關處^皮切斷，電源ot匕時無法向存4諸卡供電。
優(yōu)選地，在上述片企測方法中，步驟S101之前還包括啟動熱 插拔故障檢測；設置次數(shù)閾值與預定時間，將熱插拔總次數(shù)清零， 啟動定時器開始計時。
本實施例在步-驟S101之前，首先由用戶啟動熱"^拔古丈障枱，測， 然后設置次數(shù)閾值與預定時間，并將熱插拔總次數(shù)清零，啟動定時 器開始計時。這樣做，使得用戶可以選擇是否需要啟動熱插拔故障 檢測，提高了熱插拔故障檢測的靈活性，另外采用定時器進行計時 易于實現(xiàn)。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明第三實施例的檢測初始化的流程圖，本 實施例中的數(shù)碼設備比如為手機，檢測初始化包括以下步驟
步備聚S301，手才幾開才幾后，在空閑(Idle)狀態(tài)等^寺用戶^喿作；
步驟S302,用戶設置是否啟動熱插拔故障才全測，若啟動則轉(zhuǎn)到 步驟S304;
步驟S303,用戶進4亍其他才喿作，無需進4亍熱插拔故障4企測，直 接轉(zhuǎn)到結(jié)束；
步驟S304，設置預定時間、次數(shù)閾值、記錄檢測信息等參數(shù)， 手機準備進入熱插拔故障檢測，在非易失性存儲器中存儲熱插拔預 定時間參婆丈；
步驟S305,在非易失性存儲器中存儲熱插拔總次數(shù)參數(shù)；
步艱《S306，手一幾對定時器進4于初始4b，啟動定時器開始計時；
步驟S307，手機進入空閑狀態(tài)，等待定時器計數(shù)到預設延時。
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明第二實施例的才僉測方法的流程圖，本實 施例中的數(shù)碼設備比如為手機，該檢測方法包括以下步驟
步-驟S401，用戶i殳置是否啟動熱插拔古丈障;險測，若啟動則轉(zhuǎn)到 步驟S403;
步驟S402，用戶進行其他操作，無需進行熱插拔故障檢測，直 接轉(zhuǎn)到結(jié)束；
步駛《S403，定時器開始計時；步驟S404，判斷定時器是否到達預定時間，若未到達，則轉(zhuǎn)回 步驟S404;
步驟S405,判斷存儲卡是否處于插入狀態(tài)，若不處于插入狀態(tài)， 則專爭到步艱《S409;
步驟S406,若存儲卡處于插入狀態(tài)，則手機準備進行模擬熱拔 出，通過基帶芯片GPIO 口切斷存儲卡電源；
步驟S407，存儲卡斷電，手機檢測到存儲卡拔出操作；
步驟S408，手機卸載存儲卡設備，刪除存儲卡的相關信息，將 原先存儲空間設置為存儲卡的目錄修改為手機存儲區(qū)；
步驟S409,在非易失性存儲器中保存本次模擬熱插拔的單次檢 測信息，包括卸載存儲卡是否成功，存儲卡相關信息是否已從手 機刪除，相關目錄設置是否已經(jīng)設置為手機存儲區(qū)；
步驟S410，若存儲卡不處于插入狀態(tài)，則手機準備進行模擬熱 插入，通過基帶芯片GPIO連通存儲卡電源；
步驟S411，存儲卡上電，手機檢測到存儲卡插入操作；
步驟S412,手機初始化存儲卡，加載存儲卡設備，手機讀出存 儲卡相應信息，將原先存儲空間設置為手才幾存儲區(qū)的目錄修改為存 儲卡存儲區(qū)；
步驟S413,在非易失性存儲器中保存本次模擬熱插拔的單次檢 測信息，包括；加載存儲卡是否成功，存儲卡相關信息是否已讀出， 相關目錄設置是否已經(jīng)設置為存儲卡存儲區(qū)，各種與卡交互操作是 否正常；步驟S414，判斷本次熱插拔是否發(fā)生熱插拔故障，若發(fā)生，則 轉(zhuǎn)到步驟S417;
步驟S415，判斷熱插拔總次數(shù)是否小于次數(shù)閾值，若不小于， 則轉(zhuǎn)到步驟S417;
步驟S416,根據(jù)本次及之前多次模擬熱插拔所產(chǎn)生的多個單次 檢測信息得到檢測結(jié)果；
步驟S417，手機繼續(xù)進行熱插拔測試，將熱插拔總次數(shù)加后存 入非易失性存儲器，轉(zhuǎn)到步驟S403;
步驟S418，才艮據(jù)本次及之前多次才莫擬熱插拔所產(chǎn)生的多個單次 氺企測信息得到4企測結(jié)果；
步驟S419，手機結(jié)束模擬熱插拔操作，進入待機狀態(tài)，等待用 戶提取檢測結(jié)果。
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明第五實施例的檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖，該裝 置包括
才莫擬才莫塊io,用于每隔預定時間連通或切斷存〗諸卡的電源以才莫 擬熱插拔；
判斷模塊20，用于對每次模擬熱插拔，判斷是否發(fā)生熱插拔故
障；
檢測模塊30,用于根據(jù)判斷結(jié)果得到熱插拔故障的檢測結(jié)果。
本實施例首先采用才莫擬才莫塊10每隔預定時間連通或切斷存儲 卡的電源以模擬熱插拔，然后采用判斷才莫塊20對每次才莫擬熱插拔， 判斷是否發(fā)生熱插拔故障，最后采用檢測模塊30根據(jù)判斷結(jié)果得到熱插拔故障的檢測結(jié)果。由于本實施例通過連通或切斷存儲卡的電 源來模擬存儲卡的熱插拔以完成熱插拔故障檢測，進而降低了檢測 成本，有利于大批量檢測的進行，從而提高了存儲卡熱插拔故障的 復現(xiàn)效率和檢測精度，所以克服了相關技術中存儲卡熱插拔故障的 檢測方法容易造成卡槽疲勞損壞，且需配備大量檢測人員，由于檢 測成本較高，故難以進行大批量檢測，從而造成對存儲卡熱插拔故 障的復現(xiàn)效率較低，檢測精度較差的問題。
優(yōu)選地，在上述檢測裝置中，檢測模塊具體包括存儲單元，
用于保存每次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息；比較單元，用于 比較模擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù)閾值的大小。
本實施例釆用存儲單元保存每次模擬熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測 信息，采用比較單元比較模擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù)閾值的大小。這 樣做，使得每次模擬熱插拔的檢測信息被保留下來，為存儲卡熱插 拔故障的檢測與分析提供了依據(jù)，并且支持根據(jù)模擬熱插拔總次數(shù) 與次數(shù)閾值的不同大小關系采取不同的檢測措施，進一步提高了檢 測精度。
優(yōu)選地，在上述檢測裝置中，存儲單元為非易失性存儲器。
本實施例中的存儲單元采用非易失性存儲器，非易失性存儲器 比如Flash存儲器(閃存)。這樣做，使得模擬熱插拔產(chǎn)生的檢測信 息得到安全、完善的保護，避免了由于使用普通存儲器而造成的檢 測信息丟失的問題。
優(yōu)選地，在上述^r測裝置中，還包括晶體管開關，用于控制存 儲卡的電源每隔預定時間連通或切斷，晶體管開關被設置為每隔預 定時間開通或關斷，電源通過晶體管開關向存儲卡供電。本實施例采用晶體管開關控制存儲卡電源的連通與切斷。晶體 管開關的設置不僅避免了手動反復插拔存儲卡，實現(xiàn)了對存儲卡熱 插拔的^t擬，而且由于晶體管開關的開關速度較高，故提高了對存 儲卡熱插拔的模擬頻率，進而提高了熱插拔故障的復現(xiàn)率和檢測效率。
優(yōu)選地，在上述沖企測裝置中，包括啟動才莫塊，用于啟動熱插 拔故障檢測；設置模塊，用于設置次數(shù)閾值與預定時間，將熱插拔 總次數(shù)清零，啟動定時器開始計時。
本實施例采用啟動才莫塊啟動熱插拔故障;險測，采用"i殳置才莫塊設 置次數(shù)閾值與預定時間，將熱插拔總次數(shù)清零，啟動定時器開始計 時。這樣估丈，z使得用戶可以選沖奪是否需要啟動熱插拔故障4企測，才是 高了熱插拔故障檢測的靈活性，另外采用定時器進行計時易于實現(xiàn)。
從以上的描述中，可以看出，本發(fā)明上述的實施例降低了檢測 成本，有利于大批量檢測的進行，從而提高了存儲卡熱插拔故障的 復現(xiàn)效率和4企測精度。
顯然，本領域的技術人員應該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或 各步驟可以用通用的計算裝置來實現(xiàn)，它們可以集中在單個的計算 裝置上，或者分布在多個計算裝置所組成的網(wǎng)絡上，可選地，它們 可以用計算裝置可執(zhí)行的程序代碼來實現(xiàn)，從而，可以將它們存儲
在存儲裝置中由計算裝置來執(zhí)行，或者將它們分別制作成各個集成 電路模塊，或者將它們中的多個模塊或步驟制作成單個集成電路模 塊來實現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的石更件和軟件結(jié)合。
以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明， 對于本領i或的4支術人員來i兌，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在頁
本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等， 均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種存儲卡熱插拔故障的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟每隔預定時間連通或切斷所述存儲卡的電源以模擬熱插拔；對每次模擬熱插拔，判斷是否發(fā)生熱插拔故障；根據(jù)判斷結(jié)果得到所述熱插拔故障的檢測結(jié)果。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，4艮據(jù)判斷結(jié)果 得到所述熱插拔故障的檢測結(jié)果具體包括若未發(fā)生所述熱插拔故障，記錄本次才莫擬熱插拔所產(chǎn)生的 單次4金測信息；比較所述模擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù)閾值的大小；根據(jù)比較結(jié)果和所述單次檢測信息得到所述熱插拔故障 的4僉測結(jié)果。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，4艮據(jù)比較結(jié)果 和所述單次檢測信息得到所述熱插拔故障的4企測結(jié)果具體包 括若所述模擬熱插拔總次數(shù)小于所述次數(shù)閾值，根據(jù)所述本 次沖莫擬熱插拔及之前多次才莫擬熱插拔所產(chǎn)生的多個單次才企測 信息得到檢測結(jié)果；設置所述^t擬熱插拔總次^t加一，重新開始計時，等^f寺下 一次模擬熱插拔。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，根據(jù)比較結(jié)果 和所述單次檢測信息得到所述熱插拔故障的檢測結(jié)果具體包 括若所述模擬熱插拔總次數(shù)大于等于所述次數(shù)閾值，根據(jù)所 述本次模擬熱插拔及之前多次模擬熱插拔所產(chǎn)生的多個單次檢測信息得到檢測結(jié)果； 結(jié)束模擬熱插拔操作。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，才艮據(jù)判斷結(jié)果 得到所述熱插拔故障的檢測結(jié)果具體包括若發(fā)生所述熱插拔故障，記錄本次纟莫擬熱插拔所產(chǎn)生的單 次才企測信息；根據(jù)所述本次模擬熱插拔及之前多次模擬熱插拔所產(chǎn)生 的多個單次檢測信息得到檢測結(jié)果；結(jié)束模擬熱插拔操作。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其特征在于，記錄本次才莫擬 熱插拔所產(chǎn)生的單次檢測信息具體包括將所 述本次一莫擬熱插拔所產(chǎn)生的所述單次4全測信息4呆存 到非易失性存儲器。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，每隔預定時間 連通或切斷所述存^諸卡的電源具體包才舌i殳置晶體管開關每隔所述預定時間開通或關斷，所述電源 通過所述晶體管開關向所述存儲卡供電。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1-7中任一項所述的檢測方法，其特征在于，每 隔預定時間打開或關閉所述存儲卡的電源以模擬熱插拔之前 還包括啟動熱4#拔*史障4企測；設置次數(shù)閾值與預定時間，將熱插拔總次數(shù)清零，啟動定 時器開始計時。
9. 一種存儲卡熱插拔故障的檢測裝置，其特征在于，包括模擬模塊，用于每隔預定時間連通或切斷所述存儲卡的電 源以模擬熱插拔；判斷模塊，用于對每次模擬熱插拔，判斷是否發(fā)生熱插拔 故障；檢測模塊，用于根據(jù)判斷結(jié)果得到所述熱插拔故障的檢測 結(jié)果。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測才莫塊 具體包括存儲單元，用于保存每次^^莫擬熱插拔所產(chǎn)生的單次一企測信息；比較單元，用于比較所述模擬熱插拔總次數(shù)與次數(shù)閾值的 大小。
11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測裝置，其特征在于，所述存儲單 元為非易失性存儲器。
12. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測裝置，其特征在于，還包括晶體管 開關，用于控制所述存^f諸卡的電源每隔所述預定時間連通或切斷，所述晶體管開關^C沒置為每隔所述預定時間開通或關斷， 所述電源通過所述晶體管開關向所述存4諸卡供電。
13.根據(jù)權(quán)利要求9-12中任一項所述的檢測裝置，其特征在于， 還包括啟動才莫塊，用于啟動熱插拔故障4企測；設置模塊，用于設置次數(shù)閾值與預定時間，將熱插拔總次 凄t清零，啟動定時器開始計時。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種存儲卡熱插拔故障的檢測方法，包括以下步驟每隔預定時間連通或切斷存儲卡的電源以模擬熱插拔；對每次模擬熱插拔，判斷是否發(fā)生熱插拔故障；根據(jù)判斷結(jié)果得到熱插拔故障的檢測結(jié)果。本發(fā)明還提供了一種存儲卡熱插拔故障的檢測裝置，包括模擬模塊；判斷模塊；檢測模塊。本發(fā)明克服了相關技術中存儲卡熱插拔故障的檢測方法對存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率較低，檢測精度較差的問題，進而降低了檢測成本，有利于大批量檢測的進行，從而提高了存儲卡熱插拔故障的復現(xiàn)效率和檢測精度。
文檔編號G06F11/22GK101615152SQ20091015897
公開日2009年12月30日 申請日期2009年7月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月13日
發(fā)明者周永喜, 張曉峰, 曄 戴, 偉 黃 申請人:中興通訊股份有限公司