專利名稱:通過計算機(jī)斷層造影設(shè)備產(chǎn)生計算機(jī)斷層造影圖像的方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種用于通過計算機(jī)斷層造影設(shè)備產(chǎn)生計算機(jī)斷層造影圖像的方法,其中至少一個具有較大扇角的第一射線錐和一個具有較小扇角的第二射線錐對對象進(jìn)行環(huán)形或螺旋形掃描,第一射線錐根據(jù)其在對象中的吸收產(chǎn)生A-數(shù)據(jù),而第二射線錐產(chǎn)生B-數(shù)據(jù),為了再現(xiàn)CT圖像,對較小射線錐的B-數(shù)據(jù)的邊緣用其它數(shù)據(jù)補(bǔ)充為擴(kuò)展的B+-數(shù)據(jù),對該第一射線錐的擴(kuò)展的B+-數(shù)據(jù)和較大的射線錐的A-數(shù)據(jù)進(jìn)行卷積運算以得到B+’-數(shù)據(jù)和A’-數(shù)據(jù),由該卷積的B+’-數(shù)據(jù)和A’-數(shù)據(jù)來實施反投影。
背景技術(shù):
一般公知,在通過具有多個角度相錯的射線源的CT產(chǎn)生計算機(jī)斷層造影圖像時,為了進(jìn)行2D或3D再現(xiàn)將各個射線源的數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合并由此進(jìn)行再現(xiàn),即對數(shù)據(jù)進(jìn)行卷積然后進(jìn)行反投影。
此外還公知,在由一個未對對象進(jìn)行完全掃描的射線錐的數(shù)據(jù)組進(jìn)行再現(xiàn)時,通過對數(shù)據(jù)的相應(yīng)外推來補(bǔ)充在邊緣存在的清晰的邊界,以使可能由數(shù)據(jù)的清晰劃界造成的偽影最小。與此相關(guān)地例如在DE 19854917 A1中給出了對邊界數(shù)據(jù)的這樣的外推的提示,但其中所描述的是具有一個X射線管/一個檢測器系統(tǒng)的CT。
已經(jīng)表明,在具有多個射線錐的CT系統(tǒng)中分別由其它射線錐的簡單數(shù)據(jù)補(bǔ)充也會在再現(xiàn)計算機(jī)斷層造影顯示時導(dǎo)致偽影。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是,提供一種能夠在具有多個交錯的射線錐的CT中跨越射線錐地進(jìn)行數(shù)據(jù)補(bǔ)充、但可以避免現(xiàn)有技術(shù)中出現(xiàn)的偽影的方法。
發(fā)明人已經(jīng)了解,對于再現(xiàn)優(yōu)選利用分別通過其它射線錐的數(shù)據(jù)補(bǔ)充的數(shù)據(jù)組來實施卷積,但在卷積之后和在實際的反投影之前應(yīng)再將至少部分補(bǔ)充的數(shù)據(jù)去除。
當(dāng)補(bǔ)充的數(shù)據(jù)分別來自其它射線錐的互補(bǔ)數(shù)據(jù)時,則這樣的數(shù)據(jù)去除尤其有利,因為在這些數(shù)據(jù)中通常為掃描方向的濾波方向?qū)τ诨パa(bǔ)射線來說是不正確的。
基于這一基本思想,發(fā)明人提出一種用于通過具有至少兩個角度相錯的射線源的CT系統(tǒng)產(chǎn)生計算機(jī)斷層造影圖像的方法,其中,至少一個具有較大扇角的第一射線錐和具有較小扇角的第二射線錐對對象進(jìn)行環(huán)形或螺旋形掃描,并且該第一射線錐根據(jù)其在對象中的吸收產(chǎn)生A-數(shù)據(jù),而該第二射線錐產(chǎn)生B-數(shù)據(jù),其中,為了再現(xiàn)CT圖像,對較小射線錐的B-數(shù)據(jù)在邊緣用其它數(shù)據(jù)補(bǔ)充為擴(kuò)展的B+-數(shù)據(jù),對該第二射線錐的擴(kuò)展B+-數(shù)據(jù)和該較大射線錐的A-數(shù)據(jù)進(jìn)行卷積運算以得到B+’-數(shù)據(jù)和A’-數(shù)據(jù),由該卷積的B+’-數(shù)據(jù)和A’-數(shù)據(jù)進(jìn)行反投影,其中,對B-數(shù)據(jù)的補(bǔ)充通過較大射線錐的A-數(shù)據(jù)實現(xiàn),并且在卷積之后、但在反投影之前將補(bǔ)充的數(shù)據(jù)從B+’-數(shù)據(jù)中去除。
通過這樣的數(shù)據(jù)補(bǔ)充以及隨后的數(shù)據(jù)消減可以減少CT圖像中否則會出現(xiàn)的偽影。
在此原理上對于數(shù)據(jù)組B的補(bǔ)充可僅采用數(shù)據(jù)組A中具有相同輻射方向的數(shù)據(jù),或者還可以采用具有相同輻射方向和具有互補(bǔ)輻射方向的數(shù)據(jù)。就在卷積之后和反投影之前要消除的數(shù)據(jù)來說,一方面可以將所有補(bǔ)充的數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)組B+’中去除,或者還可以僅將來自數(shù)據(jù)組A中互補(bǔ)射線的補(bǔ)充數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)組B+’中去除。
對于所實施的再現(xiàn)可以是逐體素的3D再現(xiàn),也可以是關(guān)于平面的2D再現(xiàn),其中,在2D再現(xiàn)時必須附加地利用卷積數(shù)據(jù)組A’的數(shù)據(jù)來代替從數(shù)據(jù)組B+’中去除的數(shù)據(jù)。
此外,在用數(shù)據(jù)組A的數(shù)據(jù)補(bǔ)充數(shù)據(jù)組B時忽略射線相對于z軸的不同傾斜。同樣為了補(bǔ)充數(shù)據(jù)組B還可采用來自數(shù)據(jù)組A的內(nèi)插數(shù)據(jù)。
此外還可以在補(bǔ)充的數(shù)據(jù)組B+中在數(shù)據(jù)組B的數(shù)據(jù)和來自數(shù)據(jù)組A的補(bǔ)充數(shù)據(jù)之間的過渡上進(jìn)行加權(quán)以實現(xiàn)軟過渡。
按照本發(fā)明,對于原始數(shù)據(jù)組A和B的卷積結(jié)果現(xiàn)在可以采用不同的方法,其中,或者將這些數(shù)據(jù)組在反投影之前重新聯(lián)合為一個總的數(shù)據(jù)組,或者對每個數(shù)據(jù)組實施一個反投影,并用該結(jié)果產(chǎn)生總體圖像。
也就是說在后一種情況下可以利用數(shù)據(jù)組A’和數(shù)據(jù)組B+’(-),必要時利用其它數(shù)據(jù)補(bǔ)充分別分開地進(jìn)行反投影,并通過加權(quán)產(chǎn)生一幅總體圖像。在此可以優(yōu)選在較小射線錐B的測量場的過渡區(qū)域中進(jìn)行過渡加權(quán)。
相應(yīng)于所述的第一種情況即利用A’數(shù)據(jù)以及必要時經(jīng)過繼續(xù)處理的B+’(-)數(shù)據(jù)實施共同的兩維反投影,為此在進(jìn)行反投影之前可以通過加權(quán)將兩個數(shù)據(jù)組聯(lián)合為一個數(shù)據(jù)組AB。此外在此還可以在較小射線錐B的測量場的數(shù)據(jù)的過渡區(qū)域中進(jìn)行過渡加權(quán)。
對于3D再現(xiàn)的情況可以利用A’數(shù)據(jù)以及必要時經(jīng)過繼續(xù)處理的B+’(-)數(shù)據(jù)逐體素地實施共同的3D反投影,并在必要時還可在進(jìn)行逐體素的反投影之前通過加權(quán)將兩個數(shù)據(jù)組聯(lián)合為一個新的數(shù)據(jù)組。
相應(yīng)于以上所述的方法,發(fā)明人還提出了一種對本身公知的計算機(jī)斷層造影系統(tǒng)的改進(jìn),其用于對對象進(jìn)行斷層造影顯示,具有至少兩個角度相錯的射線源,它們構(gòu)成為一個具有較大扇角的第一射線錐和一個具有較小扇角的第二射線錐,對對象進(jìn)行環(huán)形或螺旋形掃描并產(chǎn)生檢測器輸出數(shù)據(jù),其中,該第一射線錐根據(jù)其在對象中的吸收產(chǎn)生數(shù)據(jù)組A,而第二射線錐產(chǎn)生數(shù)據(jù)組B,這些數(shù)據(jù)組在計算和控制單元中借助所存儲的計算機(jī)程序或程序模塊被處理成對象的計算機(jī)斷層造影顯示,對其的改進(jìn)在于,其具有用于實施上述所述的方法的存儲的計算機(jī)程序或程序模塊或程序代碼。
以下借助附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,其中僅顯示理解本發(fā)明所需的特征,并采用以下附圖標(biāo)記1具有兩個X射線管的CT系統(tǒng);2第一X射線管;3第一檢測器;4第二X射線管;5第二檢測器;6CT外殼;7CT系統(tǒng)中的開口;8可移動的患者臥榻;9系統(tǒng)軸;10控制和計算單元;11A系統(tǒng)的較大射線錐;12A系統(tǒng)的較大測量場;13B系統(tǒng)的較小射線錐;14B系統(tǒng)的較小測量場;15圖像;AA系統(tǒng)的數(shù)據(jù);BB系統(tǒng)的數(shù)據(jù);DAA系統(tǒng)的檢測器;DBB系統(tǒng)的檢測器;FAA系統(tǒng)的焦點;FBB系統(tǒng)的焦點;P患者;Prg1-Prgn計算機(jī)程序;α投影角;βAA系統(tǒng)的扇角;βBB系統(tǒng)的扇角;I-VI方法步驟。
圖中示出圖1示出具有兩個X射線管-檢測器組合的CT的3D視圖;圖2示意性示出兩個X射線管-檢測器系統(tǒng)的支架的側(cè)視圖;
圖3示意性示出用于2D再現(xiàn)的兩個射線錐的數(shù)據(jù)組的組合;圖4示出利用來自小的和大的錐體的數(shù)據(jù)組以及隨后將結(jié)果相組合的平行反投影的變形;圖5示出將兩個射線錐的卷積數(shù)據(jù)組進(jìn)行組合以及由如此獲得的共同數(shù)據(jù)組反投影出結(jié)果的變形。
具體實施例方式
圖1舉例示出具有兩個設(shè)置在支架上的X射線管/檢測器組合的計算機(jī)斷層造影系統(tǒng)1。該計算機(jī)斷層造影系統(tǒng)1具有CT外殼6,其中有兩個X射線管2和4,在X射線管對面設(shè)置了檢測器3和5,在此X射線管/檢測器組合2、3具有較X射線管/檢測器組合4、5的射線錐小的射線錐。
患者P位于可移動的患者臥榻8上,其可沿系統(tǒng)軸9通過開口7被移入X射線管/檢測器組合的旋轉(zhuǎn)中心,在此實際的掃描可以順序地或環(huán)形地進(jìn)行,或者在將患者連續(xù)地向前移動時以相對于患者的螺旋形變化進(jìn)行。
對計算機(jī)斷層造影系統(tǒng)1的控制通過控制和計算單元10進(jìn)行,在其中存儲了用于實施所述方法的計算機(jī)程序Prg1-Prgn并可用于運行之中。
在圖2中示出了圖1所示系統(tǒng)的支架的截面。圖中示出具有焦點FA的第一X射線管/檢測器系統(tǒng),其構(gòu)成落在設(shè)置在對面的檢測器DA上的第一射線錐11,并通過其在圓周方向上的旋轉(zhuǎn)掃描旋轉(zhuǎn)中心的測量場12。具有焦點FB的第二X射線管/檢測器系統(tǒng)相錯大約90°設(shè)置,由于其固定在同一支架上,其具有相同的旋轉(zhuǎn)方向。焦點FB構(gòu)成落在設(shè)置在對面的檢測器DB上的射線錐13,并通過其旋轉(zhuǎn)而對測量場14進(jìn)行掃描。
第一射線錐11具有扇角βA,其構(gòu)成為明顯地大于第二射線錐13的扇角βB。相應(yīng)地,屬于焦點FA的測量場12也明顯大于焦點FB的測量場14。
如果利用這樣的CT系統(tǒng)對超過B系統(tǒng)的較小測量場14的對象進(jìn)行檢查,則在對B系統(tǒng)的數(shù)據(jù)進(jìn)行卷積時會對再現(xiàn)產(chǎn)生較強(qiáng)的邊緣效應(yīng),因為衰減在邊緣不是降到零,而是形成清晰的邊沿。如前所述,無論如何必須在卷積之前進(jìn)行數(shù)據(jù)補(bǔ)充。在本發(fā)明的情況下數(shù)據(jù)補(bǔ)充通過源自另一射線錐11、即A系統(tǒng)的數(shù)據(jù)實現(xiàn)。
在此對B檢測器的每個缺失的射線都尋找A檢測器的一個射線,從而一方面使該射線的方向確定以及由此采用方向正確的互補(bǔ)射線,另一方面須使該射線的z位置盡可能好地與B檢測器射線的z位置一致。由于對于傾斜的射線來說該z位置不是在整個射線長度上都相等,這里為了比較例如將射線的z位置設(shè)在該射線與z軸距離最小的點。
在本發(fā)明的方法中可將射線相對于z軸的不同傾斜忽略,但在此需注意的是,在此所示方法中的數(shù)據(jù)補(bǔ)充原理上是以近似的方式進(jìn)行的。即如果不存在確切的補(bǔ)充射線,可對所采用的數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)的內(nèi)插。
為了避免在兩個數(shù)據(jù)區(qū)域、即原始的和補(bǔ)充的數(shù)據(jù)區(qū)域之間進(jìn)行硬過渡,有意義的是利用借助平滑傳輸函數(shù)、如余弦函數(shù)的加權(quán)。
原理上按照本發(fā)明的方法既可以用于2D再現(xiàn)也可以用于3D再現(xiàn),其中,在2D再現(xiàn)中需要重新替代卷積之后去除的數(shù)據(jù),而在3D再現(xiàn)還可以沒有補(bǔ)充數(shù)據(jù)地進(jìn)行重整,因為在此通過反正要進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)行了平衡。
圖3再次示意性示出本發(fā)明的方法。圖3在列<A>、<B>中示出源自A系統(tǒng)或B系統(tǒng)的投影的數(shù)據(jù)組,在此B系統(tǒng)對應(yīng)于具有較小射線錐的焦點/檢測器組合。在I行,舉例示出已進(jìn)行的投影的可供使用的數(shù)據(jù)組A和B,在此橫軸表示投影角α,而縱坐標(biāo)值相應(yīng)于各投影角的衰減值。
由于列<B>中的測量場較小,在此原始僅有有限的界于虛線表示的B系統(tǒng)邊界之間的數(shù)據(jù)B。在第一步驟,通過A系統(tǒng)的數(shù)據(jù)A來替代B系統(tǒng)中不存在的數(shù)據(jù)B并形成數(shù)據(jù)組B+,這通過跨越兩個列的箭頭來表示。然后對兩側(cè)進(jìn)行卷積,其結(jié)果用數(shù)據(jù)組A’和B+’示于III行。如果現(xiàn)在還采用在B系統(tǒng)的實際測量場外存在的數(shù)據(jù)進(jìn)行反投影,則會如上所述,所產(chǎn)生的CT圖像會具有更多的偽影。由此有利的是,將位于B區(qū)域之外的卷積數(shù)據(jù)再次去除并得到顯示在IV行的數(shù)據(jù)B+’(-)。按照本發(fā)明,現(xiàn)在可以在B系統(tǒng)以外的區(qū)域內(nèi)使用A系統(tǒng)的已卷積的數(shù)據(jù)A’,以由此對數(shù)據(jù)B+’(-)進(jìn)行補(bǔ)充,從而產(chǎn)生在V行所示的數(shù)據(jù)組B+’(-)+,其例如可用于2D再現(xiàn)中的反投影。
由于現(xiàn)在已有來自另一檢測器DA或另一卷積的射線錐11的檢測器數(shù)據(jù)的卷積數(shù)據(jù)組A’和已卷積和補(bǔ)充的數(shù)據(jù)組B+’(-)可供使用,就可以不同的方式來繼續(xù)進(jìn)行反投影了。
在圖4所示出的變形中,利用兩個數(shù)據(jù)組A’和B+’(-)+來進(jìn)行2D再現(xiàn)。為此可在存在多個數(shù)據(jù)的區(qū)域內(nèi)構(gòu)成一個簡單的中間值或加權(quán)中間值,在此直接采用現(xiàn)有的數(shù)據(jù)。此外,在過渡區(qū)域內(nèi)還可進(jìn)行過渡加權(quán)。由此產(chǎn)生的數(shù)據(jù)組AB可在下一步驟VI中被反投影,并由此計算出圖像15。
圖5示出按照本發(fā)明的2D再現(xiàn)的另一變形。在此兩個數(shù)據(jù)組A’和B+’(-)+在兩個分開的步驟VIA、VIB中被反投影,并在此之后才被組合為總體圖像15。在組合時,對各個圖像值求中值或進(jìn)行加權(quán),在此也在過渡區(qū)域內(nèi)進(jìn)行過渡加權(quán)。
與在此所描述的2D再現(xiàn)相似的過程是逐體素的3D再現(xiàn)。在這兩種基于利用至少兩個具有不同扇角寬度和不同掃描場大小的射線錐進(jìn)行掃描的再現(xiàn)方法中都可以利用本發(fā)明的方法。
應(yīng)理解,以上所述本發(fā)明的特征不僅限于所給出的組合,還可以采用其它組合或單獨使用,均不超出本發(fā)明的范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于通過具有至少兩個角度相錯的射線源的CT系統(tǒng)產(chǎn)生計算機(jī)斷層造影圖像的方法,具有步驟1.1.具有較大扇角(βA)的第一射線錐(11)和具有較小扇角(βB)的第二射線錐(13)對對象進(jìn)行環(huán)形或螺旋形掃描,1.2.該第一射線錐(11)根據(jù)其在對象中的吸收產(chǎn)生數(shù)據(jù)組A,而該第二射線錐(13)產(chǎn)生數(shù)據(jù)組B,1.3.其中為了再現(xiàn)CT圖像,對較小射線錐(13)的數(shù)據(jù)組B在邊緣用其它數(shù)據(jù)補(bǔ)充為擴(kuò)展的數(shù)據(jù)組B+,1.4.對該第二、較小的射線錐(13)的擴(kuò)展數(shù)據(jù)組B+和該第一、較大的射線錐(11)的數(shù)據(jù)組A進(jìn)行卷積運算以得到數(shù)據(jù)組B+’和A’,1.5.由該卷積的數(shù)據(jù)組B+’和A’來分別進(jìn)行反投影,以再現(xiàn)截面圖像或立體數(shù)據(jù),其特征在于,1.6.對數(shù)據(jù)組B的補(bǔ)充通過數(shù)據(jù)組A的數(shù)據(jù)實現(xiàn),1.7.在卷積之后、但在反投影之前將補(bǔ)充的數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)組B+’中去除。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對于數(shù)據(jù)組B的補(bǔ)充僅采用數(shù)據(jù)組A中具有相同輻射方向的數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對于數(shù)據(jù)組B的補(bǔ)充采用數(shù)據(jù)組A中具有相同輻射方向和具有互補(bǔ)輻射方向的數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,將所有補(bǔ)充的數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)組B+’中去除。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,僅將來自數(shù)據(jù)組A中互補(bǔ)射線的補(bǔ)充數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)組B+’中去除。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的方法,其特征在于,進(jìn)行逐體素的三維再現(xiàn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的方法,其特征在于,進(jìn)行平面的兩維再現(xiàn),并利用卷積數(shù)據(jù)組A’的數(shù)據(jù)來代替從數(shù)據(jù)組B+’中去除的數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法,其特征在于,在補(bǔ)充數(shù)據(jù)組B時忽略射線相對于z軸的不同傾斜。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項所述的方法,其特征在于,在補(bǔ)充數(shù)據(jù)組B時采用來自數(shù)據(jù)組A的內(nèi)插數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至9中任一項所述的方法,其特征在于,在補(bǔ)充的數(shù)據(jù)組B+中在數(shù)據(jù)組B的數(shù)據(jù)和來自數(shù)據(jù)組A的補(bǔ)充數(shù)據(jù)之間的過渡上進(jìn)行加權(quán)以實現(xiàn)軟過渡。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,利用所述數(shù)據(jù)組A’和數(shù)據(jù)組B+’(-),必要時利用其它數(shù)據(jù)補(bǔ)充分別分開地進(jìn)行反投影,并通過加權(quán)產(chǎn)生一幅總體圖像。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,在較小射線錐(13)的測量場(14)的過渡區(qū)域中進(jìn)行過渡加權(quán)。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至9中任一項所述的方法,其特征在于,利用A’數(shù)據(jù)以及必要時經(jīng)過繼續(xù)處理的B+’(-)數(shù)據(jù)實施共同的兩維反投影。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其特征在于,在進(jìn)行反投影之前通過加權(quán)將兩個數(shù)據(jù)組聯(lián)合為一個數(shù)據(jù)組A’B+’(-)。
15.根據(jù)權(quán)利要求13或14所述的方法,其特征在于,在較小射線錐(13)的測量場(14)的數(shù)據(jù)的過渡區(qū)域中進(jìn)行過渡加權(quán)。
16.根據(jù)權(quán)利要求1至9中任一項所述的方法,其特征在于,利用A’數(shù)據(jù)以及必要時經(jīng)過繼續(xù)處理的B+’(-)數(shù)據(jù)逐體素地實施共同的三維反投影。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,其特征在于,在進(jìn)行反投影之前通過加權(quán)將兩個數(shù)據(jù)組聯(lián)合為一個數(shù)據(jù)組AB。
18.一種計算機(jī)斷層造影系統(tǒng),用于對對象進(jìn)行斷層造影顯示,其具有至少兩個角度相錯的射線源,它們構(gòu)成為一個具有較大扇角的第一射線錐和一個具有較小扇角的第二射線錐,對對象進(jìn)行環(huán)形或螺旋形掃描并產(chǎn)生檢測器輸出數(shù)據(jù),其中,該第一射線錐根據(jù)其在對象中的吸收產(chǎn)生數(shù)據(jù)組A,而第二射線錐產(chǎn)生數(shù)據(jù)組B,這些數(shù)據(jù)組在計算和控制單元中借助所存儲的計算機(jī)程序或程序模塊被處理成對象的計算機(jī)斷層造影圖像,其特征在于,具有用于實施根據(jù)權(quán)利要求1至17中任一項所述方法的存儲的計算機(jī)程序或程序模塊。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于通過具有至少兩個角度相錯的射線源的CT系統(tǒng)產(chǎn)生CT圖像的方法,具有較大扇角的第一射線錐和具有較小扇角的第二射線錐對對象進(jìn)行環(huán)形或螺旋形掃描,該第一射線錐根據(jù)其在對象中的吸收產(chǎn)生數(shù)據(jù)組A,該第二射線錐產(chǎn)生數(shù)據(jù)組B,為了再現(xiàn)CT圖像,對較小射線錐的數(shù)據(jù)組B在邊緣用其它數(shù)據(jù)補(bǔ)充為擴(kuò)展的數(shù)據(jù)組B+,對該第二、較小的射線錐的擴(kuò)展數(shù)據(jù)組B+和該第一、較大的射線錐的數(shù)據(jù)組A進(jìn)行卷積運算以得到數(shù)據(jù)組B+’和A’,由該卷積的數(shù)據(jù)組B+’和A’-分別進(jìn)行反投影,以再現(xiàn)截面圖像或立體數(shù)據(jù)。按照本發(fā)明,對數(shù)據(jù)組B的補(bǔ)充通過數(shù)據(jù)組A的數(shù)據(jù)實現(xiàn),并且在卷積之后、反投影之前將補(bǔ)充的數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)組B+’中去除。
文檔編號G06T1/00GK1903127SQ20061010760
公開日2007年1月31日 申請日期2006年7月26日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月26日
發(fā)明者赫伯特·布魯?shù)? 托馬斯·弗洛爾, 卡爾·施瓦茨, 卡爾·斯蒂爾斯托弗 申請人:西門子公司