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一次曝光的硬X射線光柵干涉儀的成像方法與流程

文檔序號:11087782閱讀:947來源:國知局
一次曝光的硬X射線光柵干涉儀的成像方法與制造工藝

本發(fā)明涉及硬X射線成像物理和方法領(lǐng)域,具體的說是一種一次曝光的硬X射線光柵干涉儀的成像方法。



背景技術(shù):

近一百多年來,X射線成像方法和技術(shù)在成像物理機制、數(shù)據(jù)采集方案、斷層重建算法等方面不斷取得新的進(jìn)展,目前已經(jīng)發(fā)展成為材料科學(xué)、臨床醫(yī)學(xué)、考古科學(xué)、公共安全等領(lǐng)域不可或缺的重要工具。特別是在臨床醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,X射線成像方法和裝置,包括X射線投影成像術(shù)(X-ray Radiography)和X射線計算機斷層成像技術(shù)(X-ray Computed Tomography),對現(xiàn)代人類健康、社會發(fā)展做出了無可替代的重大貢獻(xiàn)。

從成像物理機制來講,現(xiàn)有X射線成像方法和技術(shù)是基于X射線穿透物體后的光強衰減差異的。對金屬、骨骼等重元素組成的物體,X射線穿透后會有明顯的光強衰減。因此,在對這些強吸收物體成像時,能夠獲得很高的圖像襯度,使得清晰地觀察到內(nèi)部結(jié)構(gòu)。但是,臨床醫(yī)學(xué)成像中的人體軟組織、材料科學(xué)中的聚合物等物體,主要由碳、氫、氧等低原子序數(shù)的輕元素組成。由于這些輕元素對X射線的衰減非常弱,利用現(xiàn)有X成像技術(shù)無法有效觀察到由輕元素組成的這些物體。因此,有必要發(fā)展新的X射線成像方法和技術(shù)來克服現(xiàn)有X射線成像方法的局限性。

重溫X射線與物質(zhì)的相互作用,發(fā)現(xiàn)在硬X射線波段(10-100keV),作為軟組織、聚合物等弱吸收物體的主要成分,碳、氫、氧等元素的折射率實部(即相移項)是折射率虛部(即吸收項)的1000多倍。因此,測量X射線穿過物體時的相移信息要比檢測光強衰減信息更加有效。X射線相位襯度成像技術(shù)正是通過記錄X射線穿過物體后的相移來形成圖像襯度的。與現(xiàn)有的吸收襯度成像技術(shù)相比,在對弱吸收物體成像時,X射線相位襯度成像技術(shù)能夠獲得更高的圖像襯度、更高的測量靈敏度、更低的輻射劑量。上世紀(jì)90年代以來,陸續(xù)提出并發(fā)展了四種硬X射線相位襯度成像方法:晶體干涉儀、相位傳播成像、衍射增強成像、光柵干涉儀。其中,硬X射線光柵干涉儀盡管是2002年以后逐漸發(fā)展起來的,但目前被認(rèn)為是最具應(yīng)用前景的X射線相位襯度成像方法之一。與其他成像方法相比,硬X射線光柵干涉儀是目前唯一能夠直接利用常規(guī)X射線源獲得相位襯度的方法,因而在臨床醫(yī)學(xué)診療、材料科學(xué)、公共安全檢測等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。硬X射線光柵干涉儀具有很高的測量靈敏度,能夠從一組投影數(shù)據(jù)中同時獲得物體的吸收、相移和散射圖像。三種不同的物體圖像互為補充,從不同角度反映了物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。這些優(yōu)點使得硬X射線光柵干涉儀成為近年來X射線成像領(lǐng)域的研究熱點之一。

在硬X射線光柵干涉儀中,探測器記錄的物體投影圖像同時包含了物體的吸收、相移和散射信號,即圖像襯度來自于物體吸收信號、相移信號、散射信號的混合貢獻(xiàn)。而在實際應(yīng)用中,如定量分析和研究物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)、投影圖像識別、計算機三維斷層重建等,都要求獲取獨立、純粹的物體吸收、相移和散射信號。因此,如何從物體投影圖像中快速、準(zhǔn)確提取純粹的吸收、相移和散射信號是近年來的研究熱點之一。目前,硬X射線光柵干涉儀普遍采用相位步進(jìn)法進(jìn)行實驗數(shù)據(jù)采集和物體信息提取。這種方法要求復(fù)雜的橫向步進(jìn)掃描光柵,導(dǎo)致很長的數(shù)據(jù)采集時間,降低了實驗效率;要求采集多幅物體投影圖像(實驗上不少于4張),增加了物體的輻射劑量和輻射損傷風(fēng)險。這些局限性阻礙了硬X射線光柵干涉儀在臨床醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域的推廣應(yīng)用。因此,發(fā)展新的成像方法,克服相位步進(jìn)法光柵步進(jìn)掃描、多次物體曝光的局限性,已經(jīng)發(fā)展成為硬X射線光柵干涉儀實用化進(jìn)程中必須解決的瓶頸問題之一。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明為避免現(xiàn)有成像方法的不足之處,提出一種一次曝光的硬X射線光柵干涉儀的成像方法,以期能徹底摒棄繁瑣的光柵步進(jìn)掃描,簡化硬X射線光柵干涉儀的數(shù)據(jù)采集流程,并提高成像效率,減少曝光時間,降低輻射劑量和輻射損傷風(fēng)險,從而為實現(xiàn)快速、低輻射劑量的硬X射線相位襯度成像提供新途徑。

為達(dá)到上述發(fā)明目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:

本發(fā)明一種一次曝光的硬X射線光柵干涉儀的成像方法,所述硬X射線光柵干涉儀包括:X射線源、源光柵、相位光柵、分析光柵、探測器;在所述X射線源和相位光柵之間設(shè)置有所述源光柵和被成像物體;所述源光柵緊貼所述X射線源設(shè)置;所述被成像物體緊貼所述相位光柵的內(nèi)側(cè)設(shè)置;在所述相位光柵的外側(cè)設(shè)置有所述分析光柵;所述分析光柵與所述相位光柵之間的軸向距離為d;所述探測器緊貼在所述分析光柵的外側(cè);其特點是,所述成像方法按如下步驟進(jìn)行:

步驟1、固定所述源光柵、相位光柵和分析光柵中任意兩個光柵,并沿著移動方向?qū)⒌谌齻€光柵移動自身四分之一的光柵周期,使得所述硬X射線光柵干涉儀的工作點固定在光強曲線的左半腰或右半腰位置處;所述移動方向為同時垂直于光軸和光柵柵條的方向;

步驟2、啟動所述X射線源和探測器,設(shè)置曝光時間為t;

利用所述探測器按照所述曝光時間t獲取背景投影圖像I0后,關(guān)閉所述X射線源;

步驟3、將所述被成像物體放置到所述相位光柵的視場中央,啟動所述X射線源,并利用所述探測器按照所述曝光時間t獲取所述被成像物體的投影圖像ID后,關(guān)閉所述X射線源;

步驟4、對所述被成像物體的投影圖像ID進(jìn)行背景歸一化處理,得到歸一化的投影圖像I′D,其中I′D=ID/I0

步驟5、對歸一化的投影圖像I′D進(jìn)行取對數(shù)處理,得到處理結(jié)果ln(I′D);

步驟6、對表達(dá)式K1-ln(I′D)作一維傅里葉變換,得到變換結(jié)果F1;K1為常數(shù),且滿足K1=lnS(p2/4)或K1=lnS(-p2/4),其中p2是所述分析光柵的周期;S(p2/4)為所述硬X射線光柵干涉儀的光強曲線在p2/4處的數(shù)值;

步驟7、根據(jù)變換結(jié)果F1,利用式(1)得到所述被成像物體的相移信號的一維傅里葉變換結(jié)果F2

F2=F1/(1/γ+iK2λu/M) (1)

式(1)中,γ是所述被成像物體的折射率實部與虛部的比值;i表示虛數(shù)單位,i2=-1;K2為常數(shù),且滿足或其中S′(p2/4)為所述硬X射線光柵干涉儀的光強曲線的一階導(dǎo)數(shù)在p2/4處的數(shù)值,d是所述相位光柵到所述分析光柵的軸向距離;λ是所述X射線源的有效波長;u是空間頻率;M是所述硬X射線光柵干涉儀的幾何放大率;

步驟8、利用式(2)提取所述被成像物體的吸收信號T:

式(2)中,表示一維逆傅里葉變換;

步驟9、利用式(3)提取所述被成像物體的相移信號Φ:

以所述被成像物體的吸收信號T和相移信號Φ作為所述成像方法的結(jié)果。

與已有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:

1、本發(fā)明利用了硬X射線波段,生物軟組織等的折射率實部與虛部近似成正比的特性,基于光強曲線在半腰位置的線性近似,提出了一次曝光成像新方法,解決了單次曝光下物體吸收、相移信息的定量提取問題,克服了現(xiàn)有相位步進(jìn)法的光柵步進(jìn)掃描、多次曝光的局限性,簡化了數(shù)據(jù)采集流程,避免了高輻射劑量,實現(xiàn)了快速、低輻射劑量的硬X射線相位襯度成像;

2、與現(xiàn)有的相位步進(jìn)法相比,本發(fā)明在獲取物體圖像時,通過將硬X射線光柵干涉儀固定在光強曲線的左半腰或右半腰位置處,摒棄了繁瑣的光柵步進(jìn)掃描,極大地簡化了數(shù)據(jù)采集流程,提高了實驗效率;

3、與現(xiàn)有的相位步進(jìn)法相比,本發(fā)明利用被成像物體的折射率實部與虛部的比值γ保持不變的特性,和光強曲線在半腰位置的線性近似,簡化了成像方程,從而只需對物體進(jìn)行一次曝光并獲取1張物體投影圖像,就能夠定量提取物體的吸收和相移信號,避免了對物體的多次曝光并獲取多張投影圖像,有效減少了輻射劑量,降低了輻射損傷風(fēng)險;同時減少了實驗時間,提高了實驗效率;

4、本發(fā)明摒棄了繁瑣的光柵步進(jìn)掃描,每個投影角度下只需要獲取1張物體投影圖像,使得能夠與計算機斷層掃描技術(shù)直接結(jié)合,實現(xiàn)物體的線性吸收系數(shù)、相移系數(shù)的快速三維斷層重建;

5、與傳統(tǒng)X射線成像方法相比,本發(fā)明通過獲取物體的相移信號,能夠更加清晰地觀察人體軟組織等的精細(xì)結(jié)構(gòu),更加準(zhǔn)確區(qū)別正常與病變組織;

6、本發(fā)明提出的成像新方法同樣適用于二維硬X射線光柵干涉儀、中子光柵干涉儀,應(yīng)用廣泛,適用性強。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中一維硬X射線光柵干涉儀示意圖;

圖2為現(xiàn)有技術(shù)中硬X射線光柵干涉儀的光強曲線圖;

圖3為現(xiàn)有技術(shù)中有機玻璃的折射率實部與虛部比值圖;

圖4為本發(fā)明中被成像物體6吸收信號的提取結(jié)果圖;

圖5為本發(fā)明中被成像物體6相移信號的提取結(jié)果圖;

圖中標(biāo)號:1X射線源;2源光柵;3相位光柵;4分析光柵;5探測器;6被成像物體。

具體實施方式

如圖1所示,硬X射線光柵干涉儀包括:X射線源1、源光柵2、相位光柵3、分析光柵4、探測器5;在X射線源1和相位光柵3之間設(shè)置有源光柵2和被成像物體6;源光柵2緊貼X射線源1設(shè)置;被成像物體6緊貼相位光柵3的內(nèi)側(cè)設(shè)置;在相位光柵3的外側(cè)設(shè)置有分析光柵4;分析光柵4與相位光柵3之間的軸向距離為d;探測器5緊貼在分析光柵4的外側(cè);本實施例中,一次曝光的硬X射線光柵干涉儀的成像方法是按如下步驟進(jìn)行:

步驟1、固定源光柵2、相位光柵3和分析光柵4中任意兩個光柵,并沿著移動方向?qū)⒌谌齻€光柵移動自身四分之一的光柵周期,使得硬X射線光柵干涉儀的工作點固定在光強曲線的左半腰或右半腰位置處(圖2中箭頭指示位置);移動方向為同時垂直于光軸和光柵柵條的方向;

硬X射線光柵干涉儀固定在光強曲線的左半腰或右半腰位置處,不僅摒棄了繁瑣的光柵步進(jìn)掃描,而且使得被成像物體6的相移信號的測量靈敏度達(dá)到最大,從而更加準(zhǔn)確地提取被成像物體6的吸收和相移信號。

步驟2、啟動X射線源1和探測器5,設(shè)置曝光時間為t;

利用探測器5按照曝光時間t獲取背景投影圖像I0后,用于被成像物體6的投影圖像的歸一化處理,關(guān)閉X射線源1;

步驟3、將被成像物體6放置到相位光柵3的視場中央,啟動X射線源1,并利用探測器5按照曝光時間t獲取被成像物體6的投影圖像ID后,關(guān)閉X射線源1;

以硬X射線光柵干涉儀工作在右半腰位置p2/4為例。探測器5獲取的被成像物體6投影圖像ID滿足:

式(3.1)中,T是被成像物體6的吸收信號;S()是硬X射線光柵干涉儀的光強曲線(圖2所示);p2是分析光柵4的周期;λ是X射線源1的有效波長;d是相位光柵3到分析光柵4的軸向距離;M是硬X射線光柵干涉儀的幾何放大率;表示一階微分運算;Φ是被成像物體6的相移信號。

步驟4、對被成像物體6的投影圖像ID進(jìn)行背景歸一化處理,得到歸一化的投影圖像I′D,其中I′D=ID/I0

步驟5、對歸一化的投影圖像I′D進(jìn)行取對數(shù)處理,得到處理結(jié)果ln(I′D);

以硬X射線光柵干涉儀工作在右半腰位置p2/4為例。根據(jù)式(3.1),歸一化的投影圖像I′D的對數(shù)處理結(jié)果ln(I′D)滿足:

在臨床醫(yī)學(xué)成像等應(yīng)用領(lǐng)域,生物軟組織等對硬X射線的折射信號是非常小的,通常滿足步驟1將硬X射線光柵干涉儀工作在光強曲線的左半腰或右半腰位置處,對于小折射信號,能夠合理地對光強曲線作一階線性近似,將非線性成像方程簡化為線性成像方程,

式(5.2)代入式(5.1)可得到,

式(5.3)中K1為常數(shù),且滿足K1=lnS(p2/4),其中p2是分析光柵4的周期;S(p2/4)為硬X射線光柵干涉儀的光強曲線在p2/4處的數(shù)值;K2為常數(shù),且滿足其中S′(p2/4)為硬X射線光柵干涉儀的光強曲線的一階導(dǎo)數(shù)在p2/4處的數(shù)值,d是相位光柵3到分析光柵4的軸向距離;λ是X射線源1的有效波長;表示一階微分運算。

T是待提取的被成像物體6的吸收信號,正比于物體折射率的虛部;Φ是待提取的被成像物體6的相移信號,正比于物體折射率的實部。對于臨床醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域的軟組織等物體,其折射率實部與虛部近似成正比關(guān)系。以人體軟組織的等效替代物—有機玻璃為例,如圖3所示,在硬X射線在能量范圍27-41keV,其折射率實部與虛部的比值γ基本保持不變,比值γ的均值為2469,波動幅度不超過3%。于是被成像物體6的相移信號Φ和吸收信號T近似滿足正比關(guān)系,

式(5.4)代入式(5.3)可得到,

步驟6、對表達(dá)式K1-ln(I′D)作一維傅里葉變換,得到變換結(jié)果F1;K1為常數(shù),且滿足K1=lnS(p2/4)或K1=lnS(-p2/4),其中p2是分析光柵4的周期;S(p2/4)為硬X射線光柵干涉儀的光強曲線在p2/4處的數(shù)值;

對式(5.5)作一維傅里葉變換,得到變換結(jié)果F1

式(6.1)中,表示一維傅里葉變換;F2是被成像物體6的相移信號的一維傅里葉變換結(jié)果;i表示虛數(shù)單位,i2=-1;u是空間頻率。

步驟7、根據(jù)式(6.1)所示的變換結(jié)果F1,利用式(1)得到被成像物體6的相移信號的一維傅里葉變換結(jié)果F2

F2=F1/(1/γ+iK2λu/M) (1)

式(1)中,γ是被成像物體6的折射率實部與虛部的比值;i表示虛數(shù)單位,i2=-1;K2為常數(shù),且滿足或其中S′(p2/4)為硬X射線光柵干涉儀的光強曲線的一階導(dǎo)數(shù)在p2/4處的數(shù)值,d是相位光柵3到分析光柵4的軸向距離;λ是X射線源1的有效波長;u是空間頻率;M是硬X射線光柵干涉儀的幾何放大率;

步驟8、根據(jù)式(5.4),被成像物體6的吸收信號的一維傅里葉變換結(jié)果FT滿足:

式(1)代入式(8.1)得到,

對式(8.2)作一維逆傅里葉變換,從而利用式(2)提取被成像物體6的吸收信號T:

式(2)中,表示一維逆傅里葉變換;

圖4為被成像物體6的吸收信號的提取結(jié)果圖。被成像物體6是直徑4毫米的有機玻璃棒;X射線源1的有效能量為35keV。根據(jù)圖4,利用式(2)提取的吸收信號與理論值吻合的很好,證實了本發(fā)明能夠定量提取被成像物體6的吸收信號。

步驟9、對式(1)作一維逆傅里葉變換,從而利用式(3)提取被成像物體6的相移信號Φ:

圖5為被成像物體6的相移信號的提取結(jié)果圖,被成像物體6是直徑4毫米的有機玻璃棒;X射線源1的有效能量為35keV。根據(jù)圖5,利用式(3)提取的相移信號很好地吻合了理論值,證實了本發(fā)明能夠定量提取被成像物體6的相移信號。

以被成像物體6的吸收信號T和相移信號Φ作為成像方法的結(jié)果。

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