專利名稱：硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種電路檢測系統(tǒng)與方法，特別關(guān)于一種硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)與方法。
背景技術(shù)：
為了開發(fā)功能強(qiáng)大的芯片，在制造芯片之前必須先對芯片內(nèi)的電路加以檢驗(yàn)。
如圖1所示，一電路模擬軟件11執(zhí)行在一處理器12上，電路模擬軟件11通過處理器12執(zhí)行一控制芯片的控制器硬件電路程序111與一解碼芯片的解碼器硬件電路程序112以模擬解碼芯片與控制芯片，并檢驗(yàn)解碼芯片與控制芯片是否能夠正常地配合運(yùn)作。
這種模擬檢驗(yàn)的方法能夠完整地模擬解碼芯片與控制芯片的功能，并能夠完整地檢驗(yàn)解碼芯片與控制芯片配合的情況。然而，若只想驗(yàn)證解碼芯片是否能夠正常運(yùn)作，對于解碼芯片開發(fā)人員來說，在電路模擬軟件11其實(shí)不需要完整地模擬驗(yàn)證控制芯片的功能，且在電路模擬軟件11完整地模擬驗(yàn)證控制芯片亦多耗費(fèi)處理器12的處理時(shí)間，也就是說，解碼芯片在電路模擬軟件11驗(yàn)證的時(shí)間加長，解碼芯片在硬件描述語言電路設(shè)計(jì)階段的效率亦減低。
因此，提供一種硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)，能夠完整地驗(yàn)證硬件描述語言電路，并能夠簡化多電路配合的驗(yàn)證流程，節(jié)省驗(yàn)證時(shí)間，以提高硬件描述語言電路設(shè)計(jì)的效率，正是當(dāng)前重要的課題之一。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于上述課題，本發(fā)明的目的為提供一種具簡化驗(yàn)證流程的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)與方法。
于是，為達(dá)上述目的，依本發(fā)明的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)檢測一硬件描述語言所描述的一待測試電路程序，此系統(tǒng)包含一電路模擬軟件、一接口程序以及一處理器。其中電路模擬軟件執(zhí)行待測試電路程序以模擬一待測試電路，接口程序是由硬件描述語言所描述，并執(zhí)行于電路模擬軟件以傳送待測試電路所產(chǎn)生的一第一消息，處理器執(zhí)行電路模擬軟件，且通過接口程序接收第一消息，并依據(jù)第一消息產(chǎn)生一第二消息，接口程序傳遞第二消息至待測試電路程序。
另外，本發(fā)明亦提供一種硬件描述語言電路的檢測方法，其檢測一硬件描述語言所描述的一待測試電路程序，此方法包含以下步驟執(zhí)行待測試電路程序以模擬一待測試電路，其中待測試電路程序是執(zhí)行于一電路模擬軟件并產(chǎn)生一第一消息，且電路模擬軟件是在一處理器執(zhí)行，然后由處理器產(chǎn)生一第二消息，以及執(zhí)行一接口程序以傳遞第一消息至一處理器，或傳遞處理器所產(chǎn)生的第二消息至待測試電路程序，其中接口程序是由硬件描述語言所描述并執(zhí)行于電路模擬軟件。
承上所述，因依本發(fā)明的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)及方法具有電路模擬軟件、接口程序以及處理器，故能夠完整地驗(yàn)證硬件描述語言電路，對于解碼芯片開發(fā)人員來說，更能夠簡化多電路配合的驗(yàn)證流程，以達(dá)到節(jié)省驗(yàn)證的時(shí)間與提高電路設(shè)計(jì)效率的功效。


圖1為顯示公知硬件描述語言電路檢測系統(tǒng)的一區(qū)塊圖；圖2為顯示依本發(fā)明較佳實(shí)施例的硬件描述語言電路檢測系統(tǒng)的一區(qū)塊圖；圖3為顯示依本發(fā)明較佳實(shí)施例的硬件描述語言電路檢測系統(tǒng)的具體實(shí)施方式
的一區(qū)塊圖；以及圖4為顯示依本發(fā)明較佳實(shí)施例的硬件描述語言電路檢測系統(tǒng)的具體實(shí)施方式
的另一區(qū)塊圖；以及圖5為顯示依本發(fā)明較佳實(shí)施例的硬件描述語言電路檢測方法的一流程圖。
組件符號說明11 電路模擬軟件12 處理器111 控制器硬件電路程序
112 解碼器硬件電路程序2檢測系統(tǒng)21 電路模擬軟件211 接口程序212 待測試電路程序213 I/O總線22 處理器3檢測系統(tǒng)31 電路模擬軟件311 接口程序312 解碼器硬件電路程序313 I/O總線314 函數(shù)庫32 操作系統(tǒng)33 處理器34 總線35 內(nèi)存36 系統(tǒng)芯片37 儲存裝置38 輸出入裝置39 檢測程序ADDR 地址DATA 數(shù)據(jù)INT 中斷MSG1 第一消息MSG2 第二消息RES 向應(yīng)S1-S3硬件描述語言電路的檢測方法具體實(shí)施方式
以下將參照相關(guān)圖式，說明依本發(fā)明較佳實(shí)施例的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)及方法。
如圖2所示，依本發(fā)明較佳實(shí)施例的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)2是檢測一硬件描述語言所描述的一待測試電路程序212，檢測系統(tǒng)2包含一電路模擬軟件21、一接口程序211以及一處理器22。
電路模擬軟件21執(zhí)行待測試電路程序212以模擬一待測試電路，其中待測試電路程序212產(chǎn)生一第一消息MSG1，處理器22執(zhí)行電路模擬軟件21，并產(chǎn)生一第二消息MSG2，接口程序211由硬件描述語言所描述，并執(zhí)行于電路模擬軟件21，接口程序211傳送待測試電路程序212所產(chǎn)生的第一消息MSG1至處理器22或傳送處理器22所產(chǎn)生的第二消息MSG2至待測試電路程序212。
在本實(shí)施例中，處理器22可依據(jù)第一消息MSG1產(chǎn)生第二消息MSG2，另外，待測試電路程序212亦可依據(jù)第二消息MSG2產(chǎn)生第一消息MSG1。舉例來說，第二消息MSG2可為一讀取消息，處理器22可通過電路模擬軟件21的一函數(shù)將第二消息MSG2傳送至接口程序211，接口程序211通過一I/O總線213將第二消息MSG2傳送至待測試電路程序212，待測試電路程序212依據(jù)讀取消息MSG2讀取待測試電路程序212的緩存器或內(nèi)存的數(shù)據(jù)以產(chǎn)生第一消息MSG1。
待測試電路程序212通過I/O總線將第一消息MSG1傳送至接口程序211，接口程序211調(diào)用電路模擬軟件的另一函數(shù)以將第一消息MSG1傳送至處理器22。
另外，第一消息MSG1也可以是待測試電路程序212所產(chǎn)生的一中斷消息，第二消息MSG2則可以是處理器22針對中斷消息MSG1處理后的響應(yīng)消息。接口程序211接收到第一消息MSG1之后調(diào)用電路模擬軟件的一函數(shù)，函數(shù)對處理器22下達(dá)一指令或中斷以傳遞第一消息MSG1至處理器22，當(dāng)處理器22接收到中斷消息MSG1之后，處理器22處理第一消息MSG1以產(chǎn)生第二消息MSG2，然后函數(shù)傳遞第二消息MSG2至接口程序211，待測試電路程序212接收到響應(yīng)消息MSG2后可繼續(xù)運(yùn)作。
另外，第一消息MSG1亦可以是待測試電路程序212的狀態(tài)消息，而第二消息MSG2可以是處理器22的操作消息，處理器22可依據(jù)狀態(tài)消息MSG1產(chǎn)生適當(dāng)?shù)牟僮飨SG2，以操作待測試電路程序212。在本發(fā)明的實(shí)施例中，第一消息MSG1與第二消息MSG2可以是其它內(nèi)容的消息，可依據(jù)測試時(shí)的需求而定。
在本實(shí)施例中，待測試電路程序212可以是模擬一數(shù)字信號處理器，也可以是模擬一解碼器，處理器22為一中央處理單元，硬件描述語言是VHDL或Verilog HDL。與公知技術(shù)相比之下，在電路模擬軟件21中僅需要執(zhí)行完整的待測試電路程序212以及特殊設(shè)計(jì)接口程序211，不需要模擬與待測試電路程序212搭配的控制電路的執(zhí)行就可以完整地驗(yàn)證待測試電路程序212。
與公知技術(shù)相比之下，開發(fā)人員可利用現(xiàn)成已是實(shí)體電路的處理器22作為與待測試電路程序212搭配的控制電路，無須在電路模擬軟件21搭配完整的控制電路程序，如控制器硬件電路程序111。另外，接口程序211是作為待測試電路程序212與處理器22間溝通的媒介，接口程序211與處理器22可模擬控制器硬件電路程序111的操作功能，接口程序211無須具體地實(shí)現(xiàn)控制器硬件電路程序111，所以接口程序211的大小可遠(yuǎn)小于控制器硬件電路程序111，如此一來，電路模擬軟件21中不需要模擬與待測試電路程序212搭配的控制電路，多電路配合的復(fù)雜度降低因而驗(yàn)證流程簡化，電路驗(yàn)證的時(shí)間可以縮短，所以電路設(shè)計(jì)與驗(yàn)證的效率因而提高。
圖3與圖4是顯示依本發(fā)明的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)的具體實(shí)施方式
，硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)3包含一電路模擬軟件31、一操作系統(tǒng)32、處理器33、一總線34、一內(nèi)存35、一系統(tǒng)芯片36、一儲存裝置37、一輸出入裝置38與一檢測程序39。
操作系統(tǒng)32儲存于儲存裝置37中，系統(tǒng)芯片36通過總線34將操作系統(tǒng)32加載至內(nèi)存35以讓處理器33執(zhí)行。使用者通過輸出入裝置38操作檢測系統(tǒng)3。
電路模擬軟件31安裝在操作系統(tǒng)32上才能夠由處理器33執(zhí)行，操作系統(tǒng)32是一多任務(wù)操作系統(tǒng)，例如UNIX、LINUX或FreeBSD等操作系統(tǒng)。
檢測程序39是安裝在操作系統(tǒng)32之中，檢測程序39與電路模擬軟件31是同時(shí)執(zhí)行于操作系統(tǒng)32之中。其中檢測程序39可由C或C++等高級程序語言所撰寫。電路模擬軟件31與檢測程序39在執(zhí)行時(shí)可以是進(jìn)程(Process)或是執(zhí)行線程(Thread)，而同時(shí)執(zhí)行于操作系統(tǒng)32中。
電路模擬軟件31執(zhí)行一接口程序311、一解碼器硬件電路程序312，其中接口程序311與解碼器硬件電路程序312是由硬件描述語言所撰寫并在電路模擬軟件31中以一I/O總線313連接，解碼器程序312在此是模擬一解碼器的完整電路。
如圖3所示，在模擬讀取的過程中，檢測程序39產(chǎn)生一地址ADDR，檢測程序39通過操作系統(tǒng)32的消息隊(duì)列(Message Queue)將地址ADDR傳遞至電路模擬軟件31的一函數(shù)庫314，函數(shù)庫314將地址ADDR傳遞至接口程序311，接口程序311通過I/O總線313將地址ADDR傳遞至解碼器硬件電路程序312，解碼器硬件電路程序312依據(jù)地址ADDR讀取出緩存器中的數(shù)據(jù)DATA。
解碼器硬件電路程序312通過I/O總線313將數(shù)據(jù)DATA傳遞至接口程序311，接口程序311調(diào)用函數(shù)庫314，函數(shù)庫314通過操作系統(tǒng)32的消息隊(duì)列(Message Queue)將數(shù)據(jù)DATA傳遞至處理器33執(zhí)行中的檢測程序39，因此檢測程序39得以讀取到解碼器硬件電路程序312的緩存器中地址ADDR的數(shù)據(jù)DATA。
如圖4所示，在模擬中斷的過程中，解碼器硬件電路程序312產(chǎn)生一中斷INT，接口程序311通過I/O總線313收到中斷INT之后調(diào)用電路模擬軟件31的一函數(shù)庫314，函數(shù)庫314通過操作系統(tǒng)32的消息隊(duì)列(Message Queue)將中斷INT的內(nèi)容傳遞至處理器33執(zhí)行的檢測程序39。
檢測程序39處理中斷INT的內(nèi)容并產(chǎn)生一響應(yīng)RES，檢測程序39亦通過操作系統(tǒng)32的消息傳遞將響應(yīng)RES傳遞至函數(shù)庫314中，函數(shù)庫314是藉由電路模擬軟件31中函數(shù)響應(yīng)的方式將響應(yīng)RES的內(nèi)容傳遞至接口程序311，接口程序311通過I/O總線313將響應(yīng)RES的內(nèi)容傳遞至解碼器硬件電路程序312。
另外，在圖3與圖4的實(shí)施例中，檢測程序39除了簡單地讀取或響應(yīng)解碼器硬件電路程序312之外，開發(fā)人員亦可以增進(jìn)檢測程序39的內(nèi)容，以讓檢測程序39模擬與解碼器硬件電路程序312搭配的電路的部分或完整功能，或開發(fā)人員在檢測程序39中添加解碼器硬件電路程序312的錯(cuò)誤檢查機(jī)制，以方便在執(zhí)行解碼器硬件電路程序312時(shí)除錯(cuò)。也就是說，檢測程序39可視開發(fā)人員實(shí)際需要添加適當(dāng)?shù)某绦虼a，以較佳的效率開發(fā)解碼器硬件電路程序312，而檢測程序39亦可簡易的移植為系統(tǒng)實(shí)作時(shí)所需的驅(qū)動程序碼。
與公知技術(shù)相較之下，電路模擬軟件11執(zhí)行控制器硬件電路程序111與解碼器硬件電路程序112，電路模擬軟件31執(zhí)行接口程序311與解碼器硬件電路程序312，接口程序311、處理器33與檢測程序39與控制器硬件電路程序111功能相近，并分別與解碼器硬件電路程序312以及解碼器硬件電路程序112搭配運(yùn)作。解碼器硬件電路程序112與解碼器硬件電路程序312可為類似的硬件程序。
然而接口程序311僅作為解碼器硬件電路程序312與處理器33以及檢測程序39之間通訊的媒介，控制器硬件電路程序111的操作功能是主要實(shí)現(xiàn)在處理器33及/或檢測程序39，接口程序311無須具體地實(shí)現(xiàn)控制器硬件電路程序111，所以接口程序311的大小可遠(yuǎn)小于控制器硬件電路程序111，且開發(fā)人員亦可藉由已經(jīng)是實(shí)體電路的處理器33模擬控制器硬件電路程序111，因而節(jié)省開發(fā)時(shí)間、人力或成本等。
另外，由于電路模擬軟件31執(zhí)行較小的接口程序311，電路模擬軟件11執(zhí)行較大的控制器硬件電路程序111，若解碼器硬件電路程序112與解碼器硬件電路程序312的大小相近的話，電路模擬軟件31將有較佳的執(zhí)行效率，故此可以節(jié)省開發(fā)時(shí)間、人力或成本等。再者，電路模擬軟件31中不需要模擬與待測試電路程序312搭配的控制電路，多電路配合的復(fù)雜度降低因而驗(yàn)證流程簡化，電路驗(yàn)證的時(shí)間可以縮短，所以電路設(shè)計(jì)與驗(yàn)證的效率因而提高。如圖5所示，依本發(fā)明較佳實(shí)施例的硬件描述語言電路的檢測方法是檢測一硬件描述語言所描述的一待測試電路程序，此方法包含步驟S1至步驟S3。
在步驟S1，執(zhí)行待測試電路程序以模擬一待測試電路并產(chǎn)生一第一消息，其中待測試電路程序是在一電路模擬軟件執(zhí)行，電路模擬軟件是在一處理器執(zhí)行。
在步驟S2，由處理器產(chǎn)生一第二消息。
在步驟S3，執(zhí)行一接口程序以傳遞待測試電路所產(chǎn)生的第一消息至處理器，或傳遞處理器所產(chǎn)生的第二消息至待測試電路程序，其中接口程序是由硬件描述語言所描述并在電路模擬軟件執(zhí)行。
本實(shí)施例的硬件描述語言電路的檢測方法是可執(zhí)行于圖2與圖3中的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)，且施行本實(shí)施例的檢測方法的各形式亦于前述實(shí)施例中的檢測系統(tǒng)討論過，故此不再贅述。
綜上所述，因依本發(fā)明的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)及方法具有電路模擬軟件、接口程序以及處理器，故能夠完整地驗(yàn)證硬件描述語言電路，并能夠簡化多電路配合的驗(yàn)證流程，以達(dá)到節(jié)省驗(yàn)證時(shí)間與提高電路設(shè)計(jì)效率的功效。
以上所述僅為舉例性，而非為限制性的。任何未脫離本發(fā)明的精神與范疇，而對其進(jìn)行的等效修改或變更，均應(yīng)包含于所附的權(quán)利要求中。
權(quán)利要求
1.一種硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)，其檢測一硬件描述語言所描述的一待測試電路程序，所述系統(tǒng)包含一電路模擬軟件，其執(zhí)行所述待測試電路程序以模擬一待測試電路，其中所述待測試電路程序依據(jù)一第二消息產(chǎn)生一第一消息；一處理器，其執(zhí)行所述電路模擬軟件，并依據(jù)所述第一消息產(chǎn)生所述第二消息；以及一接口程序，其由所述硬件描述語言所描述，并執(zhí)行于所述電路模擬軟件，傳送所述待測試電路程序所產(chǎn)生的第一消息至所述處理器以及傳送所述處理器所產(chǎn)生的第二消息至所述待測試電路程序。
2.如權(quán)利要求1所述的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)，其中所述接口程序調(diào)用所述電路模擬軟件的一函數(shù)，其中所述函數(shù)傳遞所述第一消息至所述處理器。
3.如權(quán)利要求1所述的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)，其中所述處理器執(zhí)行一檢測程序以產(chǎn)生所述第二消息。
4.如權(quán)利要求1所述的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)，其中所述檢測程序是由一高級程序語言所撰寫。
5.如權(quán)利要求1所述的硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)，其中所述電路模擬軟件與所述檢測程序是同時(shí)在一多任務(wù)操作系統(tǒng)執(zhí)行。
6.一種硬件描述語言電路的檢測方法，其檢測一硬件描述語言所描述的一待測試電路程序，所述方法包含執(zhí)行所述待測試電路程序以模擬一待測試電路，其中所述待測試電路程序執(zhí)行于一電路模擬軟件并產(chǎn)生一第一消息，所述電路模擬軟件是在一處理器執(zhí)行；由所述處理器產(chǎn)生一第二消息；以及執(zhí)行一接口程序，以傳遞所述待測試電路程序所產(chǎn)生的所述第一消息至所述處理器，或傳遞所述處理器所產(chǎn)生的所述第二消息至所述待測試電路程序，其中所述接口程序是由所述硬件描述語言所描述并執(zhí)行于所述電路模擬軟件。
7.如權(quán)利要求6所述的硬件描述語言電路的檢測方法，其中所述處理器依據(jù)所述第一消息產(chǎn)生所述第二消息。
8.如權(quán)利要求6所述的硬件描述語言電路的檢測方法，其中所述待測試電路程序是依據(jù)所述第二消息產(chǎn)生所述第一消息。
9.如權(quán)利要求6所述的硬件描述語言電路的檢測方法，其中所述接口程序是調(diào)用所述電路模擬軟件的一函數(shù)以傳遞所述第一消息至所述處理器。
10.如權(quán)利要求6所述的硬件描述語言電路的檢測方法，其中所述第二消息是由所述處理器執(zhí)行一檢測程序而產(chǎn)生。
全文摘要
一種硬件描述語言電路的檢測系統(tǒng)是檢測一硬件描述語言所描述的一待測試電路程序，此系統(tǒng)包含一電路模擬軟件、一接口程序以及一處理器。其中電路模擬軟件執(zhí)行待測試電路程序以模擬一待測試電路，其中待測試電路程序產(chǎn)生一第一消息，處理器執(zhí)行電路模擬軟件，并產(chǎn)生一第二消息，接口程序由硬件描述語言所描述，并執(zhí)行于電路模擬軟件，其中接口程序傳送待測試電路程序所產(chǎn)生的所述算一消息至處理器或傳送處理器所產(chǎn)生的所述第二消息至待測試電路程序。
文檔編號G06F17/50GK1766893SQ200510126028
公開日2006年5月3日 申請日期2005年11月24日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月24日
發(fā)明者劉云天 申請人:威盛電子股份有限公司