專利名稱:計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種用于測(cè)試計(jì)算機(jī)硬盤的裝置,屬于計(jì)算機(jī)測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
現(xiàn)在計(jì)算機(jī)主板的集成度越來越高,很可能在一個(gè)主板上同時(shí)配置有小型計(jì)算機(jī)接口(SCSI,Small Computer System Interface)控制器、集成設(shè)備電子部件(IDE,Integrated Device Electronics)控制器和串行ATA(SATA,Serial ATAttachment)控制器,這樣,用戶使用計(jì)算機(jī)時(shí),就可以分別選用各種不同的配置。為了讓用戶享有更多的選擇余地,計(jì)算機(jī)制造商必須針對(duì)各種主板上所有的不同控制器進(jìn)行全面、細(xì)致的測(cè)試工作。由于不同種類的控制器使用不同種類接口的硬盤存儲(chǔ)器,這樣計(jì)算機(jī)測(cè)試人員往往需要來回更換硬盤,以適應(yīng)不同類別的控制器。這樣勢(shì)必會(huì)將寶貴的測(cè)試時(shí)間浪費(fèi)在反復(fù)不斷地拆裝各種不同的硬盤的過程中;并且,由于需要經(jīng)常不斷地拆裝硬盤,增加了人體靜電損傷硬盤的機(jī)率。
目前,在計(jì)算機(jī)行業(yè)中,各種通用的硬盤(無論是SCSI硬盤、IDE硬盤或SATA硬盤)的外形尺寸(即長×寬×高)都是一致的。很多計(jì)算機(jī)廠家也利用這一特點(diǎn),研制出一些方便用戶使用和插拔的硬盤托架。例如中國實(shí)用新型專利《硬盤托架快拆式固定裝置》(專利號(hào)01203384.7)和《可拆卸硬盤托架的電腦主機(jī)箱》(專利號(hào)99221707.5)。但是這些托架只能適用于某一種硬盤,不能同時(shí)適用各種不同的硬盤。尤其是對(duì)于計(jì)算機(jī)專業(yè)測(cè)試人員來說,更不能如同用戶一樣享用上述托架的便利,仍然必須依照不同硬盤托架的規(guī)格拆裝硬盤進(jìn)行測(cè)試,嚴(yán)重影響工作效率。同時(shí),在頻繁的拆裝過程中難免會(huì)在接觸硬盤的過程中,造成對(duì)硬盤的靜電傷害。因此,如何尋求一種結(jié)構(gòu)簡單、方便實(shí)用的硬盤測(cè)試裝置已經(jīng)成為專業(yè)測(cè)試人員的迫切需求。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,該裝置結(jié)構(gòu)簡單、方便實(shí)用,可以靈活地將測(cè)試中需要使用的硬盤預(yù)先夾緊卡固在本實(shí)用新型的硬盤托架盒中,而不是用螺栓安裝在通常測(cè)試所用的機(jī)箱內(nèi),再利用相應(yīng)的數(shù)據(jù)線和電源線分別連接至電腦主板的控制器和主板電源上,進(jìn)行相關(guān)的硬盤測(cè)試操作,可以簡化硬盤拆裝過程,提高測(cè)試工作效率,還能避免發(fā)生各種人為因素?fù)p壞硬盤的故障。
本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的一種計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,包括用于夾固置放待測(cè)試硬盤的硬盤托架;其特征在于還包括有用于將多個(gè)硬盤托架層層相疊、并可沿各層導(dǎo)軌推移滑動(dòng)的硬盤托架盒。
所述的硬盤托架和硬盤托架盒都是用防靜電材料制成。
所述的硬盤托架是一個(gè)由前后兩個(gè)側(cè)板與左右兩個(gè)擋板和底板組成的矩形框架體;該矩形框架體的內(nèi)側(cè)長×寬的容積與硬盤的外形長×寬的尺寸相同或比后者略大些;所述的硬盤托架的底板中央設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的散熱通孔,所述的前后兩個(gè)側(cè)板的高度可略高于或略低于硬盤的高度,所述的左右兩個(gè)擋板的高度為0.8~3mm。
所述的硬盤托架的兩個(gè)側(cè)板和擋板的內(nèi)側(cè)壁上都粘貼有用于緩沖定位的柔性塑料薄片,以實(shí)現(xiàn)從四周擠壓定位硬盤,防止其滑動(dòng)。
所述的硬盤托架的兩個(gè)側(cè)板上設(shè)有與硬盤側(cè)壁上的安裝螺孔位置相對(duì)應(yīng)的圓孔,以供穿入螺栓將硬盤固定在托架上。
所述的硬盤托架的前后兩個(gè)側(cè)板的外側(cè)中間或其它部位設(shè)有一個(gè)定位凹孔。
所述的硬盤托架底板的底部兩側(cè)分別設(shè)有與硬盤托架盒中的導(dǎo)軌相配合滑動(dòng)的導(dǎo)軌。
所述的硬盤托架盒是一個(gè)由四個(gè)立柱與外側(cè)多層擋板組成的矩形框體構(gòu)件,該矩形框體構(gòu)件上下之間設(shè)有多組等距設(shè)置的硬盤托架導(dǎo)軌,供硬盤托架藉其底板底部的導(dǎo)軌滑動(dòng)推入其中;該硬盤托架盒在每個(gè)承載硬盤托架導(dǎo)軌的上下方分別設(shè)有一定高度的敞開空間,以便通風(fēng)散熱。
所述的硬盤托架盒的每層導(dǎo)軌上方設(shè)有前后兩側(cè)擋板,在該兩個(gè)擋板的內(nèi)側(cè)中間或其它部位分別設(shè)有一定位鋼珠,其安裝部位應(yīng)與硬盤托架兩側(cè)板上的定位凹孔位置相對(duì)應(yīng)。
本實(shí)用新型是一種將硬盤放置在主機(jī)機(jī)箱外部進(jìn)行測(cè)試的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,它的設(shè)計(jì)思路是將各種不同接口類型的硬盤(包括SCSI、IDE、SATA或其它接口的硬盤)卡夾固裝在硬盤托架中,然后將各個(gè)硬盤托架沿導(dǎo)軌推入硬盤托架盒中,可以對(duì)多個(gè)硬盤同時(shí)進(jìn)行整體測(cè)試。由于硬盤托架左右兩側(cè)沒有封閉,可以直接將數(shù)據(jù)線和電源線連接至硬盤。測(cè)試時(shí),硬盤的數(shù)據(jù)線可從硬盤托架盒敞開的空間中引出而直接與主板相連接,同時(shí),硬盤的電源也是直接使用主機(jī)電源。這樣,不僅可以避免因?yàn)楦鞣N不同主機(jī)的機(jī)箱結(jié)構(gòu)不同,需要經(jīng)常拆裝硬盤所造成的不便和損傷硬盤的現(xiàn)象。而且,測(cè)試情況也如同主板的正式工作場(chǎng)合,仿真效果好。
該裝置結(jié)構(gòu)非常簡單和實(shí)用,加工制造容易,成本低廉,使用該裝置可以同時(shí)測(cè)試多種不同接口型號(hào)和規(guī)格的硬盤,測(cè)試便利、簡易,工作效率高,具有很好的應(yīng)用前景。
圖1是本實(shí)用新型的硬盤托架盒的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本實(shí)用新型的硬盤托架的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是本實(shí)用新型的在硬盤托架和硬盤托架盒內(nèi)安裝的凹孔和鋼珠定位結(jié)構(gòu)的示意圖。
具體實(shí)施方式
參見圖1和圖2,本實(shí)用新型是一種計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,由兩部分組成用于夾固置放待測(cè)試硬盤的硬盤托架2和將多個(gè)硬盤托架2層層相疊、并可沿各層導(dǎo)軌推移滑動(dòng)的硬盤托架盒1。硬盤托架盒1和硬盤托架2都是用防靜電材料制成,以免在測(cè)試過程中損傷硬盤。
本實(shí)用新型的硬盤托架2是一個(gè)由前后兩個(gè)側(cè)板21與左右兩個(gè)擋板22和底板23組成的矩形框架體;該矩形框架體的內(nèi)側(cè)長×寬的容積應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)硬盤的外形長×寬的尺寸相同或比后者略大些。該硬盤托架2的底板23中央設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的散熱通孔,前后兩個(gè)側(cè)板21的高度可略高于或略低于硬盤的高度,左右兩個(gè)擋板22的高度為0.8~3mm,兩個(gè)側(cè)板21和擋板22的內(nèi)側(cè)壁上都粘貼有柔性塑料薄片,在其中放置硬盤后,可以從四周擠壓和緩沖定位硬盤,防止其滑動(dòng);也可以在硬盤托架2的兩個(gè)側(cè)板21上與硬盤側(cè)壁上的安裝螺孔位置相對(duì)應(yīng)的地方設(shè)置圓孔,以供穿入螺栓將硬盤固定在托架2上。硬盤托架2的底板23的底部兩側(cè)分別設(shè)有與硬盤托架盒1中的導(dǎo)軌相配合滑動(dòng)的導(dǎo)軌(圖2中未示)。
本實(shí)用新型的硬盤托架盒1是一個(gè)由四個(gè)立柱與外側(cè)多層擋板11組成的矩形框體構(gòu)件,該矩形框體構(gòu)件上下之間設(shè)有多組等距設(shè)置的硬盤托架導(dǎo)軌,供硬盤托架2藉其底板23底部的導(dǎo)軌滑動(dòng)推入其中;該硬盤托架盒1在每個(gè)承載硬盤托架2導(dǎo)軌的上下方分別設(shè)有一定高度的敞開空間,以便通風(fēng)散熱。必要時(shí),可以在硬盤托架盒1的外側(cè)設(shè)置風(fēng)扇,起到導(dǎo)流散熱作用。硬盤托架盒1的每層導(dǎo)軌上方設(shè)有前后兩側(cè)擋板11,在該兩個(gè)擋板11的內(nèi)側(cè)中間或其它部位分別設(shè)有一定位鋼珠3,其安裝部位應(yīng)與硬盤托架2的前后兩個(gè)側(cè)板21的外側(cè)中間或其它部位上的定位凹孔位置相對(duì)應(yīng)(參見圖3)。
權(quán)利要求1.一種計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,包括用于夾固置放待測(cè)試硬盤的硬盤托架;其特征在于還包括有用于將多個(gè)硬盤托架層層相疊、并可沿各層導(dǎo)軌推移滑動(dòng)的硬盤托架盒。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架和硬盤托架盒都是用防靜電材料制成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架是一個(gè)由前后兩個(gè)側(cè)板與左右兩個(gè)擋板和底板組成的矩形框架體;該矩形框架體的內(nèi)側(cè)長×寬的容積與硬盤的外形長×寬的尺寸相同或比后者略大些;所述的硬盤托架的底板中央設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的散熱通孔,所述的前后兩個(gè)側(cè)板的高度可略高于或略低于硬盤的高度,所述的左右兩個(gè)擋板的高度為0.8~3mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架的兩個(gè)側(cè)板和擋板的內(nèi)側(cè)壁上都粘貼有用于緩沖定位的柔性塑料薄片,以實(shí)現(xiàn)從四周擠壓定位硬盤。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架的兩個(gè)側(cè)板上設(shè)有與硬盤側(cè)壁上的安裝螺孔位置相對(duì)應(yīng)的圓孔,以供穿入螺栓將硬盤固定在托架上。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架的前后兩個(gè)側(cè)板的外側(cè)中間或其它部位設(shè)有一個(gè)定位凹孔。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架底板的底部兩側(cè)分別設(shè)有與硬盤托架盒中的導(dǎo)軌相配合滑動(dòng)的導(dǎo)軌。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架盒是一個(gè)由四個(gè)立柱與外側(cè)多層擋板組成的矩形框體構(gòu)件,該矩形框體構(gòu)件上下之間設(shè)有多組等距設(shè)置的硬盤托架導(dǎo)軌,供硬盤托架藉其底板底部的導(dǎo)軌滑動(dòng)推入其中;該硬盤托架盒在每個(gè)承載硬盤托架導(dǎo)軌的上下方分別設(shè)有一定高度的敞開空間,以便通風(fēng)散熱。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或8所述的計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,其特征在于所述的硬盤托架盒的每層導(dǎo)軌上方設(shè)有前后兩側(cè)擋板,在該兩個(gè)擋板的內(nèi)側(cè)中間或其它部位分別設(shè)有一定位鋼珠,其安裝部位應(yīng)與硬盤托架兩側(cè)板上的定位凹孔位置相對(duì)應(yīng)。
專利摘要一種計(jì)算機(jī)硬盤測(cè)試裝置,包括兩部分夾固置放待測(cè)試硬盤的硬盤托架和將多個(gè)硬盤托架層層相疊、并可沿各層導(dǎo)軌推移滑動(dòng)的硬盤托架盒。其中硬盤托架是一個(gè)由兩個(gè)側(cè)板與兩個(gè)擋板和底板組成的矩形框架體;該矩形框架體的內(nèi)側(cè)長×寬的容積與硬盤的外形長×寬的尺寸相同或比后者略大些。硬盤托架盒是一個(gè)由四個(gè)立柱與外側(cè)多層擋板組成的矩形框體構(gòu)件,該矩形框體構(gòu)件上下之間設(shè)有多組等距設(shè)置的硬盤托架導(dǎo)軌,供硬盤托架藉其導(dǎo)軌滑動(dòng)推入其中。該裝置結(jié)構(gòu)簡單實(shí)用,可靈活地將需要測(cè)試的不同接口的硬盤預(yù)先夾緊在硬盤托架中,再用數(shù)據(jù)線和電源線分別連接至電腦主板上,進(jìn)行硬盤測(cè)試操作,簡化硬盤拆裝過程,提高測(cè)試效率,還能避免人為損壞硬盤。
文檔編號(hào)G06F1/00GK2658806SQ03260820
公開日2004年11月24日 申請(qǐng)日期2003年8月8日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月8日
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