專利名稱：通訊接口卡槽上等待線端測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種通訊接口(PCMCIA)卡槽上等待線(Wait line)端測試方法，尤其涉及一種利用外接硬件進(jìn)行等待線端電壓測試的方法。
通常PCMCIA卡槽是筆記型計算機(jī)或類似裝置上的一標(biāo)準(zhǔn)擴(kuò)展槽，大部分用于增強(qiáng)筆記型計算機(jī)功能的擴(kuò)展設(shè)備通常都需要通過該卡槽與計算機(jī)內(nèi)的硬件連接；一般而言，可用于PCMCIA卡槽中的擴(kuò)展設(shè)備通常構(gòu)造成如信用卡般大小但具有較大厚度的卡匣結(jié)構(gòu)，此類擴(kuò)展設(shè)備包括有網(wǎng)絡(luò)卡、FAX/MODEM卡、MPEG卡等。
在PCMCIA卡槽與擴(kuò)展設(shè)備的連接上，需要解決的問題是卡槽本身(即計算機(jī)內(nèi)部)的總線訪問速率(Bus Access Rate)與外接擴(kuò)展設(shè)備的外設(shè)速度的一致性問題，如果由于任何因素或問題導(dǎo)致二者間的速度不同，則錯誤的數(shù)據(jù)接收或發(fā)送將無可避免；因此為解決前述的問題，在公知的PCMCIA卡槽中均會包括一特殊的等待線(Wait line/Waitpin)，該等待線在擴(kuò)展裝置的外設(shè)速度低於總線訪問速度時，會延長總線的訪問周期(Bus Access Cycle)，以使總線訪問速度與外接擴(kuò)展設(shè)備的外設(shè)速度相一致，使得卡槽本身與擴(kuò)展設(shè)備間能成功地進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸；相反地，在擴(kuò)展裝置的外設(shè)速度高于總線訪問速度時，該等待線則會減少總線的訪問周期，以使總線訪問速度與外接擴(kuò)展設(shè)備的外設(shè)速度一致。
通常，測試PCMCIA卡槽中等待線端狀態(tài)的方法有二個，其一是利用精確的硬件時間測試電路，測量等待線電壓高低前后的周期時間(Cycle time)，借以判斷等待線的通斷路狀態(tài)；該硬件測量方法精確度高，可達(dá)納秒級的水準(zhǔn)，只是其測試電路使用起來成本昂貴，實施的難度也較大。
另一種測試方法則是利用一開關(guān)電路(Switch circuit)，鎖存并讀取等待線的電壓高低，借以判斷等待線的通斷路狀態(tài)；與前述的硬件時間測試電路相比，該方法實施的難度較低，因而在制造成本上可有效控制，只是其缺點在于其等待線狀態(tài)的讀取需通過軟件的訪問方可進(jìn)行，且在等待線的電壓拉低後，無法自行提高，常導(dǎo)致讀取周期死鎖，因此在其實施中需配合一解鎖電路(Unlock circuit)，方可有效工作，因此，此一方法雖可在實施成本與難度上占優(yōu)勢，然而其硬件的使用卻較為復(fù)雜且相對地可靠性也較低。
本發(fā)明的主要目的在于提供一種簡單且有效的PCMCIA通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其利用例如可編程邏輯控制器所形成的簡單電路，測量卡槽上等待線的通斷路狀態(tài)，借以降低電路實施的復(fù)雜性并提高其可靠度，大幅降低實施的成本。
本發(fā)明用以進(jìn)行通訊接口卡槽上等待線端測試方法的裝置包括一個具有一等待線端的通訊接口卡槽、一個電壓檢測器、及一電阻器；其中，電壓檢測器與通訊接口卡槽間的連接又至少包括一作為數(shù)據(jù)傳輸用的數(shù)據(jù)連接線及一用以平行導(dǎo)出通訊接口卡槽等待線端電壓值的等待連接線；而電阻器用于將連接卡槽與電壓檢測器間的等待連接線分支出一個接地電路，用于提供一測試時供比較用的低電壓。
本發(fā)明的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其步驟包括(1)將電壓檢測器與通訊接口卡槽的控制接口形成一種合適的電連接；(2)將通訊接口卡槽初始化并施加一預(yù)定高電壓；(3)將通訊接口卡槽的控制地址與電壓檢測器的一地址相對應(yīng)；(4)由電壓檢測器上讀取通訊接口卡槽上的等待線端的電壓；(5)判斷等待線端的電壓是否處于與預(yù)定高電壓值相當(dāng)?shù)母唠娢?HIGH level)上；若是，則顯示等待線正常；若不是，則顯示等待線不正常；(6)完成通訊接口卡槽上等待線端的測試。
在本發(fā)明中，其電壓檢測器可為一芯片、一可編程邏輯控制器、或是其它合適的電壓檢測裝置。
在本發(fā)明的一個實施例中，其通訊接口卡槽與電壓檢測器間的電連接又包括一接地電阻電路，此電阻電路又可包括一電阻器，其電阻值較佳介于10～50kΩ間，最佳則為33kΩ。
本發(fā)明中，用以進(jìn)行測試的預(yù)定高電壓較佳介于3～30V間，最佳則為5V。
現(xiàn)結(jié)合實施例并參照附圖
對本發(fā)明的這些目的以及其他特征進(jìn)行說明，以對本發(fā)明有更進(jìn)一步的了解。
圖一是本發(fā)明通訊接口卡槽上等待線端測試方法一實施例的硬件配置圖；圖二是圖一所示實施例的電路圖；及圖三為本發(fā)明通訊接口卡槽上等待線端測試方法的流程圖。符號說明10電壓檢測器11數(shù)據(jù)連接線12等待連接線13分支線20PCMCIA卡槽控制接口30電阻器首先請參閱圖一與圖二，它們示出了本發(fā)明通訊接口(PCMCIA)卡槽上等待線(Wait line)端測試方法的一實施例的硬件配置及其電路連接圖，其中，圖二中的PCMCIA卡槽僅顯示具有等待線端一側(cè)的接口線路；本發(fā)明測試方法是通過一外接的電壓檢測器10連接于PCMCIA卡槽控制接口20上，其間的連接線應(yīng)至少包括一數(shù)據(jù)連接線11及一等待連接線12，其中的數(shù)據(jù)連接線11在測試進(jìn)行中作為PCMCIA卡槽控制接口20與電壓檢測器10間的數(shù)據(jù)傳輸線用，而等待連接線12則由電壓檢測器10連接至PCMCIA卡槽控制接口20上的等待線端，用以平行導(dǎo)出等待線端的電壓值；如圖所示，等待連接線12中又可通過一分支線13通過一電阻器30接地，從而提供一供比較用的低電壓。
本發(fā)明中，電壓檢測器10可以是現(xiàn)有合適的電壓檢測裝置，如Gal芯片、可編程邏輯控制器、或是其他類似裝置。
本發(fā)明中，其電阻器30的電阻較佳在10～50kΩ間，最佳為33kΩ。
圖三所示為本發(fā)明PCMCIA卡槽上等待線端測試方法的流程圖，以下按其實施步驟逐項描述步驟100測試開始，并完成電壓檢測器與PCMCIA卡槽控制接口的連線工作。
步驟101將PCMCIA卡槽初始化(Initialization)，并設(shè)定其加電輸出電壓為一預(yù)定高電壓，此預(yù)定高電壓的范圍較佳是在3～30V間，可為3V、5V、7V、或是任何合適的電壓值，在本發(fā)明的較佳實施例中，其加電輸出電壓為5V。
步驟102將PCMCIA卡槽的控制設(shè)定在輸出輸入(I/O)操作模式，并將其映射地址設(shè)定在外接的等待線電壓檢測器所對應(yīng)的地址上。
步驟103在電壓檢測器的等待線地址上讀取PCMCIA卡槽等待線端的電壓。
步驟104由電壓檢測器所讀取的電壓值判斷等待線端的電壓是否處于高電位(HIGH level)上；若是，則顯示等待線正常的信息(例如，WAIT LINE OK)(步驟105)；若不是，則顯示等待線不正常的信息(例如，WAIT LINE ERROR)(步驟106)。
步驟107關(guān)閉PCMCIA卡槽控制的輸出電源電壓。
步驟108測試結(jié)束。
在上述步驟100中，通訊接口卡槽與電壓檢測器間的電連接包括一接地的電阻電路，此一電阻電路可包括一電阻器，同前所述，此電阻器用以提供一供比較用的低電壓，其電阻值較佳在10～50kΩ間，最佳為33kΩ。
經(jīng)過對上述步驟的介紹，明顯地可發(fā)現(xiàn)本發(fā)明的測試方法至少包括下述三優(yōu)點1.無須專門設(shè)計的測試硬件，僅以現(xiàn)有合適的電壓檢測器(可采用現(xiàn)有的可編程邏輯控制器)即可進(jìn)行其試驗工作，因此與已知測試方法相比其成本較低。
2.無須增加另外的設(shè)備及電路，因此整體測試設(shè)備的硬件可靠度高，相對應(yīng)配合的軟件也可較為簡潔。
3.操作較為簡單，且因其利用了現(xiàn)成的電壓檢測器，故其測試的判斷與控制也較為直接與簡單。
通過本發(fā)明所提供的PCMCIA通訊接口卡槽上等待線端測試方法，可利用如可編程邏輯控制器等簡單設(shè)備與卡槽間形成電路連接，通過測量卡槽上等待線的通斷路或電壓高低狀態(tài)，因此可降低電路實施的復(fù)雜性并提高其測試的可靠度，大幅降低實施的成本。
以上所述是利用一較佳實施例詳細(xì)說明本發(fā)明，而并非用于限制本發(fā)明的范圍，而且本領(lǐng)域的技術(shù)人員可理解，通過對本發(fā)明進(jìn)行一些改變及調(diào)整，仍然沒有脫離本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其步驟包括(1)將一電壓檢測器與一通訊接口卡槽控制接口形成電連接；(2)將該通訊接口卡槽初始化并施加一預(yù)定高電壓；(3)將該通訊接口卡槽的控制地址與該電壓檢測器的一地址相對應(yīng)；(4)由該電壓檢測器讀取該通訊接口卡槽上的該等待線端的電壓；(5)判斷該等待線端的電壓是否處于對應(yīng)該預(yù)定高電壓值的高電位(HIGH level)上；若是，則顯示該等待線正常；若不是，則顯示該等待線不正常；及(6)完成該通訊接口卡槽上該等待線端的測試。
2.如權(quán)利要求1所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于所述的該電壓檢測器是一芯片。
3.如權(quán)利要求1所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于所述電壓檢測器是一可編程邏輯控制器。
4.如權(quán)利要求1所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于步驟(1)所述的該電連接在該通訊接口卡槽與該電壓檢測器間又包括一接地的電阻電路。
5.如權(quán)利要求4所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于所述電阻電路包括一電阻器。
6.如權(quán)利要求5所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于所述電阻器的電阻值介于10～50kΩ間。
7.如權(quán)利要求5所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于所述電阻器電阻值為33kΩ。
8.如權(quán)利要求1所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于所述預(yù)定高電壓介于3～30V間。
9.如權(quán)利要求1所述的通訊接口卡槽上等待線端測試方法，其特征在于所述預(yù)定高電壓為5V。
10.一種通訊接口卡槽上等待線端的測試組合，包括一通訊接口卡槽，其包括一等待線端；一電壓檢測器，其與該通訊接口卡槽間又至少包括一作為數(shù)據(jù)傳輸用的數(shù)據(jù)連接線及一用以平行導(dǎo)出該等待線端電壓值的等待連接線；及一電阻器，用于將該等待連接線分支出一接地電路，借以提供一供比較用的低電壓。
11.如權(quán)利要求10所述的通訊接口卡槽上等待線端測試組合，其特征在于所述電壓檢測器為一芯片。
12.如權(quán)利要求10所述的通訊接口卡槽上等待線端測試組合，其特征在于所述電壓檢測器為一可編程邏輯控制器。
13.如權(quán)利要求10所述的通訊接口卡槽上等待線端測試組合，其特征在于所述電阻器的電阻值介于10～50kΩ間。
14.如權(quán)利要求10所述的通訊接口卡槽上等待線端測試組合，其特征在于所述電阻器的電阻值為33kΩ。
全文摘要
一種通訊接口卡槽上等待線端測試方法,其步驟包括:在一電壓檢測器與通訊接口卡槽的控制接口形成一種合適的電連接,再將通訊接口卡槽初始化并施加一預(yù)定高電壓,并將通訊接口卡槽的控制地址與電壓檢測器的一地址相對應(yīng),之后,由電壓檢測器上讀取通訊接口卡槽上的等待線端的電壓,若是該電壓值處于一高電位,則顯示等待線正常,若不是,則顯示等待線不正常。
文檔編號G06F11/00GK1369789SQ0110346
公開日2002年9月18日 申請日期2001年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2001年2月13日
發(fā)明者高平, 陳玄同, 林光信 申請人:英業(yè)達(dá)股份有限公司