專利名稱：慣導設備與轉臺同步測試裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及測試裝置，尤其是一種用于故障診斷的慣導設備與轉臺同步測試裝置。
背景技術：
現(xiàn)有的慣導設備動態(tài)測試一般基于GJB3547提供的方法進行。現(xiàn)有的慣導設備與轉臺測試裝置包括三軸轉臺和待測慣導裝置，該三軸轉臺和待測慣導裝置都是由伺服驅動裝置驅動。該方法測試時存在以下不足一是測試過程中沒有真值可以對比；二是數(shù)據(jù)實際在三軸轉臺停止時取得，難以完全表征被測慣導設備動態(tài)特性；三是測試數(shù)據(jù)少且難于 儲存，不便于后期分析處理。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術存在的上述不足，本發(fā)明提供一種實現(xiàn)待測慣導裝置同步測試，將被測慣導設備數(shù)據(jù)至計算機，由計算機處理、儲存兩者數(shù)據(jù)的慣導設備與轉臺同步測試裝置。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術方案如下
慣導設備與轉臺同步測試裝置，其特征在于，包括同步測試裝置，該同步測試裝置設置有用于發(fā)出同步時統(tǒng)信號的觸發(fā)端口，該同步測試裝置的觸發(fā)端口分別與三軸轉臺、待測慣導裝置的同步觸發(fā)接口連接，該三軸轉臺、待測慣導裝置通過通訊總線與所述同步測試裝置的數(shù)據(jù)接收端口連接，該同步測試裝置還連接有用于數(shù)據(jù)處理的計算機。所述同步測試裝置包括ARM單片機，該ARM單片機的通用輸出端口 GPIO通過第一接口芯片與三軸轉臺同步觸發(fā)端口連接，該ARM單片機的通用輸出端口 GPIO還通過第三接口芯片與所述待測慣導裝置的同步觸發(fā)端口連接，三軸轉臺的數(shù)據(jù)輸出接口通過第二接口芯片與所述ARM單片機的通用異步接口 UART2連接，所述待測慣導裝置的數(shù)據(jù)輸出接口通過第四接口芯片與所述ARM單片機的CAN總線端口連接。所述ARM單片機的通用輸出端口 GPIO與所述第一接口芯片和第三接口芯片之間分別設置有第一隔離器和第三隔離器；
在所述ARM單片機的通用異步接口 UART2與所述第二接口芯片之間設置有第二隔離器，在所述ARM單片機的CAN總線端口與所述第四接口芯片之間設置有第四隔離器。三軸轉臺的數(shù)據(jù)輸出接口為RS232串行總線接口，所述第二接口芯片采用型號為MAX3232電平轉換芯片，所述第四接口芯片采用型號為TJA1050驅動芯片。本發(fā)明的積極效果是
ARM單片機同步觸發(fā)三軸轉臺和待測慣導裝置，使得三軸轉臺和待測慣導裝置運轉同步，同時三軸轉臺輸出表征其姿態(tài)的信號，并將該數(shù)值通過RS232串行通信總線傳輸?shù)酵綔y試裝置，同步測試裝置還通過CAN總線實時接收待測慣導裝置的輸出信號，同步測試裝置將接收到的兩路信號打包成數(shù)據(jù)幀，通過RS232串口發(fā)送到計算機中，計算機對接收到的兩路數(shù)據(jù)進行實時對比，并進行保存和分析處理。本發(fā)明的慣導設備與轉臺同步測試裝置，實現(xiàn)了待測慣導裝置能夠與三軸轉臺同步測試，測試過程中能夠進行真值對比。能夠表征被測慣導設備高速下動態(tài)特性；測試數(shù)據(jù)實時傳輸?shù)接嬎銠C中進行分析處理并保存，便于后期數(shù)據(jù)的分析處理。


圖I為本發(fā)明的原理框 圖2為三軸轉臺通訊連接示意 圖3為待測慣導設備通訊連接示意圖。
具體實施例方式下面結合具體實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明。 如圖I所示，慣導設備與轉臺同步測試裝置，包括同步測試裝置，該同步測試裝置設置有用于發(fā)出同步時統(tǒng)信號的觸發(fā)端口，該同步測試裝置的觸發(fā)端口分別與三軸轉臺、待測慣導裝置的同步觸發(fā)接口連接，該三軸轉臺、待測慣導裝置通過通訊總線與所述同步測試裝置的數(shù)據(jù)接收端口連接，該同步測試裝置還連接有用于數(shù)據(jù)處理的計算機。同步測試裝置同步觸發(fā)三軸轉臺和待測慣導裝置，使得三軸轉臺和待測慣導裝置運轉同步，同時三軸轉臺輸出表征其姿態(tài)的信號，并將該數(shù)值通過RS232串行通信總線傳輸?shù)酵綔y試裝置，同步測試裝置還通過CAN總線實時接收待測慣導裝置的輸出信號，同步測試裝置將接收到的兩路信號打包成數(shù)據(jù)幀，通過RS232串口發(fā)送到計算機中，計算機對接收到的兩路數(shù)據(jù)進行實時對比，并進行保存和分析處理。本發(fā)明的慣導設備與轉臺同步測試裝置，實現(xiàn)了待測慣導裝置能夠與三軸轉臺同步測試，測試過程中能夠進行真值對t匕。能夠表征被測慣導設備高速下動態(tài)特性；測試數(shù)據(jù)實時傳輸?shù)接嬎銠C中進行分析處理并保存，便于后期數(shù)據(jù)的分析處理。如圖2和圖3所示，同步測試裝置包括ARM單片機，該ARM單片機的通用輸出端口GPIO通過第一接口芯片與三軸轉臺同步觸發(fā)端口連接，該ARM單片機的通用輸出端口 GPIO還通過第三接口芯片與所述待測慣導裝置的同步觸發(fā)端口連接，三軸轉臺的數(shù)據(jù)輸出接口通過第二接口芯片與所述ARM單片機的通用異步接口 UART2連接，所述待測慣導裝置的數(shù)據(jù)輸出接口通過第四接口芯片與所述ARM單片機的CAN總線端口連接。為了提高抗干擾能力，各個通訊口設置隔離器分別進行隔離。所述ARM單片機的通用輸出端口 GPIO與所述第一接口芯片和第三接口芯片之間分別設置有第一隔離器和第三隔離器；
在所述ARM單片機的通用異步接口 UART2與所述第二接口芯片之間設置有第二隔離器，在所述ARM單片機的CAN總線端口與所述第四接口芯片之間設置有第四隔離器。各隔離器包括電源模塊和隔離芯片，電源模塊采用B0505-1W，隔離芯片為ADuM1201。三軸轉臺的數(shù)據(jù)輸出接口為RS232串行總線接口，可以適應不同同步時鐘及數(shù)據(jù)接口的三軸轉臺及待測設備接口。所述第二接口芯片采用型號為MAX3232電平轉換芯片，所述第四接口芯片采用型號為TJA1050驅動芯片。
本發(fā)明的上述實施例僅僅是為說明本發(fā)明所作的舉例，而并非是對本發(fā)明的實施方式的限定。對于所屬領域的普通技術人員來說，在上述說明的基礎上還可以做出其他不同形式的變化和變動。這里無法對所有的實施方式予以窮舉。凡是屬于本發(fā)明的技術方案 所引申出的顯而易見的變化或變動仍處于本發(fā)明的保護范圍之列。
權利要求
1.慣導設備與轉臺同步測試裝置，其特征在于，包括同步測試裝置，該同步測試裝置設置有用于發(fā)出同步時統(tǒng)信號的觸發(fā)端ロ，該同步測試裝置的觸發(fā)端ロ分別與三軸轉臺、待測慣導裝置的同步觸發(fā)接ロ連接，該三軸轉臺、待測慣導裝置通過通訊總線與所述同步測試裝置的數(shù)據(jù)接收端ロ連接，該同步測試裝置還連接有用于數(shù)據(jù)處理的計算機。
2.根據(jù)權利要求I所述的慣導設備與轉臺同步測試裝置，其特征在于，所述同步測試裝置包括ARM單片機，該ARM單片機的通用輸出端ロ GPIO通過第一接ロ芯片與三軸轉臺同步觸發(fā)端ロ連接，該ARM單片機的通用輸出端ロ GPIO還通過第三接ロ芯片與所述待測慣導裝置的同步觸發(fā)端ロ連接，三軸轉臺的數(shù)據(jù)輸出接ロ通過第二接ロ芯片與所述ARM單片機的通用異步接ロ UART2連接，所述待測慣導裝置的數(shù)據(jù)輸出接ロ通過第四接ロ芯片與所述ARM單片機的CAN總線端ロ連接，所述ARM單片機通過RS232串行數(shù)據(jù)總線與所述計算機連接。
3.根據(jù)權利要求2所述的慣導設備與轉臺同步測試裝置，其特征在于，所述ARM單片機的通用輸出端ロ GPIO與所述第一接ロ芯片和第三接ロ芯片之間分別設置有第一隔離器和第三隔離器；在所述ARM單片機的通用異步接ロ UART2與所述第二接ロ芯片之間設置有第二隔離器，在所述ARM單片機的CAN總線端ロ與所述第四接ロ芯片之間設置有第四隔離器。
4.根據(jù)權利要求2或3所述的慣導設備與轉臺同步測試裝置，其特征在于，三軸轉臺的數(shù)據(jù)輸出接ロ為RS232串行總線接ロ，所述第二接ロ芯片采用型號為MAX3232電平轉換芯片，所述第四接ロ芯片采用型號為TJA1050驅動芯片。
全文摘要
慣導設備與轉臺同步測試裝置，包括同步測試裝置，該同步測試裝置設置有用于發(fā)出同步時統(tǒng)信號的觸發(fā)端口，該同步測試裝置的觸發(fā)端口分別與三軸轉臺、待測慣導裝置的同步觸發(fā)接口連接，該三軸轉臺、待測慣導裝置通過通訊總線與同步測試裝置的數(shù)據(jù)接收端口連接，該同步測試裝置還連接有用于數(shù)據(jù)處理的計算機；本發(fā)明的慣導設備與轉臺同步測試裝置，實現(xiàn)了待測慣導裝置能夠與三軸轉臺同步測試，測試過程中能夠進行真值對比；能夠表征被測慣導設備高速下動態(tài)特性；測試數(shù)據(jù)實時傳輸?shù)接嬎銠C中進行分析處理并保存，便于后期數(shù)據(jù)的分析處理。
文檔編號G05B19/042GK102829803SQ20121036534
公開日2012年12月19日 申請日期2012年9月27日 優(yōu)先權日2012年9月27日
發(fā)明者邱小峰, 錢笠, 劉源, 錢穎 申請人:重慶華渝電氣儀表總廠