專利名稱：發(fā)電檢測(cè)電路、半導(dǎo)體裝置、電子裝置、時(shí)鐘、發(fā)電檢測(cè)方法和消耗電力控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及能以利用旋轉(zhuǎn)錘的運(yùn)動(dòng)及發(fā)條的運(yùn)動(dòng)發(fā)出的交流電驅(qū)動(dòng)的電子裝置的發(fā)電檢測(cè)電路和形成該發(fā)電檢測(cè)電路的半導(dǎo)體裝置、具有發(fā)電檢測(cè)電路的電子裝置、時(shí)鐘、發(fā)電檢測(cè)方法以及消耗電力控制方法。
在手表那樣的的小型而且適合于攜帶的電子裝置中，已研制出通過(guò)內(nèi)置發(fā)電裝置即使不使用電池也可得到用于驅(qū)動(dòng)的電力的電子裝置，這樣的電子裝置已達(dá)到實(shí)用化。圖15中示出內(nèi)置了發(fā)電裝置6的電子裝置的概略結(jié)構(gòu)作為其一例。該便攜型電子裝置備有電磁發(fā)電裝置作為發(fā)電裝置6。該電磁發(fā)電裝置備有在電子裝置內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)錘7、將旋轉(zhuǎn)錘7的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)傳遞給電磁發(fā)電機(jī)的齒輪機(jī)構(gòu)8和構(gòu)成電磁發(fā)電機(jī)的定子9、轉(zhuǎn)子10，如果轉(zhuǎn)子10旋轉(zhuǎn)，則在定子9的輸出用的線圈11中產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)，從而取出交流電力。再有，用整流二極管橋12對(duì)從發(fā)電裝置6輸出的交流電力進(jìn)行全波整流，對(duì)大容量電容器13和電子裝置的電路部14供給電力。在沒(méi)有用發(fā)電裝置6進(jìn)行發(fā)電時(shí)，用大容量電容器13中存儲(chǔ)的電力來(lái)驅(qū)動(dòng)電路部14。因此，該便攜型電子裝置即使沒(méi)有電池也能使電路部14繼續(xù)工作。
該電子裝置不具有檢測(cè)從發(fā)電裝置6供給的發(fā)電的狀態(tài)的裝置，不管發(fā)電裝置6的發(fā)電的狀態(tài)如何，電路部14的消耗電流都是一樣的。因此，由于即使在沒(méi)有發(fā)電的狀態(tài)下，電路部14也以與發(fā)電時(shí)相同的方式消耗電流，故存在下述問(wèn)題大容量電容器13在短時(shí)間內(nèi)就放完電、電路部14完全停止工作。
本發(fā)明的目的在于提供這樣一種發(fā)電檢測(cè)電路、半導(dǎo)體裝置、電子裝置、時(shí)鐘、發(fā)電檢測(cè)方法和消耗電力控制方法，其中能用簡(jiǎn)便的方法檢測(cè)出從電子裝置的發(fā)電裝置供給的發(fā)電電力的狀態(tài)(發(fā)電的有無(wú)、發(fā)電的強(qiáng)度)，此外，按照以檢測(cè)出的發(fā)電電力的狀態(tài)來(lái)控制電路部的消耗電力。
為了解決上述課題，在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，其特征在于具備按照在外部發(fā)電的交流電力的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置；按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件；插入到所述電容元件的放電路徑中的、將存儲(chǔ)于所述電容元件中的電荷放電的放電裝置；以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置。
此外，在本發(fā)明的第2方面中，其特征在于在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述放電裝置是電阻元件。
此外，在本發(fā)明的第3方面中，其特征在于在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述放電裝置由恒定電流電路構(gòu)成。
此外，在本發(fā)明的第4方面中，其特征在于在本發(fā)明的第3方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述恒定電流電路由恒定電流源和電流鏡(current mirror)電路構(gòu)成。
此外，在本發(fā)明的第5方面中，其特征在于在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，具備與所述電容元件串聯(lián)連接的、限制電容元件的充電電流的電流限制裝置。
此外，在本發(fā)明的第6方面中，其特征在于在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述電壓檢測(cè)裝置是倒相電路。
此外，在本發(fā)明的第7方面中，其特征在于在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述電壓檢測(cè)裝置是施密特觸發(fā)器(Schmidt trigger)的倒相電路。
此外，在本發(fā)明的第8方面中，其特征在于在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述電壓檢測(cè)裝置是比較電路。
此外，在本發(fā)明的第9方面中，其特征在于在本發(fā)明的第1方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述開(kāi)關(guān)裝置是晶體管。
此外，在本發(fā)明的第10方面中，其特征在于在本發(fā)明的第8方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述晶體管是MOS型晶體管。
此外，在本發(fā)明的第11方面中，其特征在于在本發(fā)明的第8方面所述的發(fā)電檢測(cè)電路中，所述晶體管是雙極型晶體管。
此外，為了解決上述課題，在本發(fā)明的第12方面所述的半導(dǎo)體裝置中，其特征在于具備按照在外部發(fā)電的交流電力的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置；按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件；插入到所述電容元件的放電路徑中的、將存儲(chǔ)于所述電容元件中的電荷放電的放電裝置；以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置。
此外，在本發(fā)明的第13方面中，其特征在于在本發(fā)明的第12方面所述的半導(dǎo)體裝置中，所述放電裝置由恒定電流電路構(gòu)成，該恒定電流電路由恒定電流源和電流鏡電路構(gòu)成。
此外，在本發(fā)明的第14方面中，其特征在于在本發(fā)明的第12方面所述的半導(dǎo)體裝置中，所述電流鏡電路是一對(duì)晶體管。
此外，在本發(fā)明的第15方面中，其特征在于在本發(fā)明的第12方面所述的半導(dǎo)體裝置中，所述開(kāi)關(guān)裝置是晶體管。
此外，在本發(fā)明的第16方面中，其特征在于在本發(fā)明的第12方面所述的半導(dǎo)體裝置中，所述晶體管是MOS型晶體管。
此外，在本發(fā)明的第17方面中，其特征在于在本發(fā)明的第12方面所述的半導(dǎo)體裝置中，所述晶體管是雙極型晶體管。
為了解決上述課題，本發(fā)明的第18方面所述的電子裝置中，其特征在于具備發(fā)出交流電力的發(fā)電裝置；以及發(fā)電檢測(cè)電路，該發(fā)電檢測(cè)電路由下述部分構(gòu)成按照利用所述發(fā)電裝置發(fā)電的交流電力的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置、按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件、插入到所述電容元件的放電路徑中的將存儲(chǔ)于所述電容元件中的電荷放電的放電裝置、以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置；此外，在本發(fā)明的第19方面中，其特征在于在本發(fā)明的第18方面所述的電子裝置中，所述發(fā)電裝置具有進(jìn)行旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)錘和利用所述旋轉(zhuǎn)錘的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的發(fā)電元件。
在本發(fā)明的第20方面中，其特征在于在本發(fā)明的第18方面所述的電子裝置中，所述發(fā)電裝置具有被施加變形力的彈性部件、利用欲返回所述彈性部件的原來(lái)的形狀的復(fù)原力進(jìn)行旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)裝置和利用所述旋轉(zhuǎn)裝置的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的發(fā)電元件。
在本發(fā)明的第21方面中，其特征在于在本發(fā)明的第18方面所述的電子裝置中，所述發(fā)電裝置具有如果加上位移就會(huì)由于壓電效應(yīng)發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的壓電元件。
為了解決上述課題，本發(fā)明的第22方面所述的電子裝置中，其特征在于具備發(fā)出交流電力的發(fā)電裝置；發(fā)電檢測(cè)電路，該發(fā)電檢測(cè)電路由下述部分構(gòu)成與利用所述發(fā)電裝置發(fā)出的交流電的周期同步地進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置、按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件、插入到所述電容元件的放電路徑中的將存儲(chǔ)于電容元件中的電荷放電的放電裝置、以及檢測(cè)所述電容元件的電壓是規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置；以及根據(jù)所述電壓檢測(cè)裝置的檢測(cè)電壓控制該裝置的消耗電力的控制電路。
在本發(fā)明的第23方面中，其特征在于在本發(fā)明的第22方面所述的電子裝置中，所述控制電路在用所述電壓檢測(cè)裝置測(cè)得的所述電容元件的電壓在規(guī)定值以下時(shí)判斷所述發(fā)電裝置沒(méi)有發(fā)電，從而降低該裝置的消耗電力。
在本發(fā)明的第24方面中，其特征在于在本發(fā)明的第23方面所述的電子裝置中，所述控制電路在用所述電壓檢測(cè)裝置測(cè)得的所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值時(shí)判斷所述發(fā)電裝置在發(fā)電中，從而解除所述消耗電力的降低。
在本發(fā)明的第25方面中，其特征在于在本發(fā)明的第22方面所述的電子裝置中，所述控制電路再加進(jìn)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的時(shí)間的長(zhǎng)短，來(lái)控制該裝置的消耗電力。
為了解決上述課題，本發(fā)明的第26方面所述的時(shí)鐘中，其特征在于具備發(fā)出交流電力的發(fā)電裝置；發(fā)電檢測(cè)電路，該發(fā)電檢測(cè)電路由下述部分構(gòu)成按照利用所述發(fā)電裝置發(fā)電的交流電力的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置、按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件、插入到所述電容元件的放電路徑中的將存儲(chǔ)于電容元件中的電荷放電的放電裝置、以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置；以及對(duì)時(shí)刻進(jìn)行計(jì)時(shí)的計(jì)時(shí)電路。
在本發(fā)明的第27方面中，其特征在于在本發(fā)明的第26方面所述的時(shí)鐘中，將所述發(fā)電裝置、所述發(fā)電檢測(cè)電路和所述計(jì)時(shí)電路放置于手表的框體內(nèi)。
在本發(fā)明的第28方面中，其特征在于在本發(fā)明的第26方面所述的時(shí)鐘中，將所述發(fā)電裝置、所述發(fā)電檢測(cè)電路和所述計(jì)時(shí)電路放置于懷表的框體內(nèi)。
在本發(fā)明的第29方面中，其特征在于在本發(fā)明的第26方面所述的電子裝置中，將所述發(fā)電裝置、所述發(fā)電檢測(cè)電路和所述計(jì)時(shí)電路放置于臺(tái)鐘的框體內(nèi)。
為了解決上述課題，本發(fā)明的第30方面所述的發(fā)電檢測(cè)方法中，其特征在于具有利用與在外部發(fā)出的交流電的周期對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)動(dòng)作對(duì)電容元件進(jìn)行充電的第1過(guò)程；在沒(méi)有對(duì)所述電容元件進(jìn)行充電時(shí)進(jìn)行所述電容元件的放電的第2過(guò)程；判斷所述電容元件的電壓是否是規(guī)定電壓的第3過(guò)程；以及判斷超過(guò)了規(guī)定電壓時(shí)為進(jìn)行著發(fā)電的第4過(guò)程。
為了解決上述課題，本發(fā)明的第31方面所述的消耗電力控制方法中，其特征在于具有利用與在外部發(fā)出的交流電的周期對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)動(dòng)作對(duì)電容元件進(jìn)行充電的第1過(guò)程；在沒(méi)有對(duì)所述電容元件進(jìn)行充電時(shí)進(jìn)行所述電容元件的放電的第2過(guò)程；判斷所述電容元件的電壓是否是規(guī)定電壓的第3過(guò)程；判斷沒(méi)有超過(guò)規(guī)定電壓時(shí)為沒(méi)有進(jìn)行發(fā)電的第4過(guò)程；以及在沒(méi)有進(jìn)行發(fā)電時(shí)降低電路部分的消耗電力的第5過(guò)程。
此外，在本發(fā)明的第32方面中，其特征在于，在本發(fā)明的第31方面所述的消耗電力控制方法中，具有判斷超過(guò)了規(guī)定電壓的時(shí)間的長(zhǎng)短是否持續(xù)了規(guī)定時(shí)間的第6過(guò)程；以及在持續(xù)了規(guī)定時(shí)間時(shí)解除電路部分的消耗電力的降低的第7過(guò)程。
圖1示出應(yīng)用了本發(fā)明的發(fā)電檢測(cè)電路的電子裝置的大致結(jié)構(gòu)的電路框圖。
圖2示出本發(fā)明的發(fā)電檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖3是說(shuō)明本發(fā)明的發(fā)電檢測(cè)電路的工作的時(shí)序圖。
圖4示出本發(fā)明的實(shí)施例2的發(fā)電檢測(cè)電路的大致結(jié)構(gòu)的電路框圖。
圖5示出本發(fā)明的實(shí)施例3的發(fā)電檢測(cè)電路的大致結(jié)構(gòu)的電路框圖。
圖6示出本發(fā)明的實(shí)施例4的發(fā)電檢測(cè)電路的大致結(jié)構(gòu)的電路框圖。
圖7示出本發(fā)明的實(shí)施例5的發(fā)電檢測(cè)電路的大致結(jié)構(gòu)的電路框圖。
圖8示出本發(fā)明的實(shí)施例6的發(fā)電檢測(cè)電路的大致結(jié)構(gòu)的電路框圖。
圖9是示出由于本發(fā)明的實(shí)施例7的轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度的不同而引起的電磁發(fā)電機(jī)6的輸出、即V1和相對(duì)于該V1的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的概念圖。
圖10是示出本發(fā)明的實(shí)施例8的電磁發(fā)電機(jī)6的輸出、即V1和相對(duì)于該V1的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的概念圖。
圖11示出本發(fā)明的實(shí)施例9的電源框圖的大致結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖12是示出本發(fā)明的實(shí)施例9的電磁發(fā)電機(jī)的輸出、即V1、V2的波形的概念圖。
圖13示出本發(fā)明的實(shí)施例9的發(fā)電檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖14是用于說(shuō)明本發(fā)明的發(fā)電檢測(cè)電路的應(yīng)用例的概念圖。
圖15示出具有發(fā)電裝置的電子裝置的電源框圖的結(jié)構(gòu)的概略圖。
以下參照


本發(fā)明的發(fā)電檢測(cè)電路的實(shí)施例。
(實(shí)施例1)圖1示出應(yīng)用了本發(fā)明的發(fā)電檢測(cè)電路的電子裝置的大致結(jié)構(gòu)的電路框圖。再有，對(duì)與圖15對(duì)應(yīng)的部分附以相同的符號(hào)，省略其說(shuō)明。在圖1中，電子裝置由發(fā)電檢測(cè)電路1、節(jié)電控制電路30、發(fā)電裝置6、整流二極管橋12、大容量電容器13和電路部14構(gòu)成。在圖2中示出發(fā)電檢測(cè)電路1的基本結(jié)構(gòu)。在圖2中，本例的發(fā)電檢測(cè)電路1與發(fā)電裝置6連接，發(fā)電檢測(cè)電路1由MOS晶體管2、電容器3、上拉(pull up)電阻4和倒相電路5構(gòu)成。
來(lái)自發(fā)電裝置6的信號(hào)與MOS晶體管2的柵電極連接，MOS晶體管2利用被發(fā)電的交流電壓V1重復(fù)進(jìn)行導(dǎo)通、關(guān)斷工作，控制電容器3的充電。如果用MOS晶體管來(lái)構(gòu)成開(kāi)關(guān)裝置，則包括倒相電路5也能用廉價(jià)的CMOS-IC來(lái)構(gòu)成發(fā)電檢測(cè)電路1，但即使用雙極型晶體管來(lái)構(gòu)成這些開(kāi)關(guān)元件、電壓檢測(cè)裝置也沒(méi)有關(guān)系。上拉電阻4具有下述作用在非發(fā)電時(shí)將電容器3的電壓值V3固定于Vdd電位，同時(shí)產(chǎn)生非發(fā)電時(shí)的漏泄電流。這是幾十至幾百M(fèi)Ω左右的高電阻值，也可用導(dǎo)通電阻大的MOS晶體管來(lái)構(gòu)成。利用與電容器3連接的倒相電路5來(lái)判斷電容器3的電壓值V3，如果是發(fā)電狀態(tài)，則輸出高的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout。
再有，在本例中示出了電路的低電壓一側(cè)Vss為基準(zhǔn)電壓，但如在大多數(shù)手表電路中使用的那樣，以高電壓一側(cè)Vdd為基準(zhǔn)電壓也沒(méi)有關(guān)系。再有，為了使沒(méi)有進(jìn)行發(fā)電時(shí)的電位穩(wěn)定，發(fā)電裝置6的輸出V1也可通過(guò)高電阻于Vss連接。此外，為了將非發(fā)電時(shí)的N溝MOS晶體管2定為關(guān)斷狀態(tài)，有必要將非發(fā)電時(shí)的發(fā)電裝置的輸出電壓V1穩(wěn)定于Vss，故希望通過(guò)電阻元件將V1連接到Vss。
節(jié)電控制電路30按照來(lái)自發(fā)電檢測(cè)電路1的倒相電路5的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout，為了將電路部14切換到節(jié)電模式，向電路部14送出控制信號(hào)S1。在電路部14中，如果供給上述控制信號(hào)1，則判斷是節(jié)電模式設(shè)定，故通過(guò)切斷向機(jī)械驅(qū)動(dòng)部及電路的一部分功能的電源供給來(lái)使消耗電力下降。再有，在節(jié)電模式設(shè)定時(shí)，在將適用的電子裝置作為時(shí)鐘(特別是手表)的情況下，可考慮①停止指針的運(yùn)轉(zhuǎn)，②切斷向電路的一部分功能(例如，傳感器功能、精密計(jì)時(shí)功能、液晶顯示功能)的電源供給。
以下，一邊參照?qǐng)D3中示出的時(shí)序圖一邊說(shuō)明本例的發(fā)電檢測(cè)電路的工作。如果利用發(fā)電裝置6開(kāi)始交流電力的發(fā)電，則在發(fā)電裝置6的一端V1中呈現(xiàn)從‘Vdd+VF(整流二極管的正方向電壓’‘Vss+VF’這樣的范圍內(nèi)振蕩的交流信號(hào)。在發(fā)電裝置的另一端V2呈現(xiàn)與V1相反、振幅相同的信號(hào)。如果發(fā)電開(kāi)始，V1的電壓從Vss開(kāi)始向Vdd上升，則MOS晶體管2導(dǎo)通，電容器3的充電開(kāi)始。V3的電位在非發(fā)電時(shí)利用上拉電阻4固定于Vdd一側(cè)，但如果產(chǎn)生發(fā)電、電容器3的充電開(kāi)始，則開(kāi)始向Vss一側(cè)下降。其次，如果V1的電壓轉(zhuǎn)為向Vss減少，MOS晶體管2關(guān)斷，則向電容器3的充電中止，但V3的電位由于電容器3而保持原樣。以上的工作在發(fā)電持續(xù)的期間內(nèi)重復(fù)進(jìn)行，V3的電位下降直到Vss才穩(wěn)定下來(lái)。如果V3的電位比倒相電路5的閾值低，倒相電路5的輸出、即發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout從低向高切換，能對(duì)發(fā)電進(jìn)行檢測(cè)。到發(fā)電檢測(cè)的響應(yīng)時(shí)間可通過(guò)連接限流電阻，或改變MOS晶體管的能力來(lái)調(diào)整向電容器3的充電電流的值，或改變電容器3的電容值任意地設(shè)定。
如果停止發(fā)電，則由于V1穩(wěn)定于Vss電平，故MOS晶體管2回到關(guān)斷的原有狀態(tài)。V3的電壓由于電容器3暫時(shí)地繼續(xù)保持，但由于因上拉電阻4產(chǎn)生的微量的漏泄電流，電容器3的電荷被釋放，故V3開(kāi)始從Vss向Vdd緩慢上升。然后，如果V3超過(guò)倒相電路5的閾值，則倒相電路5的輸出、即發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout從高向低切換，能檢測(cè)出沒(méi)有進(jìn)行發(fā)電。該響應(yīng)時(shí)間可通過(guò)改變上拉電阻4的電阻值來(lái)調(diào)整電容器的漏泄電流任意地設(shè)定。這樣，通過(guò)監(jiān)測(cè)倒相電路5的輸出、即發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout，可檢測(cè)出發(fā)電的狀態(tài)。
因而，如果能檢測(cè)出發(fā)電的狀態(tài)，則按照該狀態(tài)，利用節(jié)電控制電路30可相對(duì)于電路部14切換節(jié)電模式的設(shè)定/解除，可通過(guò)抑制消耗電流延長(zhǎng)在沒(méi)有進(jìn)行發(fā)電的狀態(tài)下的工作持續(xù)時(shí)間。
(實(shí)施例2)圖4示出本發(fā)明的實(shí)施例，是使限流電阻15與電容器3串聯(lián)連接的例子。由于本例采取與圖2中示出的例子大致相同的結(jié)構(gòu)，故對(duì)于對(duì)應(yīng)的部分附以相同的符號(hào)。MOS晶體管2導(dǎo)通時(shí)的電容器3的充電電流，可通過(guò)改變限流電阻15的值來(lái)調(diào)整直到輸出發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout為止的響應(yīng)時(shí)間。如果如本例那樣連接限流電阻15，則由于向電容器3的充電電流減少，故電容器電壓V3達(dá)到倒相電路的閾值以下很費(fèi)時(shí)間，故延長(zhǎng)了直到輸出發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout為止的時(shí)間。
(實(shí)施例3)圖5示出本發(fā)明的實(shí)施例，是用P溝道MOS晶體管16構(gòu)成開(kāi)關(guān)用的MOS晶體管的例子。電容器與MOS晶體管的位置與圖2中示出的N溝道MOS晶體管相比相對(duì)于電源電壓是相反的。由于本例采取與圖2中示出的例子大致相同的結(jié)構(gòu)，故對(duì)應(yīng)的部分附以相同的符號(hào)。因?yàn)榘凑赵摻Y(jié)構(gòu)，非發(fā)電時(shí)的P溝道MOS晶體管16為斷開(kāi)狀態(tài)，所以有必要將非發(fā)電時(shí)的發(fā)電裝置的輸出電壓V1穩(wěn)定于Vdd，并希望通過(guò)電阻元件將V1連接到Vdd。再有，該電阻也可以是導(dǎo)通電阻大的MOS晶體管。
(實(shí)施例4)圖6示出本發(fā)明的實(shí)施例，是用恒定電流電路構(gòu)成上拉電阻的例子。由于本例采取與圖2中示出的例子大致相同的結(jié)構(gòu)，故對(duì)應(yīng)的部分附以相同的符號(hào)。用恒定電流源17和MOS晶體管18、19構(gòu)成的電流鏡電路構(gòu)成恒定電流電路，微小的恒定電流從Vdd流向V3。在打算長(zhǎng)時(shí)間地保持發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出時(shí)，必須減小電容器的漏泄電流，上拉電阻的電阻值變得很大。此時(shí)，電阻值的離散度變得很大、發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間也成為離散度大的特性。如果用本例那樣的恒定電流電路來(lái)構(gòu)成，則具有下述效果可設(shè)定幾nA那樣的微小的漏泄電流值，同時(shí)漏泄電流的離散度與用電阻構(gòu)成的情況相比也能小很多。
(實(shí)施例5)圖7示出本發(fā)明的實(shí)施例，是用施密特觸發(fā)器的倒相電路構(gòu)成電壓檢測(cè)裝置的例子。由于本例采取與圖2中示出的例子大致相同的結(jié)構(gòu)，故對(duì)應(yīng)的部分附以相同的符號(hào)。通過(guò)用具有滯后(hysterisis)特性的施密特觸發(fā)器的倒相電路20構(gòu)成電壓檢測(cè)裝置，具有可得到不受電容器的電壓值V3的瞬間的電壓變動(dòng)的影響的、穩(wěn)定的發(fā)電檢測(cè)的效果。
(實(shí)施例6)圖8示出本發(fā)明的實(shí)施例，是用比較電路21構(gòu)成電壓檢測(cè)裝置的例子。由于本例采取與圖2中示出的例子大致相同的結(jié)構(gòu)，故對(duì)應(yīng)的部分附以相同的符號(hào)。比較電路21將基準(zhǔn)電壓發(fā)生電路22的輸出電壓V4與電容器電壓V3進(jìn)行比較，如果V3低，則輸出高的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout。
在備有圖2中示出的發(fā)電機(jī)電子裝置的情況下，電源電壓隨大容量電容器13的充電狀態(tài)而變化，按照大容量電容器13的兩端電壓而變動(dòng)。在用倒相器構(gòu)成電壓檢測(cè)裝置的情況下，由于倒相器的閾值電壓與電源電壓Vdd的變動(dòng)連動(dòng)地改變，故發(fā)電檢測(cè)時(shí)間也發(fā)生了變動(dòng)。如象本例那樣用比較電路21來(lái)構(gòu)成，則發(fā)電檢測(cè)的閾值電壓不受電源電壓Vdd變動(dòng)的影響而變得恒定，可實(shí)現(xiàn)精度高而穩(wěn)定的檢測(cè)。
(實(shí)施例7)圖9是示出由于本發(fā)明的實(shí)施例7的轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度的不同而引起的電磁發(fā)電機(jī)6的輸出、即V1和相對(duì)于該V1的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的概念圖。特別是圖9(a)是轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度小的情況，圖9(b)是轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度大的情況。電磁發(fā)電機(jī)6的輸出、即V1的電壓電平和周期(頻率)隨轉(zhuǎn)子1O的旋轉(zhuǎn)速度而變化。即，旋轉(zhuǎn)速度越大，V1的電壓電平就越大，而周期越短。因此，按照轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度、即電磁發(fā)電機(jī)6的發(fā)電的強(qiáng)度的變化，發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間(導(dǎo)通時(shí)間)的長(zhǎng)短就隨之變化。即，在圖9(a)的轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度小的情況下，輸出保持時(shí)間為t1，在圖9(b)的轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度大的情況下，輸出保持時(shí)間為t2，兩者的大小關(guān)系是t1＜t2。這樣，利用發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間的長(zhǎng)短就可知道電磁發(fā)電機(jī)6的發(fā)電的強(qiáng)度。再有，不用說(shuō)上述的實(shí)施例7也適用于上述的實(shí)施例1至實(shí)施例6的任一個(gè)。
(實(shí)施例8)圖10是示出將上述的電磁發(fā)電機(jī)6應(yīng)用于手表等時(shí)的由于手表的振動(dòng)的差異而引起的電磁發(fā)電機(jī)6的輸出、即V1和相對(duì)于該V1的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的概念圖。例如，在將本發(fā)電檢測(cè)電路1應(yīng)用于手表時(shí)，轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)速度隨用戶的動(dòng)作而變化。即，如果用戶把時(shí)鐘拿在手里強(qiáng)烈地振動(dòng)，或戴了手表的手腕強(qiáng)烈地振動(dòng)，則如以上所述，發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間變長(zhǎng)，相反，在不強(qiáng)烈地振動(dòng)的情況下，發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間變短。因而，通過(guò)檢測(cè)出發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間是否持續(xù)了規(guī)定時(shí)間，可知道用戶是否強(qiáng)烈地使時(shí)鐘(手表)振動(dòng)。因此，在繼續(xù)關(guān)斷發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout并向節(jié)電模式轉(zhuǎn)移時(shí)，在發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間持續(xù)了規(guī)定時(shí)間的情況下，用戶判斷解除了節(jié)電模式，可自動(dòng)地解除節(jié)電模式。
但是，在強(qiáng)烈地振動(dòng)的情況下，已知如圖10(a)所示，在旋轉(zhuǎn)錘7的旋轉(zhuǎn)中產(chǎn)生不穩(wěn)定、在電磁發(fā)電機(jī)6的輸出、即V1中出現(xiàn)2個(gè)振幅峰。此時(shí)，如果電容器3的電容小，或者在電容器3的放電路徑中插入的上拉電阻4的值小、放電電流大的情況下，則在2個(gè)峰之間的谷部，發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout一度中斷。因而，發(fā)電的強(qiáng)度與發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間不成比例，就不按照用戶的意圖進(jìn)行節(jié)電模式的解除。
因此，在本實(shí)施例8中，通過(guò)增大電容器3的電容，來(lái)防止上述發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的中斷。圖10(b)是示出用戶強(qiáng)烈地振動(dòng)了應(yīng)用增大了電容器3的電容的情況下的上述電磁發(fā)電機(jī)6的手表時(shí)的V1和相對(duì)于該V1的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的概念圖。如圖所示可知，通過(guò)增大電容器3的電容來(lái)抑制2個(gè)峰之間的谷部的電荷減少，發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout不會(huì)中途中斷而持續(xù)下去。因而，發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間與發(fā)電的強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)，可正確地進(jìn)行節(jié)電模式的切換。
這樣，上述的電容器3的電容改善，特別是通過(guò)在解除節(jié)電模式時(shí)讓用戶有意識(shí)地強(qiáng)烈振動(dòng)，在讓用戶有意解除節(jié)電模式的情況下是有效的。
再有，在上述的實(shí)施例8中，對(duì)于實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)是適用的，但不限定于此，不用說(shuō)也適用于其它的實(shí)施例2至實(shí)施例7中的任一個(gè)。
(實(shí)施例9)圖11是示出圖2中示出的電源框圖的大致結(jié)構(gòu)的電路圖。從電磁發(fā)電機(jī)6輸出V1和V2。該V1、V2，如圖12所示，在整流二極管橋12的上一級(jí)為互為反相的交流波形。因此，如圖13所示，可考慮發(fā)電檢測(cè)電路1是使用上述V1、V2兩者進(jìn)行開(kāi)關(guān)對(duì)電容器3進(jìn)行充電的結(jié)構(gòu)。再有，對(duì)與圖2對(duì)應(yīng)的部分附以相同的符號(hào)，省略其說(shuō)明。
將從電磁發(fā)電機(jī)6輸出的V1供給MOS晶體管2的柵電極，將從電磁發(fā)電機(jī)6輸出的V2供給MOS晶體管2a的柵電極。從圖13也可知，MOS晶體管2和MOS晶體管2a交替地重復(fù)進(jìn)行導(dǎo)通/關(guān)斷，與例如圖2中示出的結(jié)構(gòu)相比，開(kāi)關(guān)次數(shù)為2倍。電容器3的充電時(shí)間變短，如果發(fā)電持續(xù)下去，則V3的電位會(huì)更快地達(dá)到Vss。因而，可加快發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的上升速度。
再有，在上述的實(shí)施例9中，對(duì)于實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)是適用的，但不限定于此，不用說(shuō)也適用于其它的實(shí)施例2至實(shí)施例7中的任一個(gè)。
此外，在上述的實(shí)施例1至9中，作為發(fā)電裝置6，采用了將旋轉(zhuǎn)錘7的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)傳遞給轉(zhuǎn)子10、利用該轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)在輸出用的的線圈中發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的電磁發(fā)電裝置，但不限定于此，例如也可以是利用發(fā)條的復(fù)原力產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)、用該旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的發(fā)電裝置，或者通過(guò)對(duì)壓電體加上由外部或自激產(chǎn)生的振動(dòng)或位移，利用壓電效應(yīng)發(fā)生電力的發(fā)電裝置。
此外，作為應(yīng)用上述的發(fā)電檢測(cè)電路1的電子裝置，在手表以外，可以是懷表、臺(tái)鐘等。此外，也可適用于臺(tái)式電子計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話，便攜式個(gè)人計(jì)算機(jī)、電子筆記本、便攜式收音機(jī)等電子裝置。再者，也可用于大電容的電容器的充電量的識(shí)別，發(fā)電時(shí)的防止施加過(guò)電壓的控制。
此外，作為上述的發(fā)電檢測(cè)電路1的應(yīng)用例，如圖14所示，對(duì)發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間(高的狀態(tài)的時(shí)間)進(jìn)行計(jì)數(shù)，同時(shí)通過(guò)用上下計(jì)數(shù)器(up down counter)等經(jīng)常對(duì)該計(jì)數(shù)值CNT與時(shí)鐘基準(zhǔn)時(shí)鐘TCLK的差進(jìn)行計(jì)數(shù)，可實(shí)時(shí)(real time)地掌握充電量。而且，通過(guò)掌握充電量，可對(duì)用戶通知(顯示)充電量。
此外，在為了降低電力而具有恒定電壓發(fā)生電路等的以取樣方式驅(qū)動(dòng)的電路的情況下，該電路存在對(duì)于電源電壓(Vss)的變動(dòng)其性能較弱的缺點(diǎn)。因此，通過(guò)提高恒定電壓發(fā)生電路等的以取樣方式驅(qū)動(dòng)的電路的取樣占空比(sampling duty)或經(jīng)常地進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，可防止在來(lái)自上述的發(fā)電檢測(cè)電路1的發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout為高的狀態(tài)的期間(發(fā)電檢測(cè)時(shí))上述電路的電源電壓變動(dòng)引起的誤操作、特性變壞等。
再者，圖1中示出的大電容的電容器13，在發(fā)電時(shí)存在由于其內(nèi)部電阻之故兩端電壓比正常狀態(tài)大而成為過(guò)充電的缺點(diǎn)。因此，在大電容的電容器13的電壓為規(guī)定電壓以上的狀態(tài)下，在利用發(fā)電檢測(cè)電路1檢測(cè)了發(fā)電的情況(發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout為高的狀態(tài)的情況)下，通過(guò)使限流電路工作，可防止大電容的電容器13的過(guò)充電。
本發(fā)明由于如以上所說(shuō)明那樣來(lái)構(gòu)成，故具有下述的效果。
通過(guò)用MOS晶體管、電容器、電阻和倒相電路這樣的簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)來(lái)控制電容器的充放電及檢測(cè)出電容器的電壓，可檢測(cè)出發(fā)電裝置的發(fā)電狀態(tài)。也可利用上拉電阻的漏泄電流，檢測(cè)出發(fā)電中止的狀態(tài)。通過(guò)將限流電阻與電容器串聯(lián)地連接，或改變電容器的電容值，可任意地調(diào)整發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的檢測(cè)時(shí)間。
此外，通過(guò)使用恒定電流電路來(lái)代替電阻，可在沒(méi)有離散度的情況下設(shè)定電容器的微小的漏泄電流，可進(jìn)行精度高的發(fā)電檢測(cè)。
此外，通過(guò)用施密特觸發(fā)器的倒相電路20構(gòu)成電壓檢測(cè)裝置，利用其滯后特性，可進(jìn)行不受電容器的電壓變動(dòng)的影響的、穩(wěn)定的發(fā)電檢測(cè)。
再者，如果用比較電路來(lái)構(gòu)成電壓檢測(cè)裝置，則可設(shè)定任意的閾值，同時(shí)可進(jìn)行不受電源電壓的變動(dòng)的影響的、穩(wěn)定的發(fā)電檢測(cè)。
再者，通過(guò)加進(jìn)發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間，可利用發(fā)電檢測(cè)信號(hào)Vout的輸出保持時(shí)間來(lái)知道發(fā)電的強(qiáng)度。
權(quán)利要求
1．一種發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于，具備按照在外部發(fā)電的交流電力的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置；按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件；插入到所述電容元件的放電路徑中的、將存儲(chǔ)于所述電容元件中的電荷放電的放電裝置；以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置。
2．如權(quán)利要求1所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述放電裝置是電阻元件。
3．如權(quán)利要求1所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述放電裝置由恒定電流電路構(gòu)成。
4．如權(quán)利要求3所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述恒定電流電路由恒定電流源和電流鏡(current mirror)電路構(gòu)成。
5．如權(quán)利要求1所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于具備與所述電容元件串聯(lián)連接的、限制電容元件的充電電流的電流限制裝置。
6．如權(quán)利要求1所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述電壓檢測(cè)裝置是倒相電路。
7．如權(quán)利要求1所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述電壓檢測(cè)裝置是施密特觸發(fā)器(Schmidt trigger)的倒相電路。
8．如權(quán)利要求1所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述電壓檢測(cè)裝置是比較電路。
9．如權(quán)利要求1所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述開(kāi)關(guān)裝置是晶體管。
10．如權(quán)利要求8所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述晶體管是MOS型晶體管。
11．如權(quán)利要求8所述的發(fā)電檢測(cè)電路，其特征在于所述晶體管是雙極型晶體管。
12．一種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備按照在外部發(fā)電的交流電力的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置；按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件；插入到所述電容元件的放電路徑中的、將存儲(chǔ)于所述電容元件中的電荷放電的放電裝置；以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置。
13．如權(quán)利要求12所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于所述放電裝置由恒定電流電路構(gòu)成，該恒定電流電路由恒定電流源和電流鏡電路構(gòu)成。
14．如權(quán)利要求12所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于所述電流鏡電路是一對(duì)晶體管。
15．如權(quán)利要求12所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于所述開(kāi)關(guān)裝置是晶體管。
16．如權(quán)利要求12所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于所述晶體管是MOS型晶體管。
17．如權(quán)利要求12所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于所述晶體管是雙極型晶體管。
18．一種電子裝置，其特征在于，具備發(fā)出交流電力的發(fā)電裝置；以及發(fā)電檢測(cè)電路，該發(fā)電檢測(cè)電路由下述部分構(gòu)成按照利用所述發(fā)電裝置發(fā)出的交流電的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置、按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件、插入到所述電容元件的放電路徑中的將存儲(chǔ)于所述電容元件中的電荷放電的放電裝置、以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置；
19．如權(quán)利要求18所述的電子裝置，其特征在于所述發(fā)電裝置具有進(jìn)行旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)錘和利用所述旋轉(zhuǎn)錘的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的發(fā)電元件。
20．如權(quán)利要求18所述的電子裝置，其特征在于所述發(fā)電裝置具有被施加變形力的彈性部件、利用欲返回所述彈性部件的原來(lái)的形狀的復(fù)原力進(jìn)行旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)裝置和利用所述旋轉(zhuǎn)裝置的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的發(fā)電元件。
21．如權(quán)利要求18所述的電子裝置，其特征在于所述發(fā)電裝置具有如果加上位移就會(huì)由于壓電效應(yīng)發(fā)生電動(dòng)勢(shì)的壓電元件。
22．一種電子裝置，其特征在于，具備發(fā)出交流電力的發(fā)電裝置；發(fā)電檢測(cè)電路，該發(fā)電檢測(cè)電路由下述部分構(gòu)成與利用所述發(fā)電裝置發(fā)出的交流電的周期同步地進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置、按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件、插入到所述電容元件的放電路徑中的將存儲(chǔ)于電容元件中的電荷放電的放電裝置、以及檢測(cè)所述電容元件的電壓是規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置；以及根據(jù)所述電壓檢測(cè)裝置的檢測(cè)結(jié)果控制該裝置的消耗電力的控制電路。
23．如權(quán)利要求22所述的電子裝置，其特征在于所述控制電路在所述電容元件的電壓在規(guī)定值以下時(shí)判斷所述發(fā)電裝置沒(méi)有發(fā)電，從而降低該裝置的消耗電力。
24．如權(quán)利要求23所述的電子裝置，其特征在于所述控制電路在所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值時(shí)判斷所述發(fā)電裝置在發(fā)電中，從而解除所述消耗電力的降低。
25．如權(quán)利要求22所述的電子裝置，其特征在于所述控制電路再加進(jìn)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的時(shí)間的長(zhǎng)短，來(lái)控制該裝置的消耗電力。
26．一種時(shí)鐘，其特征在于，具備發(fā)出交流電力的發(fā)電裝置；發(fā)電檢測(cè)電路，該發(fā)電檢測(cè)電路由下述部分構(gòu)成按照利用所述發(fā)電裝置發(fā)電的交流電力的周期進(jìn)行開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)裝置、按照由所述開(kāi)關(guān)裝置產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)動(dòng)作來(lái)存儲(chǔ)電荷的電容元件、插入到所述電容元件的放電路徑中的將存儲(chǔ)于電容元件中的電荷放電的放電裝置、以及檢測(cè)所述電容元件的電壓超過(guò)了規(guī)定值的情況的電壓檢測(cè)裝置；以及對(duì)時(shí)刻進(jìn)行計(jì)時(shí)的計(jì)時(shí)電路。
27．如權(quán)利要求26所述的時(shí)鐘，其特征在于將所述發(fā)電裝置、所述發(fā)電檢測(cè)電路和所述計(jì)時(shí)電路放置于手表的框體內(nèi)。
28．如權(quán)利要求26所述的時(shí)鐘，其特征在于將所述發(fā)電裝置、所述發(fā)電檢測(cè)電路和所述計(jì)時(shí)電路放置于懷表的框體內(nèi)。
29．如權(quán)利要求26所述的時(shí)鐘，其特征在于將所述發(fā)電裝置、所述發(fā)電檢測(cè)電路和所述計(jì)時(shí)電路放置于臺(tái)鐘的框體內(nèi)。
30．一種發(fā)電檢測(cè)方法，其特征在于，具有利用與在外部發(fā)電的交流電力的周期對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)動(dòng)作對(duì)電容元件進(jìn)行充電的第1過(guò)程；在沒(méi)有對(duì)所述電容元件進(jìn)行充電時(shí)進(jìn)行所述電容元件的放電的第2過(guò)程；判斷所述電容元件的電壓是否是規(guī)定電壓的第3過(guò)程；以及判斷超過(guò)了規(guī)定電壓時(shí)為進(jìn)行著發(fā)電的第4過(guò)程。
31．一種消耗電力控制方法，其特征在于，具有利用與在外部發(fā)電的交流電力的周期對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)動(dòng)作對(duì)電容元件進(jìn)行充電的第1過(guò)程；在沒(méi)有對(duì)所述電容元件進(jìn)行充電時(shí)進(jìn)行所述電容元件的放電的第2過(guò)程；判斷所述電容元件的電壓是否是規(guī)定電壓的第3過(guò)程；判斷沒(méi)有超過(guò)規(guī)定電壓時(shí)為沒(méi)有進(jìn)行發(fā)電的第4過(guò)程；以及在沒(méi)有進(jìn)行發(fā)電時(shí)降低電路部分的消耗電力的第5過(guò)程。
32．如權(quán)利要求31所述的消耗電力控制方法，其特征在于，具有判斷超過(guò)了規(guī)定電壓的時(shí)間的長(zhǎng)短是否是持續(xù)了規(guī)定時(shí)間的第6過(guò)程；以及在持續(xù)了規(guī)定時(shí)間時(shí)解除電路部分的消耗電力的降低的第7過(guò)程。
全文摘要
本發(fā)明提供能利用從發(fā)電裝置供給的交流電壓檢測(cè)出發(fā)電狀態(tài)的發(fā)電檢測(cè)電路和具有該電路的電子裝置。發(fā)電檢測(cè)電路由電容器3、利用來(lái)自發(fā)電裝置6的發(fā)電電壓控制電容器的充電的MOS晶體管2、電阻4和倒相電路5來(lái)構(gòu)成。MOS晶體管利用來(lái)自發(fā)電裝置6的交流電壓進(jìn)行開(kāi)關(guān)。用倒相電路檢測(cè)出電容器的電壓,進(jìn)行發(fā)電檢測(cè)。
文檔編號(hào)G04C10/00GK1208284SQ9811479
公開(kāi)日1999年2月17日 申請(qǐng)日期1998年6月17日 優(yōu)先權(quán)日1997年6月17日
發(fā)明者藤澤照彥 申請(qǐng)人:精工愛(ài)普生株式會(huì)社