一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，包括機(jī)臺，所述機(jī)臺上設(shè)置有傳送帶，所述傳送帶上并排且等距設(shè)置有多個固定底座，所述固定底座設(shè)置有直發(fā)器固定槽及電源插口，所述傳送帶一側(cè)依次設(shè)置有低溫檢測機(jī)構(gòu)、老化檢測機(jī)構(gòu)、高溫檢測機(jī)構(gòu)，所述低溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的低溫調(diào)節(jié)組件、低溫頻閃測試組件、低溫溫度測試組件，所述高溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的高溫調(diào)節(jié)組件、高溫頻閃測試組件、高溫溫度測試組件。本實用新型通過低溫檢測機(jī)構(gòu)及高溫檢測機(jī)構(gòu)對直發(fā)器溫度端值進(jìn)行檢測，通過老化檢測機(jī)構(gòu)檢測直發(fā)器功率老化情況，通過計數(shù)機(jī)構(gòu)檢測直發(fā)器對每個直發(fā)器進(jìn)行記錄。
【專利說明】
一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及直發(fā)器加工領(lǐng)域，具體涉及一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]直發(fā)器又叫電夾板，是通過電流加熱直發(fā)器的發(fā)熱體MCH或PTC或發(fā)熱絲，傳導(dǎo)到鋁板或陶瓷板發(fā)熱，在日常生活中應(yīng)用非常廣泛?，F(xiàn)有的直發(fā)器一般具有電源開關(guān)，而且具有加溫功能及減溫功能，產(chǎn)品生產(chǎn)完成后我們需要對其老化及溫度進(jìn)行檢測，以檢驗產(chǎn)品是否合格。
[0003]現(xiàn)有的檢測方式以人工檢測為主，主要通過工人手動按動開關(guān)后，手持溫度檢測器對其進(jìn)行檢測，效率差，而且被高溫的直發(fā)器所燙傷，危險性高。或者利用相關(guān)的夾具來夾持直發(fā)器再進(jìn)行人工檢測溫度，雖然提升了安全性，但是效率依然沒法得到很好的改善。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]有鑒于此，本實用新型公開一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)。
[0005]本實用新型的目的通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
[0006]—種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，包括機(jī)臺，所述機(jī)臺上設(shè)置有傳送帶，所述傳送帶上并排且等距設(shè)置有多個固定底座，所述固定底座設(shè)置有直發(fā)器固定槽及電源插口，所述傳送帶一側(cè)依次設(shè)置有低溫檢測機(jī)構(gòu)、老化檢測機(jī)構(gòu)、高溫檢測機(jī)構(gòu)，所述低溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的低溫調(diào)節(jié)組件、低溫頻閃測試組件、低溫溫度測試組件，所述高溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的高溫調(diào)節(jié)組件、高溫頻閃測試組件、高溫溫度測試組件。
[0007]本實用新型工作原理如下:
[0008]通過直發(fā)器固定槽將直發(fā)器固定于固定底座上，將直發(fā)器連接電源插口通電。在傳送帶前端通過低溫調(diào)節(jié)組件將直發(fā)器調(diào)節(jié)至最低溫度，再通過低溫頻閃測試組件測試直發(fā)器在最低溫時顯示屏顯示是否正常，最后通過低溫溫度測試組件檢測直發(fā)器最低溫度與預(yù)定值溫差是否正常。經(jīng)過低溫檢測機(jī)構(gòu)后通過老化檢測機(jī)構(gòu)對產(chǎn)品進(jìn)行老化測試，觀察產(chǎn)品是否合格。經(jīng)過老化測試檢測后再通過高溫檢測機(jī)構(gòu)檢測，在傳送帶后端通過高溫調(diào)節(jié)組件將直發(fā)器調(diào)節(jié)至最高溫度，再通過高溫頻閃測試組件測試直發(fā)器在最高溫時顯示屏顯示是否正常，最后通過高溫溫度測試組件檢測直發(fā)器最高溫度與預(yù)定值溫差是否正常。
[0009]進(jìn)一步的，所述低溫調(diào)節(jié)組件包括低溫調(diào)節(jié)支架及設(shè)置于低溫調(diào)劑支架上的低溫開機(jī)氣缸及低溫調(diào)節(jié)氣缸;所述低溫頻閃測試組件包括低溫頻閃支架及設(shè)置于低溫頻閃支架上的頻閃測試儀;所述低溫溫度測試組件包括低溫溫度支架及設(shè)置于低溫溫度支架上的溫度測試器。
[0010]首先驅(qū)動低溫開機(jī)氣缸按摯直發(fā)器開機(jī)鍵對直發(fā)器進(jìn)行開機(jī)，再驅(qū)動低溫調(diào)節(jié)氣缸按摯直發(fā)器減溫鍵將直發(fā)器溫度調(diào)節(jié)至最低溫度，然后通過頻閃測試儀對直發(fā)器顯示屏進(jìn)行頻閃測試，最后通過溫度測試器檢測最低溫度值是否正常。
[0011]進(jìn)一步的，所述高溫調(diào)節(jié)組件包括高溫調(diào)節(jié)支架及設(shè)置于高溫調(diào)劑支架上的高溫開機(jī)氣缸及高溫調(diào)節(jié)氣缸;所述高溫頻閃測試組件包括高溫頻閃支架及設(shè)置于高溫頻閃支架上的頻閃測試儀;所述高溫溫度測試組件包括高溫溫度支架及設(shè)置于高溫溫度支架上的溫度測試器。
[0012]首先驅(qū)動高溫開機(jī)氣缸按摯直發(fā)器開機(jī)鍵對直發(fā)器進(jìn)行開機(jī)，再驅(qū)動高溫調(diào)節(jié)氣缸按摯直發(fā)器增溫鍵將直發(fā)器溫度調(diào)節(jié)至最高溫度，然后通過頻閃測試儀對直發(fā)器顯示屏進(jìn)行頻閃測試，最后通過溫度測試器檢測最高溫度值是否正常。
[0013]所述頻閃測試儀及溫度測試器可選用任一現(xiàn)有技術(shù)實現(xiàn)。
[0014]進(jìn)一步的，所述老化檢測機(jī)構(gòu)包括老化測試支架，所述老化測試支架上設(shè)置有老化開機(jī)氣缸及老化測試儀。
[0015]所述老化測試儀為功率測試儀器，通過老化開機(jī)氣缸反復(fù)按摯直發(fā)器開機(jī)鍵，通過功率測試儀器測試直發(fā)器在多次反復(fù)開關(guān)后功率是否正常。所述功率測試儀器可選用任一現(xiàn)有技術(shù)實現(xiàn)。
[0016]進(jìn)一步的，所述傳送帶一側(cè)還設(shè)置有計數(shù)機(jī)構(gòu)，所述計數(shù)機(jī)構(gòu)包括計數(shù)支架及設(shè)置于計數(shù)支架上的掃描儀器。
[0017]通過掃面儀器對直發(fā)器的標(biāo)簽進(jìn)行掃碼記錄，可單獨(dú)記錄每個直發(fā)器的檢測情況。
[0018]本實用新型相對于現(xiàn)有技術(shù)，具有如下的有益效果:
[0019]本實用新型通過低溫檢測機(jī)構(gòu)及高溫檢測機(jī)構(gòu)對直發(fā)器溫度端值進(jìn)行檢測，通過老化檢測機(jī)構(gòu)檢測直發(fā)器功率老化情況，通過計數(shù)機(jī)構(gòu)檢測直發(fā)器對每個直發(fā)器進(jìn)行記錄。
[0020]本實用新型檢測效率高，針對性強(qiáng)，檢測效果穩(wěn)定，安全性高。
【附圖說明】
[0021]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0022]圖2是本實用新型的低溫調(diào)節(jié)組件結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖3是本實用新型的低溫頻閃測試組件結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]圖4是本實用新型的低溫溫度測試組件結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]圖5是本實用新型的高溫調(diào)節(jié)組件結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026]圖6是本實用新型的高溫頻閃測試組件結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖7是本實用新型的高溫溫度測試組件結(jié)構(gòu)示意圖。
[0028]圖8是本實用新型的老化檢測機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)示意圖。
[0029]圖9是本實用新型的計數(shù)機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)示意圖。
[0030]圖10是本實用新型的固定底座結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0031]為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，下面將結(jié)合實施例對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述:
[0032]實施例1
[0033]本實施例提供一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，如圖1-圖10所示，包括機(jī)臺I，所述機(jī)臺I上設(shè)置有傳送帶2，所述傳送帶2上并排且等距設(shè)置有多個固定底座11，所述固定底座11設(shè)置有直發(fā)器固定槽及電源插口 111，所述傳送帶2—側(cè)依次設(shè)置有低溫檢測機(jī)構(gòu)、老化檢測機(jī)構(gòu)9、高溫檢測機(jī)構(gòu)，所述低溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的低溫調(diào)節(jié)組件3、低溫頻閃測試組件4、低溫溫度測試組件5，所述高溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的高溫調(diào)節(jié)組件6、高溫頻閃測試組件7、高溫溫度測試組件8。
[0034]所述低溫調(diào)節(jié)組件3包括低溫調(diào)節(jié)支架301及設(shè)置于低溫調(diào)劑支架301上的低溫開機(jī)氣缸302及低溫調(diào)節(jié)氣缸303;所述低溫頻閃測試組件4包括低溫頻閃支架401及設(shè)置于低溫頻閃支架401上的頻閃測試儀402;所述低溫溫度測試組件5包括低溫溫度支架501及設(shè)置于低溫溫度支架501上的溫度測試器502。
[0035]所述高溫調(diào)節(jié)組件6包括高溫調(diào)節(jié)支架601及設(shè)置于高溫調(diào)劑支架601上的高溫開機(jī)氣缸602及高溫調(diào)節(jié)氣缸603;所述高溫頻閃測試組件7包括高溫頻閃支架701及設(shè)置于高溫頻閃支架701上的頻閃測試儀702;所述高溫溫度測試組件8包括高溫溫度支架801及設(shè)置于高溫溫度支架801上的溫度測試器802。
[0036]所述老化檢測機(jī)構(gòu)9包括老化測試支架901，所述老化測試支架901上設(shè)置有老化開機(jī)氣缸902及老化測試儀903。
[0037]所述傳送帶2—側(cè)還設(shè)置有計數(shù)機(jī)構(gòu)10，所述計數(shù)機(jī)構(gòu)10包括計數(shù)支架101及設(shè)置于計數(shù)支架101上的掃描儀器102。
[0038]以上為本實用新型的其中具體實現(xiàn)方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些顯而易見的替換形式均屬于本實用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，包括機(jī)臺，所述機(jī)臺上設(shè)置有傳送帶，其特征在于:所述傳送帶上并排且等距設(shè)置有多個固定底座，所述固定底座設(shè)置有直發(fā)器固定槽及電源插口，所述傳送帶一側(cè)依次設(shè)置有低溫檢測機(jī)構(gòu)、老化檢測機(jī)構(gòu)、高溫檢測機(jī)構(gòu)，所述低溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的低溫調(diào)節(jié)組件、低溫頻閃測試組件、低溫溫度測試組件，所述高溫檢測機(jī)構(gòu)包括前后依次設(shè)置的高溫調(diào)節(jié)組件、高溫頻閃測試組件、高溫溫度測試組件。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，其特征在于:所述低溫調(diào)節(jié)組件包括低溫調(diào)節(jié)支架及設(shè)置于低溫調(diào)劑支架上的低溫開機(jī)氣缸及低溫調(diào)節(jié)氣缸;所述低溫頻閃測試組件包括低溫頻閃支架及設(shè)置于低溫頻閃支架上的頻閃測試儀;所述低溫溫度測試組件包括低溫溫度支架及設(shè)置于低溫溫度支架上的溫度測試器。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，其特征在于:所述高溫調(diào)節(jié)組件包括高溫調(diào)節(jié)支架及設(shè)置于高溫調(diào)劑支架上的高溫開機(jī)氣缸及高溫調(diào)節(jié)氣缸;所述高溫頻閃測試組件包括高溫頻閃支架及設(shè)置于高溫頻閃支架上的頻閃測試儀;所述高溫溫度測試組件包括高溫溫度支架及設(shè)置于高溫溫度支架上的溫度測試器。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，其特征在于:所述老化檢測機(jī)構(gòu)包括老化測試支架，所述老化測試支架上設(shè)置有老化開機(jī)氣缸及老化測試儀。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種直發(fā)器老化及性能測試系統(tǒng)，其特征在于:所述傳送帶一側(cè)還設(shè)置有計數(shù)機(jī)構(gòu)，所述計數(shù)機(jī)構(gòu)包括計數(shù)支架及設(shè)置于計數(shù)支架上的掃描儀器。
【文檔編號】G01R31/00GK205679714SQ201620629554
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月23日 公開號201620629554.2, CN 201620629554, CN 205679714 U, CN 205679714U, CN-U-205679714, CN201620629554, CN201620629554.2, CN205679714 U, CN205679714U
【發(fā)明人】徐華球, 陳根生
【申請人】惠州市高瑞科技有限公司