用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝，包括由上往下依次疊加在一起的定位板、帶有電極的電路板和工裝基體，連接在工裝基體兩側(cè)、且針腳與電路板的電極焊接在一起的連接器，以及呈鉤狀的彈性裝置；定位板上表面設(shè)有大小與被測器件相匹配的第一放置槽，第一放置槽內(nèi)設(shè)有與被測器件電極位置相應(yīng)的通孔，同時(shí)，定位板與電路板接觸的下表面設(shè)有與電路板電極位置相應(yīng)的第二放置槽；彈性裝置鉤狀的直邊放置在第二放置槽中，并與電路板電極相接觸，另一邊鉤入到通孔中，用于與被測器件的電極接觸。本實(shí)用新型可保證被測元器件的六個(gè)電極與電路板上的輸入、輸入及接地電極穩(wěn)定接觸，在通過連接器進(jìn)行測試時(shí)，能準(zhǔn)確獲得測試的數(shù)據(jù)。
【專利說明】
用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測試工裝，具體涉及的是一種用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝。
【背景技術(shù)】
[0002]微波器件生產(chǎn)出來后，如何確定所生產(chǎn)出的產(chǎn)品是否能達(dá)到使用要求的性能，是保證使用這些器件的產(chǎn)品得以安全可靠工作的關(guān)鍵。因此檢測超小微波元器件的性能指標(biāo)，就是一個(gè)關(guān)鍵生產(chǎn)過程中的一個(gè)工序。但是超小微波器件，頻率高、外形很小，電極尺寸小于I毫米，例如一種Itcc電橋，外形結(jié)構(gòu)尺寸長、寬、高只有3.2*1.6*1.5。器件上六個(gè)電極的寬度也只有0.6，如何來準(zhǔn)確定位產(chǎn)品，并精準(zhǔn)可靠地將產(chǎn)品的電極與電路板上的輸入、輸出電極相連，同時(shí)將信號準(zhǔn)確的傳入、傳出，從而得以高效準(zhǔn)確的檢測這些元器件的性能指標(biāo)，一直是個(gè)難題。目前，國內(nèi)很多企業(yè)大多采用國外的檢測工裝進(jìn)行檢測，但是這些檢測工裝不僅結(jié)構(gòu)復(fù)雜、操作不便，而且成本很高。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝，解決現(xiàn)有的微波器件測試工裝存在結(jié)構(gòu)復(fù)雜、操作不便、且成本高的問題。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型解決問題的技術(shù)方案如下:
[0005]用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝，包括由上往下依次疊加、并通過可拆卸的方式連接在一起的定位板、帶有電極的電路板和工裝基體，連接在工裝基體兩側(cè)、且針腳與電路板的電極焊接在一起的連接器，以及呈鉤狀的彈性裝置;所述定位板上表面開設(shè)有大小與被測器件相匹配的第一放置槽，該第一放置槽內(nèi)設(shè)有與被測器件電極位置相應(yīng)的通孔，同時(shí)，定位板與電路板接觸的下表面開設(shè)有與電路板電極位置相應(yīng)的第二放置槽；所述彈性裝置直邊放置在第二放置槽中，并與電路板電極相接觸，另一邊則鉤入到通孔中，用于與被測器件的電極接觸。
[0006]進(jìn)一步地，所述定位板、電路板和工裝基體通過螺釘連接。
[0007]再進(jìn)一步地，所述彈性裝置為彈簧片，其厚度為0.3毫米。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下有益效果:
[0009]本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)巧妙、成本低廉、操作便捷，其通過設(shè)置定位板、彈性裝置和工裝基體，并巧妙地定位板中設(shè)置第一放置槽、通孔和第二放置槽，從而在穩(wěn)定固定電路板的前提下，有效地將被測器件與電路板電極和連接器串聯(lián)起來，實(shí)現(xiàn)信號引出和輸入到被測器件中，從而達(dá)到產(chǎn)品檢測的目的。本實(shí)用新型具有信號傳輸穩(wěn)定、測試數(shù)據(jù)精度高的優(yōu)點(diǎn)，為產(chǎn)品能否得以安全可靠的工作提供了參考和鋪墊。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型的分解示意圖。[0011 ]圖2位本實(shí)用新型的組裝示意圖。
[0012]圖3為定位板與電路板接觸面的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖4為彈性裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]其中，附圖標(biāo)記對應(yīng)的名稱為:
[0015]1-工裝基體，2-電路板，3-彈性裝置，4-定位板，5-第一放置槽，6_通孔，7_第二放置槽，8-連接器。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合【附圖說明】和實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明，本實(shí)用新型的方式包括但不僅限于以下實(shí)施例。
[0017]如圖1?3所示，本實(shí)用新型提供了一種測試工裝，主要用于檢測超小微波器件的性能，其包括工裝基體1、電路板2、彈性裝置3、定位板4和連接器8。所述的工裝基體1、電路板2和定位板4由下往上依次疊加，三者以可拆卸的方式的進(jìn)行連接(本實(shí)施例中，三者在相同的位置均開設(shè)有螺孔，然后通過螺釘?shù)姆绞竭M(jìn)行連接)。所述的連接器8則與工裝基體I的外側(cè)端面連接，并且其針腳與電路板2上的電極焊接在一起(本實(shí)施例中，連接器設(shè)置有四個(gè)，分兩組對稱設(shè)于工裝基體的兩側(cè))。
[0018]所述的彈性裝置3形狀為鉤形，如圖4所示，本實(shí)施例中，該彈性裝置3為彈簧片，作用是實(shí)現(xiàn)電路板電極、連接器與被測器件電極的連接，具體為:所述定位板4上表面開設(shè)有大小與被測器件相匹配的第一放置槽5，該第一放置槽5內(nèi)設(shè)有與被測器件電極位置相應(yīng)的通孔6，同時(shí)，定位板4與電路板接觸的下表面開設(shè)有與電路板電極位置相應(yīng)的第二放置槽
7。所述彈性裝置3鉤狀的直邊放置在第二放置槽7中，并與電路板電極相接觸，另一邊則鉤入到通孔6中，用于與被測器件的電極接觸。本實(shí)施例中，彈簧片的厚度為0.3毫米，與定位板安裝好后，高出定位板的背側(cè)面0.1毫米(即第二放置槽7的深度為0.2毫米)。
[0019]本實(shí)用新型的檢測過程如下:
[0020]將被測器件放入至第一放置槽5中，并從上方將其壓住，此時(shí)，被測器件的電極便會(huì)與彈性裝置3從通孔6處突出的鉤相接觸。而由于彈性裝置3的直邊是與電路板2的電極相接觸的，且電路板2的電極由于連接器8相接觸，因此，被測器件的電極就與連接器8相接通，這樣一來，通過測試線與連接器相連就可以引出和輸入信號到被測器件中，從而實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品檢測的目的。
[0021]本實(shí)用新型通過合理的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可以保證被測元器件的六個(gè)電極與電路板上的輸入、輸入及接地電極穩(wěn)定接觸，在通過連接器進(jìn)行測試時(shí)，能準(zhǔn)確獲得測試的數(shù)據(jù)。
[0022]上述實(shí)施例僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式之一，不應(yīng)當(dāng)用于限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡在本實(shí)用新型的主體設(shè)計(jì)思想和精神上作出的毫無實(shí)質(zhì)意義的改動(dòng)或潤色，其所解決的技術(shù)問題仍然與本實(shí)用新型一致的，均應(yīng)當(dāng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝，其特征在于，包括由上往下依次疊加、并通過可拆卸的方式連接在一起的定位板(4)、帶有電極的電路板(2)和工裝基體(I)，連接在工裝基體(I)兩側(cè)、且針腳與電路板(2)的電極焊接在一起的連接器(8)，以及呈鉤狀的彈性裝置(3);所述定位板(4)上表面開設(shè)有大小與被測器件相匹配的第一放置槽(5)，該第一放置槽(5)內(nèi)設(shè)有與被測器件電極位置相應(yīng)的通孔(6)，同時(shí)，定位板(4)與電路板接觸的下表面開設(shè)有與電路板電極位置相應(yīng)的第二放置槽(7);所述彈性裝置(3)鉤狀的直邊放置在第二放置槽(7 )中，并與電路板電極相接觸，另一邊則鉤入到通孔(6 )中，用于與被測器件的電極接觸。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝，其特征在于，所述定位板(4)、電路板(2)和工裝基體(I)通過螺釘連接。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝，其特征在于，所述第二放置槽(7 )的深度為0.2毫米。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于超小微波器件性能測試的精密測試工裝，其特征在于，所述彈性裝置(3)為彈簧片，其厚度為0.3毫米。
【文檔編號】G01R31/00GK205450151SQ201620218886
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年3月18日
【發(fā)明人】宋超, 姚玲峰, 杜碧華, 郭玲宏
【申請人】成都紡織高等?？茖W(xué)校