Lcd的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及IXD技術領域，尤其涉及一種IXD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)有LCD廠對LCD的開路進行檢測時，都是在電測工序由測試人員將半成品逐一放在測試架上進行測試，挑選出不良品。
[0003]該測試方法存在的問題是不能夠及時發(fā)現(xiàn)由Ho來料或產(chǎn)線異常導致的批量性異常，比如由Ho來料問題導致的微斷路寬度在1-2微米，如果依靠在前工程酸刻工序用傳統(tǒng)的顯微鏡進行大面積人工檢查，幾乎是不可能發(fā)現(xiàn)此類不良的，如果在電測工序即使能夠發(fā)現(xiàn)，也已經(jīng)造成批量報廢；而且由于此種不良屬于可靠性問題，良品實際也是做報廢處理，無法出貨，如此會給工廠造成高額的不良質(zhì)量成本和交期延誤。
[0004]針對上述技術中存在的不足之處，本實用新型提供一種使用方便、簡單通用、節(jié)省材料、成本低及適用范圍廣的LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供一種IXD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，包括IXD掩膜版和萬用表，所述LCD掩膜版的留邊區(qū)域設有多組測試線路，每組測試線路均包括多個沿xy兩個方向的S形線路單元，每組測試線路的首尾兩端及每相鄰兩個S形線路單元之間均連接有測試點電極，且每個測試點電極均電連接至萬用表。
[0006]其中，所述S形線路單元包括縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路兩種；且每組測試線路中的縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路間隔分布；且縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路之間通過測試點電極連接。
[0007]其中，所述縱向排布式S形線路包括位于兩端的兩個第一 L形連接線和位于兩個第一 L形連接線之間的多個縱向排布的第一方形連接線，多個第一方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第一方形連接線的X方向長度小于I方向長度。
[0008]其中，所述橫向排布式S形線路包括位于兩端的兩個第二 L形連接線和位于兩個第二 L形連接線之間的多個縱向排布的第二方形連接線，多個第二方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第二方形連接線的X方向長度大于I方向長度。
[0009]其中，所述LCD掩膜版為四邊形LCD掩膜版，且每邊留邊區(qū)域上測試線路的數(shù)量為兩組；且每組測試線路的S形線路單元的數(shù)量為五個。
[0010]本實用新型的有益效果是:與現(xiàn)有技術相比，本實用新型提供的IXD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，在LCD掩膜版的留邊區(qū)域設有多組測試線路，每組測試線路均包括多個沿xy兩個方向的S形線路單元，每組測試線路的首尾兩端及每相鄰兩個S形線路單元之間均連接有測試點電極，該結(jié)構(gòu)的改進，加大檢測面積，方便生產(chǎn)線QC進行檢測，且使得測試線路的精度、密度和線路長度都遠遠高于LCD產(chǎn)品本身的設計要求，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設計方向，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，而且此設計不會殘留在產(chǎn)品上面，對成品完全沒有任何影響。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型的IXD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)的立體圖；
[0012]圖2為本實用新型中測試線路的結(jié)構(gòu)圖；
[0013]圖3為本實用新型中縱向排布式S形線路的結(jié)構(gòu)圖；
[0014]圖4為本實用新型中橫向排布式S形線路的結(jié)構(gòu)圖。
[0015]主要元件符號說明如下:
[0016]1、LCD掩膜版2、測試線路
[0017]3、萬用表21、S形線路單元
[0018]22、測試點電極211、縱向排布式S形線路
[0019]212、橫向排布式S形線路2111、第一 L形連接線
[0020]2112、第一方形連接線2121、第二 L形連接線
[0021]2122、第二方形連接線。
【具體實施方式】
[0022]為了更清楚地表述本實用新型，下面結(jié)合附圖對本實用新型作進一步地描述。
[0023]請參閱圖1-2，本實用新型的IXD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，包括IXD掩膜版I和萬用表3，IXD掩膜版I的留邊區(qū)域設有多組測試線路2，每組測試線路2均包括多個沿xy兩個方向的S形線路單元21，每組測試線路2的首尾兩端及每相鄰兩個S形線路單元21之間均連接有測試點電極22，且每個測試點電極22均電連接至萬用表3。
[0024]相較于現(xiàn)有技術的情況，本實用新型提供的LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，在LCD掩膜版I的留邊區(qū)域設有多組測試線路2，每組測試線路2均包括多個沿xy兩個方向的S形線路單元21，每組測試線路2的首尾兩端及每相鄰兩個S形線路單元之間均連接有測試點電極22，該結(jié)構(gòu)的改進，加大檢測面積，方便生產(chǎn)線QC進行檢測，且使得測試線路的精度、密度和線路長度都遠遠高于LCD產(chǎn)品本身的設計要求，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設計方向，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，而且此設計不會殘留在產(chǎn)品上面，對成品完全沒有任何影響。
[0025]請進一步參閱圖3-4，S形線路單元21包括縱向排布式S形線路211和橫向排布式S形線路212兩種；且每組測試線路2中的縱向排布式S形線路211和橫向排布式S形線路212間隔分布；且縱向排布式S形線路211和橫向排布式S形線路212之間通過測試點電極22連接?？v向排布式S形線路211包括位于兩端的兩個第一 L形連接線2111和位于兩個第一 L形連接線之間的多個縱向排布的第一方形連接線2112，多個第一方形連接線2112平行分布且首尾依次相連；且第一方形連接線2112的X方向長度小于y方向長度；兩個第一 L形連接線2111和位于兩個第一 L形連接線之間的多個縱向排布的第一方形連接線2112之間形成了 S形。橫向排布式S形線路212包括位于兩端的兩個第二 L形連接線2121和位于兩個第二 L形連接線2121之間的多個縱向排布的第二方形連接線2122，多個第二方形連接線2122平行分布且首尾依次相連；且第二方形連接線2122的x方向長度大于y方向長度。
[0026]在本實施例中，IXD掩膜版I為四邊形IXD掩膜版，且每邊留邊區(qū)域上測試線路2的數(shù)量為兩組；且每組測試線路2的S形線路單元21的數(shù)量為五個。當然，本案中并不局限于上述測試線路2和S形線路單元21的數(shù)量；可根據(jù)LCD掩膜版I面積的大小及形狀選擇不同的測試線路2的數(shù)量。
[0027]本案中IXD掩膜版設計成四方形，且四周設計8組測試線路，每組測試線路有5小組沿xy兩個方向的S形線路單元，這些線路首尾相連，連接處設置測試點電極，方便生產(chǎn)線QC進行檢測。這8組測試線路的精度、密度和線路長度都遠遠高于LCD產(chǎn)品本身的設計要求，這40個覆蓋了沿xy兩的方向的線路排布，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設計方向情況。那么，如果因生產(chǎn)原材料、設備或工藝等原因?qū)е伦儺悾a(chǎn)生高比例開路，則這40個S形線路單元會先出現(xiàn)異常，由于設計的一致性和規(guī)律性，開路異常會很及時的被發(fā)現(xiàn)。本案提供一種通用性的、結(jié)構(gòu)簡單的、使用方便的、節(jié)省測試時間的掩膜版設計方案，利用這種設計和一臺普通萬用表，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，從而達到提前、快速、及時的發(fā)現(xiàn)問題，控制問題并立即改善問題的品質(zhì)控制效果；而且此設計不會殘留在產(chǎn)品上面，對成品完全沒有任何影響。且本案具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、簡單通用、節(jié)省材料、成本低及適用范圍廣等特點。
[0028]以上公開的僅為本實用新型的幾個具體實施例，但是本實用新型并非局限于此，任何本領域的技術人員能思之的變化都應落入本實用新型的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括LCD掩膜版和萬用表，所述LCD掩膜版的留邊區(qū)域設有多組測試線路，每組測試線路均包括多個沿xy兩個方向的S形線路單元，每組測試線路的首尾兩端及每相鄰兩個S形線路單元之間均連接有測試點電極，且每個測試點電極均電連接至萬用表。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述S形線路單元包括縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路兩種；且每組測試線路中的縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路間隔分布；且縱向排布式S形線路和橫向排布式S形線路之間通過測試點電極連接。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述縱向排布式S形線路包括位于兩端的兩個第一 L形連接線和位于兩個第一 L形連接線之間的多個縱向排布的第一方形連接線，多個第一方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第一方形連接線的X方向長度小于I方向長度。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述橫向排布式S形線路包括位于兩端的兩個第二 L形連接線和位于兩個第二 L形連接線之間的多個縱向排布的第二方形連接線，多個第二方形連接線平行分布且首尾依次相連；且所述第二方形連接線的X方向長度大于I方向長度。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述LCD掩膜版為四邊形LCD掩膜版，且每邊留邊區(qū)域上測試線路的數(shù)量為兩組；且每組測試線路的S形線路單元的數(shù)量為五個。
【專利摘要】本實用新型公開了一種LCD的開路不良在線監(jiān)測結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)包括LCD掩膜版和萬用表，LCD掩膜版的留邊區(qū)域設有多組測試線路，每組測試線路均包括多個沿xy兩個方向的S形線路單元，每組測試線路的首尾兩端及每相鄰兩個S形線路單元之間均連接有測試點電極，且每個測試點電極均電連接至萬用表。本實用新型加大檢測面積，方便生產(chǎn)線QC進行檢測，且使得測試線路的精度、密度和線路長度都遠遠高于LCD產(chǎn)品本身的設計要求，可以覆蓋產(chǎn)品的所有線路設計方向，就能夠在前工程酸刻工序快速檢測出產(chǎn)品是否存在批量性開路隱患，而且此設計不會殘留在產(chǎn)品上面，對成品完全沒有任何影響。
【IPC分類】G01R31/02
【公開號】CN204925296
【申請?zhí)枴緾N201520591534
【發(fā)明人】楊錦喜
【申請人】龍川耀宇科技有限公司
【公開日】2015年12月30日
【申請日】2015年8月8日